KR970062910A - "2모드" 리프레쉬 회로 및 이를 이용하여 대기 전류를 감소시키고 동적 메모리 제품의 수율을 향상시키는 방법 - Google Patents

"2모드" 리프레쉬 회로 및 이를 이용하여 대기 전류를 감소시키고 동적 메모리 제품의 수율을 향상시키는 방법 Download PDF

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KR970062910A
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Inventor
데이비드 이. 피쉬
Original Assignee
고어 로버트 엘.
유나이티드 메모리즈 인코오포레이티드
이와사끼 히데히꼬
닛데쓰 세미콘다꾸따 가부시끼가이샤
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Abstract

집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법 및 장치가 개시된다. 본 발명의 방법은 메모리 회로내의 약한 소자를 인식하는 단계를 포함한다. 그 소자는 공지된 테스트 프로그램으로 인식될 수 있으며, 비트, 블록, 또는 동적 메모리 회로의 타 부분이 될 수도 있다. 인식된 약한 소자의 위치는 프로그램가능한 메모리에 프로그램되며, 그 프로그램가능한 메모리내에 프로그램된 정보는 인식된 약한 소자를 다른 비트들의 리프레쉬 속도와는 다른 속도로 리프레쉬하기 위해 사용된다. 이는 강한 소자에도 사용되도록 리프레쉬 주기가 좀더 길어지고 연장가능토록 하면서도, 약한 소자에 적절한 리프레쉬를 제공함으로써, 전체 메모리 회로에 대해 요구되는 리프레쉬 주기를 일반적으로 사용되어온 리프레쉬 주기보다 감소시킨다.

Description

2모드 리프리쉬 회로 및 이를 이용하여 대기 전류를 감소시키고 동적 메모리 제품의 수율을 향상시키는 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른, 표준적인 것보다 좀더 빠르게 복수개의 라인 및 인식된 블록을 리프레쉬하는 메모리 리프레쉬 회로의 일실시예를 나타낸 블록도.

Claims (19)

  1. 약한 소자의 위치를 메모리에 프로그램하는 단계; 및 상기 메모리에 프로그램된 위치를 이용하여 동적 메모리의 다른 소자와 다른 속도로 상기 인식된 약산 소자를 리프레쉬하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 약한 소자를 인식하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 약한 소자를 인식하는 단계가 약한 메모리 비트를 인식하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 약한 소자를 인식하는 단계가 약한 메모리 블록을 인식하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집접회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 동적 메모리 회로내에서 약한 소자를 인식하는 단계가 테스트 프로그램을 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 인식된 약한 소자의 위치를 프로그램가능한 메모리에 프로그램하는 단계가 룩업 테이블의 위치를 프로그램하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 인식된 약한 소자의 위치를 프로그램가능한 메모리에 프로그램하는 단계가 비휘발성 프로그램가능한 메모리의 위치를 프로그램하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 소자를 보상하는 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 인식된 약한 소자의 위치를 프로그램가능한 메모리에 프로그램하는 단계가 상기 집접회로 칩 상에 프로그램가능한 소자를 프로그램하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 칩상의 동적 메모리 회로의 약한 고자를 보상하는 방법.
  9. 주기적인 리프레쉬가 요구되는 메모리 소자 어레이; 상기 어레이에 약한 메모리 소자를 인식하는 정보를 제공하는 어드레스 제공회로; 및 상기 어드레스 제공 회로에서 상기 약한 메모리 소자를 인식하는 정보에 따라서 변화되어지는 속도로 상기 메모리 소자를 리프레쉬하도록 접속된 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적메모리 회로.
  10. 제9항에 있어서, 상기 어드레스 제공회로가 프로그램가능한 회로임을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  11. 제9항에 있어서, 상기 어드레스 제공회로가 프로그램가능한 테이블임을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  12. 제9항에 있어서, 상기 어드레스 제공회로가 프로그램가능한 룩업 테이블임을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  13. 제9항에 있어서, 상기 어드레스 제공회로가 비휘발성의 프로그램가능한 테이블임을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  14. 제9항에 있어서, 상기 약한 메모리 소자를 인식하는 정보가 메모리 소자 어드레스 정보임을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  15. 제9항에 있어서, 상기 리프레쉬하는 회로가 상기 테이블에 인식된 상기 약한 메모리 소자를 정상 리프레쉬 속도보다 더 고속으로 리프레쉬하는 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  16. 제9항에 있어서, 상기 리프레쉬하는 회로가 상기 테이블에 인식된 상기 약한 메모리 소자를 정상 리프레쉬 속도보다 2배 이상의 속도로 리프레쉬하는 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  17. 제9항에 있어서, 상기 리프레쉬하는 회로가 상기 테이블에 인식된 상기 약한 메모리 소자를 정상 리프레쉬 속도와는 서로 다른 여러 가지 속도로 리프레쉬하는 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  18. 제9항에 있어서, 상기 리프레쉬하는 회로가 메인 리프레쉬 카운터 및 보조 리프레쉬 카운터를 포함하며, 상기 메인 리프레쉬 카운터가 상기 보조 리프레쉬 카운터에 접속되어 상기 메인 리프레쉬 카운터의 미리 지정된 카운트에서 상기 보조 리프레쉬 카운터의 카운트를 개시하는 하는 것을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
  19. 제9항에 있어서, 상기 리프레쉬하는 회로가 상기 테이블에 인식된 상기 약한 메모리 소자를 정상 리프레쉬 속도보다 더 빠른 여러 가지 속도로 리프레쉬 하는 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적 메모리 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970004445A 1996-02-14 1997-02-14 "2모드" 리프레쉬 회로 및 이를 이용하여 대기 전류를 감소시키고 동적 메모리 제품의 수율을 향상시키는 방법 KR970062910A (ko)

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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5761703A (en) * 1996-08-16 1998-06-02 Unisys Corporation Apparatus and method for dynamic memory refresh
US6334167B1 (en) 1998-08-31 2001-12-25 International Business Machines Corporation System and method for memory self-timed refresh for reduced power consumption
KR100317195B1 (ko) * 1998-10-28 2002-02-28 박종섭 반도체메모리의리프레쉬제어회로
JP2002157880A (ja) * 2000-11-15 2002-05-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
KR100378189B1 (ko) * 2000-12-13 2003-03-29 삼성전자주식회사 리프레시 잡음을 감소시키는 메모리 장치
DE10142658A1 (de) * 2001-08-31 2003-03-27 Infineon Technologies Ag Flüchtiger Halbleiterspeicher und mobiles Gerät
US6788606B2 (en) 2001-10-31 2004-09-07 Infineon Technologies Ag Method and apparatus for refreshing memory cells
JP4416372B2 (ja) 2002-02-25 2010-02-17 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
US6728156B2 (en) * 2002-03-11 2004-04-27 International Business Machines Corporation Memory array system
TWI262504B (en) * 2003-04-15 2006-09-21 Ibm Dynamic semiconductor memory device
JP2005116106A (ja) * 2003-10-09 2005-04-28 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置とその製造方法
US7095669B2 (en) * 2003-11-07 2006-08-22 Infineon Technologies Ag Refresh for dynamic cells with weak retention
US7099221B2 (en) 2004-05-06 2006-08-29 Micron Technology, Inc. Memory controller method and system compensating for memory cell data losses
US7116602B2 (en) 2004-07-15 2006-10-03 Micron Technology, Inc. Method and system for controlling refresh to avoid memory cell data losses
JP4291239B2 (ja) * 2004-09-10 2009-07-08 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置及びテスト方法
KR100689708B1 (ko) * 2005-01-05 2007-03-08 삼성전자주식회사 반도체 장치
US7319622B1 (en) 2005-07-05 2008-01-15 T-Ram Semiconductor, Inc. Bitline shielding for thyristor-based memory
US7379381B1 (en) 2005-07-05 2008-05-27 T-Ram Semiconductor, Inc. State maintenance pulsing for a memory device
US7894289B2 (en) * 2006-10-11 2011-02-22 Micron Technology, Inc. Memory system and method using partial ECC to achieve low power refresh and fast access to data
US7900120B2 (en) * 2006-10-18 2011-03-01 Micron Technology, Inc. Memory system and method using ECC with flag bit to identify modified data
US7619944B2 (en) * 2007-01-05 2009-11-17 Innovative Silicon Isi Sa Method and apparatus for variable memory cell refresh
US20080164149A1 (en) * 2007-01-05 2008-07-10 Artz Matthew R Rapid gel electrophoresis system
KR101416879B1 (ko) * 2008-10-06 2014-08-07 삼성전자주식회사 비휘발성 메모리의 동작 방법
US7990795B2 (en) * 2009-02-19 2011-08-02 Freescale Semiconductor, Inc. Dynamic random access memory (DRAM) refresh
KR101893895B1 (ko) 2011-12-16 2018-09-03 삼성전자주식회사 메모리 시스템 및 그 동작 제어 방법
KR20130117198A (ko) 2012-04-18 2013-10-25 삼성전자주식회사 메모리 셀의 리프레쉬 방법 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
US9087554B1 (en) * 2012-12-21 2015-07-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, method for performing refresh operation of the memory device, and system including the same
WO2014120228A1 (en) * 2013-01-31 2014-08-07 Hewlett-Packard Development Company Ram refresh rate
KR102078562B1 (ko) 2013-02-25 2020-02-18 삼성전자 주식회사 리프레쉬 어드레스 생성기 및 이를 포함하는 휘발성 메모리 장치
KR102125230B1 (ko) 2013-03-13 2020-06-22 삼성전자주식회사 디램 및 리프레시 제어방법
JP2015032325A (ja) * 2013-07-31 2015-02-16 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
US9230634B2 (en) * 2013-12-09 2016-01-05 Qualcomm Incorporated Refresh scheme for memory cells with next bit table
KR102439671B1 (ko) * 2016-04-25 2022-09-02 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 장치

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5283885A (en) * 1988-09-09 1994-02-01 Werner Hollerbauer Storage module including a refresh device for storing start and stop refresh addresses
JP2959046B2 (ja) * 1990-05-31 1999-10-06 日本電気株式会社 メモリ制御回路
JPH05266657A (ja) * 1992-03-23 1993-10-15 Nec Corp ダイナミック型半導体メモリ
US5469559A (en) * 1993-07-06 1995-11-21 Dell Usa, L.P. Method and apparatus for refreshing a selected portion of a dynamic random access memory
JPH09102193A (ja) * 1995-10-04 1997-04-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

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Publication number Publication date
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EP0790620A3 (en) 1999-01-27
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US5644545A (en) 1997-07-01

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