KR970052197A - 금속배선 형성방법 - Google Patents

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KR970052197A
KR970052197A KR1019950046864A KR19950046864A KR970052197A KR 970052197 A KR970052197 A KR 970052197A KR 1019950046864 A KR1019950046864 A KR 1019950046864A KR 19950046864 A KR19950046864 A KR 19950046864A KR 970052197 A KR970052197 A KR 970052197A
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KR
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metal wiring
forming
layer
metal
patterning
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KR1019950046864A
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English (en)
Inventor
김완식
Original Assignee
문정환
Lg 반도체주식회사
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Abstract

본 발명은 금속배선 형성에 관한 것으로, 고융점 금속을 사용하여 하부 금속배선을 형성하는 공정과, 상기 하부 금속배선상에 Al을 증착하고 패터닝 하여 상부 금속배선과 연결층으로 이용되는 비아홀용 금속층을 형성하는 공정과, 전면에 금속층간 절연막을 상기 비아홀용 금속층과 동일한 높이로 형성하고 다시 Al층을 형성하고 패터닝 하여 상부 금속배선을 형성하는 공정을 포함하여 이루어져 상,하부 금속배선의 연결을 비아필링(Via Filling)용 금속층을 이용하는 방법으로 소자의 특성을 향상시킨 금속배선 형성방법에 관한 것이다.

Description

금속배선 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도(a) 내지 (d)는 본 발명의 금속배선 형성방법을 나타낸 공정단면도.

Claims (1)

  1. 반도체 소자의 다층금속 배선형성에 있어서, 고융점 금속을 사용하여 하부 금속배선을 형성하는 공정과 상기 하부 금속배선상에 Al을 증착하고 패터닝 하여 상부 금속배선과의 연결층으로 이용되는 비아홀용 금속층을 형성하는 공정과, 전면에 금속층간 절연막을 상기 비아홀용 금속층과 동일한 높이로 형성하고 다시 Al층을 형성하고 패터닝 하여 상부 금속배선을 형성하는 공정을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 금속배선 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950046864A 1995-12-05 1995-12-05 금속배선 형성방법 KR970052197A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100434716B1 (ko) * 1997-12-29 2004-09-08 주식회사 하이닉스반도체 반도체소자의다층금속배선형성방법
KR101333012B1 (ko) * 2005-08-12 2013-12-02 캄브리오스 테크놀로지즈 코포레이션 나노와이어 기반의 투명 도전체

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KR100434716B1 (ko) * 1997-12-29 2004-09-08 주식회사 하이닉스반도체 반도체소자의다층금속배선형성방법
KR101333012B1 (ko) * 2005-08-12 2013-12-02 캄브리오스 테크놀로지즈 코포레이션 나노와이어 기반의 투명 도전체

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