KR950019006A - 옵션 처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 기억 소자에서 글러벌(Golbal) Y-디코더(Decoder)를 사용하는 노멀 컬럼 디코더(Normal Column Decoder)를 디스에이블(Disable)하고 리던던트 컬럼 디코더(Redundant Column Decoder)를 인에이블 하는 옵션처리를 이용한 리페어 효율증가 회로에 있어서, 리프레쉬 옵션에 관계없이 항상 입력되는 블럭 로우 어드레스(block row address) 신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 따라 입력되는 블럭 로우 어드레스(block row address) 신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 관계없이 항상 입력되는 컬럼 어드레스(column address) 신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 따라 입력되는 컬럼 어드레스(column address) 신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 리던던트 인에이블 회로의 개략도.
Claims (3)
- 반도체 기억 소자에서 글로벌(Global) Y-디코더(Decoder)를 사용하는 노멀 컬럼 디코더(Normal Column Decoder)를 디스에이블(Disable)하고 리던던트 컬럼 디코더(Redundant Column Decoder)를 인에이블 하는 옵션처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로에 있어서, 리프레쉬 옵션에 관계없이 항상 입력되는 블럭 로우 어드레스(block row address)신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 따라 입력되는 블럭 로우 어드레스(block row address)신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 관계없이 항상 입력되는 컬럼 어드레스(column address)신호에 제어되는 패스(Psaa)트랜지스터 및 퓨즈(fuse)와; 리프레쉬 옵션에 따라 입력되는 컬럼 어드레스(column address)신호에 제어되는 패스(Psaa) 트랜지스터 및 퓨즈(fuse)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 옵션처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로.
- 제1항에 있어서, 리프레쉬 옵션에 따라서 필요시 블럭을 선택하는 로우 어드레스 신호가 인가되고, 필요 없을 경우 Vss가 인가되는 트랜지스터로 이루어지는 것을 특징으로 하는 옵션처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로.
- 제1항에 있어서, 리프레쉬 옵션에 따라서 필요시 컬럼 어드레스 신호가 인가되고, 필요없을 경우 Vss가 인가되는 트랜지스터로 이루어 지는 것을 특징으로 하는 옵션처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930030851A KR960012790B1 (ko) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 옵션 처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로 |
US08/365,029 US5511028A (en) | 1993-12-29 | 1994-12-28 | Redundancy enable circuit capable of achieving increase in repair efficiency |
JP6328231A JP2862806B2 (ja) | 1993-12-29 | 1994-12-28 | 半導体メモリデバイスのリダンダンシイネーブル回路 |
DE4447150A DE4447150A1 (de) | 1993-12-29 | 1994-12-29 | Redundanzschaltung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019930030851A KR960012790B1 (ko) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 옵션 처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950019006A true KR950019006A (ko) | 1995-07-22 |
KR960012790B1 KR960012790B1 (ko) | 1996-09-24 |
Family
ID=19373817
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019930030851A KR960012790B1 (ko) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 옵션 처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5511028A (ko) |
JP (1) | JP2862806B2 (ko) |
KR (1) | KR960012790B1 (ko) |
DE (1) | DE4447150A1 (ko) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5724295A (en) * | 1995-06-07 | 1998-03-03 | International Business Machines Corporation | Partitioned dynamic memory allowing substitution of a redundant circuit in any partition and using partial address disablement and disablement override |
US6005813A (en) | 1997-11-12 | 1999-12-21 | Micron Technology, Inc. | Device and method for repairing a semiconductor memory |
US6879530B2 (en) | 2002-07-18 | 2005-04-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for dynamically repairing a semiconductor memory |
US7215586B2 (en) * | 2005-06-29 | 2007-05-08 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for repairing a semiconductor memory |
KR100892639B1 (ko) | 2007-05-10 | 2009-04-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리던던시 회로 |
KR100920838B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2009-10-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리던던시 회로 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04322000A (ja) * | 1991-04-23 | 1992-11-11 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JP2968134B2 (ja) * | 1991-11-27 | 1999-10-25 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
-
1993
- 1993-12-29 KR KR1019930030851A patent/KR960012790B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-12-28 JP JP6328231A patent/JP2862806B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-28 US US08/365,029 patent/US5511028A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-12-29 DE DE4447150A patent/DE4447150A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2862806B2 (ja) | 1999-03-03 |
US5511028A (en) | 1996-04-23 |
JPH07211097A (ja) | 1995-08-11 |
DE4447150A1 (de) | 1995-08-10 |
KR960012790B1 (ko) | 1996-09-24 |
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