KR980004934A - 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원 발생장치 - Google Patents
어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원 발생장치 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 반도체 메모리 장치의 승압전원 전압 발생생장치에 관한 것으로서, 다수개의 메모리 셀 어레이 영역과 상기 메모리 셀 어레이 블럭 사이에 위치하여 구동에 필요한 주변회로 영역으로 구분되고, 상기 메모리 셀 어레이 영역내에서의 내부 전원전압과, 상기 주변회로 영역에서의 내부 전원전압을 분리하여 사용하고, 레벨 감지부와 펄스 생성부와, 펌핑부로 구성된 승압 전원전압의 레벨을 생성하는 반도체 메모리 장치의 승압전원 발생 장치는 상기 레벨 감지부의 소스단에 상기 메모리 셀 어레이 영역내에서의 내부 전원전압을 공급하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 상술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 레벨감지부의 소스단에 인가되는 전압을 어레이 회로에 공급되는 내부전원전압인 VREFA 전압을 인가함으로써, 항상 일정한 승압전원전압의 레벨을 유지하는 효과를 갖는다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원 발생장치의 레벨감지부의 상세한 구성을 나타낸 도면이다.
Claims (4)
- 다수의 메모리 셀 어레이 영역과 상기 메모리 셀 어레이 블럭 사이에 위치하여 구동에 필요한 주변회로 영역으로 구분되고, 상기 메모리 셀 어레이 영역 내에서의 내부 전원전압과, 상기 주변회로 영역에서의 내부 전원전압을 분리하여 사용하고, 레벨 감지부와 펄스 생성부와, 펌핑부로 구성된 승압 전원 전압의 레벨을 생성하는 반도체 메모리 장치의 승압전원 발생 장치에 있어서, 상기 레벨 감지부의 소스단에 상기 메모리 셀 어레이 영역 내에서의 내부 전원전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 승압전원 발생장치.
- 제1항에 있어서, 상기 레벨 감지부와 펄스 생성부의 소스단에 상기 메모리 셀 어레이 영역 내에서의 내부 전원전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 승압전원 발생장치.
- 제1항에 어서, 상기 레벨 감지부와, 펄스 생성부 및 펌핑부에 상기 메모리 셀 어레이 영역 내에서의 내부 전원전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 승압전원 발생장치.
- 제1항에 있어서, 상기 레벨 감지부는 일단자에 어레이용 내부 전원전압(VREFA)이 공급되고 게이트단에 접지전압이 인가되는 제1PMOS 트랜지스터; 게이트단에 상기 어레이용 내부 전원전압(VREFA)이 공급되고 일단자에 접지전압이 인가되는 제1NMOS 트랜지스터; 상기 제1PMOS 트랜지스터의 다른 단자와 상기 제1NMOS 트랜지스터의 다른 단자 사이에 직렬로 연결되며, 공통 접속 게이트단에 승압전원전압(VPP)이 인가되는 제2 및 제3NMOS 트랜지스터; 상기 2NMOS 트랜지스터의 다른 단자와 상기 3NMOS 트랜지스터의 다른 단자가 접속되는 노드에 공통 접속 게이트단이 연결되고 상기 어레이용 내부 전원전압(VREFA)이 일단자에 공급되는 제2PMOS 트랜지스터; 및 상기 공통 접속 게이트단에 연결되고 접지 전압단자에 일단자가 연결되고 상기 2PMOS 트랜지스터와 다른 단자와의 사이에 직렬 연결된 제4NMOS 트랜지스터를 포함하는 승압전원 발생 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960023685A KR100190049B1 (ko) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원발생장치 |
JP32048596A JP3936419B2 (ja) | 1996-06-25 | 1996-11-29 | アレー回路制御用の内部電圧を用いた昇圧電源電圧発生装置 |
US08/879,757 US5886933A (en) | 1996-06-25 | 1997-06-19 | Boost voltage generator for controlling a memory cell array |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960023685A KR100190049B1 (ko) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원발생장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980004934A true KR980004934A (ko) | 1998-03-30 |
KR100190049B1 KR100190049B1 (ko) | 1999-06-01 |
Family
ID=19463398
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960023685A KR100190049B1 (ko) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 어레이회로 제어용 내부전압을 이용한 승압전원발생장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5886933A (ko) |
JP (1) | JP3936419B2 (ko) |
KR (1) | KR100190049B1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001126477A (ja) | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
KR100316053B1 (ko) * | 1999-12-29 | 2001-12-12 | 박종섭 | 고전위 발생장치의 Vpp 레벨 감지기 |
KR100498505B1 (ko) * | 2003-07-15 | 2005-07-01 | 삼성전자주식회사 | 승압전압 발생회로 및 승압전압 발생방법 |
KR100728904B1 (ko) * | 2005-12-28 | 2007-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전압 발생기 및 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3155879B2 (ja) * | 1994-02-25 | 2001-04-16 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
JP3510335B2 (ja) * | 1994-07-18 | 2004-03-29 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置、内部電源電圧発生回路、内部高電圧発生回路、中間電圧発生回路、定電流源、および基準電圧発生回路 |
JPH0869693A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | スタティック型半導体記憶装置 |
-
1996
- 1996-06-25 KR KR1019960023685A patent/KR100190049B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-11-29 JP JP32048596A patent/JP3936419B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-06-19 US US08/879,757 patent/US5886933A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5886933A (en) | 1999-03-23 |
JP3936419B2 (ja) | 2007-06-27 |
KR100190049B1 (ko) | 1999-06-01 |
JPH1011967A (ja) | 1998-01-16 |
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