RU2000122454A - Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых трехмерных структур, способ уничтожения этих структур и генератор/модулятор электрического поля для использования в способе формирования - Google Patents

Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых трехмерных структур, способ уничтожения этих структур и генератор/модулятор электрического поля для использования в способе формирования

Info

Publication number
RU2000122454A
RU2000122454A RU2000122454/28A RU2000122454A RU2000122454A RU 2000122454 A RU2000122454 A RU 2000122454A RU 2000122454/28 A RU2000122454/28 A RU 2000122454/28A RU 2000122454 A RU2000122454 A RU 2000122454A RU 2000122454 A RU2000122454 A RU 2000122454A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
semiconductor
structures
conductive
electrode means
dimensional
Prior art date
Application number
RU2000122454/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2210834C2 (ru
Inventor
Пер-Эрик Нордаль
Гейрр И. Лейстад
Ханс Гуде Гудесен
Original Assignee
Тин Филм Электроникс Аса
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from NO980385A external-priority patent/NO980385D0/no
Priority claimed from NO982518A external-priority patent/NO308149B1/no
Application filed by Тин Филм Электроникс Аса filed Critical Тин Филм Электроникс Аса
Publication of RU2000122454A publication Critical patent/RU2000122454A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2210834C2 publication Critical patent/RU2210834C2/ru

Links

Claims (15)

1. Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых двумерных или трехмерных структур в составной матрице, содержащей один или более материалов, соответственно обеспеченных в одной или более пространственно отдельных и однородных структурах материалов, причем материалы в ответ на подачу энергии могут подвергаться определенным физическим и/или химическим изменениям состояния, которые вызывают переход от электрически непроводящего состояния в электрически проводящее и/или полупроводниковое состояние или наоборот, или изменение в режиме электропроводности материала, причем каждая структура материала изготовлена в форме тонкого слоя, отличающийся тем, что к отдельным слоям прикладывают электрическое поле с заданной напряженностью поля и/или характеристиками, соответствующими определенной реакции материала на энергию, подаваемую полем, осуществляют в каждом случае пространственную модуляцию полей согласно определенному протоколу, который представляет предварительно определенную конфигурацию электропроводящих и/или полупроводниковых структур в рассматриваемой структуре материала, посредством чего в ответ на энергию, подаваемую полем, формируют двумерные электропроводящие и/или полупроводниковые структуры с конфигурацией, предварительно определенной протоколом, и дополнительно укладывают два или более слоев друг на друга в сложенную конфигурацию для получения составной матрицы, сформированной отдельными соседними слоями с электропроводящими и/или полупроводниковыми трехмерными структурами.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что пространственную модуляцию электрического поля осуществляют в плоскости, существенно параллельной слою, с использованием электродного средства со структурированными электродами, при этом электродное средство путем избирательной подачи напряжения на электроды согласно определенному протоколу формируют электрические точечные или линейные потенциалы, которые формируют электропроводящие и/или полупроводниковые структуры.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что сложенную конфигурацию, сформированную двумя или более слоями после создания электропроводящей и/или полупроводниковой структуры в каждом слое, объединяют в слоистые многослойные структуры для получения составной матрицы с электропроводящими и/или полупроводниковыми трехмерными структурами.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что многослойную структуру формируют наложением двух или более самоподдерживающихся слоев для получения сложенной конфигурации.
5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что позиционируют слой после наложения на соседние слои так, чтобы две или более двумерные электропроводящие и/или полупроводниковые структуры в первом упомянутом слое согласно протоколу совпадали с одной или более двумерными электропроводящими и/или полупроводниковыми структурами в соседних слоях, посредством чего в поперечном направлении через слои формируют один или более вертикальных электропроводящих и/или полупроводниковых каналов.
6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что формируют электропроводящую и/или полупроводниковую структуру, которая образует вертикальный канал, проходящий через слои согласно протоколу, в электропроводящем и/или полупроводниковом соединении с одной или более двумерными электропроводящими и/или полупроводниковыми структурами в этом слое.
7. Способ по п. 6, отличающийся тем, что каждый канал формируют с проводимостью или режимом проводимости, которые постоянны для разных слоев.
8. Способ по п. 6, отличающийся тем, что каждый канал формируют с проводимостью или режимом проводимости, которые изменяются от слоя к слою.
9. Способ полного уничтожения электропроводящих и/или полупроводниковых двумерных или трехмерных структур, сформированных в составной матрице, содержащей один или более материалов соответственно обеспеченных в одной или более пространственно отдельных и однородных структурах материалов, причем материалы в ответ на подачу энергии могут подвергаться определенным физическим и/или химическим изменениям состояния, которые вызывают переход из электрически непроводящего состояния в электрически проводящее и/или полупроводниковое состояние или наоборот, или изменение в режиме электропроводности материала, причем каждая структура материала изготовлена в форме тонкого слоя, отличающийся тем, что осуществляют приложение глобальным образом к составной матрице электрического поля с заданной напряженностью поля и/или характеристиками, соответствующими определенной реакции материала на энергию, обеспечиваемую полем до тех пор, пока материалы в составной матрице в соответствии с энергией, обеспечиваемой полем, полностью не перейдут в электрически непроводящее состояние.
10. Генератор/модулятор электрического поля (ГМЭП) для структурирования и формирования электропроводящих и/или полупроводниковых двумерных или трехмерных структур в составной матрице, содержащей один или более материалов, соответственно обеспеченных в одной или более пространственно отдельных и однородных структурах материалов, причем материалы в ответ на подачу энергии могут подвергаться определенным физическим и/или химическим изменениям состояния, которые вызывают переход из электрически непроводящего состояния в электрически проводящее и/или полупроводниковое состояние или наоборот, или изменение в режиме электропроводности материала, причем каждая структура материала изготовлена в форме тонкого слоя, отличающийся тем, что он содержит первое электродное средство (Е1) с множеством параллельных полосовых электродов (21), размещенных в плоскости, второе электродное средство (Е2) с множеством параллельных полосовых электродов (22), размещенных на расстоянии от первого электродного средства (Е1) и наложенных на него во второй плоскости, параллельной первой плоскости, так что электроды (21, 22) взаимно существенно ортогонально ориентированы в матрицеподобной конфигурации, электродные средства (E1; E2) через устройства коммутации (24; 25) соединены с управляемым источником электропитания (23), причем генератор/модулятор электрического поля (20) в пространстве между электродными средствами (E1, E2) адаптирован для приема тонкопленочного материала в форме дискретного компонента или непрерывной ленты, который без контакта с электродными средствами непрерывно или прерывисто подается через пространство с одновременным позиционированием и выравниванием относительно электродных средств (E1, E2) и между ними в плоскости, существенно параллельной им, посредством чего формируются электропроводящие и/или полупроводниковые структуры согласно определенному протоколу с использованием точечных, линейных или поверхностных потенциалов, созданных между выбранными электродами (21, 22) в электродных средствах (E1; E2), когда на первые через устройства коммутации (24; 25) подается электрическое питание.
11. Генератор/модулятор электрического поля по п. 10, отличающийся тем, что электроды (21; 22) в каждом электродном средстве (E1; E2) размещены на поверхности соответствующих подложек или в них и обращены друг к другу.
12. Генератор/модулятор электрического поля по п. 11, отличающийся тем, что полосовые электроды (21, 22) выполнены как часть подложек и образуют проводящие структуры в материале подложки.
13. Генератор/модулятор электрического поля по п. 10, отличающийся тем, что расстояние между электродными средствами (E1, E2) регулируется в зависимости от толщины тонкопленочного материала.
14. Генератор/модулятор электрического поля по п. 10, отличающийся тем, что электроды (21; 22) в каждом электродном средстве (E1; E2) размещены с взаимным расстоянием 0,1 - 1,0 мкм.
15. Генератор/модулятор электрического поля по п. 10, отличающийся тем, что электроды (21; 22) в каждом электродном средстве (E1; E2) имеют по существу постоянную ширину 0,1 - 1,0 мкм.
RU2000122454/28A 1998-01-28 1999-01-28 Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых трехмерных структур, способ уничтожения этих структур и генератор/модулятор электрического поля для использования в способе формирования RU2210834C2 (ru)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO980385A NO980385D0 (no) 1998-01-28 1998-01-28 Kretser generert ved omvandling in situ
NO19980385 1998-01-28
NO982518A NO308149B1 (no) 1998-06-02 1998-06-02 Skalerbar, integrert databehandlingsinnretning
NO19982518 1998-06-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2000122454A true RU2000122454A (ru) 2002-08-20
RU2210834C2 RU2210834C2 (ru) 2003-08-20

Family

ID=26648814

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000122445/28A RU2183882C2 (ru) 1998-01-28 1999-01-28 Способ формирования электропроводящих или полупроводниковых трехмерных структур и способы уничтожения этих структур
RU2000122454/28A RU2210834C2 (ru) 1998-01-28 1999-01-28 Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых трехмерных структур, способ уничтожения этих структур и генератор/модулятор электрического поля для использования в способе формирования

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000122445/28A RU2183882C2 (ru) 1998-01-28 1999-01-28 Способ формирования электропроводящих или полупроводниковых трехмерных структур и способы уничтожения этих структур

Country Status (12)

Country Link
US (3) US6432739B1 (ru)
EP (2) EP1051745B1 (ru)
JP (2) JP4272353B2 (ru)
KR (2) KR100375864B1 (ru)
CN (2) CN1171301C (ru)
AT (1) ATE377842T1 (ru)
AU (2) AU739848B2 (ru)
CA (2) CA2319430C (ru)
DE (1) DE69937485T2 (ru)
HK (2) HK1035602A1 (ru)
RU (2) RU2183882C2 (ru)
WO (2) WO1999045582A1 (ru)

Families Citing this family (131)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6859548B2 (en) 1996-09-25 2005-02-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Ultrasonic picture processing method and ultrasonic picture processing apparatus
EP1196814A1 (en) 1999-07-21 2002-04-17 E Ink Corporation Use of a storage capacitor to enhance the performance of an active matrix driven electronic display
US6545291B1 (en) 1999-08-31 2003-04-08 E Ink Corporation Transistor design for use in the construction of an electronically driven display
EP1145339A1 (en) * 1999-11-02 2001-10-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of producing vertical interconnects between thin film microelectronic devices and products comprising such vertical interconnects
EP1136942A1 (de) * 2000-03-22 2001-09-26 Infineon Technologies AG Schaltungsanordnung zum Schützen einer Schaltung gegen Analyse und Manipulation
US7893435B2 (en) 2000-04-18 2011-02-22 E Ink Corporation Flexible electronic circuits and displays including a backplane comprising a patterned metal foil having a plurality of apertures extending therethrough
JP2004506985A (ja) * 2000-08-18 2004-03-04 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 封入された有機電子構成素子、その製造方法および使用
JP2004507096A (ja) * 2000-08-18 2004-03-04 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 有機電界効果トランジスタ(ofet),該有機電界効果トランジスタの製造方法、前記有機電界効果トランジスタから形成される集積回路、及び該集積回路の使用
KR100394028B1 (ko) * 2000-12-28 2003-08-06 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 및 그 제조방법
DE10043204A1 (de) * 2000-09-01 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung
DE10044842A1 (de) * 2000-09-11 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Gleichrichter, Schaltung, RFID-Tag und Verwendung eines organischen Gleichrichters
US20040026121A1 (en) * 2000-09-22 2004-02-12 Adolf Bernds Electrode and/or conductor track for organic components and production method thereof
DE10061297C2 (de) * 2000-12-08 2003-05-28 Siemens Ag Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs
DE10061299A1 (de) * 2000-12-08 2002-06-27 Siemens Ag Vorrichtung zur Feststellung und/oder Weiterleitung zumindest eines Umwelteinflusses, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu
DE10063721A1 (de) * 2000-12-20 2002-07-11 Merck Patent Gmbh Organischer Halbleiter, Herstellungsverfahren dazu und Verwendungen
DE10105914C1 (de) * 2001-02-09 2002-10-10 Siemens Ag Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung
JP2005509200A (ja) * 2001-03-26 2005-04-07 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 少なくとも2つの有機電子構成エレメントを有する装置、および該装置のための製造方法
WO2002091494A1 (en) * 2001-05-07 2002-11-14 Advanced Micro Devices, Inc. Switch element having memeory effect
AU2002340795A1 (en) 2001-05-07 2002-11-18 Advanced Micro Devices, Inc. Reversible field-programmable electric interconnects
WO2002091495A2 (en) * 2001-05-07 2002-11-14 Coatue Corporation Molecular memory device
EP1390984B1 (en) 2001-05-07 2009-08-26 Advanced Micro Devices, Inc. Floating gate memory device using composite molecular material
WO2002091385A1 (en) * 2001-05-07 2002-11-14 Advanced Micro Devices, Inc. Molecular memory cell
DE60220912T2 (de) * 2001-05-07 2008-02-28 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Speichervorrichtung mit einem sich selbst einbauenden polymer und verfahren zur herstellung derselben
US6756620B2 (en) * 2001-06-29 2004-06-29 Intel Corporation Low-voltage and interface damage-free polymer memory device
WO2003009359A1 (fr) * 2001-07-16 2003-01-30 Boris Aronovich Gurovich Procede de formation d'une structure a couches multiples a parametres predetermines
US6624457B2 (en) 2001-07-20 2003-09-23 Intel Corporation Stepped structure for a multi-rank, stacked polymer memory device and method of making same
US6838720B2 (en) * 2001-08-13 2005-01-04 Advanced Micro Devices, Inc. Memory device with active passive layers
EP1434232B1 (en) 2001-08-13 2007-09-19 Advanced Micro Devices, Inc. Memory cell
US6806526B2 (en) 2001-08-13 2004-10-19 Advanced Micro Devices, Inc. Memory device
US6858481B2 (en) 2001-08-13 2005-02-22 Advanced Micro Devices, Inc. Memory device with active and passive layers
US6768157B2 (en) 2001-08-13 2004-07-27 Advanced Micro Devices, Inc. Memory device
DE10151036A1 (de) * 2001-10-16 2003-05-08 Siemens Ag Isolator für ein organisches Elektronikbauteil
DE10151440C1 (de) 2001-10-18 2003-02-06 Siemens Ag Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung
DE10160732A1 (de) * 2001-12-11 2003-06-26 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu
KR100433407B1 (ko) * 2002-02-06 2004-05-31 삼성광주전자 주식회사 업라이트형 진공청소기
DE10212639A1 (de) * 2002-03-21 2003-10-16 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren zur Laserstrukturierung von Funktionspolymeren und Verwendungen
DE10212640B4 (de) * 2002-03-21 2004-02-05 Siemens Ag Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren
RU2205469C1 (ru) * 2002-04-18 2003-05-27 Гурович Борис Аронович Способ получения объемной проводящей структуры
DE10226370B4 (de) * 2002-06-13 2008-12-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Substrat für ein elektronisches Bauteil, Verwendung des Substrates, Verfahren zur Erhöhung der Ladungsträgermobilität und Organischer Feld-Effekt Transistor (OFET)
US6661024B1 (en) * 2002-07-02 2003-12-09 Motorola, Inc. Integrated circuit including field effect transistor and method of manufacture
WO2004017439A2 (de) * 2002-07-29 2004-02-26 Siemens Aktiengesellschaft Elektronisches bauteil mit vorwiegend organischen funktionsmaterialien und herstellungsverfahren dazu
ATE395955T1 (de) * 2002-08-08 2008-06-15 Polyic Gmbh & Co Kg Elektronisches gerät
WO2004021256A1 (de) 2002-08-23 2004-03-11 Siemens Aktiengesellschaft Organisches bauelement zum überspannungsschutz und dazugehörige schaltung
US7012276B2 (en) * 2002-09-17 2006-03-14 Advanced Micro Devices, Inc. Organic thin film Zener diodes
JP4841841B2 (ja) 2002-10-02 2011-12-21 レオナード クルツ シュティフトゥング ウント コンパニー カーゲー 有機半導体付フィルム
US6870183B2 (en) 2002-11-04 2005-03-22 Advanced Micro Devices, Inc. Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating
WO2004042837A2 (de) * 2002-11-05 2004-05-21 Siemens Aktiengesellschaft Organisches elektronisches bauteil mit hochaufgelöster strukturierung und herstellungsverfahren dazu
DE10253154A1 (de) * 2002-11-14 2004-05-27 Siemens Ag Messgerät zur Bestimmung eines Analyten in einer Flüssigkeitsprobe
WO2004047144A2 (de) * 2002-11-19 2004-06-03 Polyic Gmbh & Co.Kg Organisches elektronisches bauelement mit stukturierter halbleitender funktionsschicht und herstellungsverfahren dazu
US20060035423A1 (en) * 2002-11-19 2006-02-16 Walter Fix Organic electronic component comprising the same organic material for at least two functional layers
US6905908B2 (en) * 2002-12-26 2005-06-14 Motorola, Inc. Method of fabricating organic field effect transistors
DE10300521A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-22 Siemens Ag Organoresistiver Speicher
DE10302149A1 (de) * 2003-01-21 2005-08-25 Siemens Ag Verwendung leitfähiger Carbon-black/Graphit-Mischungen für die Herstellung von low-cost Elektronik
WO2004066348A2 (de) * 2003-01-21 2004-08-05 Polyic Gmbh & Co. Kg Organisches elektronikbauteil und verfahren zur herstellung organischer elektronik
WO2004068534A2 (de) * 2003-01-29 2004-08-12 Polyic Gmbh & Co. Kg Organisches speicherbauelement und ansteuerungsschaltung dazu
JP2004311845A (ja) * 2003-04-09 2004-11-04 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 発電機能を有する可視光透過構造体
US7049153B2 (en) * 2003-04-23 2006-05-23 Micron Technology, Inc. Polymer-based ferroelectric memory
JP4583004B2 (ja) * 2003-05-21 2010-11-17 株式会社 日立ディスプレイズ アクティブ・マトリクス基板の製造方法
DE10330064B3 (de) * 2003-07-03 2004-12-09 Siemens Ag Logikgatter mit potentialfreier Gate-Elektrode für organische integrierte Schaltungen
DE10330062A1 (de) * 2003-07-03 2005-01-27 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Strukturierung von organischen Schichten
RU2243613C1 (ru) * 2003-07-16 2004-12-27 Гурович Борис Аронович Способ формирования объемной структуры
DE10338277A1 (de) * 2003-08-20 2005-03-17 Siemens Ag Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität
DE10339036A1 (de) 2003-08-25 2005-03-31 Siemens Ag Organisches elektronisches Bauteil mit hochaufgelöster Strukturierung und Herstellungsverfahren dazu
DE10340644B4 (de) * 2003-09-03 2010-10-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Mechanische Steuerelemente für organische Polymerelektronik
DE10340643B4 (de) * 2003-09-03 2009-04-16 Polyic Gmbh & Co. Kg Druckverfahren zur Herstellung einer Doppelschicht für Polymerelektronik-Schaltungen, sowie dadurch hergestelltes elektronisches Bauelement mit Doppelschicht
WO2005031890A1 (en) * 2003-09-24 2005-04-07 E.I. Dupont De Nemours And Company Process for laminating a dielectric layer onto a semiconductor
JP4729843B2 (ja) * 2003-10-15 2011-07-20 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタの製造方法
DE10349963A1 (de) 2003-10-24 2005-06-02 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung einer Folie
DE102004002024A1 (de) * 2004-01-14 2005-08-11 Siemens Ag Organischer Transistor mit selbstjustierender Gate-Elektrode und Verfahren zu dessen Herstellung
JP4501444B2 (ja) * 2004-02-04 2010-07-14 ソニー株式会社 トランジスタにおける配線構造の形成方法及び電界効果型トランジスタの製造方法
EP1738407B1 (en) 2004-04-20 2014-03-26 Visualsonics Inc. Arrayed ultrasonic transducer
US7122489B2 (en) * 2004-05-12 2006-10-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Manufacturing method of composite sheet material using ultrafast laser pulses
WO2005112591A2 (en) * 2004-05-14 2005-12-01 Wavezero, Inc. Radiofrequency antennae and identification tags and methods of manufacturing radiofrequency antennae and radiofrequency identification tags
US7019328B2 (en) * 2004-06-08 2006-03-28 Palo Alto Research Center Incorporated Printed transistors
GB0413749D0 (en) * 2004-06-19 2004-07-21 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electronic array device
DE102004040831A1 (de) * 2004-08-23 2006-03-09 Polyic Gmbh & Co. Kg Funketikettfähige Umverpackung
RU2284267C2 (ru) * 2004-11-10 2006-09-27 Броня Цой Материал для компонентов радиоэлектронных приборов
DE102004059467A1 (de) * 2004-12-10 2006-07-20 Polyic Gmbh & Co. Kg Gatter aus organischen Feldeffekttransistoren
DE102004059465A1 (de) * 2004-12-10 2006-06-14 Polyic Gmbh & Co. Kg Erkennungssystem
DE102004059464A1 (de) * 2004-12-10 2006-06-29 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbauteil mit Modulator
DE102004063435A1 (de) 2004-12-23 2006-07-27 Polyic Gmbh & Co. Kg Organischer Gleichrichter
DE102005009820A1 (de) * 2005-03-01 2006-09-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbaugruppe mit organischen Logik-Schaltelementen
DE102005009819A1 (de) 2005-03-01 2006-09-07 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronikbaugruppe
DE102005017655B4 (de) * 2005-04-15 2008-12-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Mehrschichtiger Verbundkörper mit elektronischer Funktion
KR100719346B1 (ko) * 2005-04-19 2007-05-17 삼성전자주식회사 저항 메모리 셀, 그 형성 방법 및 이를 이용한 저항 메모리배열
US7420442B1 (en) * 2005-06-08 2008-09-02 Sandia Corporation Micromachined microwave signal control device and method for making same
NO20052904L (no) * 2005-06-14 2006-12-15 Thin Film Electronics Asa Et ikke-flyktig elektrisk minnesystem
DE102005031448A1 (de) 2005-07-04 2007-01-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Aktivierbare optische Schicht
DE602005023597D1 (de) * 2005-07-08 2010-10-28 St Microelectronics Srl Verfahren zur Realisierung einer elektrischen Verbindung in einer elektronischen Halbleitervorrichtung zwischen einem nanometrischen Schaltungsarchitektur und elektronischen Standardkomponenten
DE102005035589A1 (de) 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauelements
DE102005035590A1 (de) * 2005-07-29 2007-02-01 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronisches Bauelement
DE102005042166A1 (de) * 2005-09-06 2007-03-15 Polyic Gmbh & Co.Kg Organisches Bauelement und ein solches umfassende elektrische Schaltung
DE102005044306A1 (de) * 2005-09-16 2007-03-22 Polyic Gmbh & Co. Kg Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen
EP1952175B1 (en) 2005-11-02 2013-01-09 Visualsonics, Inc. Digital transmit beamformer for an arrayed ultrasound transducer system
JP2007252249A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Oki Electric Ind Co Ltd 有機化合物合成装置,光照射装置,有機化合物合成用基板および有機化合物の合成方法
US20070279230A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-06 Wavezero, Inc. System and Method for Attaching Radiofrequency Identification Chips to Metalized Antenna
JP2008021814A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Hitachi Ltd 電界効果トランジスタ、有機薄膜トランジスタおよび有機トランジスタの製造方法
TWI300251B (en) * 2006-07-14 2008-08-21 Ind Tech Res Inst Manufacturing method of vertical thin film transistor
US7851786B2 (en) * 2006-09-01 2010-12-14 Alcatel-Lucent Usa Inc. Programmable polyelectrolyte electrical switches
JP5250981B2 (ja) * 2007-02-21 2013-07-31 セイコーエプソン株式会社 有機デバイスの製造方法並びに電子機器
WO2009067577A1 (en) * 2007-11-21 2009-05-28 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University. Patterning of organic semiconductor materials
US9173047B2 (en) 2008-09-18 2015-10-27 Fujifilm Sonosite, Inc. Methods for manufacturing ultrasound transducers and other components
US9184369B2 (en) 2008-09-18 2015-11-10 Fujifilm Sonosite, Inc. Methods for manufacturing ultrasound transducers and other components
EP3576137A1 (en) * 2008-09-18 2019-12-04 FUJIFILM SonoSite, Inc. Ultrasound transducers
US10441185B2 (en) * 2009-12-16 2019-10-15 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Flexible and stretchable electronic systems for epidermal electronics
WO2011079006A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-30 Imra America, Inc. Laser patterning using a structured optical element and focused beam
US9196509B2 (en) 2010-02-16 2015-11-24 Deca Technologies Inc Semiconductor device and method of adaptive patterning for panelized packaging
US8799845B2 (en) 2010-02-16 2014-08-05 Deca Technologies Inc. Adaptive patterning for panelized packaging
US8656333B1 (en) * 2010-02-16 2014-02-18 Deca Technologies, Inc. Integrated circuit package auto-routing
US8502159B2 (en) * 2010-04-29 2013-08-06 Battelle Energy Alliance, Llc Apparatuses and methods for generating electric fields
US20110266436A1 (en) * 2010-04-29 2011-11-03 Battelle Energy Alliance, Llc Apparatuses and methods for forming electromagnetic fields
RU2461151C1 (ru) * 2011-01-25 2012-09-10 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) Ионный диод для генерации нейтронов
RU2479890C1 (ru) * 2011-12-07 2013-04-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" Кассета для технологических спутников фотопреобразователей
JP6105266B2 (ja) 2011-12-15 2017-03-29 株式会社半導体エネルギー研究所 記憶装置
JP6027898B2 (ja) 2012-01-23 2016-11-16 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2013161878A (ja) * 2012-02-02 2013-08-19 Renesas Electronics Corp 半導体装置、および半導体装置の製造方法
US8753904B2 (en) 2012-06-07 2014-06-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and system for semiconductor device pattern loading effect characterization
US9482518B2 (en) 2012-06-07 2016-11-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Systems and methods for semiconductor device process determination using reflectivity measurement
RU2504046C1 (ru) * 2012-07-12 2014-01-10 Открытое акционерное общество "Концерн радиостроения "Вега" Способ получения межсоединений в высокоплотных электронных модулях
CN103338596A (zh) * 2013-06-18 2013-10-02 华南理工大学 一种不用光刻胶的全加成线路板制作方法
US9040316B1 (en) 2014-06-12 2015-05-26 Deca Technologies Inc. Semiconductor device and method of adaptive patterning for panelized packaging with dynamic via clipping
CN104282250B (zh) * 2014-10-24 2016-08-31 深圳市华星光电技术有限公司 Tft 中mis 结构设计的控制方法及系统
JP6504497B2 (ja) * 2015-03-04 2019-04-24 株式会社アルバック タッチパネルおよび透明導電性基板
CN105353590B (zh) * 2015-12-11 2018-01-02 中国电子科技集团公司第四十一研究所 薄膜电路金属化孔内光刻胶的曝光方法及基片承载装置
US10573601B2 (en) 2016-09-19 2020-02-25 Deca Technologies Inc. Semiconductor device and method of unit specific progressive alignment
US10157803B2 (en) 2016-09-19 2018-12-18 Deca Technologies Inc. Semiconductor device and method of unit specific progressive alignment
CN109216370B (zh) * 2017-06-29 2022-12-06 爱思开海力士有限公司 执行uv辅助擦除操作的存储器件
RU185725U1 (ru) * 2018-07-02 2018-12-17 федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научно-исследовательский институт перспективных материалов и технологий" Микроволновое устройство для термообработки полимерных композиционных материалов
RU2700231C1 (ru) * 2018-10-24 2019-09-13 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники" Способ формирования трехмерных структур топологических элементов функциональных слоев на поверхности подложек
US20220221600A1 (en) * 2019-04-12 2022-07-14 Queen Mary University Of London Radiation detector
CN113179605B (zh) * 2021-05-14 2023-06-13 Oppo广东移动通信有限公司 壳体、其制备方法、可穿戴设备及电子设备

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4371883A (en) * 1980-03-14 1983-02-01 The Johns Hopkins University Current controlled bistable electrical organic thin film switching device
US4507672A (en) * 1980-03-14 1985-03-26 The Johns Hopkins University Method of fabricating a current controlled bistable electrical organic thin film switching device
US5407851A (en) 1981-02-23 1995-04-18 Unisys Corporation Method of fabricating an electrically alterable resistive component on an insulating layer above a semiconductor substrate
US4825408A (en) * 1984-04-25 1989-04-25 The Johns Hopkins University Multistate optical switching and memory apparatus using an amphoteric organic charge transfer material
IL86162A (en) * 1988-04-25 1991-11-21 Zvi Orbach Customizable semiconductor devices
US5427941A (en) 1985-08-08 1995-06-27 Schering Corporation Actinomadura brunnea var. antibiotica strains
KR900008647B1 (ko) * 1986-03-20 1990-11-26 후지쓰 가부시끼가이샤 3차원 집적회로와 그의 제조방법
EP0263574A1 (en) * 1986-09-08 1988-04-13 THORN EMI North America Inc. A method of manufacturing a semiconductor device, and a semiconductor device, having at least one selectively actuable conductive line
US4806995A (en) * 1987-02-02 1989-02-21 Olin Corporation Optical and electrical switching devices and a polymer composition containing pendant organic charge transfer salt moieties useful in switching devices
EP0344346B1 (en) * 1988-06-01 1995-04-26 Texas Instruments Incorporated Optical switching device
JPH07103190B2 (ja) * 1989-02-15 1995-11-08 松下電器産業株式会社 有機導電性薄膜とその製造方法
US5043251A (en) 1989-11-29 1991-08-27 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Process of three dimensional lithography in amorphous polymers
US5689428A (en) * 1990-09-28 1997-11-18 Texas Instruments Incorporated Integrated circuits, transistors, data processing systems, printed wiring boards, digital computers, smart power devices, and processes of manufacture
US5282312A (en) * 1991-12-31 1994-02-01 Tessera, Inc. Multi-layer circuit construction methods with customization features
US5378916A (en) * 1993-02-17 1995-01-03 Xerox Corporation Color imaging charge-coupled array with multiple photosensitive regions
US5427841A (en) 1993-03-09 1995-06-27 U.S. Philips Corporation Laminated structure of a metal layer on a conductive polymer layer and method of manufacturing such a structure
ATE171560T1 (de) 1993-03-09 1998-10-15 Koninkl Philips Electronics Nv Herstellungsverfahren eines musters von einem elektrisch leitfähigen polymer auf einer substratoberfläche und metallisierung eines solchen musters
US5567550A (en) * 1993-03-25 1996-10-22 Texas Instruments Incorporated Method of making a mask for making integrated circuits
EP1178530A2 (en) * 1993-09-30 2002-02-06 Kopin Corporation Three-dimensional processor using transferred thin film circuits
US5572409A (en) * 1994-02-08 1996-11-05 Prolinx Labs Corporation Apparatus including a programmable socket adapter for coupling an electronic component to a component socket on a printed circuit board
US5537108A (en) * 1994-02-08 1996-07-16 Prolinx Labs Corporation Method and structure for programming fuses
US5808351A (en) 1994-02-08 1998-09-15 Prolinx Labs Corporation Programmable/reprogramable structure using fuses and antifuses
JP3770631B2 (ja) * 1994-10-24 2006-04-26 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置の製造方法
US5703394A (en) * 1996-06-10 1997-12-30 Motorola Integrated electro-optical package
EP0968537B1 (en) * 1997-08-22 2012-05-02 Creator Technology B.V. A method of manufacturing a field-effect transistor substantially consisting of organic materials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2000122454A (ru) Способ формирования электропроводящих и/или полупроводниковых трехмерных структур, способ уничтожения этих структур и генератор/модулятор электрического поля для использования в способе формирования
KR100375392B1 (ko) 2차원 또는 3차원 구조의 도전성 및/또는 반도전성 구조를 형성 및 제거하는 방법과 상기 형성 방법에 사용되는 전계 발생기/변조기
TWI431804B (zh) 製造可定址及靜態電子顯示器、發電或其它電子裝置之方法
EP2862208B1 (de) Gewickelte und gefaltete thermoelektrische systeme und verfahren zu deren herstellung
ATE492920T1 (de) Batterie, insbesondere mikrobatterie, und deren herstellung mit hilfe von wafer-level-technologie
TWI569482B (zh) Method for manufacturing thermoelectric conversion device
RU2002128022A (ru) Многомерная структура адресации для электронных устройств
JPH08306399A (ja) 光化学電池
ATE287121T1 (de) Verbessertes bauelement aus leitendem polymer und seine herstellungsmethode
JP4966237B2 (ja) 燃料電池及びその製造方法
CN109474200A (zh) 基于miura-ori折叠并具有压电增强效应的摩擦发电机
JP2002090737A5 (ru)
NO20015509D0 (no) Elektrodeanordning, fremgangsmåte til dets fremstilling, apparat omfattende elektrodeanordningene, samt bruk av sistnevnte
KR101938309B1 (ko) 고효율 이온토포레시스 패치
JP2002118305A (ja) 多電極圧電デバイス配線方法及び多電極圧電装置
JPH0421794Y2 (ru)
JPH03241687A (ja) 積層型面状発熱体
JPS6323917Y2 (ru)
KR20210147767A (ko) 나노 탄소 면상발열체 및 그의 제조방법
DE2113613B2 (de) Verfahren zum gleichzeitigen Herstellen elektrischer Verbindungen zwischen einer Vielzahl von Leitern auf einem Substrat mit einer Vielzahl von Leitern eines anderen Substrats
KR101223678B1 (ko) 발열 기판 및 그 제조 방법
JP3673937B2 (ja) 電気的接続構造
JPH0290329A (ja) メンバシップ関数発生装置
JPH02130877A (ja) 熱電装置とその製造方法
JP2009077620A (ja) 電気的伸縮機構及びその製造方法並びにアクチュエータ