JP3078105B2 - 光線路の識別方法 - Google Patents
光線路の識別方法Info
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- JP3078105B2 JP3078105B2 JP04112818A JP11281892A JP3078105B2 JP 3078105 B2 JP3078105 B2 JP 3078105B2 JP 04112818 A JP04112818 A JP 04112818A JP 11281892 A JP11281892 A JP 11281892A JP 3078105 B2 JP3078105 B2 JP 3078105B2
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- Japan
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- optical line
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- specific wavelength
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光通信に用いられる光線
路をその端部において識別する方法に関するものであ
る。
路をその端部において識別する方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】光線路の識別方法として、光線路のコア
の屈折率を部分的に変化させ、この変化位置をＯＴＤＲ
測定法を用いて線路端部で検出する方法が知られている
（１９９１年電子情報通信学会秋季大会 文献Ｂ−５９
１「光線路データベースのための遠隔ファイバ識別
法」）。
の屈折率を部分的に変化させ、この変化位置をＯＴＤＲ
測定法を用いて線路端部で検出する方法が知られている
（１９９１年電子情報通信学会秋季大会 文献Ｂ−５９
１「光線路データベースのための遠隔ファイバ識別
法」）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この方法によ
れば、光線路に設ける識別符号部が数百メートルにわた
ってしまう。たとえば、上述した文献中の例では、８ビ
ットの識別符号を光線路に記録するのに１ビット当たり
５０ｍ、全体で４００ｍの長さを要している。したがっ
て、もともと短い長さの光線路に対して識別符号を付け
ることは困難である。また、数百メートルにわたる識別
符号を光線路に記録するには、光線路の製造過程でこれ
を行う必要があり、実用的ではない。
れば、光線路に設ける識別符号部が数百メートルにわた
ってしまう。たとえば、上述した文献中の例では、８ビ
ットの識別符号を光線路に記録するのに１ビット当たり
５０ｍ、全体で４００ｍの長さを要している。したがっ
て、もともと短い長さの光線路に対して識別符号を付け
ることは困難である。また、数百メートルにわたる識別
符号を光線路に記録するには、光線路の製造過程でこれ
を行う必要があり、実用的ではない。
【０００４】
【課題を解決するための手段】このような問題点を解決
するために、本発明の識別方法は、光線路上に特定波長
のみの光を反射する反射部を複数箇所に設け、光線路毎
に反射部の特定波長および相対位置の組み合わせをかえ
て識別標識とし、これらの光線路に対して検査光を入射
したときの識別標識からの反射光の波長および相対位置
を測定し、この測定結果に基づいて光線路を識別するも
のである。
するために、本発明の識別方法は、光線路上に特定波長
のみの光を反射する反射部を複数箇所に設け、光線路毎
に反射部の特定波長および相対位置の組み合わせをかえ
て識別標識とし、これらの光線路に対して検査光を入射
したときの識別標識からの反射光の波長および相対位置
を測定し、この測定結果に基づいて光線路を識別するも
のである。
【０００５】また、識別標識を光線路中に直接設ける代
わりに、光線路に識別標識を有する分岐線路を付加して
もよい。
わりに、光線路に識別標識を有する分岐線路を付加して
もよい。
【０００６】
【作用】光線路の片端から検査光を入射するとその光は
識別標識である反射部で反射され入射端に戻ってくる。
反射部の反射光波長および相対位置の組み合わせを光線
路ごとに異なるものとしておき、反射光を測定すれば、
その測定結果から光線路を識別できる。
識別標識である反射部で反射され入射端に戻ってくる。
反射部の反射光波長および相対位置の組み合わせを光線
路ごとに異なるものとしておき、反射光を測定すれば、
その測定結果から光線路を識別できる。
【０００７】
【実施例】図１は、本発明の光線路の識別方法を適用す
る光線路設備管理システムを示す構成図である。局舎１
と加入者宅３との間には、光線路の接続切り換えを行う
ための端子函２が設けられている。局舎１内の伝送装置
４に一端が接続されている複数の光線路は光ファイバケ
ーブル９として束ねられ、端子函２まで延びている。各
光線路の他端は、端子函２内において、各加入者宅３に
延びている光線路の一端と光コネクタ１０を介して接続
され、これにより、局舎１内の伝送装置４と各加入者宅
３とがそれぞれ１本の光線路で接続されたことになる。
る光線路設備管理システムを示す構成図である。局舎１
と加入者宅３との間には、光線路の接続切り換えを行う
ための端子函２が設けられている。局舎１内の伝送装置
４に一端が接続されている複数の光線路は光ファイバケ
ーブル９として束ねられ、端子函２まで延びている。各
光線路の他端は、端子函２内において、各加入者宅３に
延びている光線路の一端と光コネクタ１０を介して接続
され、これにより、局舎１内の伝送装置４と各加入者宅
３とがそれぞれ１本の光線路で接続されたことになる。
【０００８】光コネクタ１０では、接続の切り換えを手
動で任意に行うことができる。この切り換えを行う際に
は、まず、局舎１内に置かれた識別標識読取装置（コー
ド読取装置）５で、後述する識別方法により光線路のル
ート情報を調べ、そのルート情報を制御装置６から端子
函２内のローカルコントローラ１１に伝達し、表示装置
１２で現場の作業者にその情報を知らせる。作業者はそ
のルート情報に基づいて所望のコネクタ切り換えを行
う。切り換え作業終了後、再びコード読取装置５で光線
路の識別標識を読み取って局舎１側でルート情報を確認
し、このルート情報を制御装置６からローカルコントロ
ーラ１１を介して表示装置１２に表示することで、作業
者は切り換えの良否を確認する。
動で任意に行うことができる。この切り換えを行う際に
は、まず、局舎１内に置かれた識別標識読取装置（コー
ド読取装置）５で、後述する識別方法により光線路のル
ート情報を調べ、そのルート情報を制御装置６から端子
函２内のローカルコントローラ１１に伝達し、表示装置
１２で現場の作業者にその情報を知らせる。作業者はそ
のルート情報に基づいて所望のコネクタ切り換えを行
う。切り換え作業終了後、再びコード読取装置５で光線
路の識別標識を読み取って局舎１側でルート情報を確認
し、このルート情報を制御装置６からローカルコントロ
ーラ１１を介して表示装置１２に表示することで、作業
者は切り換えの良否を確認する。
【０００９】図２は、コード読取装置５の内部構成およ
びその周辺装置を示すブロック図である。コード読取装
置５は発光部２０と受光部２１を備え、これらは制御回
路６を構成するコンピュータ２２によってその動作が制
御される。
びその周辺装置を示すブロック図である。コード読取装
置５は発光部２０と受光部２１を備え、これらは制御回
路６を構成するコンピュータ２２によってその動作が制
御される。
【００１０】発光部２０は、光源１０９とその駆動制御
回路１１４とを備えている。光源１０９は、半導体レー
ザアレイ１１０、プリズム１１３および集光レンズ２７
を内蔵している。半導体レーザアレイ１１０は、発振波
長が互いに異なる複数の半導体レーザ１１１と、各半導
体レーザ１１１毎に設けられたレンズ１１２を備えてい
る。駆動制御回路１１４は、半導体レーザ１１１の選択
的な駆動およびプリズム１１３の移動について制御を行
い、これにより、光源１０９は特定波長の検査光を選択
的に出射することができる。光ファイバ４０は、被測定
光線路である光ファイバ５０とコード読取装置５とを繋
ぐ分岐光線路であり、接続手段３８を介して被測定光線
路５０と接続されている。接続手段３８は、光ファイバ
４０を多数の被測定光線路５０の中のいずれかに選択的
に接続するものである。
回路１１４とを備えている。光源１０９は、半導体レー
ザアレイ１１０、プリズム１１３および集光レンズ２７
を内蔵している。半導体レーザアレイ１１０は、発振波
長が互いに異なる複数の半導体レーザ１１１と、各半導
体レーザ１１１毎に設けられたレンズ１１２を備えてい
る。駆動制御回路１１４は、半導体レーザ１１１の選択
的な駆動およびプリズム１１３の移動について制御を行
い、これにより、光源１０９は特定波長の検査光を選択
的に出射することができる。光ファイバ４０は、被測定
光線路である光ファイバ５０とコード読取装置５とを繋
ぐ分岐光線路であり、接続手段３８を介して被測定光線
路５０と接続されている。接続手段３８は、光ファイバ
４０を多数の被測定光線路５０の中のいずれかに選択的
に接続するものである。
【００１１】受光部２１は、入射光を電気信号に変換す
る受光素子３４と、この受光素子３４からの信号をデジ
タル値に変換するメモリ付きＡ／Ｄ変換回路３５と、Ａ
／Ｄ変換回路３５からのデジタル値に対して平均化処理
を施す平均化回路３６とを備えている。光ファイバ４１
は光ファイバカプラ３７によって光ファイバ４０に接続
され、一端が受光部２１に導かれている。Ａ／Ｄ変換回
路３５は、駆動制御回路１１４から与えられる検査光の
発光タイミングを基準にして受光素子からの信号の時間
的変化を記憶し、適当な時間間隔で各時刻でのアナログ
値をデジタル値に変換する。したがって、発光部２０か
ら検査光が出射されてから反射光が戻ってくるまでの時
間を検出することができる。
る受光素子３４と、この受光素子３４からの信号をデジ
タル値に変換するメモリ付きＡ／Ｄ変換回路３５と、Ａ
／Ｄ変換回路３５からのデジタル値に対して平均化処理
を施す平均化回路３６とを備えている。光ファイバ４１
は光ファイバカプラ３７によって光ファイバ４０に接続
され、一端が受光部２１に導かれている。Ａ／Ｄ変換回
路３５は、駆動制御回路１１４から与えられる検査光の
発光タイミングを基準にして受光素子からの信号の時間
的変化を記憶し、適当な時間間隔で各時刻でのアナログ
値をデジタル値に変換する。したがって、発光部２０か
ら検査光が出射されてから反射光が戻ってくるまでの時
間を検出することができる。
【００１２】コード読取装置５はこのように構成されて
いるので、コンピュータ２２では、検査光波長と識別標
識３９での反射光の到達時間との組み合わせによって、
識別標識３９を構成する各反射部の特定波長とその相対
位置を検出することができる。
いるので、コンピュータ２２では、検査光波長と識別標
識３９での反射光の到達時間との組み合わせによって、
識別標識３９を構成する各反射部の特定波長とその相対
位置を検出することができる。
【００１３】各光線路５０には、それぞれ固有の識別標
識（コード）３９が線路中に書き込まれている。識別標
識３９は、特定波長のみの光を反射する反射部を複数箇
所に設け、光線路毎に反射部の特定波長および相対位置
の組み合わせをかえたものである。識別標識３９を構成
する反射部のそれぞれは、光線路５０の屈折率を局所的
に変化させた縞で構成され、屈折率変化の空間周波数等
を適当に設定することで、その反射部固有の反射光波長
を得ることができる。図３（ａ）に示すように、光線路
５０に屈折率を一定周期で変化させた縞で反射部１００
を作る。この縞１００の周期（相隣る屈折率変化点の間
隔）をｄ、反射部における光線路の屈折率をｎとする
と、反射光波長λは、λ＝２ｎｄで表されることから、
ｄおよびｎを適当に設定すれば、所望の反射光波長を得
ることができる。このようにして得た反射部１００を同
図（ｂ）に示すように光線路５０上に複数箇所（同図で
は５箇所）設け、各反射部１００の反射光波長λ１〜λ
５の値およびその相対位置を適当に設定して識別標識３
９とする。屈折率はＵＶ光（紫外線）を光線路５０に局
所的に照射することにより変化させることができるの
で、これを利用して所望の波長のみを反射させる反射部
を形成できる。
識（コード）３９が線路中に書き込まれている。識別標
識３９は、特定波長のみの光を反射する反射部を複数箇
所に設け、光線路毎に反射部の特定波長および相対位置
の組み合わせをかえたものである。識別標識３９を構成
する反射部のそれぞれは、光線路５０の屈折率を局所的
に変化させた縞で構成され、屈折率変化の空間周波数等
を適当に設定することで、その反射部固有の反射光波長
を得ることができる。図３（ａ）に示すように、光線路
５０に屈折率を一定周期で変化させた縞で反射部１００
を作る。この縞１００の周期（相隣る屈折率変化点の間
隔）をｄ、反射部における光線路の屈折率をｎとする
と、反射光波長λは、λ＝２ｎｄで表されることから、
ｄおよびｎを適当に設定すれば、所望の反射光波長を得
ることができる。このようにして得た反射部１００を同
図（ｂ）に示すように光線路５０上に複数箇所（同図で
は５箇所）設け、各反射部１００の反射光波長λ１〜λ
５の値およびその相対位置を適当に設定して識別標識３
９とする。屈折率はＵＶ光（紫外線）を光線路５０に局
所的に照射することにより変化させることができるの
で、これを利用して所望の波長のみを反射させる反射部
を形成できる。
【００１４】識別標識３９は、図１における局舎１と端
子函２との間の光線路、端子函２と加入者宅３との間の
光線路のそれぞれに設けられている。局舎１と加入者宅
３との間に端子函が複数個介在する場合は、端子函間の
光線路にも識別標識が設けられる。
子函２との間の光線路、端子函２と加入者宅３との間の
光線路のそれぞれに設けられている。局舎１と加入者宅
３との間に端子函が複数個介在する場合は、端子函間の
光線路にも識別標識が設けられる。
【００１５】つぎに、識別標識３９の読取方法を説明す
る。たとえば、反射波長としてλ１からλｎまでのｎ種
の波長を用いてｎ進数コード作る。つまり、各波長に１
からｎまでの整数を割り当てる。そして、これらの波長
の中から適当に選択された波長特性をもつ反射部を光線
路５０上でｍ箇所に設ける。これによって、反射部の特
定波長と相対位置からｍ桁のｎ進数コードを作ることが
できる。コード読取装置５は上述したように、検査光に
用いた波長とその反射光の到達時間を検出することがで
きるので、このコードを読み取ることができる。図４
は、ある任意の識別標識を構成する反射部の波長と相対
位置との対応表を示している。この表は、波長λ２が１
番目、波長λ１が２番目、波長λ３が３番目に形成され
た例を示しており、これを読取りコードに変換すると
「２１３…」となる。
る。たとえば、反射波長としてλ１からλｎまでのｎ種
の波長を用いてｎ進数コード作る。つまり、各波長に１
からｎまでの整数を割り当てる。そして、これらの波長
の中から適当に選択された波長特性をもつ反射部を光線
路５０上でｍ箇所に設ける。これによって、反射部の特
定波長と相対位置からｍ桁のｎ進数コードを作ることが
できる。コード読取装置５は上述したように、検査光に
用いた波長とその反射光の到達時間を検出することがで
きるので、このコードを読み取ることができる。図４
は、ある任意の識別標識を構成する反射部の波長と相対
位置との対応表を示している。この表は、波長λ２が１
番目、波長λ１が２番目、波長λ３が３番目に形成され
た例を示しており、これを読取りコードに変換すると
「２１３…」となる。
【００１６】上記の実施例では、Ａ／Ｄ変換回路３５を
駆動制御回路１１４からのタイミング信号に基づいて動
作させているが、光ファイバ４１の他端に受光素子を設
けて検査光の入射タイミングを検出し、この検出信号を
Ａ／Ｄ変換回路３５に対する動作タイミング信号として
もよい。
駆動制御回路１１４からのタイミング信号に基づいて動
作させているが、光ファイバ４１の他端に受光素子を設
けて検査光の入射タイミングを検出し、この検出信号を
Ａ／Ｄ変換回路３５に対する動作タイミング信号として
もよい。
【００１７】なお、図５に示すように、識別標識を光線
路中に直接書き込む代わりに、識別標識１００が書き込
まれた分岐光線路１０１をファイバカプラ１０２などを
用いて付加してもよい。
路中に直接書き込む代わりに、識別標識１００が書き込
まれた分岐光線路１０１をファイバカプラ１０２などを
用いて付加してもよい。
【００１８】図６は、識別標識３９として用いる反射部
の別の構成例を示す部分切り欠き斜視図である。この例
では、特定波長のみ反射する反射部として光フィルタが
用いられている。この識別標識の形成方法を簡単に説明
する。シリコン基板２００上に２本のＶ溝２０１、２０
２を形成し、それぞれに光線路である２心テープファイ
バ２０３の各光ファイバ２０４、２０５を埋め込む。そ
の後、上からシリコン蓋２０６を被せて樹脂２０７で固
め、光ファイバ２０４、２０５を固定する。ついで、シ
リコン蓋２０６の上からシリコン基板２００に溝２０８
を形成することにより、光ファイバ２０４、２０５を切
断する。そして、溝２０８に所望の単色反射光フィルタ
２１０を嵌め込むことにより、光線路中に特定波長のみ
反射する反射部を形成したことになる。この光フィルタ
２１０は例えば誘電体多層膜などで構成される。この光
フィルタによる方法を用いると、光線路がこの例のよう
に２心テープファイバあるいはそれ以上の多心テープフ
ァイバである場合に、各光ファイバに対して同時に同じ
識別標識を設けることが可能である。
の別の構成例を示す部分切り欠き斜視図である。この例
では、特定波長のみ反射する反射部として光フィルタが
用いられている。この識別標識の形成方法を簡単に説明
する。シリコン基板２００上に２本のＶ溝２０１、２０
２を形成し、それぞれに光線路である２心テープファイ
バ２０３の各光ファイバ２０４、２０５を埋め込む。そ
の後、上からシリコン蓋２０６を被せて樹脂２０７で固
め、光ファイバ２０４、２０５を固定する。ついで、シ
リコン蓋２０６の上からシリコン基板２００に溝２０８
を形成することにより、光ファイバ２０４、２０５を切
断する。そして、溝２０８に所望の単色反射光フィルタ
２１０を嵌め込むことにより、光線路中に特定波長のみ
反射する反射部を形成したことになる。この光フィルタ
２１０は例えば誘電体多層膜などで構成される。この光
フィルタによる方法を用いると、光線路がこの例のよう
に２心テープファイバあるいはそれ以上の多心テープフ
ァイバである場合に、各光ファイバに対して同時に同じ
識別標識を設けることが可能である。
【００１９】図７は、光フィルタをコネクタに設けた例
を示す斜視図である。この例は、反射部である光フィル
タをコネクタの端面に設けることで、その取り付けを容
易にしたものである。コネクタは、ガイドピン２２１を
有する雄コネクタ２２０と、ガイドピン２２１用の受け
穴２２２を有する雌コネクタ２２３で構成されている。
各コネクタ２２０、２２３は２枚のシリコンチップ２２
４、２２５を重ねてエポキシ樹脂２２６で固めた構造を
有する。シリコンチップ２２４にはテープファイバ２２
７を構成する光ファイバと同数またはそれ以上のＶ溝２
２８が形成されており、各光ファイバがこれらのＶ溝中
に固定されている。ガイドピン２２１を受け穴２２２に
挿入することにより、雄コネクタ２２０側の光ファイバ
と、雌コネクタ２２３側の光ファイバがそれぞれ１対１
に結合される。この結合の際に、単色反射光フィルタ２
３０を間に介在させることで、光線路中に反射部を形成
することができる。この例では、光フィルタ２３０がコ
ネクタ２２０、２２３と別体のものであるが、雌コネク
タ２２３の端面に誘電体多層膜を蒸着して形成してもよ
い。
を示す斜視図である。この例は、反射部である光フィル
タをコネクタの端面に設けることで、その取り付けを容
易にしたものである。コネクタは、ガイドピン２２１を
有する雄コネクタ２２０と、ガイドピン２２１用の受け
穴２２２を有する雌コネクタ２２３で構成されている。
各コネクタ２２０、２２３は２枚のシリコンチップ２２
４、２２５を重ねてエポキシ樹脂２２６で固めた構造を
有する。シリコンチップ２２４にはテープファイバ２２
７を構成する光ファイバと同数またはそれ以上のＶ溝２
２８が形成されており、各光ファイバがこれらのＶ溝中
に固定されている。ガイドピン２２１を受け穴２２２に
挿入することにより、雄コネクタ２２０側の光ファイバ
と、雌コネクタ２２３側の光ファイバがそれぞれ１対１
に結合される。この結合の際に、単色反射光フィルタ２
３０を間に介在させることで、光線路中に反射部を形成
することができる。この例では、光フィルタ２３０がコ
ネクタ２２０、２２３と別体のものであるが、雌コネク
タ２２３の端面に誘電体多層膜を蒸着して形成してもよ
い。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明の識別方法に
よれば、識別標識を構成する複数の反射部の反射光波長
および相対位置の組み合わせを光線路ごとに異なるもの
としておき、識別標識からの反射光によって反射部の特
定波長および相対位置を測定することにより、その測定
結果から容易にかつ正確に光線路を識別できる。したが
って、端子函における切り換え作業の際の接続の確認に
極めて有効である。
よれば、識別標識を構成する複数の反射部の反射光波長
および相対位置の組み合わせを光線路ごとに異なるもの
としておき、識別標識からの反射光によって反射部の特
定波長および相対位置を測定することにより、その測定
結果から容易にかつ正確に光線路を識別できる。したが
って、端子函における切り換え作業の際の接続の確認に
極めて有効である。
【図１】本発明の識別方法を適用する光線路設備管理シ
ステムを示すブロック図。
ステムを示すブロック図。
【図２】そのコード読取装置の内部構成およびその周辺
装置を示すブロック図。
装置を示すブロック図。
【図３】識別標識の具体例を示す図。
【図４】反射光をコード情報に変換する方法についての
説明図。
説明図。
【図５】識別標識用の分岐光線路を示す図。
【図６】反射部の別の構成例を示す斜視図。
【図７】反射部のさらに別の構成例を示す斜視図。
１…局舎、２…端子函、３…加入者宅、４…伝送装置、
５…コード読取装置、６…制御装置、２０…発光部、２
１…受光部、３９…識別標識、５０…光線路。
５…コード読取装置、６…制御装置、２０…発光部、２
１…受光部、３９…識別標識、５０…光線路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大槻 文男 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 勝山 豊 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平４−84727（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−309904（ＪＰ，Ａ) 電子情報通信学会大会講演論文集、 1991〔秋季４〕（1991）ｐ．４．51 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02B 6/00 G01M 11/00
Claims (5)
- 【請求項１】 光線路上に特定波長のみの光を反射する
反射部を複数箇所に設け、光線路毎に前記反射部の特定
波長および相対位置の組み合わせをかえて識別標識と
し、これらの光線路に対して検査光を入射したときの前
記識別標識からの反射光によって前記特定波長および相
対位置を測定し、この測定結果に基づいて光線路を識別
する光線路の識別方法。 - 【請求項２】 光線路のそれぞれに分岐線路を付加し、
これらの分岐線路上に特定波長のみの光を反射する反射
部を複数箇所に設け、光線路毎に前記反射部の特定波長
および相対位置の組み合わせをかえて識別標識とし、前
記光線路に対して検査光を入射したときの前記識別標識
からの反射光によって前記特定波長および相対位置を測
定し、この測定波長に基づいて光線路を識別する光線路
の識別方法。 - 【請求項３】 反射部が光線路の屈折率を局所的に変化
させた縞であることを特徴とする請求項１または２のい
ずれかに記載の光線路の識別方法。 - 【請求項４】 反射部が光線路中に挿入した光フィルタ
であることを特徴とする請求項１または２のいずれかに
記載の光線路の識別方法。 - 【請求項５】 光線路が複数の光コネクタで接続されて
おり、反射部である光フィルタが前記各光コネクタの端
面に形成されていることを特徴とする請求項４に記載の
光線路の識別方法。
Priority Applications (17)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04112818A JP3078105B2 (ja) | 1992-05-01 | 1992-05-01 | 光線路の識別方法 |
| AU42713/93A AU666382B2 (en) | 1992-05-01 | 1993-04-28 | Method for identifying optical line |
| DE69333369T DE69333369T2 (de) | 1992-05-01 | 1993-04-28 | Verfahren zur Identifikation einer optischen Leitung |
| US08/170,297 US5506674A (en) | 1992-05-01 | 1993-04-28 | Method for identifying an optical fiber using a pattern of reflected light |
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