KR950012079A - 집적 비교기 회로 - Google Patents
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- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
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- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/30—Modifications for providing a predetermined threshold before switching
- H03K17/302—Modifications for providing a predetermined threshold before switching in field-effect transistor switches
Abstract
비교기는 제1디플리션 FET(3) 및 제1인핸스먼트 FET(4)를 갖춘 인버터 및 제2디플리션 FET(1) 및 제2인핸스먼트 FET(2)로 된 직렬회로를 포함한다. 모든 FET는 동일한 채널타입이다. 제2인핸스먼드 FET와 제2디플리션 FET 사이의 노드점(10)은 제1인핸스먼트 FET의 게이트 단자에 접속된다. 비교되는 전압(Ue)은 제2인핸스먼트 FET와 접지사이에 놓인다. 제2인핸스먼드 FET(2)의 전달 특성 곡선(Ucs/ID)이 제1인핸스먼트 FET(4)의 그것보다 더 급경사이다. 접속점(S)은 2개의 인핸스먼트 FET의 전달특성곡선의 메칭에 의해 정해진다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명에 따른 회로의 바람직한 실시예,
제 2 도는 본 발명에 따른 회로의 동작을 설명하기 위한 다이어그램.
Claims (4)
- 제1 및 제2M0SFET(1,22)로 된 하나의 직렬회로, 제3 및 세4M0SFET(3,4)를 갖춘 인버터단, 및 한편으로는 제1 및 제2M0SFET 사이의 노드점(10)과 다른 한편으로는 제4M0SFET의 게이트 단자 사이의 접속점을 포함하고, 상기 제2M0SFET는 동작 진압용 제1단자(5)와 제1입력단자(8) 사이에 접속되며, 상기 제4M0SFET는 동작 전압용 제1단자(5) 및 제2단자(6)사이에 접속되고, 상기 제2M0SFET(2)의 전달특성곡선은 제4M0SFET(4)의 전달특성곡선보다 더 급경사이며, 제2 및 제4MOSFET가 하나의 인핸스먼트 M0SFET이도록 구성된, 집적 비교기회로에 있어서, a) 제1 및 제3MOSFET(L3)가 디플리션M0SFET이고, b) 모든 M0SFET가 동일한 채널타입인 것을 특징으로 하는 집적 비교기 회로.
- 제1항에 있어서, 제2M0SFET(2)가 M0S 다이오드로 접속되는 것을 특징으로 하는 짐적 비교기 회로.
- 제 1항 또는 2항에 있어서, 모든 M0SFET의 기판 단자가 제2단자(6)에 접속되는 것을 특징으로 하는 집적 비교기 회로.
- 제 1항 내지 3항 중 어느 한 항에 있어서, 각각의 디플리션 FET(1, 3)의 게이트 단자가 그것의 소오스단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 집적 비교기 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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