KR950001914A - 반도체 소자의 패턴 형성 방법 - Google Patents

반도체 소자의 패턴 형성 방법 Download PDF

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KR950001914A
KR950001914A KR1019930010713A KR930010713A KR950001914A KR 950001914 A KR950001914 A KR 950001914A KR 1019930010713 A KR1019930010713 A KR 1019930010713A KR 930010713 A KR930010713 A KR 930010713A KR 950001914 A KR950001914 A KR 950001914A
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KR1019930010713A
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함영목
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김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 웨이퍼에 미세패턴을 형성하기 위한 반도체 소자의 패턴 형성 방법에 있어서, 최소 설계롤을 갖는 셀 지역을 웨이퍼에 패턴닝하기 위해 소정의 형태를 갖는 위상반전 제1마스크를 사용하여 1차 노광하는 단계, 주변회로 지역 및 상기 셀과 주변회로 지역을 연결하는 연결지역을 상기 웨이퍼에 패턴닝하기 위해 소정의 형태를 갖는 제2마스크를 사용하여 2차 노광하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 패턴 형성 방법에 관한 것으로, 0.3㎛이하의 설계롤을 갖는 절연막, 폴리 라인, 폴리 캐패시터, 접촉창, 금속선을 제조하는 공정에 적용하므로써 반도체 소자의 고집적화와 소자개발을 앞당길 수 있는 효과가 있다.

Description

반도체 소자의 패턴 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 마스크 구성도, 제2도는 본 발명에 따른 이중 마스크 구성도.

Claims (2)

  1. 반도체 소자의 패턴 형성 방법에 있어서, 최소 설계룰을 갖는 셀 지역(1)을 먼저 웨이퍼에 패턴닝(patterning)하기 위해 소정의 형태를 갖는 위상반전 제1마스크를 사용하여 1차 노광하는 단계, 주변회로 지역(2) 및 상기 셀(1)과 주변회로 지역(2)을 연결하는 연결지역(3)을 상기 웨이퍼에 패턴닝하기 위해 소정의 형태를 갖는 제2마스크를 사용하여 2차 노광하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 패턴 형성 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 1차 노광공정은 네가티브 공정, 2차 노광공정은 포지티브공정인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 패턴 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930010713A 1993-06-12 1993-06-12 반도체 소자의 패턴 형성 방법 KR950001914A (ko)

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