KR960019322A - 반도체 메모리 시험장치 - Google Patents

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KR960019322A
KR960019322A KR1019950042818A KR19950042818A KR960019322A KR 960019322 A KR960019322 A KR 960019322A KR 1019950042818 A KR1019950042818 A KR 1019950042818A KR 19950042818 A KR19950042818 A KR 19950042818A KR 960019322 A KR960019322 A KR 960019322A
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신야 사토
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오우라 히로시
가부시키가이샤 아드반테스트
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Abstract

불량 해석 메모리(15)에 어드레스를 행 또는 열 방향으로 압축하여 인가할 수 있는 회로를 실현한다. 이 때문에, 패턴 발생부(120)로부터 발생된 어드레스 신호를 독립하여 임의로 선택할 수 있으며, 논리비교기(14)로부터의 페일 신호에 의해 불량 해석 메모리(15)에 불량 정보를 격납하기 위해, 어드레스 지정하는 불량 해석 메모리용 어드레스 선택부(124)를 설치한다. 또한, 패턴 발생부(120)로부터 발생된 어드레스 신호를 독립하여 임의로 선택할 수 있으며, 패턴 메모리(122)로부터 기대치 패턴을 발생시키기 위하여, 어드레스 지정하는 패턴 메모리용 어드레스 선택부(123)를 설치한다.

Description

반도체 메모리 시험장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 불량 해석 메모리 및 패턴 메모리에 인가하는 각 어드레스 회로 구성을 도시하는 블록도,
제2도는 본 발명의 회로 구성에서의 동작예를 도시하는 설명도.

Claims (1)

  1. 패턴 메모리(122)와 패턴 발생부(120)를 갖는 패턴 발생기(12)와, 피시험메모리(10)로부터의 출력 데이타와 해당 패턴 발생기(12)로부터의 기대치 데이타를 비교하는 논리비교기(14)와, 해당 논리비교기(14)로부터의 페일 신호를 격납하는 불량 해석 메모리(15)로 구성되는 반도체 메모리 시험장치에 있어서, 패턴 발생부(120)로부터 발생된 어드레스 신호를 독립적으로 임의로 선택할 수 있고, 논리비교기(14)로부터의 페일 신호에 의해서, 불량 해석 메모리(15)에 불량 정보를 격납하기 위해, 어드레스 지정되는 불량 해석 메모리용 어드레스 선택부(124)를 설치하고, 패턴 발생부(120)로부터 발생된 어드레스 신호를 독립적으로 임의로 선택할 수 있으며, 패턴 메모리(122)로부터 기대치 패턴을 발생시키기 위해, 어드레스 지정되는 패턴 메모리용 어드레스 선택부(123)를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 시험장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950042818A 1994-11-24 1995-11-22 반도체 메모리 시험장치 KR100199217B1 (ko)

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