KR960024875A - 모드 설정회로를 구비한 정보처리 장치 - Google Patents

모드 설정회로를 구비한 정보처리 장치 Download PDF

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KR960024875A
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유끼히사 오가따
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가네꼬 히사시
닛뽕덴끼 가부시끼가이샤
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Abstract

모든 설정회로를 포함하는 정보처리 장치는, 파워온 테스트 동작으로 설정하는 설정수단과, 테스트 동작 모드에서 입력포트로주터의 읽기 데이타에 대한 일치수단과, 읽기 데이타가 기준 데이타와 일치되는 경우 테스트 동작 모드를 유지하고, 읽기 데이타가 기준 데이타와 일치하지 않는 경우에도 테스트 동작 모드를 사용자 동작 모드로 전환하는 수단으로 이루어 진다.

Description

모드 설정회로를 구비한 정보처리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 제1실시예에 의한 정보처리 장치를 도시하는 회로도, 제5도는 본 발명의 제1실시에 의해 테스트 동작모드에서 사용하는 정보처리 장치를 도시하는 회로도.

Claims (2)

  1. 정보처리 장치에 있어서, 파워온시 테스트 동작 모드를 강제적으로 설정하고, 상기 테스트 동작모드를 설정한 후에, 상기 테스트 동작 모드를 계속 유지할 것인지 사용자 동작 모드로 전환할 것인지를 결정하는 모드 설정회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 정보처리 장치.
  2. 모드 설정회로를 구비한 정보처리 장치에 있어서, 파워온시 초기화 신호를 출력하기 위한 파워온 클리어 회로와 상기 초기화 신호에 반응하여 테스트 동작 모드 설정신호를 출력하고 오버플로우 신호에 반응하여 테스트 동작 모드-리세트 신호를 출력하는 플립플롭과, 상기 테스트 동작 모드 설정신호에 반응하여 테스트 동작 모드를 선택하고, 상기 테스트 동작 모드 리세트 신호에 반응하여 사용자 동작 모드를 선택하여 스위치와, 상기 테스트 동작 모드 설정신호에 반응하여 동작하고 소정 시간 주기가 지나도록 테스트 동작 모드 유지 요청신호가 부존재할 때에 상기 테스트 동작 모드 유지 취소 신호를 발생하는 타이머 및, 입력 포트로부터 읽기 데이타가 과학 데이타와 일치하는 경우에는 상기 테스트 동작 모드 요청 신호를 출력하는 결정수단으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 모드 설정회로를 포함한 정보처리 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950061541A 1994-12-28 1995-12-28 모드 설정회로를 구비한 정보처리 장치 KR100205847B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100496784B1 (ko) * 1997-06-24 2005-09-14 삼성전자주식회사 반도체메모리장치의mrs

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6059450A (en) * 1996-12-21 2000-05-09 Stmicroelectronics, Inc. Edge transition detection circuitry for use with test mode operation of an integrated circuit memory device
JP4132232B2 (ja) * 1998-06-16 2008-08-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JP3292145B2 (ja) 1998-06-26 2002-06-17 日本電気株式会社 半導体記憶装置
EP1030313B1 (en) 1999-02-16 2015-04-01 Fujitsu Semiconductor Limited Semiconductor device having test mode entry circuit
JP2001075834A (ja) * 1999-09-06 2001-03-23 Mitsubishi Electric Corp バーンイン回路
JP2001228936A (ja) * 2000-02-18 2001-08-24 Mitsubishi Electric Corp 内部リセット信号生成回路を備えるマイクロコンピュータ
KR100791075B1 (ko) * 2006-11-15 2008-01-03 삼성전자주식회사 파워 업 리셋 회로 및 이를 구비한 반도체 장치
JP2012160021A (ja) * 2011-01-31 2012-08-23 Toshiba Corp デジタル制御装置およびその実行方法
JP6090017B2 (ja) * 2013-07-10 2017-03-08 富士ゼロックス株式会社 コンピュータシステム

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5878243A (ja) * 1981-11-05 1983-05-11 Fuji Xerox Co Ltd 診断プログラム実行方式
JPH083740B2 (ja) * 1987-06-19 1996-01-17 株式会社ゼクセル 制御装置
JPH0216473A (ja) * 1988-07-04 1990-01-19 Nec Corp モード設定回路
JPH0219931A (ja) * 1988-07-08 1990-01-23 Fujitsu Ltd マイクロプロセッサのテストモード制御方式
JPH0331962A (ja) * 1989-06-28 1991-02-12 Nec Corp 初期化及び診断終了認識システム
US5142688A (en) * 1989-11-03 1992-08-25 Motorola, Inc. Data processor test mode access method
JPH04195546A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Nec Corp マイクロコンピュータのテストモード設定回路
JPH05233352A (ja) * 1992-02-19 1993-09-10 Nec Corp マイクロプロセッサ
JP3147991B2 (ja) * 1992-05-25 2001-03-19 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH0757472A (ja) * 1993-08-13 1995-03-03 Nec Corp 半導体集積回路装置
JP3142435B2 (ja) * 1994-02-15 2001-03-07 株式会社東芝 半導体集積回路装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100496784B1 (ko) * 1997-06-24 2005-09-14 삼성전자주식회사 반도체메모리장치의mrs

Also Published As

Publication number Publication date
KR100205847B1 (ko) 1999-07-01
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US5767694A (en) 1998-06-16
JPH08185331A (ja) 1996-07-16
EP0721163A1 (en) 1996-07-10
TW293982B (ko) 1996-12-21

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