KR970705759A - 다비트 시험 패턴 발생기(multibit test pattern generator) - Google Patents
다비트 시험 패턴 발생기(multibit test pattern generator)Info
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- KR970705759A KR970705759A KR1019960706235A KR19960706235A KR970705759A KR 970705759 A KR970705759 A KR 970705759A KR 1019960706235 A KR1019960706235 A KR 1019960706235A KR 19960706235 A KR19960706235 A KR 19960706235A KR 970705759 A KR970705759 A KR 970705759A
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- South Korea
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- data
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
고속이고 다비트 데이타 폭을 가지는 소형의 반도체 메모리용 시험 패턴 발생기를 염가에 제공한다. 이를 제공하기 위해, 피측정 디바이스(5)의 데이타 폭의 n분의 1의 데이타 폭을 갖는 데이타 연산부(30)를 설치하고, 인스트럭션 메모리(131)로 설정되는 n비트로 이루어지는 레지스터(A141)를 설치한다. 그리고, 해당 레지스터(A141) 출력 신호에 의해, 신호의 통과를 제어하는 제어 논리부(151)를 n개 설치하고, 다비트 시험 패턴 발생기를 구성한다. 또한, 해당 제어 논리부의 구성으로서, 해당 레지스터(A141) 출력 신호에 따라, 해당 데이타 연산부(30) 출력 신호를 통과시키는 AND 게이트를 설치하고, 고정 출력을 발생시키는 논리합 게이트를 설치하여 구성하여도 좋다. 또한 플래그 레지스터(34)에 의해, 반전 동작하는 배타적 논리화 게이트(35)를 설치하여 구성하여도 좋다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 72비트 데이타 폭의 다비트 시험 패턴 발생기의 예를 도시한 도면이다.
Claims (3)
- 복수의 데이타 비트 폭으로 이루어지는 피측정 디바이스(5)를 시험하기 위한, 데이타 연산부(30)를 갖는 시험 패턴 발생기에 있어서, 피측정 디바이스(5)의 데이타 폭의 n분의 1의 데이터 폭을 갖는 데이타 연산부(30)와, 인스트럭션 메모리(131)로부터의 제어 신호에 의해 설정되는 n비트로 이루어지는 레지스터A(141)와, 상기 레지스터A(141) 출력 신호에 의해, 상기 데이타 연산부(30) 출력 신호의 통과를 제어하는 n개의 제어 논리부(151,152,153,154)로 구성되는 것을 특징으로 하는 다비트 시험 패턴 발생기.
- 제1항에 있어서, 상기 제어 논리부(151,152,153,154)는, 상기 레지스터A(141) 출력 신호에 따라, 상기 데이타 연산부(30) 출력 신호를 통과시키는 AND 게이트(201,202,203)와, 상기 레지스터A(141) 출력 신호에 따라, 고정 출력을 발생시키는 논리합 게이트(204,205,206)로 구성되는 것을 특징으로 하는 다비트 시험 패턴 발생기.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 데이타 연산부(30)와 상기 제어 논리부(151,152,153,154) 사이에, 인스트럭션 메모리(131)로부터의 신호에 의해 제어되는 플래그 레지스터(34)의 반전 신호에 의해, 상기 데이타 연산부(30)의 출력 신호를 반전 동작하는 배타적 논리화 게이트(35)를 설치한 것을 특징으로 하는 다비트 시험 패턴 발생기.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP1996/000036 WO1997025718A1 (fr) | 1994-07-20 | 1996-01-12 | Generateur de motif de controle multibit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970705759A true KR970705759A (ko) | 1997-10-09 |
KR100238932B1 KR100238932B1 (ko) | 2000-03-02 |
Family
ID=14152815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960706235A KR100238932B1 (ko) | 1996-01-12 | 1996-01-12 | 다중비트 시험 패턴 발생기 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100238932B1 (ko) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5795000A (en) * | 1980-12-05 | 1982-06-12 | Fujitsu Ltd | Memory card testing circuit |
JPH04134700A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-08 | Nec Corp | ダイナミック型半導体記憶装置 |
-
1996
- 1996-01-12 KR KR1019960706235A patent/KR100238932B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100238932B1 (ko) | 2000-03-02 |
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