TW200409669A - Protective coating composition - Google Patents

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TW200409669A
TW200409669A TW092107621A TW92107621A TW200409669A TW 200409669 A TW200409669 A TW 200409669A TW 092107621 A TW092107621 A TW 092107621A TW 92107621 A TW92107621 A TW 92107621A TW 200409669 A TW200409669 A TW 200409669A
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Seamus Ryan
Andrew James Goodwin
Stuart Leadley
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Dow Corning Ireland Ltd
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Description

200409669 玖、發明說明: 技術領域 本申請案說明一種使用大氣壓力電漿技術塗佈粉末顆粒 之方法。 先前技術 當對物質連續供給能量時,其之溫度會提高,及其典型 上會自固態轉變至液態,然後再至氣態。繼續供給能量會 使系統經歷進一步的狀態變化,其中氣體的中性原子或分 子被能量碰撞弄斷,而產生帶負電荷的電子、帶正或負電 荷的離子及其他物種。將此展現整體行為之帶電粒子的混 合物稱為「電漿」,其係物質的第四種狀態。電漿由於其 之電荷,而高度受外部電磁場的影響,其使得其可容易地 控制。此外,其之高能量含量使其可達成不可能或很難透 過其他物質狀態,諸如利用液體或氣體加工達成的程序。 術語「電漿」涵蓋密度及溫度改變數個數量級之範圍相 當寬廣的系統。一些電漿非常熱,且其之所有的微觀物種 (離子、電子等等)係大約達到熱平衡,輸入至系統内之能量 係經由原子/分子層級的碰撞而寬廣地分佈。然而,其他電 漿,尤其係碰撞相當不頻繁之在低壓(例如,100 Pa)下之電 漿的組成物種係在相當不同的溫度下,將其稱為「非熱平 衡」電漿。在此等非熱電漿中,自由電子非常熱,其溫度 為數千凱氏溫度(Kelvin ; K),而中性及離子物種則保持為 冷。由於自由電子的質量幾乎可以忽略,因而總系統熱含 量低,且電漿在接近室溫下操作,因此而可加工溫度敏感 845 19 200409669 性忖料,諸如塑膠或聚合物,而不會造成損傷性的熱_擔 。熱電子經由高能碰撞而產生具有可產生深遠化學及物理 '土丨生之咼化本k旎之自由基及激發物種的豐富來源。此 低溫操作加上高反應性之組合使得非熱電漿成為製造及材 料加工之在技術上重要且非常有力的工具,由於其可達成 右可不利用電漿達成的話將需要非常高之溫度或有毒及侵 敍性化學物質的程序。 蛀:於電漿技術之工業應用,-方便的方法係將電磁功率 二土待處理 < 加工件/樣品浸泡於其中或通過之可為氣體 及為氣 < 混合物(加工氣體的體積中。氣體離子化成電漿 :產生與樣品表面反應之化學自由基、uv輻射、及離子。 、、二由正確選擇加工氣體組合物、驅動功率頻率、功率結合 杈八、壓力及其他控制I數,可將φ漿程序調整至製造者 所需的特定應用。 -〜卞久恐靶图,因而其適用^ 多技術應用。非熱平衡電衆對於表面活化、表面清潔 料I虫刻及表面塗佈尤其有效。 -種主流工業快速發展的電漿技術係電漿塗佈/薄膜0 :典型上經由對單體氣體及蒸氣施加電漿而達成高心 。作用。因此’可形成熱安定、|高耐化學劑性且機相 &之經密實、緊密編織及 曰 乂 連接的溥腠。此種薄膜有 甚至最精細複雜的表面上 ^ 及在可確保於粉狀基材上— 為負擔的溫度下等形沈積。R + r Μ 、 - 因此’電漿可理想地用於洽 精細及熱敏感、以及強靭 、土 材料。冤塗層即使係薄層 <S45 j 9 200409669 沒有微孔隙。塗層之光皋忡w 尤卞f生貝,例如顏色,通常可量身定 作,且電漿塗層可良好蚰獻艾^ *者主甚至非極性材料,例如聚 乙烯、以及鋼(例如,今展0_ 至屬反射杰上之抗腐缺薄膜)、陶瓷、 半導體、紡織品等等。 電漿工程產生經對期雙廄田+女, 了功王應用或屋物定製的表面效果,而 未以任何方式影響材料整體。因Λ,電漿處理提供製造者 基於其(整體技術及商業性f而選擇材料之多方面及有力 的工具,同時有獨立管控其之表面以滿足完全不同組之需 求,及授與大大增進之逢口 #处κ 產口口力牝性、性能、壽命及品皙之 自由,其提供使用者對其之製造能力之顯著增加的價值。 此寺性質提供採用以電漿為主之加工之強烈的工業誘因 ’且自從I 960年代起微電子社團即引導此發展,其將低壓 輝光放電電漿發展成用於半導體、金屬及介電質加工之超 南技術及南資本成本加工工具,的低壓輝光放電型電 漿自從1980年代起即逐漸跨越其他的工業領域,而在更適 中的成本下提供諸如聚人舲本 , ^ 〇物衣面活化的方法,以提高黏著/ 黏合強度、高性能塗岸+合口所w 6 土層〜冋口口貝的脫脂/清潔及沈積。因此 :、電漿技術已有實質的佔有率。輝光放電可在真空及大氣 I力下d亍纟大氣壓力輝光放電之情況中,利用諸如氦 或氬心氣體作為稀釋劑,及使用高頻(例如,〉丨仟赫茲(Ah)) 電源於經由潘寧(Penning)離子化機構而在大氣壓力下產生 均句的輝光放電(參見,例如,Kanazawa等人,】扑” D APPK Phys· ^8,1838 :心心等人,
Plasma Chem· 1989 ’ 2_’ 95 ; Kanazawa等人,物理研究中之 84519 200409669 核子{我為及方法(Nuc 1 ear Instruments and Methods in
Physical Research) 1989,B3 7/3 8,842 ;及 Yokoyama 等人 ,J. Phys. D: Appl. Phys. 1990,21 > 374)。 然而’電漿技術的採用受限於大多數工業電漿系統的主 要限制,即其在低壓下操作之需求。部分真空操作係指僅 才疋供個別加工件足離線、批式加工之密閉周圍、密封的反 應為系統。其出料量低或適中,且真空的需求使資本及運 轉成本增加。 然而’大氣壓力電漿提供工業開口或周圍系統,其提供 加工件/基料(webs)之自由進入電聚區域及自其中離開,及 因此提供大或小面積基料或以輸送器運送之個別基料的線 亡連鲕加工。*出料量鬲,且經自高壓操作而得之高物種 通量強化。許多工業顧祕 ,、 一 /、忒,諸如紡織品、包裝、紙張、醫 藥、汽車、航空等等,幾丰6入w Μ七/士 戌子心王仰賴連績線上加工,以致 在大氣壓力下之開口 /周園形能兩將 Μ私水棱供新禎的工業加工能 力。 電暈及火焰(亦係電漿彳_ 起里’予、統已提供工業界有限形式 的大氣壓力電漿處理能力約 年之久。然而,俾營JL少古 製造性,此等系統仍無法 ^ ’、 ^ 較低壓力、僅槽加工電漿 4業界佔有與 火γ <絲且古% — 、土相同的程度。其理由為電暈y 人无具有❹的限制。叾係在提供單 之環境空氣中操作,且势 表面活化程序 夕曰女 、彳终夕材料具有可忽略的影變及女 多具有微弱的影響。處理^ a 以曰及大 欠搜迥常係不均勾,馬、 厚基料或3D基料相容,间 吧車万法不與 门時火培方法不與熱敏感性粉狀基 84519 200409669 材相容。 已於大氣壓力下之電聚沈積獲致顯著的進步。已對大氣 壓力輝光放電之穩定化進行相當多的研究,諸如說明於
Okazaki等人,j. Phys D: Appi. Pliys. 26(1993) 889 892 中。 此外,美國專利說明書第541 43 24號說明在大氣壓力下在隔 開至多5公分之一對電絕緣金屬板電極之間及經在】至1 〇〇 仟赫兹下I 1至5仟伏特之方均根(rms)位能供給能量之射頻 (R. F.)產生穩悲輝光放電電聚。 先前已有人說明使用大氣壓力電漿處理粉狀基材。JP 06-000365提供一種經由使内部及外部金屬圓筒同軸樞軸旋 T專’其中外邯圓筒之至少一側經塗佈介電質而在圓筒之間 形成固疋間隙,使圓筒傾斜,及使電壓通過電極,而進行 物狀基材之大氣壓力電漿處理,而連續電漿處理粉狀基材 之裝置。JP 06-228739提供一種利用大氣壓力輝光放電,經 由利用稀有氣體或稀有氣體及氣態反應物之混合物使粉狀 基材乳體浮懸而將粉狀基材行表面處理之裝置。處理係於 貝貝上圓柱形、垂直設置的反應容器中進行,在其之底部 將氣把引入以使粉狀基材浮懸,及先經在高於大氣壓力之 壓力下進行大氣壓力輝光放電之氣體由容器之頂端離開。 US5j998〇2中提供一種使用大氣壓力輝光放電,使用有機單 H 及/或^佈有機或無機粉狀基材之方法。W〇9 7 / 7 9 1 5 6 中提供—種利用經電漿活化之氣體處理去黏聚顆粒,以改 變顆粒及物種之表面的方法。 所有前述之先前技藝係關於粉狀基材之活化或使用氣相 H45I9 200409669 前驅物塗佈塗層, 二./ 其典型上的結果顯示低沈積读圭 需要鬲滞留時間於製彳I 、 — ’、 ,且
门、衣件-无分塗佈的表面C 發明内容 根據本發明之第一且余、 形成塗層之方法,此方、^ 提,一種在粉狀基材上 塗層形成材料,及分n彳夕/土人… 4固恶 開知待莹佈之粉狀基材 漿放電及/或由其所產生 大才飞电 + r 隹子化乳泥中,及使粉狀基材義 路主㈣化之液態及/或固態塗層形成材料。 1 關於本申請案之用途’應將粉狀基材視為呈球形顆伫 小板物、針/管、薄片、粉塵、顆粒形態及任何前述形:之 聚集體的固體材料1狀基材可利用任何適當的裝置:相 對於《區域(即其經大氣電漿放電及/或由其所產生之離 子化氣流處理之區域)輸送,例如,其可僅在重力之下掉茨 通過電漿區,4可在支承物或其類似物上輸送通過,例^ ,其可在輸送裝置諸如在捲軸對捲軸(reel t〇 reel)支承物、 輸送帶或振動輸送器上以流體化床之形態輸送通過電漿區 。或者,粉狀基材可於遞送氣體中輸送,或於渦流或雙重 旋風器型裝置中輸送,在此情況,待處理之粉末可自=漿 室之頂部或底部供入。粉末亦可懸浮於電漿室内之流體床 设置中。在捲軸對捲軸基料支承物之情況中,可先將粉狀 基材置於材料之基料上,然後再加上第二個嗜 丨口傅盖,及將兩 基料之邊緣密封在一起,以防止粉狀基材自基料失茨。或 者,可使粉狀基材於適當的容器中保持靜止,在此情、、尸 使產生大氣電漿放電及/或離子化氣流之電漿罡、 L〜+ 7L相對於苳 cS45 19 200409669 器移動。無論利用何種輸送裝置,粉狀基材滞留於大氣電 漿放電及/或離子化氣流中之暴露時間為定值,以確保在: 個被處理之粉狀基材上有均勻的處理較佳。 液心及/或固怨塗層形成材料係透過如說明於在本申請案 之優先權日期之後公告之本申請人之共同申請中之"青; WO 02/258548中之霧化器或噴霧器而經由液態及/或固態喷 務引入芏電漿裝置中較佳。
塗層形成材料可使用任何習知之裝置霧化,例如超音波 °貧嘴。霧化器以產生自1()至⑽微米之塗層形成材料液滴大 小較佳,自10至50微米更佳。使 之適當的霧化器係購自S〇n〇-Tek 法中 New 用於根據本發明之方 Corporation (Milton,
York,USA)或 Lechler GmbH(Metzingen,Germany)之超音波 =嘴。可於根據本發明之方法中利用之裝置可包括複數個 霧化器’其可具有特殊效用’例如’纟中使用裝置於自兩
不同’至層形成材料在粉狀基材上形成共聚物塗層’其中單 體係不相混溶或在不同相中,例如,第一材料為固態,及 第二材料為氣態或液態。 在本發明之方法中可使用任何用於產生大氣壓力電漿輝 光放電疋習知裝置,例如,大氣壓力電漿噴射、大氣壓力 微波輝光放電及大氣壓力輝光放電。典型上,此種裝置將 使用氦稀釋劑及高頻(例如,> 丨仟赫茲)電源於經由潘寧離子 化機構而在大氣壓力下產生均勻的輝光放電(參見,例如, KanaZawa等人,j. Phys D· Appl phys 1988,红,838 ;
Okazaki等人 ’ Pwc. Jpn Symp. Plasma Chem. 1989,2_,95 84519 12 200409669 ;Kanazawa等人,物理研究中之核予儀器及方法丨^的, B 3 7/3 8,842 ;及 Y〇k〇yama等人,j. phys. D: Appl phys 199〇 ,11, 374)。 對於典型的電漿產生裝置,電漿係在自3至5〇毫米,例如 5至25毫米之間隙内產生。在大氣壓力下之穩態輝光放電電 衆 < 產生ίτ、視所使用ι加工氣體而在可隔開至多5公分士 相鄰電極之間得到較佳。電極係經在1至1〇〇仟赫茲下,以 在1 5主5 0仟赫兹下較佳之1至! 〇 〇仟伏特,以在1及3 〇仟伏特 之間較佳之方均根(rms)位能之射頻供給能量。用於形成電 漿之電壓典型上將係在1及30仟伏特之間,在2 5及1〇仟伏特 之間最佳,然而,實際的值將視化學性/氣體選擇及電極之 問的電漿區域尺寸而定。雖然大氣壓力輝光放電組件可在 杉:何適當的溫度下操作,但其在室溫(2〇°c )及7〇艺之間之溫 虞下操作將較佳,且其典型上係在3〇至50 t.之範圍内之溫 |下使用。 使用在根據本發明之電漿處理方法中之加工氣體可為任 何適當的氣體,但其為惰性氣體或以惰性氣體為主之混合 物諸如,比方說,氦、氦及氬之混合物、及另包含g同及/戈 相關化合物之以氬為主之混合物較佳。此等加工氣體可單 |资使用,或與可能的反應性氣體諸如,比方說,氮、氨、 〇2、H2〇、N〇2、空氣或氫結合使用。加工氣體係單獨的氮 ,或與氧化或還原氣體結合最佳。氣體之選擇係視所採取 的電漿方法而定。當需要氧化或還原加工氣體時,將其以 包含90-99%鈍氣及1至10%氧化或還原氣體之混合物使用將 200409669 較佳。 、&在氧化條件下’可使用本方法於在純基材上形成含氣 塗層。舉例來說,彳自經霧化之含矽塗層形成材料將以氣 化矽為王之窆層形成於粉狀基材表面上。在還原條件下, 可使用本方法於形成不含氧之塗層,例如,可自經霧化之 含矽塗層形成材料形成以碳化矽為主之塗層。 〈 口氮氣大氣中,氮原子或分子會結合至粉狀基材表 囬及在3氮及氧兩者之大氣中,硝酸鹽會結合至及/或形 成於粉狀基材表面上。#可在暴露至塗層形成物質之前, 使用此種氣I於將粉狀基材表面前處理。舉例來說,粉狀 基材之含氧電漿處理可提供與塗佈塗層的改良黏著。含氧 電漿係經由將含氧物質引入至電漿諸如氧氣或水而產生。 利用本方法塗佈之顆粒的塗層厚度係1-200奈米。典型上 ’所使用之加工氣體為氦。 經由將塗層形成材料直接引人至大氣電漿方法中,可和 致塗層於粉狀基材顆粒上之較高的沈積速率。使用塗層: 成材料之直接注射亦提供較寬廣範圍之前驅物材料的使用 ,且塗佈方法並不限於氣相材料或高蒸氣壓液體。 雖然可僅使粉狀基材進行根據本發明之塗佈步辨… π可利用任何適當的電漿處理進行前或後處理。典型上, =狀基材H兄中’ i可能的係在塗佈之前將粉狀基材 表面清潔及/或表面活化的前處理。後處理可能包括汾佈進 -步的塗層。舉例來說’可使形成於粉狀基材上…在 一定範圍的電紫條件下後處理。舉例來說,可利用電 H45 19 200409669 漿處理將衍生自矽氧虎之塗層進一步氧化。含氧電漿係經 由將含氧物質引入至電漿諸如氧氣或水而產生。
可使用電漿處理之任何適當的組合,例如可使粉狀基材 通過第一電漿區域,以經由使用氦氣電漿電漿處理而清潔 及/或活化粉狀基材之表面,然後再通過利用於塗佈塗層之 第二電漿區域,例如,經由透過如說明於在本申請案之優 先權日期之後公告之本申請人之共同申請中之申請案w〇 02/2 5 8548中之霧化器或噴霧器塗佈液態或固態喷霧。 本發明進一步提供在粉狀基材上形成塗層之裝置,此裝 置包括用於產生大氣壓力電漿放電之裝置,在使用時,將 待塗佈之粉狀基材引入至其内部;在電漿放電内提供經霧 化之塗層形成材料之霧化器;及將塗層形成材料供給至霧 化器之裝置。
電漿室可垂直定向,而可重力進給加工。舉例來說,如 使用大氣壓力輝光放電,使用平的平行電極或同心平心電 極,則電極可垂直定向。在此情況,將待處理之粉狀基材 於電漿室之頂端引入,並通過其中引入經霧化之塗層形成 材料的電漿區域。在電漿區域内發生聚合及交聯反應,而 產生具經充分黏著塗層之粉狀基材顆粒。經塗佈之粉狀基 材顆粒接著於底部離開室。或者,可將經霧化之液態及/或 固態塗層形成材料引入至電漿室之頂端,及於室内形成聚 合物顆粒,並收集於底部。在兩種情況中,可經由使電漿 加工氣體流動通過室,而控制及增進顆粒流動。 在另一具體實施例中,利用於本發明方法中之大氣壓力· 84519 ZUmuyooy 每展、復件可勺 J弟一及竽—善α、 隔開的平 ” 7 一對 < 垂直或水平排列、平行間 至少一 +不屯L其具有在該第一對之間鄰接於一電極的 介電板:;:’及在該第二對之間鄰接於-電極的至少一 電極之間& ^ 1弘板或各罘一及第二對電極之 心同旳間隔形成笋一 — 件亦包拓 " 弟—14漿區域。在此情況,組 L括—將粉狀基材連續鈐 域之裝盟。I埂、,彻迗迥過孩第一及第二電漿區 告。見。雹極係垂直排列最佳。 田兒極係垂直排列時 以捲軸對接^ %I如狀基材又一種裝置可利用 宁捲車由為主的女、、土 ^ 任何弁二 *水平排列時,輸送裝置可為 1士1 j无則所說明之壯田 4 ,丄 上。 1且,諸如在捲軸對捲軸基料或輸送帶 上或向下的方向 向上的方向中通 電漿區時,設置 目’而將粉狀基 ’自第一電漿區 二捲轴或下一電 漿區域中之粉狀 進通過各電漿區 I區之速度,以 ’但可基於通過 區域中停留不同 、|、、垂直排列的電極,粉狀基材可於向 中%运m過第一電漿區域。當粉狀基材在 過一電漿區,及在向下的方向中通過另一 /或.’個導輥,以視所使用之電漿區之數 材自第一捲軸之末端導引至第一電漿區内 至及進入第二電漿區及自第二電漿區至第 漿區較佳。在塗佈之前可預先決定在各電 基材;帶留時間,及可改變粉狀基材必須行 威之路徑長度替代改變粉狀基材通過各電 致粉狀基材可在相同的速度下通過兩區域 各別電漿區域之不同路徑長度而在各電漿 的時間。 情泥中,使 粉狀 在利用於本發明中之電極係垂直定向的 845 I -16 - 200409669
基材在大氣壓力電漿組件中向上輸送通過一電漿區域,及 向下通過另一電漿區域較佳Q 各粉狀基材僅需通過組件進行一程較佳,但若需要,可 使粉狀基材回到第一捲軸,以進一步通過組件。
可將另一對電極加至系統,以形成粉狀基材將通過之再 一連績的電漿區域。可將另一對電極設置於該第—及第二 對電極之前或之後,以致使粉狀基材進行前處理或後處理 步驟。該另一對電極係設置於該第一及第二對電極之=或 之後較佳,及之後最佳。在由另一對電極形成之電漿區域 中施行的處理可與在第一及第二電漿區域中所採行者相同 或不同。在設置額外的電漿區域以進行前處理或後處理之 情況中,將設置必需數目的導件及/或輥子,以確保粉狀基 材通過組件。同樣地,粉狀基材將向上及向下交替輪送^ 過組件中之所有相鄰的電漿區域較佳。
各電極可包括任何的形f豊及構造。可使用金屬電極 ’且其可為,例如’金屬板或網的形態。金屬電極可藉由 黏著劑或經由施加一些熱而黏合至介電材枓,及使電極之 金屬融合至介電材料”戈者,可將一或多個電極包封於介 電材料内’或其可為具有金屬塗層之介電材料的形態諸如 ,比方說,介電質,以具有*鍍金屬塗層之坡璃介電質較 佳。 ,、乂 在本發明之一具體實施例中,各電柘 你成明於在本發明 •^優先權日期之後公告之本申請人之共同由 、 /、u甲凊中义申請案 W〇02/3 5 5 76之類型,其中設置包括電柘 i及相鄰介電板及用 845 19 200409669 導引於電極之外部上,以覆蓋電極之 於將冷卻傳導性液體 平面表面之冷卻液體分佈系統的電極單元。各電極單元^ 包括具有由介電板形成之側面的防水盒,將平面電極與液 體入口及液體出口一起黏合於盒之内部上。液體分佈系: 可包括冷卻為及再循環泵及/或加入噴霧嘴的嘴灑管。 理想上,冷卻液體將覆蓋遠離於介電板之電極的面。洽 卻傳導性液體係水較佳,且其可包含傳導性控制化合物^ 如金屬鹽或可溶解的有機添加劑。理想上,電極係與介電 板接觸之金屬電極。在一具體實施例中,有一對各與介兩 板接觸之金屬電極。水亦係極度有效率的冷卻劑,且亦2 助於提供有效率的電極。 μ 介電材料可由任何適當的介電質製成,其例子包括,口 不限於,聚碳酸酯、聚乙缔、玻璃、破璃層合物、環氧:: 充玻璃層合物及其類似物。 L具 根據本發明之方法尤其適合於塗佈對其他㈣方法^ 二:狀基材’且其特別有用於塗佈對,例如,熱、溫卢: =敏八感的粉狀基材。待塗佈之粉狀基材可包括任何= 1大二:/屬、金屬乳化物、氧切及珍酸鹽、碳、有機於 狀基材,包括聚合、染料、香料、調味 ”二林及抗生素以及生物活性化合物例如蛋白質 包:酵素及其他以蛋白質為主之物質。 -曰貝’ W明瞭根據本發明之涂 適本冷爲 '二 土曰形成材料係可使用於製造任何 吗土層 < 前驅物材料,並和 膜或將現有矣…例如’可使用於成長薄 兄有表面化學改暂士 ’ /、《材枓。可使用本發明於形成許 H45I9 200409669 多不同類型的塗; 曰 形成於粉狀基材上之塗層的翱开、丨 所使用之塗層形成松 ’、之係由 A材枓所決定,且可使用本方法 形成單體材料()窄八 、使查層 丁 ^、)氷合於粉狀基材表面上。 塗層形成材料<、Α + 了為有機或無機、固態、液態或匕 其之混合物。適卷% & *处、、或 、田的有機塗層形成材料包括羧酸, 丙烯酸酯、丙烯龄而匕# ,, 日、甲基 埽馱酯、苯乙烯、甲基丙烯暗、%及一
例如甲基丙烯酸甲黯、甲基丙烯酸乙酉旨、甲基…’ 、曱基丙烯酸丁醋、及其他甲基丙晞酸烷酷酷 缔酸醋’包括有機官能甲基丙缔酸醋及丙晞酸酷,:的内 基丙烯酸縮水甘油g旨、甲基丙烯酸三甲氧矽烷丙酯?括曱 丙烯鮫烯丙酯、甲基丙缔酸羥乙酯、甲基丙烯酸與甲基 曱基丙知二纪胺基垸酿、及(甲基)丙婦酸氣境酉旨、 烯酸、丙烯酸、反丁烯二酸及酯、依康酸(及酯)、噸基兩 酸奸、苯乙缔、α-甲基苯乙烯,厲,例如,南丁歸二 諸如氣乙稀及氟乙缔,Α氟化缔,例如全氟晞、丙^希, 曱基丙烯腈、乙烯、丙’希、缔丙胺、偏二南乙烯、: :丙晞酿胺,諸如N-異丙基丙缔驗胺、甲基丙缔釀H :化合物’例如縮水甘油氧丙基三甲氧石夕烷、纟水甘油, 氧化苯乙缔、單氣會丁 -、膝 、 冬卩4乳化丁 —知、乙二醇二縮水甘油基醚、曱 基丙烯酸縮水甘油酯、雙酚A _ 又”八一水甘油基醚(及其之寡聚 物)、氧化乙烯基環己烯,導雷料取 寸私性聚合物諸如吡咯及嘍吩及 其之衍生物,及含鱗化合物,例如«二甲基烯㈣。 適當的無機塗層形成材料包括展八 匕估金屬及金蜃氧化物,包括 膠態金屬。有機金屬化合物亦可為適當的塗層形成材料, 845 200409669 甘 包才左 rt ^古至屬^氧化物諸如鈦酸鹽、烷氧化錫、锆酸鹽戈 几羊L化物。然而,本發明人發現本發明特別有用於 使用包括含矽材料之塗層形成組成物而提供具有以氧化的 ^ 氣烷為主之塗層的粉狀基材。使用於本發明方法之適 二的含頻料包括㈣(例如,料、縣德、燒基“ '、^氧矽烷)及直鏈(例如,聚二甲基矽氧烷)及環狀矽氣 ^ (例如,八甲基環四矽氧烷),包括有機官能直鏈及環狀矽 =:€例如,含Sl_H、鹵基官能、及鹵烷基官能直鏈及環狀 矽氧烷,例如四甲基環四矽氧烷及三(九氟丁基)三甲基環三 、氧I )。可使用不同含矽材料之混合物於,例如,敕 特旁兩士、 、 正丨^、 、 祛求用之粉狀基材的物性(例如,熱性質、光學性質, 諸如折射率、及黏彈性性質)。 、此外,在氧化條件下,可使用本方法於在粉狀基材上形 成含it塗層。舉例來說,可自經霧化之含矽塗層形成材料 將以氧化矽為主之塗層形成於粉狀基材表面上。在還原條 件下,可使用本方法於形成不含氧之塗層,例如,可自經 務化 < 含碎塗層形成材料形成以碳化矽為主之塗層。 亦可使用包含除氧之外之氣體的電漿產生條件,例如鈍 氣二氣、氫、氮及氨。在含氮大氣中,氮會結合至粉狀 基材表面,及在含氮及氧兩者之大氣中,硝酸鹽會結合至 及/或形成於粉狀基材表面上。亦可在暴露至塗層形成物質 足前,使用此種氣體於將粉狀基材表面前處理。舉例來說 ,粉狀基材之含氧電漿處理可提供與塗佈塗層的改良黏著 。含氧電漿係經由將含氧物質引入至電漿諸如氧氣或水而 ^4519 -20 - 200409669 •牌。此外,彳使形成於粉狀基材上之塗層在一定範圍的 I 7“条件下後處理。舉例來說’可利用含氡電漿處理將衍 所目矽虱烷之塗層進-步氧化。含氧電漿係經由將含氧物 K ?!入至電漿諸如氧氣或水而產生。 本發明較諸先前技藝之一優點為可基於在大氣壓力條件 成=仃之本發明之方法,使用經霧化之液態及固態塗層形 枓於在録基材上形成塗層。此外,可在不存在遞送
H下將塗看形成材料引人至電漿放電或所產生之U 可經由’例如’直接注射’將其引人,藉此將塗層 形成材料直接注入至電漿中。 狀2所述’本發明人發現本發明對於使用切材料在粉 在形成以氧化物夕氧垸為主之塗層之特殊效用。 將=條件’例如’含氧大氣下,可自經霧化之含珍材料 >虱化矽之塗層形成於粉狀基 件下,7 , 叫上 Π77在非虱化條 直鏈I目切單體之霧化作用將錢㈣合物,例如, 上。可;;支鍵或樹脂石夕氧燒聚合物,形成於粉狀基材表面 w ,用有機及含矽單體之混合物將矽氧取 形成於粉狀基材表面上。然&,本發 :水物 材上形成右嫌..入β 月吓有用於在粉狀基 系望層,例如聚丙烯酸或全氟有機塗層。 例來二本發明之方法塗佈之粉狀基材可具有各種效用。舉 氣)性^Γ氧切為主之塗層可透過增進的障壁(氧及/或濕 包封作二她幾顆粒諸如香料、調味料、藥品或染料產生 及經把制的釋放性質 可料 作為強化或性質改_之全屬二 、饤之至屬或金屬虱化物粉末獲致改 845 19 200409669 =中容性…將改良的相容性利用於分散物諸如聚合 枓中之染料/顏料、抗氧化劑及UV安定劑以及配方產品 可經由增進諸如流動、相容性及靜電 =性而改良粉末加工。可將特定的功能加至催化劑 隹% "磨體’以增進或控制反應性。此外,可控制使用 隙離介質或作為分離介質之支承物之粉末的表面及孔 隙性質。 -在亡發明t -具體實施例t,可71字帶靜電荷 < 多孔板或 振動師攻置成與粉狀基材自電漿區域之出口成歹I卜以收集 所得之粉狀基材。 在如圖1所不〈第—具體實施例中,提供-種用於粉狀基 材處理〈大氣壓力輝光放電裝置,其係仰賴重力於將粉狀 基材輛运逋過大氣壓力輝光放電裝置。此裝置包括由介電 材料諸如聚丙缔製成之外殼、—對平行電極21於引入塗 層製造材料之霧化器噴嘴3、供粉狀基材傳送用之裝置4及 供所產生之經塗佈粉狀基材用之收集器。在使用時,將加 工氣體’典型上係氦’引入至管柱之頂端中,(在電極之 間:加適當的位能差,以於其間產生如由電漿區域6所指示 %水自傳达I置4引入適量之粉狀基材’及經由噴嘴3 土層衣过材料。典型上,塗層製造材料係為經霧化之 ㈣及/、或固體㈣態’因此將未經塗佈之粉狀基材引入至 ,、中之见水區6的上方,且仰賴重力於將粉狀基材及塗層 形成材料供給通過電漿區域6,並將經塗佈之粉狀基材收集 -22 - 19 200409669 於收集器7中。 圖2描繪另一具體實施例,其中設置作為待根據本發明而 處理之粉狀基材之支承物的撓性基料。以導輥7 〇、7丨及7 9 之形態設置將基料輸送通過大致描繪為20之大氣壓力輝光 放電組件的裝置。大氣壓力輝光放電組件20分別包括兩對 電極21、22及23、24 ’其在使用時將產生電漿區25及6〇。 各電極21、22、23及24包括一典型上由介電材料諸如聚丙 烯製成之防水盒。各防水盒包括一固定至玻璃介電材料U 之鋼絲網電極26及一用於將水噴於網電極之後面上之喷灑 管入口 2 8。組件亦包括加工氣體入口 7 5、組件蓋7 6及用於 將霧化液體引入至電漿區域60中之超音波噴嘴74。 在使用時,將其上滯留粉狀基材之撓性基料68輸送至及 越過導輥70,並因而導引通過在電極21及22之間之電漿區 域25。於電漿區域25中產生之電漿可為清潔及/或活化氦電 聚’即未將反應性試劑引入至電漿區域25中,或者可將區 域2 5使用作為氦淨洗區,即未將此區中之電漿點燃。氦係 經由入口 75引入至系統中。由於氦較空氣輕,因而將蓋% 置於系統之頂邵,以防止氦之逸出。當離開電漿區域以時 ,包含經電漿清潔之粉狀基材的基料通過導件7丨上方,並 向下導引通過在電極23及24之間之電漿區域6〇及越過輥子 72。電漿區域60經由透過超音波噴嘴74注入液態塗層製造 材料形態之反應性試劑而對粉狀基材產生塗層。經霧化之 液體在重力之下行進通過電漿區域6。,並保持與電聚區: 25分離’因此在電漿區域25中未發生塗層。粉狀基材邊經 845 1 9 200409669 塗佈邊輸送通過電漿區域6 0,然後輸送通過棍子7 2 ’並被 收集,或經額外的電漿處理進一步處理。輥子7 〇及7 2可為 相對於輥子的捲軸。通過係將粉狀基材導引至電漿區域2 5 中及至掇子7 1上。 實施例1 以下實施例說明根據說明於圖2之具體實施例電漿處理 以商品名 Ricesil™ (Rice Chemistry Inc. of Stuttgart ’ Arizona ,US A)銷售之米糠灰(其係源於生物的非晶形氧化矽)。在 此實施例中,附著至兩電極之玻璃介電板之間的距離為6毫 米,及各電極之表面積為(1 〇公分x 5 〇公分)。所使用之加工 氣體為氦。經由以2 9仟赫茲之頻率對兩電極施加1瓦/平方公 分足RF功率而產生大氣壓力輝光放電。操作溫度係低於4〇 。使用圖2所說明之類型的捲軸對捲軸機構,利用導引裝置 於促進粉狀基材之輸送離開第一及進入第二電漿區域中, 而使粉狀基材通過第一及第二電漿區兩者。粉狀基材通過 兩電漿區之速度為…分鐘。將米糠灰置於聚醋不織布上, 及將另-片相同的不織布置於粉狀基材之上方,而形成不 織布封袋。然後將由兩片不織布
^ y成 < 封袋的邊緣密封Q 和四甲基環四矽氧烷(TMCTS)在矣八▲、 供认至> 丄^ + 母刀鐘3〇〇微升之流率下 …,。土餐首波噴嘴。丁 MCTS液滴自超立冰+ l ρ 壓力輝# ^ + 、 夂曰波赁嘴排出於大氡 土力渾先放電上万。此等TMCTS液滴邀 布封铬n nJU, /^有米糠灰之不減 冋時迥過大氣壓力輝光放電。 所得+ i ;以上處理之後收集 奸、您處理的米糠灰,並使其進行 使用7k / ® 、 Γ 4驗。 (IP A)落液評任缔雷將垮 處^^經電 845 I 9 -24- 200409669 之米糠灰之疏的試驗 以表1所指示之比組成水及IPA之溶液’然後使用刮勺將 未經處理I米糠灰(〇. 100克)及經TMCTS處理之米糠灰 (〇· 1 0 0克)之U如引入至各落液中,以評估經處理顆粒之疏 水性程度。然後將樣品振搖1分鐘,及使其沈降丨分鐘。在 下表1中,將經潤濕及沈至底部之樣品標示為親水性,將所 有粉末皆回到液體之上表面的樣品標示為疏水性,及將一 些粉末回到表面及一些沈降為沈降物或保持懸浮之樣品標 示為中間。 使用溶液 未經處理之米糠灰 經TMCTS處理之米糠色_ HPLC 水 潤濕及下沈 疏水性 水:IPA 5%溶液 潤濕及下沈 疏水性 水:IPA 10%溶液 潤濕及下沈 疏水性 水:IPA 15%溶液 親水性 中間 水:IPA20%溶液 親水性 中間 水:IPA 30%溶液 親水性 潤濕親水性 未經處理之米糠灰及經處理之米糠灰之29Sl固態NMR光 譜分別示於圖3a及3b。兩樣品所使用之方法為CPMAS -交叉 極化幻用方疋轉(Cross Polarisation Magic Angle Spinning), 速度5仟赫茲,交叉極化時間5毫秒,脈衝延遲5秒。 在未、匕處理I米擁灰 < 情況中(圖3 a),在-1 0 1 .6 p p m下觀 察得之主波峰係歸因於SiO wQH基團(Q3氧化矽物種)之存 84519 200409669 及在-丨1 2.2 ppm下觀察得之肩部至主波峰係歸因於 土图(氣化碎Q4物種)’其清楚地顯示未經處理之米糠 灰為氧化矽的形態。 也理處理之米糠灰之情況中(圖3b),波峰係指示如下:
指示 -35.05 -55.13 -65.66 Ί01.34 -110.60 以6吧1〇2/2(〇\聚合物)
MeSi〇2/2〇R(T2,其中R=H或脂族)
MeSi〇3/2(T3 單元)
Si〇3/2〇H(Q3單元)
Si〇4/2(Q4單元) 1目U"、T2及T3之波峰係源自於環狀單體。以_1〇1 3為 中心之支廣波峰之強度相較於在圖3 a中觀察得之相等波峰 頭著地降低。此係環狀已將米糠灰氧化矽處理的直接證據。 凰-式簡單說明_ 本發明已基於實施例及圖式作進一步說明,其中: 圖1顯示本發明之一具體實施例之平面圖,其中藉由重力 將粉狀基材輸送通過電漿區域。 圖2顯示粉狀基材於捲軸對捲軸基料上輸送通過電漿區 域之另一具體實施例之平面圖。 圖3 a係未經塗佈之米糠灰之29si固態NMR光譜,及圖3b係 如實施例1中說明之經塗佈之米糠灰之29S!固態NMR光譜。 -26 - 200409669 圖式代表符號說明 1 2、 21、 22、 23、 24 3 4 6 ^ 25 ^ 60 7 20 26 27 28 68 70 > 71 > 72 74 75 76 外殼 電極 霧化器噴嘴 供粉狀基材傳送用之裝置 電漿區域 收集器 大氣壓力輝光放電組件 鋼絲網電極 玻璃介電材料 喷灑管入口 撓性基料 導輥 超音波噴嘴 加工氣體入口 組件蓋 S45 19 -27 -

Claims (1)

  1. 200409669 拾、申請專利範圍: 1. 種在粉狀基材上形成塗層之方法,此方法包括卩丨入許 霧化之液態或固態塗層形成材料,及分開將待塗 I 狀基材輸送至大氣電漿放電及/或由其所產生之離子化 氣泥中,及使粉狀基材暴露至經霧化之液態或固態茶屉 形成材料。 ^ 2. 根據申請專利範圍第】項之方法,其中該粉狀基材係經 由在重力《下掉落或於遞送氣體中輸送,而輸送通過大 氣電漿放電及/或由其所產生之離子化氣流。 3. 根據申請專利範圍第〗項之方法,其中該粉狀基材係經 由於支承物(68)上運送,而輸送通過大氣電漿放電及/ 或由其所產生之離子化氣流。 4. 根f申請專利範圍第3項之方法,其中該支承物係選自 /;,U缸化床、捲軸對捲軸(reel to reel)基料支承物(68)、輸 送帶或振動輸送器。 5. 根據中請專利範圍第4項之方法,其中該捲軸對捲軸基 料支承物係由不織布製成。 :豕申叫專利範圍第4或5項之方法,其中該粉狀基材之 捲軸對捲軸基料支承物包括兩層在使用時其間爽入粉 狀基材之不織布材料。 7.根據申1專利範圍第1至W任一項之方法,其中該經霧 广、夜心或固怨塗層形成材料係經由直接注射而引入 =虱⑨桌攻電及/或由其所產生之離子化氣流中。 .根據申請專利範圍第1至W任-項之方法,其中該待塗 845 19 :之粉狀基材係選自金屬、金屬氧化物、氧化碎、碳、 r。知狀基材、染料、香料、碉味料粉狀基材、醫藥粉 狀基材及/或生物活性粉狀化合物。 9·—種用於根據申請專利範圍第丨至5項任一項之方法在 钻狀基材上形成塗層之裝置,其中該裝置包括用於產生 大氣壓力電漿放電之裝置(2〇),在使用時,將待塗佈之 粕狀基材引入至其内部;在電漿放電内提供經霧化之塗 、 層形成材料之霧化器(74);及將粉狀基材引入及輸送通幾 過大氣壓力電漿放電(25, 60)之裝置(68: 7〇, 71, 72)。 〇’根據申請專利範圍第9項之組件,其包括第一及第二對 之垂直或水平排列、平行間隔開的平面電極(2 1,223, 24),其具有在該第一對(21,22)之間鄰接於一電極的至 少一介電板(27),及在該第二對(23, 24)之間鄰接於一電 極的至少一介電板(27),在介電板(27)與另一介電板或 各第一及第二對電極之電極之間的間隔形成第一及第 —弘漿區域(25, 600),此組件亦包括一將粉狀基材連續輸 鲁 送遇過II第一及第二電漿區域之裝置(68, 7〇, 71,72)。 1 .根據申請專利範圍第1〇項之組件,其中該電極(21,22,. 23, 24)係垂直排列,及該將粉狀基材輸送通過該第一及 々/Γ 弟一電漿區域之裝置係利用捲軸對捲軸基料支承物(68, 70, 71,72)。 - ·根據中請專利範圍第丨〇或n項之組件,其中各電極(2丨, 〜-,23,24)係為具有由介電板(27)形成之側面之防水盒 ’將平面電極(26)與可將水或水溶液噴射於平面電極 <S4519 200409669 (2 6 )之面上之液體入口( 2 8 ) —起黏合於盒之内部上的形 怨。 1 3 . —種形成粉狀基材之方法,其包括使霧化液體接受大氣 電漿,及收集由電漿處理所產生之粉狀基材。 1 4.根據申請專利範圍第1 3項之方法,其中該電漿處理係為 大氣壓力輝光放電。 15.根據申請專利範圍第13或14項之方法,其中該霧化液體 一 係為四甲基環四矽氧烷,及該所產生之粉狀基材係為氧 化矽。
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Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0208263D0 (en) * 2002-04-10 2002-05-22 Dow Corning Protective coating composition
TW200308187A (en) * 2002-04-10 2003-12-16 Dow Corning Ireland Ltd An atmospheric pressure plasma assembly
GB0208261D0 (en) * 2002-04-10 2002-05-22 Dow Corning An atmospheric pressure plasma assembly
GB0323295D0 (en) * 2003-10-04 2003-11-05 Dow Corning Deposition of thin films
US7893182B2 (en) 2003-10-15 2011-02-22 Dow Corning Corporation Manufacture of resins
GB0424532D0 (en) * 2004-11-05 2004-12-08 Dow Corning Ireland Ltd Plasma system
US20090142514A1 (en) * 2004-11-05 2009-06-04 Dow Corning Ireland Ltd. Plasma System
GB0509648D0 (en) * 2005-05-12 2005-06-15 Dow Corning Ireland Ltd Plasma system to deposit adhesion primer layers
US8945684B2 (en) * 2005-11-04 2015-02-03 Essilor International (Compagnie Generale D'optique) Process for coating an article with an anti-fouling surface coating by vacuum evaporation
US20080083701A1 (en) * 2006-10-04 2008-04-10 Mks Instruments, Inc. Oxygen conditioning of plasma vessels
GB0717430D0 (en) * 2007-09-10 2007-10-24 Dow Corning Ireland Ltd Atmospheric pressure plasma
TWI370525B (en) * 2008-04-25 2012-08-11 Ind Tech Res Inst Encapsulant composition and method for fabricating encapsulant material
EP2180768A1 (en) * 2008-10-23 2010-04-28 TNO Nederlandse Organisatie voor Toegepast Wetenschappelijk Onderzoek Apparatus and method for treating an object
GB2466251B (en) * 2008-12-16 2011-03-09 Ind Tech Res Inst Encapsulant compositions and method for fabricating encapsulant materials
CN101555588B (zh) * 2009-03-18 2011-04-27 成都同明新材料技术有限公司 一种基于大气压辉光的低温等离子体系统
US8206794B2 (en) * 2009-05-04 2012-06-26 The Boeing Company System and method for applying abrasion-resistant coatings
GB2482485A (en) * 2010-08-02 2012-02-08 Tetronics Ltd A process for the production of HCl
WO2012028695A2 (en) 2010-09-01 2012-03-08 Facultes Universitaires Notre-Dame De La Paix Method for depositing nanoparticles on substrates
US20120255492A1 (en) * 2011-04-06 2012-10-11 Atomic Energy Council-Institute Of Nuclear Enetgy Research Large Area Atmospheric Pressure Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition Apparatus
EP2702840A1 (en) * 2011-04-27 2014-03-05 Dow Corning France Plasma treatment of substrates
CN103596878A (zh) * 2011-05-23 2014-02-19 纳诺赛尔股份有限公司 用于使粒子状和粉末状产品官能化的装置和方法
CN103060740B (zh) * 2013-01-29 2015-04-08 电子科技大学 一种大气辉光放电低温等离子体镀膜技术
KR102124042B1 (ko) * 2013-02-18 2020-06-18 삼성디스플레이 주식회사 기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
US20160081945A1 (en) 2013-05-24 2016-03-24 Nanexa Ab A solid nanoparticle with inorganic coating
DE102015213824A1 (de) * 2015-07-22 2017-01-26 Volkswagen Aktiengesellschaft Sprühvorrichtung zum Auftragen eines Farbmediums auf ein Bauteil eines Kraftfahrzeuges
JP6722461B2 (ja) * 2016-01-25 2020-07-15 日本ニューマチック工業株式会社 粉体処理装置及び方法
EP3443816A1 (en) * 2016-04-11 2019-02-20 Grinp S.R.L. A machine and a process for the atmospheric plasma treatment of different materials using gaseous mixtures comprising chemicals and/or monomers
EP3602606B1 (en) 2017-03-24 2024-06-26 FUJIFILM Electronic Materials U.S.A., Inc. Surface treatment methods and compositions therefor
EP3446793B1 (en) * 2017-08-23 2023-10-04 Molecular Plasma Group SA Soft plasma polymerization process for a mechanically durable superhydrophobic nanostructured coating
EP3735325A4 (en) 2018-01-05 2021-03-03 FUJIFILM Electronic Materials U.S.A, Inc. SURFACE TREATMENT COMPOSITIONS AND METHODS
CN110042649B (zh) * 2019-05-20 2020-08-04 江南大学 一种用于织物功能整理的大气压等离子体设备及其应用
GB2585077A (en) 2019-06-28 2020-12-30 Nanexa Ab Apparatus
CN110599903B (zh) * 2019-08-12 2021-10-08 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 柔性显示面板
TWI717127B (zh) 2019-11-29 2021-01-21 財團法人工業技術研究院 核殼結構的複合材料與其形成方法
EP3881941A1 (en) * 2020-03-17 2021-09-22 Molecular Plasma Group SA Plasma coating method and apparatus for biological surface modification
JP7463528B2 (ja) 2020-08-31 2024-04-08 富士フイルム株式会社 流動層塗布装置

Family Cites Families (85)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3247014A (en) * 1963-05-29 1966-04-19 Battelle Development Corp Method of coating solid particles
US4212719A (en) 1978-08-18 1980-07-15 The Regents Of The University Of California Method of plasma initiated polymerization
US4568605A (en) * 1981-01-28 1986-02-04 Ppg Industries, Inc. Acidified powdered interleaving
JPS59160828A (ja) 1983-03-01 1984-09-11 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気記録媒体
US4588641A (en) 1983-11-22 1986-05-13 Olin Corporation Three-step plasma treatment of copper foils to enhance their laminate adhesion
DE3705482A1 (de) 1987-02-20 1988-09-01 Hoechst Ag Verfahren und anordnung zur oberflaechenvorbehandlung von kunststoff mittels einer elektrischen koronaentladung
DE3827628A1 (de) 1988-08-16 1990-03-15 Hoechst Ag Verfahren und vorrichtung zur oberflaechenvorbehandlung eines formkoerpers aus kunststoff mittels einer elektrischen koronaentladung
JPH03115578A (ja) 1989-09-28 1991-05-16 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 粉末粒子のコーテイング方法
JP2811820B2 (ja) 1989-10-30 1998-10-15 株式会社ブリヂストン シート状物の連続表面処理方法及び装置
DE69032691T2 (de) 1989-12-07 1999-06-10 Japan Science & Tech Corp Verfahren und Gerät zur Plasmabehandlung unter atmosphärischem Druck
JP2990608B2 (ja) 1989-12-13 1999-12-13 株式会社ブリヂストン 表面処理方法
JP2897055B2 (ja) 1990-03-14 1999-05-31 株式会社ブリヂストン ゴム系複合材料の製造方法
US5366770A (en) 1990-04-17 1994-11-22 Xingwu Wang Aerosol-plasma deposition of films for electronic cells
GB9102768D0 (en) 1991-02-09 1991-03-27 Tioxide Group Services Ltd Coating process
DE4111384C2 (de) 1991-04-09 1999-11-04 Leybold Ag Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten
JP3283889B2 (ja) * 1991-07-24 2002-05-20 株式会社きもと 防錆処理方法
US5399832A (en) 1991-08-05 1995-03-21 Kimoto Co., Ltd. Process and apparatus for using atmospheric-pressure plasma reactions
US5316739A (en) 1991-08-20 1994-05-31 Bridgestone Corporation Method and apparatus for surface treatment
US5484645A (en) * 1991-10-30 1996-01-16 Fiberweb North America, Inc. Composite nonwoven fabric and articles produced therefrom
JP3120519B2 (ja) * 1991-12-26 2000-12-25 トヨタ自動車株式会社 排ガス浄化用触媒の製造方法
JP3259186B2 (ja) 1992-06-22 2002-02-25 株式会社ダイオー 粉体のプラズマ処理方法
JP3286816B2 (ja) 1992-12-24 2002-05-27 イーシー化学株式会社 大気圧グロ−放電プラズマ処理法
JPH06228739A (ja) 1993-02-02 1994-08-16 Sachiko Okazaki 大気圧プラズマによる粉体の表面処理方法とその装置
JP3445632B2 (ja) 1993-02-26 2003-09-08 科学技術振興事業団 薄膜の製造方法とその装置
JPH06330326A (ja) 1993-03-26 1994-11-29 Shin Etsu Chem Co Ltd シリカ薄膜の製造方法
US5414324A (en) * 1993-05-28 1995-05-09 The University Of Tennessee Research Corporation One atmosphere, uniform glow discharge plasma
JPH0762546A (ja) 1993-08-25 1995-03-07 Shinko Electric Co Ltd 大気圧プラズマ表面処理装置
ES2095118T3 (es) 1993-11-27 1997-02-01 Basf Ag Procedimiento para el recubrimiento o el tratamiento superficial de particulas de producto solido mediante una capa fluidificada de plasma.
FR2713511B1 (fr) 1993-12-15 1996-01-12 Air Liquide Procédé et dispositif de création d'une atmosphère d'espèces gazeuses excitées ou instables.
US6342275B1 (en) 1993-12-24 2002-01-29 Seiko Epson Corporation Method and apparatus for atmospheric pressure plasma surface treatment, method of manufacturing semiconductor device, and method of manufacturing ink jet printing head
JP3064182B2 (ja) 1994-06-14 2000-07-12 松下電工株式会社 大気圧プラズマ粉体処理方法及びその装置
JP3508789B2 (ja) 1994-07-04 2004-03-22 セイコーエプソン株式会社 基板の表面処理方法
CN1123341A (zh) 1994-11-12 1996-05-29 冯安文 气相离子镀膜方法与其装置
WO1996031997A1 (fr) 1995-04-07 1996-10-10 Seiko Epson Corporation Equipement de traitement de surface
DE19525453A1 (de) 1995-07-13 1997-01-16 Eltex Elektrostatik Gmbh Vorrichtung zum Ablösen der gasförmigen laminaren Grenzschicht
KR100479485B1 (ko) 1995-08-04 2005-09-07 마이크로코팅 테크놀로지, 인크. 근초임계및초임계유동용액의열적분무를이용한화학증착및분말형성
DE19546187C2 (de) 1995-12-11 1999-04-15 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Einrichtung zur plasmagestützten Oberflächenbehandlung
KR19990082348A (ko) 1996-02-06 1999-11-25 이.아이,듀우판드네모아앤드캄파니 플라즈마 활성화 종을 갖는 탈집괴 입자의 처리
AUPN820396A0 (en) 1996-02-21 1996-03-14 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method for reducing crazing in a plastics material
US5876753A (en) 1996-04-16 1999-03-02 Board Of Regents, The University Of Texas System Molecular tailoring of surfaces
CA2205817C (en) 1996-05-24 2004-04-06 Sekisui Chemical Co., Ltd. Treatment method in glow-discharge plasma and apparatus thereof
WO1998010116A1 (en) * 1996-09-05 1998-03-12 Talison Research Ultrasonic nozzle feed for plasma deposited film networks
US6244575B1 (en) 1996-10-02 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for vaporizing liquid precursors and system for using same
US5835677A (en) 1996-10-03 1998-11-10 Emcore Corporation Liquid vaporizer system and method
ATE185465T1 (de) 1996-12-23 1999-10-15 Sulzer Metco Ag Indirektes plasmatron
JP3899597B2 (ja) 1997-01-30 2007-03-28 セイコーエプソン株式会社 大気圧プラズマ生成方法および装置並びに表面処理方法
JPH1129873A (ja) 1997-07-11 1999-02-02 Sekisui Chem Co Ltd 積層膜の形成方法及びその形成装置
GB9715508D0 (en) 1997-07-24 1997-10-01 Scapa Group Plc Industrial fabrics and method of treatment
DE19732901C1 (de) 1997-07-30 1998-11-26 Tdz Ges Fuer Innovative Oberfl Vorrichtung zur Koronabehandlung der Oberfläche eines Substrats
IL125545A0 (en) 1997-08-08 1999-03-12 Univ Texas Devices having gas-phase deposited coatings
GB9717368D0 (en) 1997-08-18 1997-10-22 Crowther Jonathan Cold plasma metallization
DE19742619C1 (de) 1997-09-26 1999-01-28 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Einbringung pulverförmiger Feststoffe oder Flüssigkeiten in ein induktiv gekoppeltes Plasma
WO1999039842A1 (de) 1998-02-05 1999-08-12 Empa Eidgenössische Materialprüfungs- Und Forschungsanstalt; Polare polymerartige beschichtung
JPH11241165A (ja) 1998-02-26 1999-09-07 Sekisui Chem Co Ltd 表面処理品の製造方法
US6368665B1 (en) 1998-04-29 2002-04-09 Microcoating Technologies, Inc. Apparatus and process for controlled atmosphere chemical vapor deposition
DE19826550C2 (de) 1998-06-15 2001-07-12 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Pulveraerosols
GB9821903D0 (en) * 1998-10-09 1998-12-02 Rolls Royce Plc A method of applying a coating to a metallic article and an apparatus for applying a coating to a metallic article
US6705127B1 (en) 1998-10-30 2004-03-16 Corning Incorporated Methods of manufacturing soot for optical fiber preforms and preforms made by the methods
DE19856307C1 (de) 1998-12-07 2000-01-13 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Erzeugung eines freien kalten Plasmastrahles
JP3704983B2 (ja) 1998-12-25 2005-10-12 セイコーエプソン株式会社 表面処理装置
JP2000212753A (ja) 1999-01-22 2000-08-02 Sekisui Chem Co Ltd 表面処理品の製造方法
JP4096454B2 (ja) 1999-05-11 2008-06-04 コニカミノルタホールディングス株式会社 プラスティック支持体の表面処理装置及びプラスティック支持体の表面処理方法
US20020129902A1 (en) 1999-05-14 2002-09-19 Babayan Steven E. Low-temperature compatible wide-pressure-range plasma flow device
DE19924108B4 (de) 1999-05-26 2007-05-03 Robert Bosch Gmbh Plasmapolymerbeschichtung und Verfahren zu deren Herstellung
US6331689B1 (en) 1999-06-15 2001-12-18 Siemens Aktiengesellschaft Method and device for producing a powder aerosol and use thereof
US6241858B1 (en) * 1999-09-03 2001-06-05 Flex Products, Inc. Methods and apparatus for producing enhanced interference pigments
JP3399887B2 (ja) 1999-09-22 2003-04-21 パール工業株式会社 プラズマ処理装置
DE29919142U1 (de) 1999-10-30 2001-03-08 Agrodyn Hochspannungstechnik G Plasmadüse
DE19955880A1 (de) 1999-11-20 2001-05-23 Henkel Kgaa Plasmabeschichtung von Metallen bei Atmosphärendruck
GB9928781D0 (en) 1999-12-02 2000-02-02 Dow Corning Surface treatment
FR2801814B1 (fr) 1999-12-06 2002-04-19 Cebal Procede de depot d'un revetement sur la surface interne des boitiers distributeurs aerosols
US20030116281A1 (en) 2000-02-11 2003-06-26 Anthony Herbert Atmospheric pressure plasma system
DE10011276A1 (de) 2000-03-08 2001-09-13 Wolff Walsrode Ag Verwendung eines indirrekten atomosphärischen Plasmatrons zur Oberflächenbehandlung oder Beschichtung bahnförmiger Werkstoffe sowie ein Verfahren zur Behandlung oder Beschichtung bahnförmiger Werkstoffe
DE10017846C2 (de) 2000-04-11 2002-03-14 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zum Abscheiden einer Polymerschicht und Verwendung derselben
JP2002057440A (ja) 2000-06-02 2002-02-22 Sekisui Chem Co Ltd 放電プラズマ処理方法及びその装置
FR2814382B1 (fr) 2000-09-28 2003-05-09 Cebal Procede de depot d'un revetement interne dans un recipient en matiere plastique
KR100823858B1 (ko) * 2000-10-04 2008-04-21 다우 코닝 아일랜드 리미티드 피복물 형성 방법 및 피복물 형성 장치
CN1466771A (zh) * 2000-10-26 2004-01-07 陶氏康宁爱尔兰有限公司 大气压等离子体组件
KR20030063380A (ko) 2000-11-14 2003-07-28 세끼쑤이 케미컬 가부시기가이샤 상압 플라즈마 처리 방법 및 그 장치
US6585470B2 (en) 2001-06-19 2003-07-01 Brooks Automation, Inc. System for transporting substrates
TW200308187A (en) 2002-04-10 2003-12-16 Dow Corning Ireland Ltd An atmospheric pressure plasma assembly
GB0208203D0 (en) 2002-04-10 2002-05-22 Dow Corning Protective coating compositions
GB0208261D0 (en) 2002-04-10 2002-05-22 Dow Corning An atmospheric pressure plasma assembly
GB0323295D0 (en) 2003-10-04 2003-11-05 Dow Corning Deposition of thin films
GB0410749D0 (en) 2004-05-14 2004-06-16 Dow Corning Ireland Ltd Coating apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005523142A (ja) 2005-08-04
EP1493310A1 (en) 2005-01-05
US7678429B2 (en) 2010-03-16
US20050158480A1 (en) 2005-07-21
WO2003086030A1 (en) 2003-10-16
CN1647591A (zh) 2005-07-27
AU2003227682A1 (en) 2003-10-20

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TW200308187A (en) An atmospheric pressure plasma assembly
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Da Ponte et al. Plasma Deposition of PEO‐Like Coatings with Aerosol‐Assisted Dielectric Barrier Discharges
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Wang et al. Plasma polymerization of isopentyl nitrite at atmospheric pressure: Gas phase analysis and surface chemistry
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