KR970004993B1 - 광선로의 식별방법 - Google Patents

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아끼라 이노우에
야스시 핫토리
카쯔야 야마시타
후미오 오오쯔키
유타카 카쯔야마
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스미도모덴기고오교오 가부시기가이샤
쿠라우찌 노리타카
닛뽕덴신뎅와 가부시기가이샤
코지마 사토시
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Description

광선로의 식별방법
광선로의 식별방법으로서, 광선로코어의 굴절률을 부분적으로 변화시키고, 이 변화위치를 OTDR 측정법을 사용해서 선로단부에서 검출하는 방법이 알려져 있다(1991년 일본국, 전자정보통신학회 추계대회 문헌 B-591「광선로 데이터베이스를 위한 원격파이버식별법」).
그러나, 이 방법에 의하면, 광선로에 형성하는 식별부호부가 수 100미터에 걸치게 되어버린다. 예를 들면, 상기한 문헌중의 예에서는, 8비트의 식별부호를 광선로에 기록하는데 1비트당 50m, 전체로서 400m의 길이를 필요로 하고 있다. 따라서, 가장 짧은 길이의 광선로에 대해서 식별부호를 붙이는 것은 곤란하다. 또, 수 100미터에 걸친 식별부호를 광선로에 기록하려면, 광선로의 제조과정에서 이것을 행할 필요가 있어, 실용적이 아니다.
발명의 개시
본 발명의 목적은, 광선로의 길이에 관계없이 정확하고 또한 용이하게, 광선로를 식별할 수 있는 방법을 제공하는데 있다.
이 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1의 방법은, 광선로상에 복수개의 반사부를 형성하고, 광선로마다 복수의 반사부의 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광에 의거해서 반사부의 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 복수의 반사부에서 반사되어 입사단부로 되돌아온다. 반사부의 상대위치의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 각 반사부로부터의 광로차를 간섭계에 의해서 측정하거나, 각 반사부로부터의 반사광이 돌아올 때까지의 시간차를 측정하는 등을 해서, 식별표지를 구성하는 복수의 반사부의 상대위치를 검출하면, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제2의 방법은, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 반사부의 특정파장의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서, 검사광을 입사하였을때의 식별표지로부터의 반사광의 파장을 측정하고, 이 측정파장에 의거해서 광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 반사부에서 반사되어 입사단부로 되돌아온다. 반사부의 반사광파장의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 반사광의 파장을 측정하면, 그 측정 결과로부터 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제3의 방법은, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소 형성하고, 광선로마다 반사부의 특정파장 및 그 반사율의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대하여 검사광을 입사하였을때의 식별표지로부터의 반사광의 파장 및 광강도를 측정하고, 이 측정결과에 의거해서 광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 반사부에서 반사되어 입사단부에 되돌아가 있다. 반사부의 반사광파장 및 그 반사율을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 반사광의 파장 및 광강도를 측정하면, 그 측정결과로부터 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제4의 방법은, 광선로상에 반사율이 파장에 의존하는 반사부를 형성하고, 각 광선로마다 반사부의 파장의존성을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하였을때의 식별표지로부터의 반사광스펙트럼을 측정하고, 이 반사광스펙트럼에 의거해서 광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 한쪽 단부로부터의 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 반사부에서 반사되어 입사단부로 되돌아온다. 반사부의 반사파장의존성은 광선로마다 다른 것이므로, 반사광의 스펙트럼을 측정하면, 그 측정결과로부터 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제5의 방법은, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 반사부의 특정파장 및 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 식별표지로부터의 반사광의 파장 및 상대위치를 측정하고, 이 측정결과에 의거해서 광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 반사부에서 반사되어 입사단부로 되돌아온다. 반사부의 반사광파장 및 상대위치의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 반사광을 측정하면, 그 측정결과로부터 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제6의 방법은, 광선로상에 복수개의 굽힘손실부를 형성하고, 광선로마다 복수개의 굽힘손실부의 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서, 검사광을 입사하였을때의 후방산란광에 의거해서 굽힘손실부의 상대위치를 검출하고, 그 검사결과에 의거해서 광선로를 식별할 수 있다.
광선로의 한쪽 단부로부터의 검사광을 입사하면 그 광은 식별표지인 복수의 굽힘손실부에서 반사되어서 입사단부로 되돌아온다. 굽힘손실부의 상대위치의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 각 굽힘손실부로부터의 후방산란광이 되돌아올 때까지의 시간차를 측정하는 등을 해서, 식별표지를 구성하는 복수의 굽힘손실부의 상대위치를 검출하면, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별할 수 있다.
본 발명의 제7의 방법은, 복수의 광파이버심선을 한뭉치로 한 다심형광선로의 각 광파이버심선에 선택적으로 반사부를 형성하고, 상기 다심형광선로마다 반사부의 유무에 대한 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 다심형광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 상기 식별표지로부터의 반사광을 측정하고, 이 측정결과에 의거해서 다심형광선로를 식별하는 것이다.
광선로의 각 광파이버심선의 한쪽 단부로부터 검사광을 입사하면 그 광은, 식별표지인 반사부에서 입사되어서 입사단부로 되돌아온다. 각 광파이버심선의 반사부의 유무에 대한 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두면, 다심형광선로마다 모든 광파이버심선에 대해서 반사광의 유무를 측정하므로써 광선로를 식별할 수 있다.
상기 제1∼제7의 방법에서는, 식별표지를 광선로에 직접 배설하는 것이나, 이 대신에, 광선로에 식별표지를 가진 분기선로를 부가해도 된다.
발명을 실시하기 위한 최량의 형태
제1도는, 본 발명의 광선로의 식별방법을 적용하는 광선로설비관리시스템을 표시한 구성도이다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에는, 광선로의 접속절환을 행하기 위한 단자함(2)이 설치되어 있다. 관리국사옥(1)내의 전송장치(4)에 일단부가 접속되어 있는 복수의 광선로는 광파이버케이블(9)로서 한묶음으로 되어, 단자함(2)까지 연장되어 있다. 각 광선로의 타단부는, 단자함(2)내에 있어서, 각 가입자집(3)으로 뻗어있는 광선로의 일단부와 광코넥터(10)를 개재해서 접속되고, 이에 의해, 관리국사옥(1)내의 전송장치(4)와 각 가입자집(3)이 각각 1개의 광선로에 의해 접속된 것으로 된다.
광코넥터(10)에서는, 접속의 절환을 수동으로 임의로 행할 수 있다. 이 절환을 행할때는, 먼저, 관리국사옥(1)내에 설치된 식별표지판독장치(코드판독장치)(5)에서, 후술하는 식별방법에 의해 광선로의 루트정보를 조사하고, 그 루트정보를 제어장치(6)로부터 단자함(2)내의 국부제어기(11)에 전달하고, 표시장치(12)에서 현장의 작업자에 그 정보를 알린다. 작업자는 루트정보에 의거해서 소망의 코넥터 절환을 행한다. 절환작업 종료후, 재차 코드판독장치(5)에서 광선로의 식별표지를 판독해서 관리국사옥(1)쪽에서 루트 정보를 확인하고, 이 루트정보를 제어장치(6)로부터 국부제어기(11)를 개재해서 표시장치(12)에 표시하므로써, 작업자는 절환이 양호한지 아닌지를 확인한다.
제2도는, 코드판독장치(5)의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도이다. 코드판독장치(5)는 발광부(20)와 수광부(21)를 구비하고, 이들은 제어회로(6)를 구성하는 컴퓨터(22) 및 타이밍제어회로(23)에 의해서 그 동작이 제어된다.
발광부(20)는, 백색광등의 적당한 스펙트럼폭을 가진 광을 발하는 광원(24)과, 광원(24)으로부터 방사되는 광을 온오프제어하는 음향광학소자(25)와, 이 음향광학소자(25)의 입출력부에 각각 배설된 렌즈계(26), (27)에 의해 구성되어 있으며, 광원(24)으로부터 방사된 광은 렌즈(26), 음향광학소자(25), 렌즈(27)를 거쳐서, 광파이버(40)의 일단부에 검사광으로서 입사된다. 광파이버(40)는, 피측정광선로인 광파이버(50)와 코드판독장치(5)를 연결하는 분기광선로이며, 접속수단(38)을 개재해서 피측정광선로(50)와 접속되어 있다. 접속수단(38)은, 광파이버(40)를 다수의 피측정광선로(50)중의 어느 한쪽에 선택적으로 접속하는 것이다.
수광부(21)은, 마이켈슨간섭계(30)와, 이 마이켈슨간섭계(30)의 출력신호를 디지틀치로 변환해서 컴퓨터(22)에 공급하는 A/D 변환회로(36)와, 마이켈슨간섭계(30)에의 입력광을 타이밍제어회로(23)로부터의 신호에 의거해서 온오프제어하는 음향광학소자(31)를 주요한 구성요소로서 구비하고 있다. 또한, 부호(32), (33)은 각각 렌즈를 표시하고, 부호(34)는 광파이버를 표시하고 있다. 마이켈슨간섭계(30)는, 이동거울(300), 고정거울(301), 빔스프리터(302), 이동거울이동기구(303), 이동거울위치판독장치(304), 수광기(305), 렌즈(306), (307)에 의해 구성되어 있다. 광파이버(34)로부터 마이켈슨간섭계(30)에 입사한 광은, 빔스피리터(302)에서 분기되고, 한쪽은 고정거울(301)에, 다른쪽은 이동경(302)에 인도된다. 각각의 거울에서 반사된 광은 빔스피리터(302)로 되돌아가, 맞포개져서 간섭이 발생한다. 이 간섭광은 렌즈(307)를 개재해서 수광기(305)에 입사하고, 전기신호로 변환된다. 이때, 이동거울(300)을 이동시켜서 간섭계내의 광로길이차를 변화시키므로써 인터페로그램이라 호칭되는 간섭파형을 얻을 수 있다. 이것이, 마이켈슨간섭계(30)의 동작원리이며, 이 원리를 이용해서, 식별표지(39)를 구성하는 복수의 반사부의 상대위치를 검출한다.
각 광선로(50)에서는, 각각 고유의 식별표지(코드)(39)가 선로중에 기록되어 있다. 식별표지(39)는, 복수의 반사부에 의해 구성되며, 광선로마다 반사부의 상대위치의 조합을 바꾼 것이다. 식별표지(39)를 구성하는 반사부는, 광선로(50)에 노치(nocth)를 형성해서 굴절율의 불연속점으로 한 것이다. 제3도 식별표지(39)의 일예를 표시한다. 이 식별표지(39)는, 4개의 노치(51)∼(54)로 구성되고, 노치(51)를 기준으로, 노치(52), (53), (54)가, 각각 3mm, 10mm, 15mm의 거리만큼 떨어져 있다. 따라서, 이 광선로(50)에 발광부(20)로부터의 검사광이 입사되면, 수광부(21)에 도달하는 식별표지(39)로부터의 반사광은, 반사부인 노치마다에 광로차가 발생하고 있으며, 이 광로차를 마이켈슨간섭계(30)에 의해 검출하므로써, 각 노치(51)∼(54)의 상대위치를 검출할 수 있다.
식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함 사이의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 예를 들면, 제3도에 표시한 바와 같은 4개의 반사부(51)∼(54)로 이루어지는 식별표지가 붙은 광선로(50)에 검사광을 입사하였다고 하면, 수광부(21)에서는 컴퓨터(22)와의 협동동작에 의해 제4a도에 표시한 바와 같은 인터페로그램을 얻게 된다. 즉 광로차가 0(영)인 곳에서 주극대(主極大)를 얻게 되고, 반사부(51)∼(54)중에서 선택된 2개의 반사부의 모든 組(조)에 대한 광로차의 곳에 副(부) 극대를 얻게 된다.
구체적으로는, 광로차가, 3mm, 5mm, 7mm, 10mm, 12mm, 15mm의 곳에 부극대가 나타난다.
제4b도는, 이 관측결과를 코드정보에 대응시킨 것이다. 즉, 제4a도의 관측결과로부터 「001010100101001」라고 하는 15비트의 코드정보를 얻을 수 있다. 코드정보의 내용은, 반사부의 수나 위치를 정당히 선택하므로써, 소망의 값으로 설정할 수 있다.
본 실시예에서는, 관리국사옥(1)과 가입자집(3)을 연결하는 광선로가, 단자함(2)에서 접속된 2개의 구분광선로에 의해 구성되어 있다. 식별표지는 각 구분광선로에 각각 형성되어 있기 때문에, 이들을 구별해서 인식할 필요가 있다. 음향광학소자(31)은, 그때문에 사용되고 있는 것이다. 즉, 타이밍제어회로(23)에 의해서, 펄스상태의 검사광을 피측정광선로에 입사하고, 검사광의 입사타이밍을 기준으로 해서, 음향광학소자(31)에 의해서 식별표지마다의 반사광을 시간적으로 잘라내고 있다. 이에 의해, 동일광선로상의 다른점의 식별표지로부터의 반사광을 각각 구별할 수 있다. 컴퓨터(22)는, 이 식별표지마다의 반사광을 구별하면서, 반사광의 광강도데이터를 도입하므로서, 식별표지마다의 인터페로그램을 얻을 수 있다. 또한, 반사광의 잘라내기는, 음향광학소자(31) 대신에, 광게이트(광편향기)를 사용하는 것으로도 달성할 수 있다.
또한, 제5도에 표시한 바와 같이, 식별표지를 광선로중에 직접 기록하는 대신에, 식별표지(100)가 기록된 분기광선로(101)를 파이버커플러(102)등을 사용해서 부가해도 된다.
제6도는, 본 발명의 다른 실시예인 식별방법을 행하기 위한 장치를 표시한 블록도이다. 상기 실시예는, 반사광의 간섭작용에 의거해서 반사부의 상대위치를 검출하는 것인데 비해, 이 실시예는, 반사광의 도달시간차를 측정하므로써 반사부의 상대위치를 검출하는 것이다. 발광부(20)에는, 펄스폭이 짧은 펄스광을 출사할 수 있는 반도체레이저(66) 및 그 구동회로(65)가 형성되어 있다. 수광부(21)에는, 수광소자(61), 메모리부착 A/D 변환회로(62) 및 평균화회로(63)가 배설되어 있다. 또한, 부호(64), (67)은 렌즈이다.
이 예에서는, 펄스상태의 검사광을 광선로(50)에 입사하고, 그 반사광강도의 시간적 변화를 측정하므로써, 각 반사부의 상대위치에 따른 코드정보를 판독한다. 제7도는, 측정결과의 일예를 표시한 그래프이며, 종축에 반사광강도, 횡축에 시간을 채택하고 있다. 이 예는, 기준반사부(검사광의 입사쪽에 가장 가까운 반사부)를 포함한 4개의 반사부가 형성된 식별표지로부터의 반사광을 측정한 것이며, 기준반사부로부터의 반사광(71)이 최초에 도달하고, 그후, 3개의 반사부로부터의 각각의 반사광(72), (73), (74)이 기준반사부에 가까운 순으로 도달하고 있다. 기준반사부 이외의 반사부를, 기준반사부로부터 순서대로 등간격으로 떨어진 5개의 포인트에 있어서만이 형성할 수 있는 것이라고 하면, 각 포인트에 반사부가 형성되어 있는지 없는지에 의해서, 5비트의 식별표지를 만들 수 있으며, 제7도의 예는, 「01101」라고 하는 코드정보를 표시하고 있다.
다음에 제2의 발명에 관한 실시예를 설명한다. 제8도는, 본 실시예를 제1도의 광선로설비관리시스템에 적용하였을 경우에 코드판독장치(5)의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도이다. 코드판독장치(5)는 발광부(1020)과 수광부(1021)를 구비하고, 이들은 제어회로(6)를 구성하는 컴퓨터(1022) 및 타이밍제어회로(1023)에 의해서 그 동작이 제어된다.
발광부(1020)는, 백색광등의 적당한 스펙트럼폭을 가진 광을 발하는 광원(1024)과, 광원(1024)으로부터 방사되는 광을 온오프제어하는 음향광학소자(1025)와, 이 음향광학소자(1025)의 입출력부에 각각 배설된 렌즈계(1026), (1027)에 의해 구성되어 있으며, 광원(1024)으로부터 방사된 광은 렌즈(1026), 음향광학소자(1025), 렌즈(1027)를 거쳐서, 광파이버(40)의 일단부에 검사광으로서 입사된다. 광파이버(40)는, 피측정광선로인 광파이버(50)와 코드판독장치(5)를 연결하는 분기광선로이며, 접속수단(38)을 개재해서 피측정광선로(50)와 접속되어 있다. 접속수단(38)은, 광파이버(40)를 다수의 피측정광선로(50)중의 어느 것인가에 선택적으로 접속하는 것이다.
수광부(1021)는, 간섭분광기인 파브리페로에탈론(1032)과, 에탈론(1032)내의 공진용의 2매의 평면판의 간격을 제어하는 에탈론제어기(1033)와, 에탈론(1032)의 입출력부에 배설된 렌즈계(1030), (1031)와, 에탈론(1032)의 출력광이 광강도를 전기신호를 변환하는 수광소자(1034)와, 수광소자(1034)의 출력신호를 타이밍 제어회로(1023)로부터의 신호에 의해서 시간적으로 잘라내기를 행하는 박스카적분기(1035)와, 박스카적분기(1035)의 출력신호를 디지틀신호로 변환하는 A/D 변환회로(1036)를 구비하고 있다. 에탈론(1032)은, 광파이버(40)에 광파이버커플러(37)에 의해 접속되어 있는 광파이버(41)로부터의 광을 입력하고, 그 광의 분광을 행한다. 그때에, 에탈론제어기(1033)는, 컴퓨터(1022)로부터의 지령에 의거해서 에탈론(1032)내의 공진면의 간격을 제어해서 분광파장을 변환시킨다. 컴퓨터(1022)는, 에탈론(1032)를 제어하면서 A/D 변환회로(1036)로부터의 데이타를 도입하므로써, 반사광의 파장해석을 행한다.
각 광선로(50)에는, 각각 고류의 식별표지(코드)(39)가 선로중에 기록되어 있다. 식별표지(39)는, 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다에 반사부의 특정파장의 조합을 바꾼 것이다. 식별표지(39)를 구성하는 반사부의 각각은, 광선로(50)의 굴절율을 국소적으로 변화시킨 줄무늬로 구성되고, 굴절율 변화의 공간주파수등을 적당히 설정하므로써, 그 반사부 고유의 반사광파장을 얻을 수 있다. 제9a도에 표시한 바와 같이, 광선로(50)에 굴절율을 일정주기로 변화시킨 줄무늬로 반사부(1100)를 만든다. 이 줄무늬(110)의 주기(서로 인접하는 굴절율 변화점의 간격)를 d, 반사부에 있어서의 광선로의 평균 굴절율을 n이라고 하면, 반사광파장 λ는, λ=2nd로 표시될 수 있으므로, d 및 n을 적당히 설정하면, 소망의 반사광파장을 얻을 수 있다. 이와 같이 해서 얻은 반사부(1100)를 제9a도에 표시한 바와 같이 광선로(50)상에 복수개소(동도면에서는 5개소) 형성하고, 각 반사부(1100)의 반사광파장 λ1∼λ5의 값을 적당하게 설정해서 식별표지(39)로 한다. 굴절율은 UV광(자외선)을 광선로(50)에 국소적으로 조사하므로써 변화시킬 수 있으므로, 이것을 이용해서 소망의 파장만을 반사시키는 반사부를 형성할 수 있다.
식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 예를 들면, 반사파장으로서 λ1에서 λ5까지의 5개의 파장을 사용해서 2치의 코드화를 하는 것으로 한다. 즉, 각 파장에 대해서 반사광의 유무를「1」 또는「0」에 대응시킨다. 제10a는, 발광부(20)로부터 임의의 광선로(50)에 대해서 검사광을 부여했을 때에 얻게 된 반사광파장 특성의 일예를 표시한 특성도이다. 이 특성도는 횡축에 파장, 종축에 광강도를 채택하고 있다. 이 예에서는, λ1, λ3 및 λ5의 각 파장에 대해서는, 반사광을 관측할 수 있으며, 반대로, λ2 및 λ4에 대해서 전혀 관측할 수 없었다. 제10b도는, 이 관측결과를 코드정보에 대응시킨 것이다. 즉, 제10a도의 관측결과로부터 「10101」라고 하는 5비트의 코드정보를 얻을 수 있다.
본 실시예에서는, 관리국사옥(1)과 가입자집(3)을 연결하는 광선로가, 단자함(2)에서 접속된 2개의 구분광선로에 의해 구성되어 있다. 식별표지는 각 구분광선로에 각각 형성되어 있기 때문에, 이들을 구별해서 인식할 필요가 있다.
박스카적분기(1035)는, 그때문에 사용되고 있는 것이다. 즉, 타이밍제어회로(1023)에 의해서, 펄스상태의 검사광을 피측정광선로에 입사하고, 검사광의 입사타이밍을 기준으로 해서, 식별표지마다의 반사광을 시간적으로 잘라낸다. 이에 의해, 동일 광선로상의 다른점의 식별표지로부터의 반사광을 각각 구별할 수 있다. 컴퓨터(1022)는, 그 식별표지마다의 반사광을 구별하면서, 파장별의 광강도데이터를 도입하므로써, 식별표지마다의 반사광스펙트럼을 측정할 수 있다. 또한, 반사광의 잘라내기는, 박스카적분기(1035) 대신에, 광게이트(광편향기)를 사용하는 것도 달성할 수 있다.
또한, 제11도에 표시한 바와 같이, 식별표지를 광선로중에 직접 기록하는 대신에, 식별표지(100)가 기록된 분기광선로(101)를 파이버커플러(102)등을 사용해서 부가해도 된다.
또, 상기 실시예에서는 광원으로서 백색광원(1024)를 사용하고, 수광부(1021)에 분광기파브이페로의 에탈론(1032)을 사용하고 있으나, 제12도에 표시한 바와 같이, 발광부(1020)에 파장절환형의 광원(1109)를 사용하므로써, 수광부(1021)의 분광기를 생략할 수 있다. 광원(1109)는, 반도체레이저어레이(1110), 프리즘(1113) 및 집광렌즈(1027)를 내장하고 있다. 반도체레이저어레이(1110)는, 발진파장이 서로 다른 복수의 반도체레이저(1111)와, 각 반도체레이저(11111)마다 설치된 렌즈(1112)를 구비하고 있다. 제어회로(1114)는, 반도체레이저(1111)의 선택적인 구동 및 프리즘(1113)의 이동에 대해서 제어를 행하고, 이에 의해, 광원(1109)은 특정 파장의 검사광을 선택적으로 출사할 수 있다. 식별표지(39)의 각 반사부의 반사광파장은, 반도체레이저(1111)의 발진파장중으로부터 선택되고 있다. 따라서, 식별을 행할때에 검사광의 파장을 순차적으로 절환해서 출사하고, 각 파장마다 반사광의 유무를 검출하면, 상기한 실시예와 마찬가지로 식별표지를 구성하고 있는 반사부의 반사광파장을 알 수 있다. 또한, 이 예에서는, 반사광을 시간적으로 잘라내기 위하여, 박스카적분기(1035)를 제어회로(1114)로부터의 타이밍신호에 의거해서 동작시키고 있으나, 광파이버의 타단부에 수광소자를 설치해서 검사광의 입사타이밍을 검출하고, 이 검출신호를 박스카적분기(1035)에 대한 동작타이밍신호로 해도 된다.
제13도는 식별표지로서 사용하는 반사부의 다른 구성예를 표시한 부분절단사시도이다. 이 예에서는, 특정파장만 반사하는 반사부로서 광필터가 사용되고 있다. 이 식별표지의 형성방법을 간단히 설명한다. 실리콘기판(1200)위에 2개의 V홈(1201), (1202)을 형성하고, 각각에 광선로인 2심테이프파이버(1203)의 각 광파이버(1204), (1205)를 묻어넣는다. 그후, 위로부터 실리콘덮개(1206)를 씌워서 수지(1207)로 굳히고, 광파이버(1204), (1205)를 고정한다. 이어서, 실리콘덮개(1206)의 위로부터 실리콘기판(1200)에 홈(1208)을 형성하므로써, 광파이버(1204), (1205)를 절단한다. 그리고, 홈(1208)에 소망의 단색반사광필터(1210)를 끼워넣으므로써, 광선로중에 특정파장만 반사하는 반사부를 형성한 것으로 된다. 이 광필터(1210)는 예를 들면 유전체다층막등으로 구성된다. 이 광필터에 의한 방법을 사용하면, 광선로가 이 예와 같이 2심테이프파이버 혹은 그 이상의 다심테이프파이버인 경우에, 각 광파이버에 대해서 동시에 동일한 식별표지를 형성하는 일이 가능하다.
제14도는, 광필터를 코넥터에 설치한 예를 표시한 사시도이다. 일반적으로 광선로는 복수의 구분광선로를 코넥터에 의해서 종속접속되어 있다. 이 예는, 식별표지인 광필터를 코넥터의 단부면에 설치하므로써, 그 장착을 용이하게 한 것이다. 코넥터는 가이드핀(1221)을 가진 숫코넥터(1220)와, 가이드핀(1221)용의 받는 구멍을 가진 암코넥터(1223)에 의해서 구성되어 있다. 각 코넥터(1220), (1223)는 2매의 실리콘칩(1224), (1225)을 포개서 에폭시수지(1226)로 굳힌 구조를 가진다. 실리콘칩(1224)에는 테이프파이버(1227)를 구성하는 광파이버와 동일한 수 또는 그 이상의 V홈(1228)이 형성되어 잇으며, 각 광파이버가 이들 V홈 속에 고장되어 있다. 가이드핀(1221)을 받는 구멍(1222)에 삽입하므로써, 숫코넥터(1220)의 광파이버와, 암코넥터(1223)쪽의 광파이버가 각각 1대 1로 결합된다. 이 결합때에, 단색반사광필터(1230)를 사이에 개재시키므로써, 광선로중에 식별표지를 형성할 수 있다. 이 예에서는 광필터(1230)가 코넥터(1220), (1223)와 별체의 것이나, 암코넥터(1223)의 단부면에 유전체다층막을 증착해서 형성해도 된다.
다음에 제3의 발명에 대응하는 실시예를 설명한다. 이 실시예는, 제8도∼제14도를 사용해서 설명한 제2발명의 실시예와 유사하고 있다. 그 상이점은, 식별표지로서 반사파장 뿐만 아니고 반사강도도 이용하는 점이다. 이 실시예도 제1도에 표시한 광선로설비관리시스템에 적용하는 것이며, 코드판독장치의 내부구성 및 그 주변장치는 제8도에 표시한 바와 같다.
식별표지(39)는, 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 반사부의 특정파장 및 반사율의 조합을 바꾼 것이다. 즉, 반사율도 식별표지로서 이용하고 있는 점이 제2발명과 다르다. 식별표지(39)를 구성하는 반사부의 각각은, 광선로(50)의 굴절율을 국소적으로 변화시킨 줄무늬에 의해 구성되고, 굴절율변화의 공간주파수나 굴절율의 값등을 적당히 설정하므로써, 그 반사부고유의 반사광파장 및 반사율을 얻을 수 있다. 제9a도에 표시한 바와 같이, 광선로(50)에 굴절율을 일정주기로 변화시킨 줄무늬에 의해 반사부(1100)를 만든다. 이 줄무늬(1100)의 주기(서로 인접하는 굴절율변화점의 간격)를 d, 반사부에 있어서의 광선로의 평균굴절율을 n로 하면, 반사광파장 λ는, λ=2nd로 표시될 수 있으므로, d 및 n을 적당하게 설정하면, 소망의 반사광파장을 얻을 수 있다. 또, 반사율에 대해서는, 줄무늬의 수 또는 굴절유차를 조정하므로써 소망의 값을 얻을 수 있다. 이와 같이 해서 얻은 반사부(1100)를 동 제9b도에 표시한 바와 같이 광선로(50)상에 복수개소(동도면에서는 5개소) 형성하고, 각 반사부(1100)의 반사광파장 λ1∼λ5 및 그들의 반사율의 값을 적당히 설정해서 식별표지(39)로 한다. 굴절율은 UV광(자외선)을 광선로(50)에 국소적으로 조사하므로서 변화시킬 수 있으므로, 이것을 이용해서 소망의 파장만을 소망의 반사율로 반사시키는 반사부를 형성할 수 있다.
식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함간의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 예를 들면, 반사파장으로서 a0에서 λ5까지의 6개의 파장을 사용해서 4치의 코드화를 하는 것으로 한다. 즉, λ0을 기준반사부의 반사파장으로 하고, 기준반사부로부터의 반사광강도를 기준으로 기타의 파장 λ1∼λ5에 대한 반사광강도를「0」∼「3」의 어느 것인가에 대응시킨다. 제15a도는, 발광부(1020)로부터 임의의 광선로(50)에 대해서 검사광을 부여했을때에 얻게된 반사광파장특성의 일예를 표시한 특성도이다. 이 특성도는 횡축에 파장 종축에 광강도를 채택하고 있다. 이 예에서는, 기준 반사부로부터의 반사광강도 a에 대해서, 각 반사파장 λ1∼λ5에 대한 반사광강도가「a, 0, 3a, 0, 2a」이다. 제15b도는, 이 관측결과를 코드정보에 대응시킨 것이다.
즉, 제15a도의 관측결과로부터 「10302」라고 하는 코드정보를 얻을 수 있다. 본 실시예도, 제2발명의 실시예와 마찬가지로, 박스카적분기(1035)에 의해서, 구분선로마다의 식별표지를 시간적으로 잘라내서 구별할 수 있다.
또, 제11도에 표시한 바와 같이 식별표지를 분기선로에 기록할 수 있다.
또, 이미 설명한 제12도∼제14도에 표시한 각 실시태양의 적용이 가능하다.
다음에 제4의 발명에 대한 실시예도 제1도에 표시한 광선로설비관리시스템에 적용하는 것이며, 코드판독장치의 내부 구성 및 그 주변장치는 제8도에 표시한 바와 같다. 본 실시예에 있어서의 식별표지(39)는 반사율이 파장에 의존하는 반사부이며, 이 반사부는, 광선로(50)의 굴절율을 국소적으로 변화시킨 줄무늬에 의해 구성되며, 굴절율의 대소나 그 굴절율변화와 공간주파수를 적당히 설정하므로서, 그 반사부고유의 반사광스펙트럼을 얻을 수 있다. 이 반사광스펙트럼이 식별표지(39)의 내용으로 된다. 식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함간의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
제16a도∼제16c는, 식별표지(39)인 반사부의 기록방법을 표시한 도면이다. 모두 UV광(자외선)을 광선로(50)에 국소적으로 조사하므로서 조사부의 굴절율을 변화시키고, 소망의 반사광 스펙트럼을 가진 반사부를 형성하는 것이다. 제16a도는, 홀로그램을 사용한 기록방법을 표시한 것이며, 홀로그램(2061)에 UV광(2062)을 조사하고, 홀로그램(2061)상에 기록된 홀로그램패턴에 의한 회절광(2063)을 광선로(50)에 투영한다. 이 회절광(2063)이 만드는 패턴에 따라서 광선로(50)의 굴절율이 국부적으로 변화하고, 광선로(50)상에 굴절율 변화에 의한 줄무늬에 의해 구성된 반사부(2064)가 형성된다. 회절광(2063)이 만드는 패턴은, 홀로그램패턴을 바꾸므로서 자유롭게 설정할 수 있다. 제16b도는, 렌즈(2073)를 사용해서 UV광(2072)을 집광하고, 줄무늬간격과 투과율을 변화시킨 마스터패턴(2071)을 축소투영하므로써, 굴절율변화에 의한 줄무늬에 의해 구성된 반사부(2074)를 형성하는 방법을 표시하고 있다. 제16c도는, 슬릿(2081)과 렌즈(2082)를 사용해서 UV광(2083)에 의한 슬릿상을 광선로(50)상에 만들고, UV광의 강도제어와 슬릿상의 이동제어에 의해 굴절율변화에 의한 줄무늬에 의해 구성된 반사부를 형성하는 방법을 표시하고 있다. UV광의 강도를 적당히 변화시키면서, 슬릿상을 광선로(50)의 긴쪽방향(화살표시(2084)의 방향)으로 그 속도를 조정하면서 이동시키므로써, 반사부를 형성할 수 있다. 또한, 이들 식별표지기록방법은, 상기한 제2, 제3발명의 실시예 및 후술하는 제5발명의 실시예에도 적용할 수 있다.
다음에, 이 실시예의 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 제17a도는, 발광부(1020)로부터 광선로(50)에 대해서 검사광을 부여했을때의 식별표지(39)에서의 반사광스펙트럼의 일예를 표시한 특성도이다. 이 특성도는 횡축에 파장, 종축에 광강도를 채택하고 있다. 반사광스펙트럼(2091)에 대해서, 적당한 임계레벨(2092)을 설정하고, λ1∼λn까지의 각 파장에 있어서의 광강도가 임계레벨(2092)보다 큰지 작은지에 따라서, 각 파장에 대해서 2치부호를 대응시킨다. 제17b도는, 그 대응표를 표시하는 것이며, 광강도가 임계레벨(2092)보다 큰때에는「1」, 작은때에는「0」을 대응시키고 있다. 이와 같이 해서, 반사광스펙트럼을 2차부호에 용이하게 코드화할 수 있다. 임계레벨(2092)의 설정방법으로서는, 미리 적당한 레벨을 결정해두는 방법외에, 반사광중의 특정파장의 광강도를 임계레벨로 하는 방법등을 생각할 수 있다.
본 실시예도, 제2발명의 실시예와 마찬가지로, 박스카적분기(1035)에 의해서 구분선로마다의 식별표지를 시간적으로 잘라내서 구별할 수 있다.
또, 제11도에 표시한 바와 같이 식별표지를 분기선로에 기록할 수 있다.
또, 이미 설명한 제12도∼제14도에 표시한 각 실시태양의 적용이 가능하다.
다음에, 제5의 발명에 대한 실시예를 설명한다. 제18도는, 제1도에 표시한 광선로설비관리시스템에 본 실시예를 적용하였을 경우의 코드판독장치의 내부 구성 및 그 주변장치를 표시한다.
발광부(3020)는, 광원(3109)과 그 구동제어회로(3114)를 구비하고 있다. 광원(3109)는, 반도체레이저어레이(3110), 프리즘(3113) 및 집광렌즈(3027)를 내장하고 있다. 반도체레이저어레이(3110)은, 발진파장이 서로 다른 복수의 반도체레이저(3111)와, 각 반도체레이저(3111)마다에 배설된 렌즈(3112)를 구비하고 있다. 구동 제어회로(3114)는, 반도체레이저(3111)의 선택적인 구동 및 프리즘(3113)의 이동에 대해서 제어를 행하고, 이에 의해, 광원(3109)은 특정파장의 검사광을 선택적으로 출사할 수 있다. 광파이버(40)는, 피측정광선로인 광파이버(50)와, 코드판독장치(5)를 연결하는 분기광선로이며, 접속수단(38)을 개재해서 피측정광신호(50)와 접속되어 있다. 접속수단(38)은, 광파이버(40)를 다수의 피측정광선로(50)와 접속되어 있다. 접속수단(38)은, 광파이버(40)를 다수의 피측정광선로(50)와 접속되어 잇다. 접속수단(38)은, 광파이버(40)를 다수의 피측정광선로(50)중의 어느것인가에 선택적으로 접속하는 것이다.
수광부(3021)는, 입사광을 전기신호로 변환하는 수광소자(3034)와, 이 수광소자(3034)로부터의 신호를 디지틀값으로 변환하는 메모리부착 A/D변환회로(3035)와, A/D변환회로(3035)로부터의 디지틀치에 대해서 평균화처리를 실시하는 평균화회로(3036)를 구비하고 있다. 광파이버(41)는 광파이버커플러(37)에 의해서 광파이버(40)에 접속되고, 그 일단부가 수광부(3021)에 인도되고 있다. A/D변환회로(3035)는, 구동제어회로(3114)로부터 부여되는 검사광의 발광타이밍을 기준으로 해서 수광소자로부터의 신호의 시간적 변화를 기억하고, 적당한 시간간격에 의해 각 시각에서의 애널로그치를 디지틀치로 변환하다. 따라서, 발광부(3020)로부터 검사광이 출사된 후 반사광이 되돌아올때까지의 시간을 검출할 수 있다.
코드판독장치(5)는 이와 같이 구성되어 있으므로, 컴퓨터(3022)에서는, 검사광 파장과 식별표지(39)에서의 반사광의 도달시간과의 조합에 의해서, 식별표지(39)를 구성하는 각 반사부의 특정파장과 그 상대위치를 검출할 수 있다.
각 광선로(50)에는, 각각 고유의 식별표지(코드)(39)가 선로중에 기록되어 있다. 식별표지(39)는 특정파장만의 광을 반사하는 반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 반사부의 특정파장 및 상대위치의 조합을 바꾼 것이다. 식별표지(39)를 구성하는 반사부의 각각은, 광선로(50)의 굴절율을 극소적으로 변화시킨 줄무늬에 의해 구성되고, 굴절율변화의 공간주파수등을 적당히 설정하므로써, 그 반사부고유의 반사광파장을 얻을 수 있다. 제9a도에 표시한 바와 같이, 광선로(50)에 굴절율을 일정주기로 변화시킨 줄무늬로 반사부(1100)를 만든다. 이미 설명한 바와 같이, 이 줄무늬(1100)의 주기(서로 인접하는 굴절율 변화점의 간격)을 d, 반사부에 있어서의 광선로의 굴절율을 n라고 하면, 반사광파장 λ는, λ=2nd로 표시될 수 있으므로, d 및 n을 적당히 설정하면, 소망의 반사광파장을 얻을 수 있다. 이와 같이 해서 얻은 반사부(1100)을 제9b도에 표시한 바와 같이 광선로(50)상에 복수개소(동도면에서는 5개소) 형성하고, 각 반사부(1100)의 반사광파장 λ1∼λ5의 값 및 그 상대위치를 적당히 설정해서 식별표지(39)로 한다. 굴절율은 UV광(좌외선)을 광선로(50)에 국소적으로 조사하므로써 변화시킬 수 있으므로, 이것을 이용해서 소망의 파장만을 반사시키는 반사부를 형성할 수 있다.
식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함간의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 예를 들면, 반사파장으로서 λ1에서 λn까지의 종류의 파장을 사용해서 n진수 코드를 만든다. 즉, 각 파장에서 1에서 n까지의 정수를 할당한다. 그리고, 이들 파장중에서부터 적당히 선택된 파장특성을 가진 반사부를 광선로(50)상에서 m개소 형성한다. 이에 의해서, 반사부의 특정파장과 상대위치로부터 m자릿수의 n진수코드를 만들 수 있다. 코드판독장치(5)는 상기한 바와 같이, 검사광으로 사용한 파장과 그 반사광의 도달시간을 검출할 수 있으므로, 이 코드를 판독할 수 있다. 제19도는, 어떤 임의의 식별표지를 구성하는 반사부의 파장과 상대위치와의 대응표를 표시하고 있다. 이 표는, 파장 λ2가 1번째, 파장 λ1이 2번째, 파장 λ3이 3번째에 형성된 예를 표시하고 있으며, 이것을 판족하여 코드로 변환하면 「213…」으로 된다.
상기 실시예에서는, A/D변환회로(3035)를 구동제어회로(3114)로부터의 타이밍신호에 의거해서 동작시키고 있으나, 광파이버(41)의 타단부에 수광소자를 설치해서 검사광의 입사타이밍을 검출하고, 이 검출신호를 A/D변환회로(3035)에 대한 동작타이밍신호로 해도 된다.
또, 제11도에 표시한 바와 같이 식별표지를 분기선로에 기록할 수 있다.
또, 이미 설명한 제13도∼제14도에 표시한 각 실시태양의 적용이 가능하다.
다음에, 제6의 발명에 대한 실시예를 설명한다. 이 실시예에서는 이미 설명한 제6도에 표시한 코드판독장치를 제1도에 표시한 시스템에 적용한다.
각 광선로(50)에는, 각각 고류의 식별표지(코드)(39)가 선로중에 기록되어 있다. 식별표지(39)는, 복수의 굽힘손실부에 의해 구성되고, 광선로마다 굽힘손실부의 상대위치의 조합이 달라져 있다. 식별표지(39)를 구성하는 굽힘손실부는, 광선로(50)에 부분적인 굴절부를 형성한 것이며, 제20도에 그 구체적인 지그(jig)의 일예를 표시한다. 지그(4080)는, 8줄의 V홈이 형성된 받침대(4081)와, 압압부재(4082)로 구성되어 있다. 받침대(4081)에는, 형성해야할 식별표지에 따라서 V홈에 오목부가 형성된다. 여기에서는, 1번째, 3번째, 4번째 및 7번째의 V홈에 오목부(4083)∼(4086)가 형성되어 있다. 압압부재(4082)에는, 받침대(4081)의 오목부와 대응한 위치에 볼록부(4087)∼(4090)가 형성되어 있다. 광선로(50)를 지그자그로 굴곡시켜서 받침대(4081)의 V홈에 순서대로 끼워넣고, 위로부터 압압부재(4082)를 압압하면, 1번째, 3번째, 4번째 및 7번째의 V홈에 있어서 굽힘손실부가 형성된다. 코드판독장치(5)에서는, 펄스상태의 검사광을 광선로(50)에 입사하고, 그 후 방산란광강도의 시간적 변화를 측정하므로써, 각 굽힘손실부의 상대위치에 따른 코드정보를 판독한다.
식별표지(39)는, 제1도에 있어서의 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로, 단자함(2)과 가입자집(3)과의 사이의 광선로의 각각에 형성되어 있다. 관리국사옥(1)과 가입자집(3)과의 사이에 단자함이 복수개 개재하는 경우는, 단자함간의 광선로에도 식별표지가 형성된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 예를 들면, 제20도에 표시한 바와 같은 4개의 굽힘손실부로 이루어진 식별표지가 형성된 광선로(50)에 검사광을 입사하였다고 하면, 수광부(21)에서는 컴퓨터(22)와의 협동동작에 의해 제21a도에 표시한 바와 같은 후방산란광강도의 시간변화특성을 얻게 된다. 즉, 각 굽힘손실부에 있어서, 방사손실에 의거한 후방산란광강도의 급격한 감소가 발생한다. 제21b도는, 이 특성을 미분한 결과를 표시한다. 이 도면에 있어서의 피크(4095), (4096), (4097), (4098)은, 각각 지그(4080)의 1번째, 3번째, 4번째 및 7번째의 V홈에 있어서 형성된 굽힘손실부에 대응한다. 1번째의 V홈에서의 굽힘손실부를 기준굽힘손실부로 해서, 그것보다 후방의 7줄의 V홈에 있어서 굽힘손실부가 형성되어 있는지 없는지를 코드화하는 것으로 한다. 제21b도에 표시한 특징을 제21c도와 같은 7비트의 코드로 치환할 수 있다. 코드정보의 내용은, 굽힘손실부의 수나 위치를 적당히 선택하므로써, 소망의 값으로 설정할 수 있다.
본 실시예에서는, 관리국사옥(1)과 가입자집을 연결하는 광선로가, 단자함(2)에서 접속된 2개의 구분광선로에 의해 구성되어 있다. 식별표시는 각 구분광선로에 각각 형성되어 있기 때문에, 이들을 구별해서 인식할 필요가 있다. 이를 위해서는, 타이밍제어회로(23)에 의해서, 검사광의 입사타이밍을 기준으로 해서, 메모리부착 A/D변환회로(62)의 동작을 시간적으로 제어하므로서 식별표지마다의 후방산란광의 강도변화를 시간적으로 잘라낸다. 이에 의해, 동일광선로상의 다른 점의 식별표지에 의거한 후방산란광의 강도변화를 각각 구별할 수 있다. 또한, 후방산란광의 잘라내기는, 광게이트(광편향기)를 사용하는 것으로도 달성할 수 있다.
또, 제11도에 표시한 바와 같이 식별표지를 분기선로에 기록할 수 있다.
다음에 제7의 발명에 대한 실시예를 설명한다. 이 실시예에서 제22도에 표시한 코드판독장치를 제1도에 표시한 시스템에 적용한다. 단, 이 실시예에서는, 관리국사옥(1)과 단자함(2)과의 사이의 광선로는, 복수개씩 한묶음으로 되어서 다심형 광선로를 구성하고, 이 다심형 광선로가 또한 묶음으로 되어서 광파이버케이블(9)이 구성되어 있는 것으로 한다. 그리고, 이하의 설명에 있어서의 광선로의 식별은, 다심형 광선로마다의 식별에 관한 것이며, 그 경우의 다심형 광선로내의 각 광선로를 광파이버심선이라 부르기로 한다.
제22도는, 코드판독장치(5)의 내부 구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도이다. 코드판독장치(5)는 발광부(5020)과 수광부(5021)를 구비하고, 이들은 제어회로(6)를 구성하는 컴퓨터(5022) 및 타이밍제어회로(5023)에 의해서 그 동작이 제어된다.
발광부(5020)는, 백색광등의 적당한 스펙트럼 폭을 가진 광을 발하는 광원(5024)과, 광원(5024)로부터 방사되는 광을 온오프제어하는 음향광학소자(5025)와, 이 음향광학소자(5025)의 입출력부에 각각 배설된 렌즈계(5026), (5027)에 의해 구성되어 있으며, 광원(5024)로부터 방사된 광은 렌즈(5026), 음향광학소자(5025), 렌즈(5027)를 거쳐서, 광파이버(40)의 일단부에 검사광으로서 입사된다.
광파이버(40)는, 피측정광선로인 다각형 광파이버(50)와 코드판독장치(5)를 연결하는 분기광선로이며, 접속수단(38)을 개재해서 피측정광선로(50)와 접속되어 있다. 이 광파이버(40)도 피측정광선로와 동일수의 심선을 가진 다심형 광파이버이다. 접속수단(38)은, 다심형 광파이버(40)를 다수의 다심형 피측정관선로(50)중의 어느 것인가에 선택적으로 접속하는 것이다.
수광부(5021)는, 다심형 광선로(50)의 심선수와 동일수의 수광소자(5031)와, 이 수광소자(5031)의 출력신호를 디지틀치로 변환해서 컴퓨터(5022)에 부여하는 A/D변환회로(5032)와, 각 수광소자(5031)의 앞쪽에 배설된 렌즈(5033)를 구비하고 있다. 수광소자(5031)는, 광파이버(40)에 광파이버커플러(37)에 의해서 접속되어 있는 광파이버(41)로부터의 광을 수광해서 전기신호로 변환한다.
광파이버(41)도 다심형이며, 다심형 광선로(50)의 심선과 동일수 즉, 광파이버(41)의 심선과 동일수의 광파이버심선을 가지고, 이들 각 광파이버심선이 각각 수광소자(5031)의 하나하나에 인도되어 있다. 따라서 각 광파이버심선마다의 반사광유무를 검출할 수 있다. 수광소자(5031)는 타이밍제어회로(5023)에 동작제어되는 것이며, 도면의 좌측으로부터 순서대로 수광동작시키므로서, 광파이버심선마다의 반사광신호를 A/D변환회로(5032)에 순서대로 공급할 수 있다.
각 광선로(50)에는, 각각 고유의 식별표지(코드)(39)가 선로중에 기록되어 있다. 식별표지(39)는, 다심형 광선로의 각 광파이버심선에 선택적으로 반사부를 형성하고, 다심형 광선로마다 각 광파이버심선의 반사부의 유무의 조합을 바꾼 것이다. 제23도는, 테이프형 다심형 광선로의 식별표지의 예를 표시한 것이다. 테이프 다심광선로(5060)의 각 광파이버심선(5061)을 일부 노출시켜, 식별표지부(5062)로 한다. 이 부분에 반사부(5063)를 선택적으로 형성한다. 반사부(5063)는 UV조사에 의해 광파이버심선(5061)의 굴절율을 변화시키므로써 형성할 수 있다. 혹은, 광파이버심선을 절단해서 절단부에 광필터를 삽입하는 것으로도 형성할 수 있다. 또한, 제23도에서는, 설명을 용이하게 하기 위하여, 식별표지부(5062)가 노출된 상태로 되어 있으나. 실제로는 기계적인 강도를 유지하기 위하여 이 부분이 실리콘칩등의 기판에 의해 보강된다.
다음에, 식별표지(39)의 판독방법을 설명한다. 지금, 다심형 광선로를 8심테이프광파이버로 한다. 발광부(5021)로부터, 판독대상으로 하고 있는 테이프형 광파이버의 모든(8개)광파이버심선에 대해서 검사광을 입사하면, 수광부(5021)에서는 반사부를 가진 광파이버심선으로부터로만 반사광을 얻는다. 이들 반사광은 광파이버심선과 1대 1로 대응하는 수광소자(5031)에 의해 검출되며, 그 신호는 A/D변환회로(5032)를 거쳐서 컴퓨터(5022)에 입력된다. 제24도는, 검출결과의 일예를 표시한 표이다. 광파이버심선에 각각 1에서 8까지의 번호를 부여하고, 각 심선번호에 있어서의 반사부의 유무에 따라서, 반사광의 검출·비검출을 얻게 된다. 반사광을 검출하였을 경우의 코드를 「1」, 검출하지 않았을 경우의 코드를「0」으로 하면, 검출결과로부터 8비트의 코드정보를 얻을 수 있다.
또한, 제11도에 표시한 바와 같이 식별표지를 분기선로에 기록할 수 있다.
산업상의 이용가능성
이상 설명한 바와 같이 본 발명의 식별방법에 의하면,
① 식별표지를 구성하는 복수의 반사부의 상대위치의 조합을 광선로마다 다르게 해두고, 이 상대위치를 검출하므로서,
② 식별표지를 구성하는 복수의 반사부의 반사광파장의 조합을 광선로마다 다른 것이 해두고, 반사광의 파장을 측정하므로서,
③ 식별표지를 구성하는 복수의 반사부의 반사광파장 및 그 반사율의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 반사광의 파장 및 광강도를 측정하므로서,
④ 식별표지를 구성하는 반사부의 반사광파장특성을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 반사광의 스펙트럼을 측정하므로서,
⑤ 식별표지를 구성하는 복수의 반사부의 반사광파장 및 상대위치의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 식별표지로부터의 반사광에 의해서 반사부의 특정파장 및 상대위치를 측정하므로서,
⑥ 혹은 식별표지를 구성하는 복수의 굽힘손실부의 상대위치의 조합을 광선로마다 다른 것으로 해두고, 이 상대위치를 검출하므로서,
용이하게 또한 정확하게 광선로를 식별할 수 있다. 따라서, 단자함에 있어서의 절환작업때의 접속의 확인에 극히 유효하다.
광선로가 다심형의 경우는, 심선마다 선택적으로 반사부를 형성하므로서 식별표지로 하고, 모든 심선에 대해서, 반사광의 유무를 측정하면, 그 측정결과로부터 용이하게 또한 정확하게 다심형 선로를 식별할 수 있다.
본 발명은 광통신에 사용되는 광선로를 그 단부(端部)에 있어서 식별하는 방법에 관한 것이다.
제1도는 본 발명의 식별방법을 적용하는 광선로 설비관리시스템을 표시한 블록도.
제2도는 제1도의 발명의 실시예에 사용하는 코드판독장치의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도.
제3도는 식별표지의 구체예를 표시한 도면.
제4a도 및 제4b도는 각각 인터페로그램을 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제5도는 식별표지용의 분기광선로를 표시한 도면.
제6도는 코드판독장치의 다른 구성예를 표시한 블록도.
제7도는 그 측정결과의 일예를 표시한 그래프.
제8도는 제2, 제3 및 제4의 발명의 실시예에 사용되는 코드판독장치의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도.
제9a도는 제2, 제3 및 제5도의 발명의 실시예에 사용하는 식별표지의 구체예를 표시한 도면.
제9b도는 제2, 제3 및 제5도의 발명의 실시예에 사용하는 식별표지의 구체예를 표시한 도면.
제10a도는 제2 및 제5의 발명의 실시예에 사용하는 반사광을 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명서.
제10b도는 제2 및 제5의 발명의 실시예에 사용하는 반사광을 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제11도는 식별표지용의 분기광선로를 표시한 도면.
제12도는 제2, 제3 및 제4발명의 실시예에 사용하는 코드에 판독장치의 다른 구성예를 표시한 블록도.
제13도는 제2, 제3, 제4 및 제5발명의 실시예에 사용하는 반사부의 다른 구성예를 표시한 사시도.
제14도는 제2, 제3, 제4 및 제5발명의 실시예에 사용하는 반사부의 또다른 구성예를 표시한 사시도.
제15a도는 제3발명의 실시예에 있어서의 반사광스펙트럼을 4치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제15b도는 제3발명의 실시예에 있어서의 반사광스펙트럼을 4치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제16a도는 제2, 제3, 제4 및 제5발명의 실시예에 있어서의 식별표지의 기록방법을 표시한 도면.
제16b도는 제2, 제3, 제4 및 제5발명의 실시예에 있어서의 식별표지의 기록방법을 표시한 도면.
제16c도는 제2, 제3, 제4 및 제5발명의 실시예에 있어서의 식별표지의 기록방법을 표시한 도면.
제17a도는 제4발명의 실시예에 있어서의 반사광스펙트럼을 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제17b도는 제4발명의 실시예에 있어서의 반사광스펙트럼을 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제18도는 제5발명의 실시예에 사용하는 코드판독장치의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도.
제19도는 제5발명의 실시예에 있어서의 반사광을 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제20도는 제6의 발명의 실시예에 있어서의 식별표지의 구체예를 표시한 도면.
제21a도는 제6의 발명의 실시예에 있어서의 후방산란강도를 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제21b도는 제6의 발명의 실시예에 있어서의 후방산란강도를 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.
제21c도는 제6의 발명의 변환하는 방법에 대한 설명도.
제22도는 제7의 발명의 실시예에 사용하는 코드판독장치의 내부구성 및 그 주변장치를 표시한 블록도.
제23도는 제7의 발명의 실시예에 사용하는 식별표지의 구체예를 표시한 도면.
제24도는 제7의 발명의 실시예에 사용하는 반사부의 유부를 2치의 코드정보로 변환하는 방법에 대한 설명도.

Claims (19)

  1. 단일 또는 복수로 분기된 광선로상에 1개 또는 복수의 광반사부를 형성하고, 이들의 광반사부로부터의 되돌아오는 광의 정보를 근거로 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  2. 제1항에 있어서, 광선로상에 복수의 광반사부를 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광에 의거해서 상기 반사부의 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  3. 제1항에 있어서, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 특정파장의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광의 파장을 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  4. 제1항에 있어서, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 특정파장 및 그 반사율의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광의 파장 및 광강도를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  5. 제1항에 있어서, 광선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 특정파장 및 그 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광에 의해서 상기 특정파장 및 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  6. 제1항에 있어서, 광선로상에 반사율이 파장에 의존하는 광반사부를 형성하고, 광선로마다 반사부의 파장의존특성을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 상기 식별표지로부터의 반사광 스펙트럼을 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  7. 제1항에 있어서, 분기선로상에 복수의 광반사부를 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광에 의거해서 상기 반사부의 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  8. 제1항에 있어서, 분기선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 특정파장의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광의 파장을 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  9. 제1항에 있어서, 분기선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사를 복수개소에 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 반사부의 특정파장 및 그 반사율의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사했을때의 반사량의 파장 및 광강도를 검출하고, 이 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  10. 제1항에 있어서, 분기선로상에 특정파장만의 광을 반사하는 광반사부를 복수개소에 형성하고, 광선로마다에 상기 복수의 반사부의 특정파장 및 그 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 반사광에 의해서 상기 특정파장 및 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  11. 제1항에 있어서, 분기선로상에 반사율이 파장에 의존하는 광반사부를 형성하고, 광선로마다 반사부의 파장의존특성을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 상기 식별표지로부터의 반사광 스펙트럼을 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  12. 제1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11항중의 어느 한 항에 있어서, 광선로에 대해서 펄스상태의 검사광을 입사하고, 이때의 상기 각 식별표지로부터 그 위치에 따라서 시간적으로 어긋나서 되돌아오는 각각의 반사광의 정보를 판독하므로서, 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  13. 제1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11항중의 어느 한 항에 있어서, 반사부가 광선로의 굴절율을 국소적으로 변화시킨 줄무늬인 것을 특징으로 하는 광선로의 식별방법.
  14. 제1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11항중의 어느 한 항에 있어서, 반사부가 광선로중에 삽입된 광필터인 것을 특징으로 하는 광선로의 식별방법.
  15. 제1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11항중의 어느 한 항에 있어서, 광선로중에 광코넥터에 의한 접속부가 존재하고, 반사부인 광필터가 상기 광코넥터의 단부면에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 광선로의 식별방법.
  16. 복수의 광선로를 한묶음으로 한 다심형 광선로의 하나하나의 광선로에 대해서 선택적으로 반사부를 형성하고, 상기 다심형 광선로마다 반사부의 유무 및 반사특성에 대한 조합을 바꾸어서 식별표지로 하고, 이들 다심형 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 상기 식별표지로부터의 반사광을 측정하고, 이 측정결과에 의거해서 다심형 광선로를 식별하는 광선로의 식별방법.
  17. 제1항, 제2항, 제7항중의 어느 한 항에 있어서, 반사부로부터의 반사광의 광도차를 간섭계로 측정하고, 반사부의 상대위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 광선로의 식별방법.
  18. 제1항, 제2항, 제7항중의 어느 한 항에 있어서, 반사부가 광선로상에 형성된 노치인 것을 특징으로 하는 광선로의 식별방법.
  19. 단일 또는 복수로 분기된 광선로상에 복수개의 굽힘손실부를 형성하고, 광선로마다 상기 복수의 굽힘손실부의 상대위치의 조합을 바꾸어서 식별표식으로 하고, 이들의 광선로에 대해서 검사광을 입사하였을때의 후방산란에 의거해서 상기 굽힘손실부의 상대위치를 검출하고, 그 검출결과에 의거해서 광선로의 식별하는 광선로의 식별방법.
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