KR970705757A - 시험 패턴 발생기(test pattern generator) - Google Patents

시험 패턴 발생기(test pattern generator)

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KR970705757A
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마사루 츠토
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오우라 히로시
가부시키가이샤 아드반테스트
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Abstract

본 발명은 비트마다의 기록 인에이블/디스에이블 제어 가능 피시험 메모리를 시험할 경우에 임의의 초기치에 대하여 기대치의 발생이 용이하게 행해지는 시험 패턴 발생기를 제공한다. 이를 위해서, 명령 메모리(112)로부터의 신호에 의해 제어 신호를 발생하는 XOR 제어기(131)를 설치한다. 그리고, 해당 XOR 제어기(131)의 출력 신호를 1 입력 단자에 받고, 다른 입력 단자에 데이타 발생기B(15)의 출력 반전 신호를 받는 앤드게이트(123)를 설치한다. 그리고 해당 앤드게이트(123)의 출력을 1 입력 단자에 받고, 다른 입력 단자에 데이타 발생기A(14)의 출력 신호를 받는 배타적 논리화 게이트(121)를 설치하여 시험 패턴 발생기를 구성한다.

Description

시험 패턴 발생기(TEST PATTERN GENERATOR)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예를 도시하는 시험 패턴 발생기의 블록도이다.

Claims (2)

  1. 피측정 디바이스(3)를 시험하기 위한 기대치 데이타를 발생시키는 시험 패턴 발생기(10)에 있어서, 명령 메모리(112)로부터의 신호에 의해 제어 신호를 발생시키는 XOR 제어기(131)와; 해당 XOR 제어기(131)의 출력 신호를 받아서 데이타 발생기 A(14)에서 발생된 데이타 신호와, 데이타 발생기 B(15)에서 발생된 데이타 신호와의 배타적논리화를 행하는 배타적 논리화 게이트(121)를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 패턴 발생기.
  2. 피측정 디바이스(3)를 시험하기 위한 기대치 데이타를 발생하는 시험 패턴 발생기(10)에 있어서, 명령 메모리(112)로부터의 신호에 의해 제어 신호를 발생하는 XOR 제어기(131)와; 상기 XOR 제어기(131)의 출력 신호를 1 입력 단자에 받고, 다른 입력 단자에 데이타 발생기B(15)의 출력 반전 신호를 받는 앤트게이트(123)와; 상기 앤드게이트(123)의 출력을 1 입력 단자에 받고, 다른 입력단자에 데이타발생기A(14)의 출력 신호를 받는 배타적 논리화 게이트(121)를 구비한 것을 특징으로 하는 시험 패턴 발생기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960706236A 1996-01-12 1996-01-12 시험 패턴 발생기 KR100238933B1 (ko)

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