KR960002479A - 반도체 소자의 감광 패턴 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 감광 패턴 형성방법 Download PDF

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KR960002479A
KR960002479A KR1019940013038A KR19940013038A KR960002479A KR 960002479 A KR960002479 A KR 960002479A KR 1019940013038 A KR1019940013038 A KR 1019940013038A KR 19940013038 A KR19940013038 A KR 19940013038A KR 960002479 A KR960002479 A KR 960002479A
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KR
South Korea
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photosensitive pattern
forming
semiconductor device
contact hole
forming photosensitive
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KR1019940013038A
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Inventor
이두희
조찬섭
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
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Abstract

본 발명은 서로 다른 단차를 갖는 콘택홀 형성을 위한 식각마스크로 이용될 반도체 소자의 감광 패턴 형성방법에 있어서, 단차가 작은 콘택홀의 감광 패턴 형성을 위한 리소그라피공정 단계와 단차가 큰 콘택홀의 감광패턴 형성을 위한 리소그라피공정 단계로 각각 분리하여 진행하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 감광패턴 형성방법에 관한 것으로, 점차 심화되는 단차의 차이를 극복함에 따라 공정의 용이성 및 균일한 크기의 패턴을 형성하는 효과를 갖는다.

Description

반도체 소자의 감광 패턴 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (1)

  1. 서로 다음 단차를 갖는 콘택홀 형성을 위한 식각마스크로 이용될 반도체 소자의 감광 패턴 형성방법에 있어서, 단차가 작은 콘택홀의 감광 패턴 형성을 위한 라소그라피공정 단계와 단차가 큰 콘택홀의 감광 패턴 형성을 휘한 리소그라피공정 단계로 각각 분리하여 진행하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 감광 패턴 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940013038A 1994-06-09 1994-06-09 반도체 소자의 감광 패턴 형성방법 KR960002479A (ko)

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