NL193349C - Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. - Google Patents

Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. Download PDF

Info

Publication number
NL193349C
NL193349C NL8802760A NL8802760A NL193349C NL 193349 C NL193349 C NL 193349C NL 8802760 A NL8802760 A NL 8802760A NL 8802760 A NL8802760 A NL 8802760A NL 193349 C NL193349 C NL 193349C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
melting
transistor
node
circuit
voltage
Prior art date
Application number
NL8802760A
Other languages
English (en)
Other versions
NL193349B (nl
NL8802760A (nl
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of NL8802760A publication Critical patent/NL8802760A/nl
Publication of NL193349B publication Critical patent/NL193349B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL193349C publication Critical patent/NL193349C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/74Testing of fuses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02HEMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H3/00Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
    • H02H3/02Details
    • H02H3/04Details with warning or supervision in addition to disconnection, e.g. for indicating that protective apparatus has functioned
    • H02H3/046Signalling the blowing of a fuse

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

1 193349
Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen
De onderhavige uitvinding betreft een detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen, in het bijzonder in geïntegreerde schakelingen, geheugenschakelingen of logische 5 schakelingen, met: een aan een eerste voedingsspanningsaansluiting aangesloten eerste ingangsklem evenals een aan een tweede voedingsspanningsaansluiting aangesloten tweede ingangsklem; een uit de eerste smeltstukverbinding en een eerste n-kanaal-MOS-transistor bestaande, tussen de beide voedings-aansluitingen geschakelde serieschakeling; een uit een tweede p-kanaal-MOS-transistor en de tweede smeltstukverbinding bestaande, eveneens tussen de beide voedingsaansluitingen geschakelde tweede 10 serieschakeling; een eerste elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de eerste transistor en de eerste smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de tweede transistor; een tweede elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de eerste transistor; een met de eerste elektrische verbinding gekoppelde eerste uitgangsklem alsmede een met de tweede elektrische verbinding gekoppelde 15 tweede uitgangsklem, waarbij op beide uitgangsklemmen een eerste vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen elektrische geleidend zijn en een tweede vooraf bepaalde signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen niet geleidend zijn; waarbij een condensator als initialiseringselement parallel is geplaatst aan ten minste een van de transistoren; waarbij een afvoer-elektrode van de eerste en tweede transistor gekoppeld is met de stuurelektrode van de tweede, respectie-20 veiijk eerste transistor; waarbij de eerste smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de eerste transistor ligt; en waarbij de positieve rol van de voedingsspanning met de bronelektrode van de tweede transistor en de aardpotentiaal met de bronelektrode van de eerste transistor in verbinding staat.
Een schakeling van het hierboven gedefinieerde type wordt geopenbaard in het Amerikaanse octrooi-25 schrift 4.613.959. Dit octrooischrift beschrijft een redunantieschakeling die geen vermogen verbruikt voor of na activering en een paar uitgangsknooppunten omschakelt van een eerste set van complementaire logische niveaus naar een geïnverteerde set wanneer de schakeling geactiveerd wordt door het doorbranden van een paar smeltstukverbindingen.
Het is gebruikelijk in de vervaardiging van geïntegreerde schakelingen met een groot oppervlak dat er 30 defecten optreden. Om het rendement van een schakeling te vergroten, is het gebruikelijk dat deze redunante schakelingelementen bevat waarmee defecte schakelingelementen vervangen kunnen worden. In een geheugeninrichting kunnen bijvoorbeeld additionele kolommen of rijen opgenomen worden op de chip. Tijdens keuring van de schakeling kunnen smeltstukken dan zo geconditioneerd worden dat defecte geheugencellen vervangen worden door niet-defecte redunante elementen.
35 Een andere toepassing voor een detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van een smeltstuk is als een ingang naar een logische functieschakeling. Gebaseerd op de toestand van een geprogrammeerd smeltstuk, zal de logische schakeling een geselecteerde logische functie vervullen.
Gewone smeltstukken van een geïntegreerde schakeling zijn ofwel van het laser doorgebrande type, laser uitgegloeide type, ofwel van het elektrisch doorgebrande type. Ongeacht het gebruikte type smeltstuk, 40 moet de te programmeren schakeling in staat zijn om de toestand van zijn smeltstukken te detecteren zodat hij zijn bedoelde functie kan uitvoeren.
De bekende schakeling heeft als nadeel dat strooicapaciteit het initialiseringselement vormt, waardoor de werking en stabiliteit van de schakeling in verschillende omgevingen te wensen overlaat. De uitvinding beoogt een detectieschakeling te verschaffen waarvan de werking en stabiliteit in verschillende omgevingen 45 beter is bepaald.
De onderhavige uitvinding verschaft daartoe een detectieschakeling van de in de aanhef gedefinieerde soort, met het kenmerk, dat de condensator een dunne-filmcondensator is.
In de voorkeursuitvoering wordt de smeltstukstructuur opgenomen in de schakeling zodat er een flipflop geproduceerd wordt, en wordt er CMOS-technologie toegepast om een laag energieverbruik te bereiken. De 50 toestand van een smeltstuk wordt inherent gedetecteerd wanneer de energietoevoer van een schakeling wordt opgevoerd, en er zijn geen klokpulsen nodig. De schakeling is functioneel stabiel en onafhankelijk van de gebruikte smeltstuktechnologie. De schakeling is ook inherent ongevoelig voor de effecten van globaal of locaal ioniserende straling.
55 De uitvinding wordt in de beschrijving nader toegelicht aan de hand van de tekening. Daarin toont figuur 1 een schema van een onderhavige schakeling volgens een eerste voorkeursuitvoering; figuur 2 een schema van een onderhavige schakeling volgens een tweede uitvoeringsvorm; 193349 2 figuur 3 een schema van een onderhavige schakeling volgens een derde uitvoeringsvorm.
Figuur 1 is een gedetailleerd schematisch diagram van een onderhavige programmeerbare schakeling voor een smeltstuk volgens een eerste voorkeursuitvoering. Een aansluitklem voor een positieve spannings-5 toevoer, VDD, wordt aangesloten aan een aansluitklem van smeltveiligheid 1, aan de bron S van een p-kanaaltransistor QP en aan een aansluitklem van een initialisatie-element, weergegeven als een condensator Cc. De andere aansluitklem van smeltstuk 1, knooppunt A, wordt aangesloten aan de afvoer D van een transistor QN en aan de poort van QP. De afvoer D, van QP, knooppunt B, wordt aangesloten aan de poort van QN en aan de andere aansluitklem van het initialisatie-element Cc en is ook uitgangsklem Vuit. 10 De bron S van QN wordt aangesloten aan aarde, Vss. Smeltstuk 2 is aangesloten tussen de poort van QN en aarde.
Het doel van het initialisatie-element is om de transistoren in te schakelen gedurende het opvoeren van de energietoevoer. Door een stroompad te verschaffen tussen de poort van QN en de energietoevoer, of tussen de poort van QP en aarde gedurende opvoering van de energie-toevoer, zullen de transistoren hun 15 drempelspanning van de aan-toestand bereiken. Wanneer de transistoren eenmaal ingesteld zijn, zal de schakeling een stabiele toestand bereiken afhankelijk van de toestand van het smeltstuk vanwege een positieve terugkoppellus die verderop in de beschrijving besproken zal worden. Het initialisatie-element kan een condensator of andere inrichting zijn, zoals een transistor, die een stroompad verschaft gedurende het opvoeren van de energietoevoer van de schakeling. Zoals getoond in figuur 2, kan het initialisatie-element 20 parallel aangebracht worden met QN in plaats van parallel met QP zoals in figuur 1. Als alternatief kunnen er twee initialisatie-elementen gebruikt worden zoals getoond in figuur 3. De drie weergegeven uitvoeringsvormen van de schakeling zijn in hoofdzaak gelijk.
De juiste detectie van de toestand van een smeltveiligheid vereist het juist functioneren van het (de) initialisatie-element(en) (zoals verder hieronder besproken). Daarom wordt er sterk de voorkeur aan 25 gegeven om condensatoren Cc te gebruiken van het type dat als initialisatie-element(en) de meeste stabiliteit biedt in verschillende omgevingen. De dunne-filmcondensator biedt in dit opzicht om twee redenen meer stabiliteit dan de overgangscondensator.
Op de eerste plaats zal in een omgeving die electron-gatparen kan opwekken in bijvoorbeeld silicon (bijvoorbeeld als gevolg van straling of hitte), de resulterende stroom door de p-n-overgang van een 30 overgangscondensator de nettocapaciteit reduceren of zelfs tenietdoen. Dit is niet het geval met de dunne-filmcondensator aangezien de dunne-filmmetaalelektrode door een diëlektrische laag gescheiden wordt van het onderliggende gedoteerde halfgeleidergebied. Op de tweede plaats steunt de overgangscondensator op een ruimteladings- of depletiegebied nabij de overgang zodat er capaciteit verschaft wordt. De breedte van dit overgangsgebied is een functie van de toegevoerde spanning en temperatuur. Daarente-35 gen is de capaciteit van de dunne-filmcondensator in hoofdzaak onafhankelijk van de toegevoerde spanning en de temperatuur.
Dunne-filmcondensatoren kunnen zo afgesteld worden dat ze geselecteerde condensatorwaarden verschaffen.
In de voorkeursuitvoering van de onderhavige inrichting zijn QN en QP MOS-transistoren, typisch 40 toegepast in een CMOS-technologie. De smeltstukken kunnen stroken zijn van geleidend polysilicon dat doorgebrand kan worden door een laser. Indien doorgebrand, veranderen de smeltstukken van een geleidende toestand naar een niet-geleidende toestand. Voor juiste werking van de voorkeursuitvoering, moeten beide smeltstukken dezelfde toestand hebben; dat betekent: ofwel beide geleidend ofwel beide niet-geleidend.
45 In een normale werkingswijze, is aansluitklem VDD aangesloten op een positieve spanningsbron van ongeveer 5 volt, en aansluitklem VSs wordt aangesloten op aardpotentiaal. Wanneer smeltstukken 1 en 2 geleidend zijn, wordt knooppunt A aangesloten op de energiebron via smeltstuk 1 en wordt daarbij opgeladen tot een positieve spanning, die ervoor zorgt dat transistor QP minder geleidend wordt. Wanneer transistor QP minder geleidend wordt, neemt de spanning bij knooppunt B af door de ontladende werking 50 van smeltstuk 2 wat ervoor zorgt dat transistor QN minder geleidend wordt. Op dezelfde manier neemt, terwijl QN minder geleidend wordt, in knooppunt A de spanning toe hetgeen ervoor zorgt dat QP minder geleidend wordt, enzovoort. Deze positieve terugkoppellus heeft als gevolg dat zowel QP als QN volledig worden uitgeschakeld, waarbij de statische energietoevoerstroom gereduceerd wordt tot het niveau van parasitaire overgangslekkage en waarbij aan knooppunt B en knooppunt A een uitgangsspanning wordt 55 geproduceerd gelijk aan aardpotentiaal respectievelijk voedingsbronpotentiaal.
Voor het geval dat de smeltstukken geleidend zijn is, als het geleidingsvermogen van het smeltstuk groot wordt gemaakt in vergelijking tot de geleidbaarheid van QP en QN, de enige stabiele toestand voor de

Claims (2)

3 193349 schakeling dat de spanning op knooppunt A gelijk is aan de voedingsbronspanning, en dat de spanning op knooppunt B gelijk is aan aardpotentiaal. Als bijvoorbeeld polysilicon, dat een specifieke plaatweerstand heeft van 100 ohm per vierkant wordt gebruikt als het smeltstukmateriaal, kan de ontwerper de weerstand van het smeltstuk kiezen door het aantal vierkanten zodanig te variëren dat het smeltstuk-5 geleidingsvermogen groter is dan het maximale geleidingsvermogen van de transistoren. Als het smeltstuk 5 vierkanten lang is, is de totale smeltstukweerstand 500 ohm. De transistoren moeten een weerstand hebben die ruwweg twee tot vier keer groter is dan 500 ohm. De typische transistor zou dan een breedte-lengteverhouding hebben van minder dan 10. De exacte verhouding is afhankelijk van procesomstandigheden en moet zodanig gekozen worden dat hij past bij bijzondere fabricagewerkwijzen. 10 In het tegengestelde geval waarin de smeltstukken niet-geleidend zijn neemt, terwijl het energieverbruik van de schakeling wordt opgevoerd en VDD toeneemt van af 0 volt, de spanning op knooppunt B toe als gevolg van de werking van het initialisatie-element (bijvoorbeeld de capacitieve koppelwerking van condensator Cc met de energiebron VDD). Door het initialisatie-element aan te passen zodat op knooppunt B een spanning geproduceerd wordt die voldoende is om ervoor te zorgen dat QN ingeschakeld wordt, 15 ontlaadt knooppunt A hetgeen QP inschakelt, waarbij knooppunt B stijgt tot VDD en de positieve terugkoppellus voltooid wordt. Zowel QP als QN zullen ingeschakeld blijven met een aanvoerstroom die bijna gelijk is aan 0 en knooppunt A en knooppunt B respectievelijk gelijk zijn aan de voedingsbronpotentiaal en aardpotentiaal. Omgekeerd zou deze zelfde initialisatie uitgevoerd kunnen worden door ontlading van knooppunt A zodat QP omgezet wordt. QP laadt dan knooppunt B op waarbij QN wordt ingeschakeld en 20 waarbij de positieve terugkoppellus wordt voltooid. Een functionele samenvatting wordt gegeven in de tabel. TABEL 25 Toestand van smeltstuk 1 en 2 lDD Vuit Vuit geleidend O Vss VDD niet-geleidend O VDD Vss 30 _ Het uitgangssignaal wordt afgenomen van de afvoeraansluiting van elke transistor. Ofwel Vuit ofwel Vuit ofwel beiden kunnen gebruikt worden om een redundant schakelsysteem te sturen. Zodoende produceren de in de figuren weergegeven flipflop of bistabiele detectieschakelingen voor een smeltstuk een uitgangsniveau van ofwel aarde of VDD, afhankelijk van de toestand van de smeltstukken, zonder de noodzaak tot klokken, 35 opnieuw instellen of gelijkstroomenergieverbruik. De beschreven schakelingen zijn stabiel en hebben een functionaliteit die onafhankelijk is van de gebruikte smeltstuktechnologie. De schakelingen zijn ook in hoge mate ongevoelig voor verstoring door een tijdafhankelijk stralings-verschijnsel, dat een lading produceert die opgenomen kan worden door een schakelingsknooppunten. Als gevolg van het hoge geleidingsvermogen van de smeltstukken is er een zeer grote hoeveelheid straling 40 vereist om de knooppuntspanningen beduidend te veranderen. Wanneer de smeltstukken niet-geleidend zijn, in de inherente toestand van de schakeling zodanig dat er geen halfgeleider p-n-overgangen omgekeerd worden voorgespannen. Omdat de opname van lading als gevolg van straling dikwijls de omgekeerde spanning op een p-n-overgang vermindert, versterkt elke ladingsopname die uit een stralingsverschijnsel resulteert slechts de toestand van de schakeling, en knooppunten A en B zijn daarom inherent stabiel. 45 Zodoende zijn de schakelingen inherent ongevoelig voor voorbijgaande ioniserende straling.
1. Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen, in het bijzonder in geïntegreerde schakelingen, geheugenschakelingen of logische schakelingen, met: een aan een eerste voedingsspanningsaansluiting aangesloten eerste ingangsklem evenals een aan een tweede voedings-spanningsaansluiting aangesloten tweede ingangsklem; een uit de eerste smeltstukverbinding en een eerste n-kanaal-MOS-transistor bestaande, tussen de beide voedingsaansl uitingen geschakelde serieschakeling; 55 een uit een tweede p-kanaal-MOS-transistor en de tweede smeltstukverbinding bestaande, eveneens tussen de beide voedingsaansluitingen geschakelde tweede serieschakeling; een eerste elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de eerste transistor en de eerste smeltstukverbinding en 193349 4 anderzijds de stuurelektrode van de tweede transistor; een tweede elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de eerste transistor; een met de eerste elektrische verbinding gekoppelde eerste uitgangs-klem alsmede een met de tweede elektrische verbinding gekoppelde tweede uitgangsklem, waarbij op beide 5 uitgangsklemmen een eerste vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen elektrisch geleidend zijn en een tweede vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen niet geleidend zijn; waarbij een condensator als initiaiiseringselement parallel is geplaatst aan ten minste een van de transistoren; waarbij een afvoerelektrode van de eerste en tweede transistor gekoppeld is met de stuurelektrode van de tweede, respectievelijk eerste transistor; waarbij de eerste 10 smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de eerste transistor ligt; en waarbij de positieve rol van de voedingsspanning met de bronelektrode van de tweede transistor en de aard-potentiaal met de bronelektrode van de eerste transistor in verbinding staat, met het kenmerk, dat de condensator een dunne-filmcondensator is.
2. Schakeling volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat met elk van de beide transistoren een dunne-filmcondensator als initialisatie-element parallel geschakeld is. Hierbij 1 blad tekening
NL8802760A 1987-11-12 1988-11-09 Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. NL193349C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/129,891 US4837520A (en) 1985-03-29 1987-11-12 Fuse status detection circuit
US12989187 1987-11-12

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8802760A NL8802760A (nl) 1989-06-01
NL193349B NL193349B (nl) 1999-03-01
NL193349C true NL193349C (nl) 1999-07-02

Family

ID=22442077

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8802760A NL193349C (nl) 1987-11-12 1988-11-09 Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4837520A (nl)
JP (1) JP2628359B2 (nl)
KR (1) KR960001304B1 (nl)
DE (1) DE3837800A1 (nl)
NL (1) NL193349C (nl)

Families Citing this family (63)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4908525A (en) * 1989-02-03 1990-03-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Cut-only CMOS switch for discretionary connect and disconnect
ATE110865T1 (de) * 1989-06-30 1994-09-15 Siemens Ag Integrierte schaltungsanordnung.
JPH03225868A (ja) * 1990-01-30 1991-10-04 Hitachi Ltd 固体撮像素子とそれを用いた撮像装置
US5163168A (en) * 1990-03-30 1992-11-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Pulse signal generator and redundancy selection signal generator
US5208775A (en) * 1990-09-07 1993-05-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Dual-port memory device
US5051691A (en) * 1990-09-13 1991-09-24 Samsung Semiconductor, Inc. Zero power dissipation laser fuse signature circuit for redundancy in vlsi design
US5334880A (en) * 1991-04-30 1994-08-02 International Business Machines Corporation Low voltage programmable storage element
JPH0575031A (ja) * 1991-09-12 1993-03-26 Matsushita Electron Corp 半導体装置
FR2684206B1 (fr) * 1991-11-25 1994-01-07 Sgs Thomson Microelectronics Sa Circuit de lecture de fusible de redondance pour memoire integree.
JP3362873B2 (ja) * 1992-08-21 2003-01-07 株式会社東芝 半導体装置
US5440246A (en) * 1994-03-22 1995-08-08 Mosel Vitelic, Incorporated Programmable circuit with fusible latch
US5552757A (en) * 1994-05-27 1996-09-03 Littelfuse, Inc. Surface-mounted fuse device
US6191928B1 (en) 1994-05-27 2001-02-20 Littelfuse, Inc. Surface-mountable device for protection against electrostatic damage to electronic components
US5790008A (en) * 1994-05-27 1998-08-04 Littlefuse, Inc. Surface-mounted fuse device with conductive terminal pad layers and groove on side surfaces
US5974661A (en) * 1994-05-27 1999-11-02 Littelfuse, Inc. Method of manufacturing a surface-mountable device for protection against electrostatic damage to electronic components
US5959445A (en) * 1995-09-29 1999-09-28 Intel Corporation Static, high-sensitivity, fuse-based storage cell
US5731733A (en) * 1995-09-29 1998-03-24 Intel Corporation Static, low current sensing circuit for sensing the state of a fuse device
US5789970A (en) * 1995-09-29 1998-08-04 Intel Corporation Static, low current, low voltage sensing circuit for sensing the state of a fuse device
US5699032A (en) * 1996-06-07 1997-12-16 Littelfuse, Inc. Surface-mount fuse having a substrate with surfaces and a metal strip attached to the substrate using layer of adhesive material
US5977860A (en) * 1996-06-07 1999-11-02 Littelfuse, Inc. Surface-mount fuse and the manufacture thereof
DE19631130C2 (de) * 1996-08-01 2000-08-17 Siemens Ag Fuse-Refresh-Schaltung
US5731734A (en) * 1996-10-07 1998-03-24 Atmel Corporation Zero power fuse circuit
US5889414A (en) * 1997-04-28 1999-03-30 Mosel Vitelic Corporation Programmable circuits
US5896059A (en) * 1997-05-09 1999-04-20 International Business Machines Corporation Decoupling capacitor fuse system
GB2325527B (en) * 1997-05-23 2002-03-27 Texas Instruments Ltd Detecting the state of an electrical conductor
JPH10332786A (ja) * 1997-05-27 1998-12-18 Nec Kyushu Ltd 半導体装置
KR100425441B1 (ko) * 1997-06-23 2004-05-24 삼성전자주식회사 비 메모리를 위한 퓨징 장치 및 방법
US5999037A (en) * 1997-07-31 1999-12-07 International Business Machines Corporation Circuit for operating a control transistor from a fusible link
US6014052A (en) * 1997-09-29 2000-01-11 Lsi Logic Corporation Implementation of serial fusible links
US5999038A (en) * 1998-09-24 1999-12-07 Atmel Corporation Fuse circuit having zero power draw for partially blown condition
US6084803A (en) * 1998-10-23 2000-07-04 Mosel Vitelic, Inc. Initialization of non-volatile programmable latches in circuits in which an initialization operation is performed
US6163492A (en) 1998-10-23 2000-12-19 Mosel Vitelic, Inc. Programmable latches that include non-volatile programmable elements
JP2001307480A (ja) * 2000-04-24 2001-11-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US6671834B1 (en) * 2000-07-18 2003-12-30 Micron Technology, Inc. Memory redundancy with programmable non-volatile control
US7035072B2 (en) * 2001-07-10 2006-04-25 Littlefuse, Inc. Electrostatic discharge apparatus for network devices
US7034652B2 (en) * 2001-07-10 2006-04-25 Littlefuse, Inc. Electrostatic discharge multifunction resistor
FR2836752A1 (fr) * 2002-02-11 2003-09-05 St Microelectronics Sa Cellule memoire a programmation unique
US6878004B2 (en) * 2002-03-04 2005-04-12 Littelfuse, Inc. Multi-element fuse array
US7132922B2 (en) * 2002-04-08 2006-11-07 Littelfuse, Inc. Direct application voltage variable material, components thereof and devices employing same
CN100350606C (zh) * 2002-04-08 2007-11-21 力特保险丝有限公司 使用压变材料的装置
US7183891B2 (en) * 2002-04-08 2007-02-27 Littelfuse, Inc. Direct application voltage variable material, devices employing same and methods of manufacturing such devices
DE112004002301T5 (de) * 2003-11-26 2006-09-28 Littelfuse, Inc., Des Plaines Elektrische Schutzeinrichtung für ein Fahrzeug und System, das diese einsetzt
US6995601B2 (en) * 2004-01-14 2006-02-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Fuse state detection circuit
US8134445B2 (en) * 2004-04-20 2012-03-13 Cooper Technologies Company RFID open fuse indicator, system, and method
US7369029B2 (en) * 2004-04-20 2008-05-06 Cooper Technologies Company Wireless communication fuse state indicator system and method
TW200635164A (en) 2004-09-10 2006-10-01 Cooper Technologies Co System and method for circuit protector monitoring and management
US8169331B2 (en) * 2004-09-10 2012-05-01 Cooper Technologies Company Circuit protector monitoring assembly
US20070194942A1 (en) * 2004-09-10 2007-08-23 Darr Matthew R Circuit protector monitoring assembly, system and method
JP4584658B2 (ja) * 2004-09-13 2010-11-24 Okiセミコンダクタ株式会社 半導体装置
US20060087397A1 (en) * 2004-10-26 2006-04-27 Cooper Technologies Company Fuse state indicating optical circuit and system
US20060232904A1 (en) * 2005-04-13 2006-10-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Supply voltage independent sensing circuit for electrical fuses
US7276955B2 (en) * 2005-04-14 2007-10-02 Micron Technology, Inc. Circuit and method for stable fuse detection
US7983024B2 (en) * 2007-04-24 2011-07-19 Littelfuse, Inc. Fuse card system for automotive circuit protection
US8963590B2 (en) * 2007-06-13 2015-02-24 Honeywell International Inc. Power cycling power on reset circuit for fuse initialization circuitry
JP5458236B2 (ja) * 2007-11-02 2014-04-02 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 電気ヒューズ判定回路及び判定方法
US20090161470A1 (en) * 2007-12-20 2009-06-25 Micron Technology, Inc. Circuit for dynamic readout of fused data in image sensors
DE102008048830B4 (de) * 2008-09-25 2010-11-04 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung mit Schmelzsicherung und Verfahren zum Ermitteln eines Zustands einer Schmelzsicherung
TWM424608U (en) * 2011-11-04 2012-03-11 Richtek Technology Corp Fuse circuit for final test trimming of integrated circuit chip
KR20140085245A (ko) * 2012-12-27 2014-07-07 에스케이하이닉스 주식회사 퓨즈 센싱 회로를 갖는 반도체 장치
US9583297B2 (en) * 2014-04-04 2017-02-28 Eaton Corporation Remote fuse operation indicator assemblies and related systems and methods
US10255982B2 (en) * 2016-11-02 2019-04-09 Skyworks Solutions, Inc. Accidental fuse programming protection circuits
US10360988B2 (en) 2016-11-02 2019-07-23 Skyworks Solutions, Inc. Apparatus and methods for protection against inadvertent programming of fuse cells
KR20190086948A (ko) 2018-01-15 2019-07-24 주식회사 카라신 간이침대 고정형 침낭

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2230753C2 (de) * 1972-06-23 1983-10-27 Lucien Ferraz & Cie. S.A., 69003 Lyon Schaltung zur Zustandskontrolle einer elektrischen Sicherung
US3872450A (en) * 1973-06-21 1975-03-18 Motorola Inc Fusible link memory cell for a programmable read only memory
GB1553250A (en) * 1976-08-03 1979-09-26 Nat Res Dev Unidirectional signal paths
US4346459A (en) * 1980-06-30 1982-08-24 Inmos Corporation Redundancy scheme for an MOS memory
US4446534A (en) * 1980-12-08 1984-05-01 National Semiconductor Corporation Programmable fuse circuit
US4532607A (en) * 1981-07-22 1985-07-30 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Programmable circuit including a latch to store a fuse's state
US4546455A (en) * 1981-12-17 1985-10-08 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
US4417154A (en) * 1982-02-08 1983-11-22 Motorola, Inc. Circuit for applying a high voltage signal to a fusible link
FR2526225B1 (fr) * 1982-04-30 1985-11-08 Radiotechnique Compelec Procede de realisation d'un condensateur integre, et dispositif ainsi obtenu
JPS6015946A (ja) * 1983-07-08 1985-01-26 Hitachi Ltd 集積回路
US4613959A (en) * 1984-01-06 1986-09-23 Thomson Components-Mostek Corportion Zero power CMOS redundancy circuit
US4590388A (en) * 1984-04-23 1986-05-20 At&T Bell Laboratories CMOS spare decoder circuit

Also Published As

Publication number Publication date
KR960001304B1 (ko) 1996-01-25
KR890008849A (ko) 1989-07-12
US4837520A (en) 1989-06-06
NL193349B (nl) 1999-03-01
NL8802760A (nl) 1989-06-01
DE3837800A1 (de) 1989-05-24
JPH021145A (ja) 1990-01-05
JP2628359B2 (ja) 1997-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL193349C (nl) Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen.
KR100374467B1 (ko) 안티퓨즈 검출 회로
US6346846B1 (en) Methods and apparatus for blowing and sensing antifuses
KR900003938B1 (ko) 휴즈 회로를 갖는 집적회로
EP0315385B1 (en) Delay circuits for integrated circuits
GB1589414A (en) Fet driver circuits
US7969699B2 (en) ESD protection trigger circuit
US4855613A (en) Wafer scale integration semiconductor device having improved chip power-supply connection arrangement
US7564278B2 (en) Power-on reset circuit
US20020141273A1 (en) Address generating circuit
KR100367312B1 (ko) 지연 회로
US5812001A (en) Power-on reset circuit for resetting semiconductor integrated circuit
US4621346A (en) Low power CMOS fuse circuit
US4594688A (en) Power supply circuit for flip-flop memory
KR19990029679A (ko) 가용성 셀 및 가용성 셀 어레이
KR19980024247A (ko) 전류 모드 센스 증폭기
CN113890520A (zh) 复位电路
KR100217354B1 (ko) 다수의 직렬로 연결된 샘플 데이타 비교기들로의 피드백 스위치 전하 주사 효과 감소용 방법 및 장치
US5212413A (en) Stable, programmable low-dissipation reference circuit
US6590428B2 (en) Evaluation of conduction at precharged node
US6215170B1 (en) Structure for single conductor acting as ground and capacitor plate electrode using reduced area
JP2001326535A (ja) バイアス回路
KR100201719B1 (ko) 랫치업 방지회로를 갖춘 반도체 집적회로
US20020000852A1 (en) Reset circuit
US6417553B1 (en) Semiconductor wafer with sensors for detecting radiation on the semiconductor wafer

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
CNR Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection)

Free format text: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.

BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V4 Discontinued because of reaching the maximum lifetime of a patent

Effective date: 20081109