KR920020525A - 반도체 메모리 장치용 용장 회로 - Google Patents
반도체 메모리 장치용 용장 회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR920020525A KR920020525A KR1019920007108A KR920007108A KR920020525A KR 920020525 A KR920020525 A KR 920020525A KR 1019920007108 A KR1019920007108 A KR 1019920007108A KR 920007108 A KR920007108 A KR 920007108A KR 920020525 A KR920020525 A KR 920020525A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit
- switching
- switching element
- output
- data
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/781—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices combined in a redundant decoder
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 1실시예의 용장 회로의 회로도,
제3도는 본 발명에 따른 제2실시의 용장 회로의 회로도.
Claims (4)
- 반도체 메모리 장치에서 결손 메모리 셀을 용장 메모리 셀로 대체하기 위한 용장 회로에 있어서, 불휘발성 메모리 셀로 구성되고 스위치 데이터가 기입될 수 있는 제1스위칭소자(TU); 상기 스위칭 데이터가 기입될 수 있고 상기 스위칭 데이터가 원하는 경우에 소거될 수 있는 제2스위칭 소자(TE;3, TM); 검사 단자(10)에 입력된 검사 신호(ST)에 기초하여 동작 모드 설정 신호를 출력시키는 검사모드 설정 회로(1); 상기 검사 모드 설정 회로로부터의 상기 동작 모드 설정 신호에 기초하여 상기 제1 및 제2스위칭 소자의 동작을 제어하는 스위칭 소자 제어 회로(2); 및 상기 스위칭 데이터가 상기 제1 및 제2 스위칭 소자 중의 최소한 하나의 소자 내로 기입될 때 스위칭 신호(SOUT)를 출력시키는 출력 회로(15)를 포함하는 것을 특징으로 하는 용장 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2스위칭 소자가 기입된 데이터가 자외선 방사에 의해 소거될 수 있는 소거가능한 프로그래머블 판독 전용 메모리(EPROM)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 용장 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2스위칭 소자가 래치 회로(3) 및 상기 래치 회로의 출력에 의해 구동되는 MOS전계 효과 트랜지스터(TM)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 용장 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 출력 회로가 상기 제1스위칭 소자(TU)의 출력에 접속된 한 입력 단자(15a) 및 상기 제2스위칭 소자(TE; 3, TM)의 출력에 접속된 다른 입력 단자(15b)를 갖고 있는 2-입력 NOR 회로(15)로 구성되는 것을 특징으로 하는 용장 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3124766A JP3021771B2 (ja) | 1991-04-27 | 1991-04-27 | 冗長回路 |
JP91-124766 | 1991-04-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920020525A true KR920020525A (ko) | 1992-11-21 |
KR960002011B1 KR960002011B1 (ko) | 1996-02-09 |
Family
ID=14893590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920007108A KR960002011B1 (ko) | 1991-04-27 | 1992-04-27 | 반도체 메모리 장치용 용장 회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5319599A (ko) |
JP (1) | JP3021771B2 (ko) |
KR (1) | KR960002011B1 (ko) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5781486A (en) * | 1996-04-16 | 1998-07-14 | Micron Technology Corporation | Apparatus for testing redundant elements in a packaged semiconductor memory device |
US5925144A (en) * | 1997-03-13 | 1999-07-20 | Western Digital Corporation | Error correction code circuit that performs built-in self test |
KR19990053744A (ko) * | 1997-12-24 | 1999-07-15 | 김영환 | 반도체 소자의 게이트전극 형성방법 |
US6452845B1 (en) | 1999-01-07 | 2002-09-17 | Micron Technology, Inc. | Apparatus for testing redundant elements in a packaged semiconductor memory device |
JP4600792B2 (ja) * | 2000-07-13 | 2010-12-15 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4532611A (en) * | 1982-11-01 | 1985-07-30 | Motorola, Inc. | Redundant memory circuit |
US4567580A (en) * | 1983-06-29 | 1986-01-28 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | Redundancy roll call technique |
JP2785936B2 (ja) * | 1988-04-12 | 1998-08-13 | 日本電気株式会社 | 冗長回路のテスト方法 |
-
1991
- 1991-04-27 JP JP3124766A patent/JP3021771B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-04-27 KR KR1019920007108A patent/KR960002011B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-04-27 US US07/874,627 patent/US5319599A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960002011B1 (ko) | 1996-02-09 |
JPH04328398A (ja) | 1992-11-17 |
JP3021771B2 (ja) | 2000-03-15 |
US5319599A (en) | 1994-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR870009397A (ko) | 불휘발성 반도체기억장치 | |
KR900008527A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR970012682A (ko) | 강유전체 메모리장치 및 그 검사방법 | |
KR920017360A (ko) | 집적회로용 스위칭 회로 | |
KR980005018A (ko) | 불휘발성 메모리 셀과 불휘발성 메모리에서의 2진 상태 프로그래밍 방법 | |
KR900008526A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR950020749A (ko) | 반도체 불휘발성 기억장치 | |
KR910008424A (ko) | 검사회로를 갖는 반도체 집적회로 장치 | |
KR920020525A (ko) | 반도체 메모리 장치용 용장 회로 | |
KR940022295A (ko) | 플래시메모리를 포함하는 마이크로컴퓨터 | |
KR910006997A (ko) | 기생용량에 의해 야기된 오동작을 방지하기 위한 eprom의 디코더 회로 | |
KR20000005055A (ko) | 다수의 전자 회로성분을 갖는 회로장치 | |
KR930001211A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
KR910017768A (ko) | 논리 출력 제어회로 | |
KR930020430A (ko) | 불휘발성 반도체 기억장치 | |
US6998873B2 (en) | Data input/output buffer and semiconductor memory device using the same | |
KR920022148A (ko) | 리던던시 기능을 가지는 반도체 메모리 장치 | |
KR100222574B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 어드레스 버퍼회로 | |
KR100273301B1 (ko) | 메모리 블록 선택 회로 | |
JP2622051B2 (ja) | Eeprom | |
KR960025751A (ko) | 플래쉬 메모리 장치 | |
KR970023445A (ko) | 미사용 입출력 핀의 레벨 설정회로 | |
KR920003714A (ko) | 공간 분할 교환의 출력 경로 점유 지시 장치 | |
KR0172415B1 (ko) | 반도체 메모리 장치내의 외부입력신호 검출회로 | |
KR890002780A (ko) | Lsi의 모드 설정회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20040120 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |