NL193349C - Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. - Google Patents
Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. Download PDFInfo
- Publication number
- NL193349C NL193349C NL8802760A NL8802760A NL193349C NL 193349 C NL193349 C NL 193349C NL 8802760 A NL8802760 A NL 8802760A NL 8802760 A NL8802760 A NL 8802760A NL 193349 C NL193349 C NL 193349C
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- melting
- transistor
- node
- circuit
- voltage
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/14—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
- G11C17/18—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/74—Testing of fuses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
- H01L21/82—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
- H02H3/02—Details
- H02H3/04—Details with warning or supervision in addition to disconnection, e.g. for indicating that protective apparatus has functioned
- H02H3/046—Signalling the blowing of a fuse
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Description
1 193349
Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen
De onderhavige uitvinding betreft een detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen, in het bijzonder in geïntegreerde schakelingen, geheugenschakelingen of logische 5 schakelingen, met: een aan een eerste voedingsspanningsaansluiting aangesloten eerste ingangsklem evenals een aan een tweede voedingsspanningsaansluiting aangesloten tweede ingangsklem; een uit de eerste smeltstukverbinding en een eerste n-kanaal-MOS-transistor bestaande, tussen de beide voedings-aansluitingen geschakelde serieschakeling; een uit een tweede p-kanaal-MOS-transistor en de tweede smeltstukverbinding bestaande, eveneens tussen de beide voedingsaansluitingen geschakelde tweede 10 serieschakeling; een eerste elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de eerste transistor en de eerste smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de tweede transistor; een tweede elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de eerste transistor; een met de eerste elektrische verbinding gekoppelde eerste uitgangsklem alsmede een met de tweede elektrische verbinding gekoppelde 15 tweede uitgangsklem, waarbij op beide uitgangsklemmen een eerste vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen elektrische geleidend zijn en een tweede vooraf bepaalde signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen niet geleidend zijn; waarbij een condensator als initialiseringselement parallel is geplaatst aan ten minste een van de transistoren; waarbij een afvoer-elektrode van de eerste en tweede transistor gekoppeld is met de stuurelektrode van de tweede, respectie-20 veiijk eerste transistor; waarbij de eerste smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de eerste transistor ligt; en waarbij de positieve rol van de voedingsspanning met de bronelektrode van de tweede transistor en de aardpotentiaal met de bronelektrode van de eerste transistor in verbinding staat.
Een schakeling van het hierboven gedefinieerde type wordt geopenbaard in het Amerikaanse octrooi-25 schrift 4.613.959. Dit octrooischrift beschrijft een redunantieschakeling die geen vermogen verbruikt voor of na activering en een paar uitgangsknooppunten omschakelt van een eerste set van complementaire logische niveaus naar een geïnverteerde set wanneer de schakeling geactiveerd wordt door het doorbranden van een paar smeltstukverbindingen.
Het is gebruikelijk in de vervaardiging van geïntegreerde schakelingen met een groot oppervlak dat er 30 defecten optreden. Om het rendement van een schakeling te vergroten, is het gebruikelijk dat deze redunante schakelingelementen bevat waarmee defecte schakelingelementen vervangen kunnen worden. In een geheugeninrichting kunnen bijvoorbeeld additionele kolommen of rijen opgenomen worden op de chip. Tijdens keuring van de schakeling kunnen smeltstukken dan zo geconditioneerd worden dat defecte geheugencellen vervangen worden door niet-defecte redunante elementen.
35 Een andere toepassing voor een detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van een smeltstuk is als een ingang naar een logische functieschakeling. Gebaseerd op de toestand van een geprogrammeerd smeltstuk, zal de logische schakeling een geselecteerde logische functie vervullen.
Gewone smeltstukken van een geïntegreerde schakeling zijn ofwel van het laser doorgebrande type, laser uitgegloeide type, ofwel van het elektrisch doorgebrande type. Ongeacht het gebruikte type smeltstuk, 40 moet de te programmeren schakeling in staat zijn om de toestand van zijn smeltstukken te detecteren zodat hij zijn bedoelde functie kan uitvoeren.
De bekende schakeling heeft als nadeel dat strooicapaciteit het initialiseringselement vormt, waardoor de werking en stabiliteit van de schakeling in verschillende omgevingen te wensen overlaat. De uitvinding beoogt een detectieschakeling te verschaffen waarvan de werking en stabiliteit in verschillende omgevingen 45 beter is bepaald.
De onderhavige uitvinding verschaft daartoe een detectieschakeling van de in de aanhef gedefinieerde soort, met het kenmerk, dat de condensator een dunne-filmcondensator is.
In de voorkeursuitvoering wordt de smeltstukstructuur opgenomen in de schakeling zodat er een flipflop geproduceerd wordt, en wordt er CMOS-technologie toegepast om een laag energieverbruik te bereiken. De 50 toestand van een smeltstuk wordt inherent gedetecteerd wanneer de energietoevoer van een schakeling wordt opgevoerd, en er zijn geen klokpulsen nodig. De schakeling is functioneel stabiel en onafhankelijk van de gebruikte smeltstuktechnologie. De schakeling is ook inherent ongevoelig voor de effecten van globaal of locaal ioniserende straling.
55 De uitvinding wordt in de beschrijving nader toegelicht aan de hand van de tekening. Daarin toont figuur 1 een schema van een onderhavige schakeling volgens een eerste voorkeursuitvoering; figuur 2 een schema van een onderhavige schakeling volgens een tweede uitvoeringsvorm; 193349 2 figuur 3 een schema van een onderhavige schakeling volgens een derde uitvoeringsvorm.
Figuur 1 is een gedetailleerd schematisch diagram van een onderhavige programmeerbare schakeling voor een smeltstuk volgens een eerste voorkeursuitvoering. Een aansluitklem voor een positieve spannings-5 toevoer, VDD, wordt aangesloten aan een aansluitklem van smeltveiligheid 1, aan de bron S van een p-kanaaltransistor QP en aan een aansluitklem van een initialisatie-element, weergegeven als een condensator Cc. De andere aansluitklem van smeltstuk 1, knooppunt A, wordt aangesloten aan de afvoer D van een transistor QN en aan de poort van QP. De afvoer D, van QP, knooppunt B, wordt aangesloten aan de poort van QN en aan de andere aansluitklem van het initialisatie-element Cc en is ook uitgangsklem Vuit. 10 De bron S van QN wordt aangesloten aan aarde, Vss. Smeltstuk 2 is aangesloten tussen de poort van QN en aarde.
Het doel van het initialisatie-element is om de transistoren in te schakelen gedurende het opvoeren van de energietoevoer. Door een stroompad te verschaffen tussen de poort van QN en de energietoevoer, of tussen de poort van QP en aarde gedurende opvoering van de energie-toevoer, zullen de transistoren hun 15 drempelspanning van de aan-toestand bereiken. Wanneer de transistoren eenmaal ingesteld zijn, zal de schakeling een stabiele toestand bereiken afhankelijk van de toestand van het smeltstuk vanwege een positieve terugkoppellus die verderop in de beschrijving besproken zal worden. Het initialisatie-element kan een condensator of andere inrichting zijn, zoals een transistor, die een stroompad verschaft gedurende het opvoeren van de energietoevoer van de schakeling. Zoals getoond in figuur 2, kan het initialisatie-element 20 parallel aangebracht worden met QN in plaats van parallel met QP zoals in figuur 1. Als alternatief kunnen er twee initialisatie-elementen gebruikt worden zoals getoond in figuur 3. De drie weergegeven uitvoeringsvormen van de schakeling zijn in hoofdzaak gelijk.
De juiste detectie van de toestand van een smeltveiligheid vereist het juist functioneren van het (de) initialisatie-element(en) (zoals verder hieronder besproken). Daarom wordt er sterk de voorkeur aan 25 gegeven om condensatoren Cc te gebruiken van het type dat als initialisatie-element(en) de meeste stabiliteit biedt in verschillende omgevingen. De dunne-filmcondensator biedt in dit opzicht om twee redenen meer stabiliteit dan de overgangscondensator.
Op de eerste plaats zal in een omgeving die electron-gatparen kan opwekken in bijvoorbeeld silicon (bijvoorbeeld als gevolg van straling of hitte), de resulterende stroom door de p-n-overgang van een 30 overgangscondensator de nettocapaciteit reduceren of zelfs tenietdoen. Dit is niet het geval met de dunne-filmcondensator aangezien de dunne-filmmetaalelektrode door een diëlektrische laag gescheiden wordt van het onderliggende gedoteerde halfgeleidergebied. Op de tweede plaats steunt de overgangscondensator op een ruimteladings- of depletiegebied nabij de overgang zodat er capaciteit verschaft wordt. De breedte van dit overgangsgebied is een functie van de toegevoerde spanning en temperatuur. Daarente-35 gen is de capaciteit van de dunne-filmcondensator in hoofdzaak onafhankelijk van de toegevoerde spanning en de temperatuur.
Dunne-filmcondensatoren kunnen zo afgesteld worden dat ze geselecteerde condensatorwaarden verschaffen.
In de voorkeursuitvoering van de onderhavige inrichting zijn QN en QP MOS-transistoren, typisch 40 toegepast in een CMOS-technologie. De smeltstukken kunnen stroken zijn van geleidend polysilicon dat doorgebrand kan worden door een laser. Indien doorgebrand, veranderen de smeltstukken van een geleidende toestand naar een niet-geleidende toestand. Voor juiste werking van de voorkeursuitvoering, moeten beide smeltstukken dezelfde toestand hebben; dat betekent: ofwel beide geleidend ofwel beide niet-geleidend.
45 In een normale werkingswijze, is aansluitklem VDD aangesloten op een positieve spanningsbron van ongeveer 5 volt, en aansluitklem VSs wordt aangesloten op aardpotentiaal. Wanneer smeltstukken 1 en 2 geleidend zijn, wordt knooppunt A aangesloten op de energiebron via smeltstuk 1 en wordt daarbij opgeladen tot een positieve spanning, die ervoor zorgt dat transistor QP minder geleidend wordt. Wanneer transistor QP minder geleidend wordt, neemt de spanning bij knooppunt B af door de ontladende werking 50 van smeltstuk 2 wat ervoor zorgt dat transistor QN minder geleidend wordt. Op dezelfde manier neemt, terwijl QN minder geleidend wordt, in knooppunt A de spanning toe hetgeen ervoor zorgt dat QP minder geleidend wordt, enzovoort. Deze positieve terugkoppellus heeft als gevolg dat zowel QP als QN volledig worden uitgeschakeld, waarbij de statische energietoevoerstroom gereduceerd wordt tot het niveau van parasitaire overgangslekkage en waarbij aan knooppunt B en knooppunt A een uitgangsspanning wordt 55 geproduceerd gelijk aan aardpotentiaal respectievelijk voedingsbronpotentiaal.
Voor het geval dat de smeltstukken geleidend zijn is, als het geleidingsvermogen van het smeltstuk groot wordt gemaakt in vergelijking tot de geleidbaarheid van QP en QN, de enige stabiele toestand voor de
Claims (2)
1. Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen, in het bijzonder in geïntegreerde schakelingen, geheugenschakelingen of logische schakelingen, met: een aan een eerste voedingsspanningsaansluiting aangesloten eerste ingangsklem evenals een aan een tweede voedings-spanningsaansluiting aangesloten tweede ingangsklem; een uit de eerste smeltstukverbinding en een eerste n-kanaal-MOS-transistor bestaande, tussen de beide voedingsaansl uitingen geschakelde serieschakeling; 55 een uit een tweede p-kanaal-MOS-transistor en de tweede smeltstukverbinding bestaande, eveneens tussen de beide voedingsaansluitingen geschakelde tweede serieschakeling; een eerste elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de eerste transistor en de eerste smeltstukverbinding en 193349 4 anderzijds de stuurelektrode van de tweede transistor; een tweede elektrische verbinding tussen enerzijds een verbindingspunt van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding en anderzijds de stuurelektrode van de eerste transistor; een met de eerste elektrische verbinding gekoppelde eerste uitgangs-klem alsmede een met de tweede elektrische verbinding gekoppelde tweede uitgangsklem, waarbij op beide 5 uitgangsklemmen een eerste vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen elektrisch geleidend zijn en een tweede vooraf bepaald signaal aanwezig is, wanneer beide smeltstukverbindingen niet geleidend zijn; waarbij een condensator als initiaiiseringselement parallel is geplaatst aan ten minste een van de transistoren; waarbij een afvoerelektrode van de eerste en tweede transistor gekoppeld is met de stuurelektrode van de tweede, respectievelijk eerste transistor; waarbij de eerste 10 smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de tweede transistor en de tweede smeltstukverbinding tussen de bronelektrode en de stuurelektrode van de eerste transistor ligt; en waarbij de positieve rol van de voedingsspanning met de bronelektrode van de tweede transistor en de aard-potentiaal met de bronelektrode van de eerste transistor in verbinding staat, met het kenmerk, dat de condensator een dunne-filmcondensator is.
2. Schakeling volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat met elk van de beide transistoren een dunne-filmcondensator als initialisatie-element parallel geschakeld is. Hierbij 1 blad tekening
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/129,891 US4837520A (en) | 1985-03-29 | 1987-11-12 | Fuse status detection circuit |
US12989187 | 1987-11-12 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8802760A NL8802760A (nl) | 1989-06-01 |
NL193349B NL193349B (nl) | 1999-03-01 |
NL193349C true NL193349C (nl) | 1999-07-02 |
Family
ID=22442077
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8802760A NL193349C (nl) | 1987-11-12 | 1988-11-09 | Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4837520A (nl) |
JP (1) | JP2628359B2 (nl) |
KR (1) | KR960001304B1 (nl) |
DE (1) | DE3837800A1 (nl) |
NL (1) | NL193349C (nl) |
Families Citing this family (63)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4908525A (en) * | 1989-02-03 | 1990-03-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Cut-only CMOS switch for discretionary connect and disconnect |
ATE110865T1 (de) * | 1989-06-30 | 1994-09-15 | Siemens Ag | Integrierte schaltungsanordnung. |
JPH03225868A (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-04 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子とそれを用いた撮像装置 |
US5163168A (en) * | 1990-03-30 | 1992-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Pulse signal generator and redundancy selection signal generator |
US5208775A (en) * | 1990-09-07 | 1993-05-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Dual-port memory device |
US5051691A (en) * | 1990-09-13 | 1991-09-24 | Samsung Semiconductor, Inc. | Zero power dissipation laser fuse signature circuit for redundancy in vlsi design |
US5334880A (en) * | 1991-04-30 | 1994-08-02 | International Business Machines Corporation | Low voltage programmable storage element |
JPH0575031A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-26 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置 |
FR2684206B1 (fr) * | 1991-11-25 | 1994-01-07 | Sgs Thomson Microelectronics Sa | Circuit de lecture de fusible de redondance pour memoire integree. |
JP3362873B2 (ja) * | 1992-08-21 | 2003-01-07 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US5440246A (en) * | 1994-03-22 | 1995-08-08 | Mosel Vitelic, Incorporated | Programmable circuit with fusible latch |
US5552757A (en) * | 1994-05-27 | 1996-09-03 | Littelfuse, Inc. | Surface-mounted fuse device |
US6191928B1 (en) | 1994-05-27 | 2001-02-20 | Littelfuse, Inc. | Surface-mountable device for protection against electrostatic damage to electronic components |
US5790008A (en) * | 1994-05-27 | 1998-08-04 | Littlefuse, Inc. | Surface-mounted fuse device with conductive terminal pad layers and groove on side surfaces |
US5974661A (en) * | 1994-05-27 | 1999-11-02 | Littelfuse, Inc. | Method of manufacturing a surface-mountable device for protection against electrostatic damage to electronic components |
US5959445A (en) * | 1995-09-29 | 1999-09-28 | Intel Corporation | Static, high-sensitivity, fuse-based storage cell |
US5731733A (en) * | 1995-09-29 | 1998-03-24 | Intel Corporation | Static, low current sensing circuit for sensing the state of a fuse device |
US5789970A (en) * | 1995-09-29 | 1998-08-04 | Intel Corporation | Static, low current, low voltage sensing circuit for sensing the state of a fuse device |
US5699032A (en) * | 1996-06-07 | 1997-12-16 | Littelfuse, Inc. | Surface-mount fuse having a substrate with surfaces and a metal strip attached to the substrate using layer of adhesive material |
US5977860A (en) * | 1996-06-07 | 1999-11-02 | Littelfuse, Inc. | Surface-mount fuse and the manufacture thereof |
DE19631130C2 (de) * | 1996-08-01 | 2000-08-17 | Siemens Ag | Fuse-Refresh-Schaltung |
US5731734A (en) * | 1996-10-07 | 1998-03-24 | Atmel Corporation | Zero power fuse circuit |
US5889414A (en) * | 1997-04-28 | 1999-03-30 | Mosel Vitelic Corporation | Programmable circuits |
US5896059A (en) * | 1997-05-09 | 1999-04-20 | International Business Machines Corporation | Decoupling capacitor fuse system |
GB2325527B (en) * | 1997-05-23 | 2002-03-27 | Texas Instruments Ltd | Detecting the state of an electrical conductor |
JPH10332786A (ja) * | 1997-05-27 | 1998-12-18 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
KR100425441B1 (ko) * | 1997-06-23 | 2004-05-24 | 삼성전자주식회사 | 비 메모리를 위한 퓨징 장치 및 방법 |
US5999037A (en) * | 1997-07-31 | 1999-12-07 | International Business Machines Corporation | Circuit for operating a control transistor from a fusible link |
US6014052A (en) * | 1997-09-29 | 2000-01-11 | Lsi Logic Corporation | Implementation of serial fusible links |
US5999038A (en) * | 1998-09-24 | 1999-12-07 | Atmel Corporation | Fuse circuit having zero power draw for partially blown condition |
US6084803A (en) * | 1998-10-23 | 2000-07-04 | Mosel Vitelic, Inc. | Initialization of non-volatile programmable latches in circuits in which an initialization operation is performed |
US6163492A (en) | 1998-10-23 | 2000-12-19 | Mosel Vitelic, Inc. | Programmable latches that include non-volatile programmable elements |
JP2001307480A (ja) * | 2000-04-24 | 2001-11-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US6671834B1 (en) * | 2000-07-18 | 2003-12-30 | Micron Technology, Inc. | Memory redundancy with programmable non-volatile control |
US7035072B2 (en) * | 2001-07-10 | 2006-04-25 | Littlefuse, Inc. | Electrostatic discharge apparatus for network devices |
US7034652B2 (en) * | 2001-07-10 | 2006-04-25 | Littlefuse, Inc. | Electrostatic discharge multifunction resistor |
FR2836752A1 (fr) * | 2002-02-11 | 2003-09-05 | St Microelectronics Sa | Cellule memoire a programmation unique |
US6878004B2 (en) * | 2002-03-04 | 2005-04-12 | Littelfuse, Inc. | Multi-element fuse array |
US7132922B2 (en) * | 2002-04-08 | 2006-11-07 | Littelfuse, Inc. | Direct application voltage variable material, components thereof and devices employing same |
CN100350606C (zh) * | 2002-04-08 | 2007-11-21 | 力特保险丝有限公司 | 使用压变材料的装置 |
US7183891B2 (en) * | 2002-04-08 | 2007-02-27 | Littelfuse, Inc. | Direct application voltage variable material, devices employing same and methods of manufacturing such devices |
DE112004002301T5 (de) * | 2003-11-26 | 2006-09-28 | Littelfuse, Inc., Des Plaines | Elektrische Schutzeinrichtung für ein Fahrzeug und System, das diese einsetzt |
US6995601B2 (en) * | 2004-01-14 | 2006-02-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Fuse state detection circuit |
US8134445B2 (en) * | 2004-04-20 | 2012-03-13 | Cooper Technologies Company | RFID open fuse indicator, system, and method |
US7369029B2 (en) * | 2004-04-20 | 2008-05-06 | Cooper Technologies Company | Wireless communication fuse state indicator system and method |
TW200635164A (en) | 2004-09-10 | 2006-10-01 | Cooper Technologies Co | System and method for circuit protector monitoring and management |
US8169331B2 (en) * | 2004-09-10 | 2012-05-01 | Cooper Technologies Company | Circuit protector monitoring assembly |
US20070194942A1 (en) * | 2004-09-10 | 2007-08-23 | Darr Matthew R | Circuit protector monitoring assembly, system and method |
JP4584658B2 (ja) * | 2004-09-13 | 2010-11-24 | Okiセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置 |
US20060087397A1 (en) * | 2004-10-26 | 2006-04-27 | Cooper Technologies Company | Fuse state indicating optical circuit and system |
US20060232904A1 (en) * | 2005-04-13 | 2006-10-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. | Supply voltage independent sensing circuit for electrical fuses |
US7276955B2 (en) * | 2005-04-14 | 2007-10-02 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for stable fuse detection |
US7983024B2 (en) * | 2007-04-24 | 2011-07-19 | Littelfuse, Inc. | Fuse card system for automotive circuit protection |
US8963590B2 (en) * | 2007-06-13 | 2015-02-24 | Honeywell International Inc. | Power cycling power on reset circuit for fuse initialization circuitry |
JP5458236B2 (ja) * | 2007-11-02 | 2014-04-02 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | 電気ヒューズ判定回路及び判定方法 |
US20090161470A1 (en) * | 2007-12-20 | 2009-06-25 | Micron Technology, Inc. | Circuit for dynamic readout of fused data in image sensors |
DE102008048830B4 (de) * | 2008-09-25 | 2010-11-04 | Austriamicrosystems Ag | Schaltungsanordnung mit Schmelzsicherung und Verfahren zum Ermitteln eines Zustands einer Schmelzsicherung |
TWM424608U (en) * | 2011-11-04 | 2012-03-11 | Richtek Technology Corp | Fuse circuit for final test trimming of integrated circuit chip |
KR20140085245A (ko) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 퓨즈 센싱 회로를 갖는 반도체 장치 |
US9583297B2 (en) * | 2014-04-04 | 2017-02-28 | Eaton Corporation | Remote fuse operation indicator assemblies and related systems and methods |
US10255982B2 (en) * | 2016-11-02 | 2019-04-09 | Skyworks Solutions, Inc. | Accidental fuse programming protection circuits |
US10360988B2 (en) | 2016-11-02 | 2019-07-23 | Skyworks Solutions, Inc. | Apparatus and methods for protection against inadvertent programming of fuse cells |
KR20190086948A (ko) | 2018-01-15 | 2019-07-24 | 주식회사 카라신 | 간이침대 고정형 침낭 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2230753C2 (de) * | 1972-06-23 | 1983-10-27 | Lucien Ferraz & Cie. S.A., 69003 Lyon | Schaltung zur Zustandskontrolle einer elektrischen Sicherung |
US3872450A (en) * | 1973-06-21 | 1975-03-18 | Motorola Inc | Fusible link memory cell for a programmable read only memory |
GB1553250A (en) * | 1976-08-03 | 1979-09-26 | Nat Res Dev | Unidirectional signal paths |
US4346459A (en) * | 1980-06-30 | 1982-08-24 | Inmos Corporation | Redundancy scheme for an MOS memory |
US4446534A (en) * | 1980-12-08 | 1984-05-01 | National Semiconductor Corporation | Programmable fuse circuit |
US4532607A (en) * | 1981-07-22 | 1985-07-30 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Programmable circuit including a latch to store a fuse's state |
US4546455A (en) * | 1981-12-17 | 1985-10-08 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
US4417154A (en) * | 1982-02-08 | 1983-11-22 | Motorola, Inc. | Circuit for applying a high voltage signal to a fusible link |
FR2526225B1 (fr) * | 1982-04-30 | 1985-11-08 | Radiotechnique Compelec | Procede de realisation d'un condensateur integre, et dispositif ainsi obtenu |
JPS6015946A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-26 | Hitachi Ltd | 集積回路 |
US4613959A (en) * | 1984-01-06 | 1986-09-23 | Thomson Components-Mostek Corportion | Zero power CMOS redundancy circuit |
US4590388A (en) * | 1984-04-23 | 1986-05-20 | At&T Bell Laboratories | CMOS spare decoder circuit |
-
1987
- 1987-11-12 US US07/129,891 patent/US4837520A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-11-08 DE DE3837800A patent/DE3837800A1/de not_active Ceased
- 1988-11-09 NL NL8802760A patent/NL193349C/nl not_active IP Right Cessation
- 1988-11-11 JP JP63285578A patent/JP2628359B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1988-11-12 KR KR1019880014896A patent/KR960001304B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960001304B1 (ko) | 1996-01-25 |
KR890008849A (ko) | 1989-07-12 |
US4837520A (en) | 1989-06-06 |
NL193349B (nl) | 1999-03-01 |
NL8802760A (nl) | 1989-06-01 |
DE3837800A1 (de) | 1989-05-24 |
JPH021145A (ja) | 1990-01-05 |
JP2628359B2 (ja) | 1997-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL193349C (nl) | Detectieschakeling voor het detecteren van de toestand van twee smeltstukverbindingen. | |
KR100374467B1 (ko) | 안티퓨즈 검출 회로 | |
US6346846B1 (en) | Methods and apparatus for blowing and sensing antifuses | |
KR900003938B1 (ko) | 휴즈 회로를 갖는 집적회로 | |
EP0315385B1 (en) | Delay circuits for integrated circuits | |
GB1589414A (en) | Fet driver circuits | |
US7969699B2 (en) | ESD protection trigger circuit | |
US4855613A (en) | Wafer scale integration semiconductor device having improved chip power-supply connection arrangement | |
US7564278B2 (en) | Power-on reset circuit | |
US20020141273A1 (en) | Address generating circuit | |
KR100367312B1 (ko) | 지연 회로 | |
US5812001A (en) | Power-on reset circuit for resetting semiconductor integrated circuit | |
US4621346A (en) | Low power CMOS fuse circuit | |
US4594688A (en) | Power supply circuit for flip-flop memory | |
KR19990029679A (ko) | 가용성 셀 및 가용성 셀 어레이 | |
KR19980024247A (ko) | 전류 모드 센스 증폭기 | |
CN113890520A (zh) | 复位电路 | |
KR100217354B1 (ko) | 다수의 직렬로 연결된 샘플 데이타 비교기들로의 피드백 스위치 전하 주사 효과 감소용 방법 및 장치 | |
US5212413A (en) | Stable, programmable low-dissipation reference circuit | |
US6590428B2 (en) | Evaluation of conduction at precharged node | |
US6215170B1 (en) | Structure for single conductor acting as ground and capacitor plate electrode using reduced area | |
JP2001326535A (ja) | バイアス回路 | |
KR100201719B1 (ko) | 랫치업 방지회로를 갖춘 반도체 집적회로 | |
US20020000852A1 (en) | Reset circuit | |
US6417553B1 (en) | Semiconductor wafer with sensors for detecting radiation on the semiconductor wafer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
CNR | Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection) |
Free format text: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
|
BB | A search report has been drawn up | ||
BC | A request for examination has been filed | ||
V4 | Discontinued because of reaching the maximum lifetime of a patent |
Effective date: 20081109 |