KR960042764A - 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치 - Google Patents

반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960042764A
KR960042764A KR1019950010966A KR19950010966A KR960042764A KR 960042764 A KR960042764 A KR 960042764A KR 1019950010966 A KR1019950010966 A KR 1019950010966A KR 19950010966 A KR19950010966 A KR 19950010966A KR 960042764 A KR960042764 A KR 960042764A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
address
redundancy
column
signal
column redundancy
Prior art date
Application number
KR1019950010966A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0146175B1 (ko
Inventor
이재진
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019950010966A priority Critical patent/KR0146175B1/ko
Publication of KR960042764A publication Critical patent/KR960042764A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0146175B1 publication Critical patent/KR0146175B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/84Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/785Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with redundancy programming schemes
    • G11C29/787Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with redundancy programming schemes using a fuse hierarchy
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/80Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
    • G11C29/808Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout using a flexible replacement scheme

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 기억 장치의 컬럼 리던던시 장치에 관한 것으로, 리던던시 어드레스 신호가 들어오면 이를 감지한 로오리던던시 장치에 의해 선택된 셀 어레이 블럭에서 리던던시할 컬럼 어드레스를 감지하고 이 때 프리디코딩된 컬럼 어드레스 신호가 입력되면 이를 출력하여 다른 셀 어레이 블럭에서 출력된 리던던시 어드레스 신호와 오아링한 다음 바로 스페어 어드레스 라인으로 출력되게 함으로써 리던던시 어드레스 신호를 감지하는 동작 속도를 향상시켰고, 또한 정상 어드레스 라인에 연결된 리던던시 감지 장치의 수를 줄여 리던던시 회로로 인하여 생기는 정상 어드레스 라인에서의 신호지연이줄어들어 동작 속도를 빠르게 하는 효과가 있다.

Description

반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 일실시예에 따른 컬럼 리던던시 장치의 회로도.

Claims (9)

  1. 두개 이상의 리던던시 어드레스 신호 중에서 적어도 하나가 입력되는 경우에 스페어 컬럼을 동작시키는 신호를 출력하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치에 있어서, 어드레스를 구성하는 단위 어드레스 비트를 an이라고 할때, 외부에서 프로그램이 가능하고 제1리던던시 어드레스를 구성하는 어드레스 비트(an_1)를 기억시킬 수 있는 제1퓨즈박스와, 외부에서 프로그램이 가능하고 제2리던던시 어드레스를 구성하는 어드레스 비트(an_2)를 기억시킬수 있는 제2퓨즈 박스와, 상기 제1퓨즈 박스의 출력 신호와 상기 제2퓨즈 박스의 출력 신호를 입력으로 하여 오아링한 신호를 출력하기위한 제1논리 수단과, 상기 제1논리 수단으로 부터 상기 an_1 어드레스 또는 an_2 어드레스가 입력되는 경우 an어드레스가 전달되어 제n신호를 만드는 비교 수단과, 상기 제n신호가 제1상태를 가질때 상기 스페어 컬럼을 동작시키는 신호를출력하는 제2논리 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1리던던시 어드레스와 제2리던던시 어드레스는 서로 다른 셀 어레이 블럭의 어드레스인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 어드레스를 구성하는 단위 어드레스 비트들 중에서 최소한 하나 이상이 외부에서 입력되는 두개 이상의 어드레스 비트를 프리디코딩한 어드레스인 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치의 컬럼 리던던시 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제1논리 수단은 OR 논리 연산한 값을 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 비교 수단은 MOS 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼리던던시 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 MOS 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼리던던시 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제1상태는 상기 제n 신호가 모두 하이 상태인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제1상태는 상기 제n신호가 모두 로우 상태인 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
  9. 제1항에 있어서, 상기 제2논리 수단은 AND 논리 연산한 값을 출력하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950010966A 1995-05-04 1995-05-04 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치 KR0146175B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950010966A KR0146175B1 (ko) 1995-05-04 1995-05-04 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950010966A KR0146175B1 (ko) 1995-05-04 1995-05-04 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960042764A true KR960042764A (ko) 1996-12-21
KR0146175B1 KR0146175B1 (ko) 1998-11-02

Family

ID=19413747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950010966A KR0146175B1 (ko) 1995-05-04 1995-05-04 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0146175B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020117568A1 (en) * 2018-12-06 2020-06-11 Micron Technology, Inc. Direct-input redundancy scheme with adaptive syndrome decoder

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100353556B1 (ko) * 2000-10-25 2002-09-28 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 리던던시 제어 회로

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020117568A1 (en) * 2018-12-06 2020-06-11 Micron Technology, Inc. Direct-input redundancy scheme with adaptive syndrome decoder
US11016843B2 (en) 2018-12-06 2021-05-25 Micron Technology, Inc. Direct-input redundancy scheme with adaptive syndrome decoder
US11709731B2 (en) 2018-12-06 2023-07-25 Micron Technology, Inc. Direct-input redundancy scheme with adaptive syndrome decoder

Also Published As

Publication number Publication date
KR0146175B1 (ko) 1998-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930010985A (ko) 저전력 데이타 리텐션 기능을 가지는 반도체 메모리장치
KR930001220A (ko) 반도체 메모리 장치
KR860003603A (ko) 반도체 메모리
KR940026948A (ko) 결함구제회로
KR950012477A (ko) 용장 메모리용 억세싱 시스템을 갖는 반도체 메모리 장치
KR920013470A (ko) 반도체 메모리 장치의 리던던트 장치 및 방법
KR950015399A (ko) 비트 단위 데이타의 입력 및 출력용 반도체 메모리 장치
KR970017013A (ko) 데이타 처리 시스템용 내용 어드레싱가능 메모리
KR19980057449A (ko) 반도체 메모리 장치의 칼럼선택 제어회로
KR930003168A (ko) 용장 제어 회로
KR930008850A (ko) 분할된 판독 데이타 버스 시스템을 갖는 반도체 메모리 디바이스
KR950010141B1 (ko) 반도체 집적회로장치
KR960042764A (ko) 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 장치
KR950010084A (ko) 반도체 메모리 장치
US5936269A (en) Semiconductor memory device including a redundant circuit
KR930003164A (ko) 반도체메모리 리던던시 장치
KR950019006A (ko) 옵션 처리를 이용한 리페어 효율 증가 회로
KR970003280A (ko) 반도체 메모리 장치의 리던던시 회로
KR960035642A (ko) 어드레싱가능한 개별 유니트로 통합된 메모리셀을 가진 반도체 메모리 및 그 동작방법
KR960008856A (ko) 용장회로를 갖는 반도체 기억장치
KR920018761A (ko) 반도체 기억장치
KR900015141A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970010369B1 (ko) 캐시 메모리의 기능을 갖는 메모리 장치
KR970073094A (ko) 디지탈 영상신호 처리용 메모리 시스템
KR0161734B1 (ko) 반도체 기억장치의 컬럼 리던던시 회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060502

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee