KR940004822A - 반도체 메모리장치 - Google Patents

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    • H10B12/30DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells
    • H10B12/31DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells having a storage electrode stacked over the transistor
    • HELECTRICITY
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    • H10B12/30DRAM devices comprising one-transistor - one-capacitor [1T-1C] memory cells
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Abstract

본 발명은 반도체 메모리 장치에 있어서 특히 고집적도를 갖는 다이나믹 랜덤 억세스 메모리장치에 관한 것으로, 다수개의 비트라인과 워드라인이 서로 교차하며 하나의 트랜지스터와 하나의 캐패시터를 단위셀로 하는 셀어레이를 포함하는 반도체 메모리 장치에서 레이아웃 설계시 셀 어레이의 가장자리의 스토리지전극의 길이를 내부의 스토리지전극의 길이보다 길게 레이아웃하거나, 셀 어레이의 가장자리의 비트라인 간격을 내부 비트라인 간격보다 길게 레이아웃하거나, 셀 어레이의 가장자리의 액티브영역의 넓이를 내부의 액티브영역의 넓이보다 넓게 레이아웃함에 의해 스토리지전극의 구조에 제한을 받지않고 별도의 추가공정없이 레이아웃의 배치만에 의해 배선의 우수한 스텝 커버리지를 확보할 수 있는 반도체 메모리장치를 제공한다.

Description

반도체 메모리장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2 도는 본 발명에 따른 반도체 메모리장치의 레이아웃도.
제 3 도는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 단면도.
제 4 도는 제 3 도에 따른 제조공정도.

Claims (6)

  1. 제 1 도전형 반도체 기판상에 형성되며 서로간에 소자분리막으로 이격되는 다수개의 제 2 도전형 액티브영역과, 서로 교차하여 매트릭스를 형성하는 다수개의 워드라인 및 비트라인과, 상기 액티브영역의 일부위를 채널로 하고 상기 채널과 게이트산화막으로 이격되는 상기 워드라인을 스토리지전극으로 하는 스위칭 트랜지스터 및 상기 채널을 통하여 상기 비트라인에 접속되는 스토리지전극을 포함하는 저장캐패시터로 이루어진 단위 메모리셀과, 상기 단위 메모리셀의 상부를 덮는 절연막을 중간층으로 하여 적어도 하나의 단위 메모리셀 위에 신장되는 배선막을 구비하는 셀어레이를 갖는 반도체 메모리장치에 있어서, 상기 셀어레이중 적어도 최외각 메모리셀을 포함하는 가장자리 메모리셀의 저장캐패시터를 형성하는 스토리지전극이 상기 기판과 일정경사각을 갖도록 상기 셀어레이 내부측에서 가장자리측으로 경사지게 형성되며, 상기 배선막이 상기 가장자리 메모리셀 상부에 신장됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 경사지게 형성된 상기 스토리지전극의 길이가 상기 셀어레이 내부측으로 이웃하는 스토리지전극의 길이보다 길게 형성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  3. 제 1 도전형 반도체 기판상에 형성되며 서로간에 소자분리막으로 이격되는 다수개의 제 2 도전형 액티브 영역과, 서로 교차하여 매트릭스를 형성하는 다수개의 워드라인 및 비트라인과, 상기 액티브영역의 일부위를 채널로 하고 상기 채널과 게이트산화막으로 이격되는 상기 워드라인을 게이트전극으로 하는 스위칭 트랜지스터 및 상기 채널을 통하여 상기 비트라인에 접속되는 스토리지전극을 포함하는 저장캐패시터로 이루어진 단위 메모리셀과, 상기 단위 메모리셀의 상부를 덮는 절연막을 중간층으로 하여 적어도 하나의 단위 메모리셀 위에 신장되는 배선막을 구비하는 셀어레이를 갖는 반도체 메모리장치에 있어서, 상기 셀어레이중 적어도 최외각 메모리셀을 포함하는 가장자리 메모리셀의 스토리지전극의 높이가 상기 셀어레이 내부측으로 이웃하는 스토리지전극의 높이와 일정 단차를 갖도록 낮게 형성되며, 상기 배선막이 상기 가장자리 메모리셀 상부에 신장됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 가장자리 메모리셀의 스토리지전극과 접속되는 액티브영역의 폭이 상기 셀어레이 내부측으로 이웃하는 스토리지전극과 접속하는 액티브영역의 폭보다 넓게 형성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  5. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 셀어레이중 최외각 비트라인을 포함하는 두개의 가장자리 비트라인사이의 간격이 상기 셀어레이 내부의 비트라인 간격보다 넓게 형성됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
  6. 제 1 도전형 반도체기판상에 형성되며 서로간에 소자분리막으로 이격되는 다수개의 제 2 도전형 액티브영역과, 서로 교차하여 매트릭스를 형성하는 다수개의 워드라인 및 비트라인과, 상기 액티브영역의 일부위를 채널로 하고 상기 채널과 게이트산화막으로 이격되는 상기 워드라인을 게이트전극으로 하는 스위칭 트랜지스터 및 상기 채널을 통하여 상기 비트라인에 접속되는 스토리지전극을 포함하는 저장캐패시터로 이루어진 단위 메모리셀과, 상기 단위 메모리셀의 상부를 덮는 절연막을 중간층으로 하여 적어도 하나의 단위 메모리셀 위에 신장되는 배선막을 구비하는 셀어레이를 갖는 반도체 메모리장치에 있어서, 상기 셀어레이중 적어도 최외각 메모리셀을 포함하는 가장자리 메모리셀의 캐패시터를 형성하는 스토리지전극이 상기 셀어레이 내부측에서 가장자리측으로 경사져서 상기 셀어레이가 형성되는 기판과 일정 경사각을 가지며, 상기 가장자리 메모리셀의 스토리지전극의 길이가 상기 셀어레이 내부측으로 이웃하는 스토리지전극의 길이보다 길게 형성되며, 상기 셀어레이 가장자리의 최외각 비트라인이 최외각 스토리지전극의 셀어레이 내부방향의 측면에 형성되며, 상기 배선막이 상기 가장자리 메모리셀 상부에 신장됨을 특징으로 하는 반도체 메모리장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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