KR960015588A - Loc형 반도체 메모리 소자 - Google Patents

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Abstract

2개의 열과 2개의 행의 메모리 셀 어레이(1a, 1b, 1c, 1d)를 구비하는 반도체 메모리 소자에 있어서, 패드(2a)를 구비하는 데이타 입력/출력 회로(2)와 상기 패드(4a)를 구비하는 제어 신호 회로(4)는 메모리 셀 어레이의 한 행 사이에 정렬되며, 상기 패드(3-1a, 3-2a)를 갖는 어드레스 신호 회로(3-1, 3-2)는 메모리 셀 어레이의 다른 행의 외부에 배치된다.

Description

LOC형 반도체 메모리 소자
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명에 따른 LOC형 반도체 기억 소자의 실시예를 도시하는 칩 레이아웃 다이어그램,
제7도는 제6도 리드의 평면도.

Claims (10)

  1. 반도체 메모리 소자에 있어서, 제1 및 제2메모리 셀 어레이가 제1열에 정렬되고, 제3 및 제4메모리 셀 어레이가 제2열에 정렬되며, 제1 및 제3메모리 셀 어레이가 제1행에 정렬되고, 제2 및 제4메모리 셀 어레이가 제2행에 정렬되는 구성으로 된 제1, 제2, 제3 및 제4메모리 셀 어레이(1a, 1b, 1c, 1d)와, 상기 제1메모리 셀 어레이와 제3메모리 셀 어레가 사이에 정렬된 데이타 입력/출력 회로(2) 빛 데이타 입력/출력 패드(2a)와, 상기 제1메모러 셀 어레이와 제3메모리 셀 어레가 사이에 정렬된 제어 신호 회로(4) 및 제어 신호 패드(4a)와, 상기 제4메모리 셀 어레이의 반대쪽에서 제2메모리 셀 어레이의 외측면에 정렬된 제1어드레스 신호 회로(3-1) 및 제1어드레스 신호 패드(3-1a)와, 상기 제2메모리 셀 어레이의 반대쪽애서 제4메모리 셀 어레이의 외측면에 배치된 제2어드레스 신호 회로(3-2) 및 제2어드레스 신호 패드(3-2a)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  2. 제1항에, 있어서, 상기 제1메모리 셀 어레가 및 데이타 입력/출력 회로의 사이와, 제1메모리 셀 어레이 및 제어 신호 회로의 사이와, 제12메모리 셀 어레이 및 제4메모리 셀 어레이의 사이에 배치되며 동시에 제1및 제2메모리 셀 어레가 및 데이타 입력/출력 회로에 연결되는 제1데이타 버스(5-1)와, 상기 제3메모리 셀 어레이 및 데이타 입력/출력 회로의 사이와, 제3메모리 셀 어레이 및 제어 신호 회로의 사이와, 제2메모리 셀 어레이 및 제4메모리 셀 어레이의 사이에 배치되며 동시에 제3 및 제4메모리 셀 어레이 및 데이타 입력/출력 회로에 연결되는 제2데이타 버스(5-2)를 부가로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2 및 제4메모리 셀 어레이의 반대쪽에서 제1 및 제3메모리 셀 어레이의 외측면에 배치된 제1전력 공급 패드(6-1) 및 제1접지 패드(8-1)와, 상기 제1, 제2, 제3 및 제4메모리 셀 어레이 중에서 대략 중앙 위치에 배치된 제2전력 공급 패드(6-2) 및 제2접지 패드(8-2)와, 상기 제1 및 제3메모리 셀 어레이의 반대쪽에서 제2 및 제4메모리 셀 어레이의 외측면에 배치된 제3진력 공급 패드(6-3) 및 제3첩지 패드(8-3)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1 및 제3메모리 셀 어레이의 외측면에서 제1 및 제3메모리 셀 어레이 사이의 공간까지 연장하며 동시에 접착와이어에 의해 데이타 입력/출력 패드에 연결되는 데이타와 입력/출력 리드(11-1, 1-2)와, 상기 제1 및 제2메모리 셀 어레이의 외측면에서 제1 및 제3메모리 셀 어레이사이의 공간까지 연장하며 동시에 접착와이어에 의해 제어 신호 패드에 연결되는 제어 신호 리드(13-1, 13-2)와, 제2 및 제4메모리 셀 어레이를 거쳐 연장하며 동시에 접착 와이어에 의해 어드레스 신호 패드에 연결되는 어드레스 신호 리드(12-1, 12-2)와, 제1 및 제3메모리 셀 어레이의 외측면에서 제1 및 제3메모리 셀 어레이 사이의 공간까지 연장하며 동시에 접착와이어에 의해 제1전력 공급 패드 및 제1접지 패드에 각각 연결되는 제1전력 공급 리드(6-1) 및 제1접지 리드(8-1)와, 상기 제2 및 제4메모리 셀 어레이의 외측면에서 제2 및 제4메모리 셀 어레이 사이의 공간까지 연장하며 또 제2전력 공급 패드 및 제2접지 패드의 근처에서 제3전력 공급 패드 및 제3접지 패드의 근처까지 연장하며 동시에 제2전력공급핀이 접착 와이어에 의해 제2 및 제3전력 공급 패드에 연결되고 또한 제2접지핀이 접착 와이어에 의해 제2 및 제3접지 패드에 연결되는 구성으로 된 제2전력 공급 패드(6-2) 및 제2접지 리드(8-2)를 포함하는 리드 프레임을 부가로 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제3메모리 셀 어레이 사이의 거리는 상기 제2 및 제4메모리 셀 어레이 사이의 거리보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  6. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2메모리 셀 어레이와 상기 제1어드레스 신호 회로는 상기 제3 및 제4메모리 셀 어레이와 상기 제2어드레스 신호 회로에 대칭인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  7. 반도체 소자에 있어서, 제1 및 제2회로 어레이가 제1열에 정렬되고, 제3 및 제4회로 어레이가 제2열에 정렬되며, 제1 및 제3회로 어레이가 제1행에 정렬되고, 제2 및 제4회로 어레이가 제2행에 정렬되는 구성으로된 제1, 제2, 제3 및 제4회로 어레이(1a, 1b, 1c, 1d)와, 상기 제1회로 어레이와 제3회로 어레이 사이에 정렬된 제1패드(2a, 4a)와; 상기 제4회로 어레이와 대향되어 상기 제2회로 어레이의 외부에 정렬된 제2패드(3-1a)와; 상기 제2회로 어레이와 대향되어 상기 제4회로 어레이의 외부에 정렬된 제3패드(3-2a)와; 상기 제2 및 제4회로 어레이와 대향되어 제1 및 제3회로 어레이의 외부에 정렬된 제1전력 공급 패드(6-1) 및 제1접지 패드(8-1)와; 상기 제1, 제2, 제3 및 제4회로 어레이 사이에서 근접된 중앙 위치에 정렬된 제2전력 공급 패드(6-2) 및 제2집지 패드(8-2)와; 상기 제1 및 제3회로 어레이와 대향되어 제2 및 제4회로 어레이의 외부에 정렬된 제3전력 공급 패드(6-3)와; 상기 제1 및 제3회로 어레이의 외부로부터 상기 제1 및 제3회로 어레이 사이의 공간까지 연장되어 있으며, 상기 제1패드에 결합 와이어로 연결되는 제1리드(11-1, 12-2, 13-1, 13-2)와; 상기 제2 및 제4회로 어레이로 연장되며 상기 제2패드에 결합 와이어에 의해 연결되는 제2리드(12-1, 12-2)와; 상기 제1 및 제3회로 어레이의 외부로부터 제1 및 제2회로 어레이 사이의 공간까지 연장되며 제1전력 공급 패드 및 제1접지 패드 각각에 결합 와이어에 의해 연결되는 제1전력 공급 리드(14-1a)와 제1리드(14-2a) 및; 상기 제2 및 제4회로 어레이의 외부로부터 상기 제2 및 제4회로 어레이 사이의 공간까지 연장되어 있고, 상기 제2전력 공급 패드 및 상기 제2접지 패드의 이웃부로부더 상기 제3전력 공급 패드 및 상기 제3접지 패드의 이웃부까지 연장되어 있으며, 제2전력 공급 리드가 결합 와이어에 의해 상기 제2 및 제3전력 공급 패드에 연결되며, 상기 제2 및 제3접지 리드는 결합 와이어에 의해 제2 및 제3접지 패드에 연결되는 제2전력 공급 리드(14-1b)와 제2접지 리드(14-2b)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자.
  8. 제7항에 있어서, 상기 제1회로 어레이와 제1패드 사이에 그리고 제2회로 어레이와 제4회로 어레이 사이에 정렬되며 상기 제1 및 제2회로 어레이와 상기 제1패드에 연결되는 제1버스(5-1)와; 상기 제3회로 어레이와 제1패드 사이에 그리 제2회로 어레이와 제4회로 어레이 사이에 배치되며 상기 제3 및 제4회로 어레이와 제1패드에 연결된 제2버스(5-2)를 부가로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자.
  9. 제7항에 있어서, 상기 제1 및 제3회로 어레이 사이의 거리는 상기 제2 및 제4회로 어레이 사이의 거리보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 소자.
  10. 제7항에 있어서, 상기 제1 및 제2회로 어레이와 제2패드는 상기 제3 및 제4회로 어레이와 제3패드에 대칭인 것을 특징으로 하는 반도체 소자.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100382739B1 (ko) * 2001-04-13 2003-05-09 삼성전자주식회사 비대칭 데이터 경로를 갖는 반도체 메모리 장치
KR100849071B1 (ko) * 2007-05-31 2008-07-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5744870A (en) * 1996-06-07 1998-04-28 Micron Technology, Inc. Memory device with multiple input/output connections
JPH10269765A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH11195766A (ja) * 1997-10-31 1999-07-21 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
KR100311035B1 (ko) * 1997-11-21 2002-02-28 윤종용 효율적으로 배치된 패드들을 갖는 반도체 메모리 장치
US5896310A (en) * 1997-12-24 1999-04-20 Texas Instruments Incorporated Multiple bank memory with over-the-array conductors programmable for providing either column factor or y-decoder power connectivity
JPH11283386A (ja) * 1998-03-31 1999-10-15 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
JPH11306763A (ja) * 1998-04-23 1999-11-05 Nec Corp 半導体記憶装置
JP3996267B2 (ja) * 1998-05-12 2007-10-24 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置
GB2348317B (en) * 1998-06-23 2001-03-07 Samsung Electronics Co Ltd An arrangement of data input/output circuits for use in a semiconductor memory device
JP2005092969A (ja) 2003-09-16 2005-04-07 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置
US7570523B2 (en) * 2006-07-31 2009-08-04 Sandisk 3D Llc Method for using two data busses for memory array block selection
US7499366B2 (en) 2006-07-31 2009-03-03 Sandisk 3D Llc Method for using dual data-dependent busses for coupling read/write circuits to a memory array
US8279704B2 (en) * 2006-07-31 2012-10-02 Sandisk 3D Llc Decoder circuitry providing forward and reverse modes of memory array operation and method for biasing same
US7463536B2 (en) * 2006-07-31 2008-12-09 Sandisk 3D Llc Memory array incorporating two data busses for memory array block selection
JP5419431B2 (ja) * 2008-11-28 2014-02-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP2013021528A (ja) * 2011-07-12 2013-01-31 Elpida Memory Inc 半導体装置、及び出力バッファのインピーダンスを調整する方法
JP5535351B1 (ja) 2013-03-01 2014-07-02 株式会社東芝 半導体装置
JP6081229B2 (ja) 2013-03-01 2017-02-15 株式会社東芝 半導体装置、無線装置、及び記憶装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5208782A (en) * 1989-02-09 1993-05-04 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device having a plurality of memory blocks and a lead on chip (LOC) arrangement
US5251168A (en) * 1991-07-31 1993-10-05 Texas Instruments Incorporated Boundary cells for improving retention time in memory devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100382739B1 (ko) * 2001-04-13 2003-05-09 삼성전자주식회사 비대칭 데이터 경로를 갖는 반도체 메모리 장치
KR100849071B1 (ko) * 2007-05-31 2008-07-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US5627792A (en) 1997-05-06
KR100207765B1 (ko) 1999-07-15
JPH08125143A (ja) 1996-05-17
JP2647023B2 (ja) 1997-08-27

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