KR950025447A - 반도체 시험장치용 패턴 발생기 - Google Patents

반도체 시험장치용 패턴 발생기 Download PDF

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KR950025447A
KR950025447A KR1019950002048A KR19950002048A KR950025447A KR 950025447 A KR950025447 A KR 950025447A KR 1019950002048 A KR1019950002048 A KR 1019950002048A KR 19950002048 A KR19950002048 A KR 19950002048A KR 950025447 A KR950025447 A KR 950025447A
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KR
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sequence
control signal
memory
storing memory
test vector
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KR1019950002048A
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Inventor
나오히로 이케다
Original Assignee
오우라 히로시
가부시키가이샤 아드반테스트
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
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    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

본 발명의 목적은 반도체 시험 장치내에 있어서의 패턴 발생기의 회로를 축소시키고, 능력의 확장이 필요할 때에는 간편하고 용이하게 제공할 수 있게 하는데 있다. 이 때문에 복수개의 테스트 벡터 격납메모리(2)를 액세스하는 발생부(10)를 상기 테스트 벡터 격납 메모리(2)에 대응하여 하나씩 설치하고, 제어신호(9)를 시퀀스 콘트롤B(8)에서 분배하여 패턴을 발생시키는 구성을 갖는다.

Description

반도체 시험장치용 패턴 발생기
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예의 패턴 발생기의 구성을 나타낸 블록도,
제2도는 본 발명의 실시예에 의한 패턴 발생기의 타이밍 챠트도,
제3도는 본 발명 실시예의 시퀀스 콘트롤부의 구성을 나타낸 블록도.

Claims (5)

  1. 메모리의 용량의 깊이에 따라서 복수개로 나누어진 테스트 벡터 격납 메모 리(2)를 액세스하는 어드레스 발생부(10)를 상기 테스트 벡터 격납 메모리(2)에 대응하여 하나씩 설치하고, 제어신호(9)를 발생하는 시퀀스 콘트롤 B(8)를 설치하며, 상기 제어신호(9)를 분배하여 이것을 어드레스 발생부(10)에 대응하게 각각 입력하기 위한 플립플롭 회로(5)를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용 패턴 발생기.
  2. 메모리의 용량의 깊이에 따라서 복수개로 나누어진 테스트 벡터 격납 메모리(2)를 엑세스하는 어드레스 발생부(10)를 상기 테스트 벡터 격납 메모리(2)에 대응하게 하나씩 설치하고, 한개만으로 이루어진 제어신호(9)를 발생하는 시퀀스 콘트롤 B(8)를 설치하며, 상기 제어신호(9)를 분배하여 이것을 어드레스 발생부(10)에 대응하여 각각 입력하기 위한 플립플롭 회로(5)를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용 패턴 발생기.
  3. 시퀀스가 격납되어 있는 시퀀스 격납 메모리(14)와, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)를 액세스하는 시퀀스 어드레스 발생기(13)와, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)의 출력신호에 의해 감산해 가는 리피트 카운터(15)와, 상기 리피트 카운터(15)의 카운트치가 설정치와 일치하는 것을 검출하는 검출회로(16)와, 를 포함하는 시퀀스 콘트롤(8)을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용 패턴 발생기.
  4. 메모리의 용량의 깊이에 따라서 복수개로 나누어진 테스트 벡터 격납 메모리(2)를 액세스하는 어드레스 발생부(10)를 상기 테스트 벡터 격납 메모리(2)에 대응하여 하나씩 설치하고, 제어신호(9)를 발생하는 시퀀스 콘트롤 B(8)를 설치하며, 상기 제어신호(9)를 분배하여 이것을 어드레스 발생부(10)에 대응하게 각각 입력시키기 위한 플립플롭 회로(5)를 설치하고, 시퀀스 콘트롤(8)로서, 시퀀스가 격납되어 있는 시퀀스 격납 메모리(14)를 설치하며, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)를 액세스하는 시퀀스어드레스 발생기(13)를 설치하고, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)의 출력신호에 의해 감산해 가는 리피트 카운터(15)를 설치하며, 상기 리피트 카운터(15)의 카운트치가 설정치와 일치하는 것을 검출하는 검출 회로(16)를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 시험장치용 패턴 발생기.
  5. 메모리의 용량의 깊이에 따라서 복수개로 나누어진 테스트 벡터 격납 메모리(2)를 액세스하는 어드레스 발생부(10)를 상기 테스트 벡터 격납 메모리(2)에 대응하여 하나씩 설치하고, 한개만으로 이루어진 제어신호(9)를 발생하는 시퀀스 콘트롤 B(8)를 설치하며, 상기 제어신호(9)를 분배하여 이것을 어드레스 발생부(10)에 대응하여 각각 입력시키기 위한 플립플롭 회로(5)를 설치하고, 시퀀스 콘트롤(8)로서, 시퀀스가 격납되어 있는 시퀀스 격납 메모리(14)를 설치하며, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)를 엑세스하는 시퀀스 어드레스 발생기(13)를 설치하고, 상기 시퀀스 격납 메모리(14)의 출력 신호에 의해 감산해가는 리피트 카운터(15)를 설치하며, 상기 리피트 카운터(15)의 카운트치가 설정치와 일치하는 것을 검출하는 검출회로(16)를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 시험 장치용 패턴 발생기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950002048A 1994-02-09 1995-02-06 반도체 시험장치용 패턴 발생기 KR950025447A (ko)

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JP94-036526 1994-02-09
JP6036526A JPH07225261A (ja) 1994-02-09 1994-02-09 半導体試験装置用パターン発生器

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KR1019950002048A KR950025447A (ko) 1994-02-09 1995-02-06 반도체 시험장치용 패턴 발생기

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DE19502828A1 (de) 1995-08-10

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