JP2622051B2 - Eeprom - Google Patents

Eeprom

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JP2622051B2
JP2622051B2 JP16085092A JP16085092A JP2622051B2 JP 2622051 B2 JP2622051 B2 JP 2622051B2 JP 16085092 A JP16085092 A JP 16085092A JP 16085092 A JP16085092 A JP 16085092A JP 2622051 B2 JP2622051 B2 JP 2622051B2
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JP
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signal
data
memory cell
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mos transistor
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弘 岩橋
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Toshiba Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はアドレスデコード回路
を有し、電気的にデータのプログラムが可能なE2 PR
OMに関する。
【0002】
【従来の技術】図3は半導体メモリなどに使用されるア
ドレスデコード回路の一つのデコーダの従来の構成を示
す回路図であり、図4はそのタイミングチャートであ
る。半導体メモリのうち特に電気的にデータのプログラ
ムが可能なE2 PROMのアドレスデコード回路では、
そのデータ書き込み方式故にメモリセルの選択を行なう
際のデコード信号のレベルがデータ読み出し時と書き込
み時とでは異なっているものがある。すなわち例えばデ
ータ読み出し時では“1”レベルにされ、データ書き込
み時では“0”レベルにされる。このため、このような
用途に用いられるアドレスデコード回路では次のような
回路的工夫をこらしている。
【0003】すなわち、図3のデコーダにおいて正極性
の電源電圧Vcc印加点と回路点11との間には負荷とし
てのデプレッション型(以下D型と称する)のMOSト
ランジスタ12が挿入されている。このMOSトランジス
タ12はNチャネル型のものであり、以下で説明するMO
Sトランジスタも全てNチャネル型のものであるとす
る。さらに上記回路点11とアース電圧Vss印加点との
間には各ゲートに1ビット線のアドレス信号が供給され
るデコード用の複数のエンハンスメント型(以下E型と
称する)の駆動用MOSトランジスタ13が挿入されてい
る。
【0004】ここで上記駆動用MOSトランジスタ13の
少なくとも一つのゲートに“1”レベルのアドレス信号
が供給されると、上記回路点11の信号X1は“0”レベ
ルにされる。他方、駆動用MOSトランジスタ13の全て
のゲートに“0”レベルのアドレス信号が供給される
と、論理が成立して上記回路点11の信号X1は“1”レ
ベルにされる。
【0005】上記回路点11の信号X1はE/D型インバ
ータ14に供給されていると共に、ゲートに制御信号/A
が供給されているMOSトランジスタ15を介してもう一
つのE/D型インバータ16に供給されている。さらに上
記E/D型インバータ14の出力信号は、ゲートに制御信
号Aが供給されているMOSトランジスタ17を介して上
記E/D型インバータ16に供給されている。そして上記
E/D型インバータ16の出力端18の信号X2がデコード
出力として図示しないメモリセルに供給される。
【0006】ところで、このようなデコーダでは、論理
の成立時、データ書き込みの場合にデコード出力信号を
“0”レベルにする必要があるため、制御信号/Aを
“1”レベルに設定してMOSトランジスタ15をオン状
態にする。これにより“1”レベルにされている回路点
11の信号X1はこのトランジスタ15を介してE/D型イ
ンバータ16に供給され、このインバータ16で反転されて
信号X2にされるので、この信号X2は“0”レベルに
される。
【0007】他方、上記論理の成立時、データ読み出し
の場合にはデコード出力信号を“1”レベルにする必要
があるため、制御信号Aを“1”レベルに設定してMO
Sトランジスタ17をオン状態にする。これにより“1”
レベルにされている回路点11の信号X1は二つのE/D
型インバータ14および16により順次反転されるので、信
号X2はX1と同じ“1”レベルにされる。すなわち、
これによって選択時に、データ書き込み時と読み出し時
とではデコード出力信号X2の論理が反対にされる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図3に示す従来のデコ
ーダでは、デコード出力信号の論理レベルをデータ書き
込み時とデータ読み出し時とで反対にするために制御信
号Aもしくは/Aでスイッチ制御される二つのMOSト
ランジスタを設けている。メモリのアドレスデコード回
路では図3に示すような構成のデコーダが多数設けられ
ているので、それぞれのデコーダで上記2個のMOSト
ランジスタが必要となる。E2 PROM以外のマスクR
OM、RAM等の半導体メモリでは上記2個のMOSト
ランジスタは不要なので、E2 PROMにおけるアドレ
スデコード回路はマスクROM等に比較して占有面積が
大きくなるという欠点がある。
【0009】この発明は上記のような事情を考慮してな
されたものでありその目的は、制御信号に応じてデコー
ド出力信号の論理レベルを反転する機能を有し、少ない
素子数でもってデコード回路を構成することができる電
気的にデータのプログラムが可能なE2 PROMを提供
することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明のE2 PROM
は、メモリセルからのデータ読み出しとメモリセルへの
データの書き込みを制御するために、データを読み出す
時の論理レベルとデータを書き込む時の論理レベルとが
反対に設定される第1の信号が入力され、この第1の信
号に対して反対の論理レベルを有する第2の信号を出力
するインバータ回路と、アドレス信号が入力され、この
アドレス信号に応答して前記メモリセルの選択動作を制
御するデコーダ部を有すると共に、前記第1の信号と前
記第2の信号との間に直列に接続された少なくとも2個
の第1、第2のMOSトランジスタを含み前記第2のM
OSトランジスタは前記デコーダ部からの出力信号によ
ってゲートが制御され、前記デコーダ部からの出力信号
によって前記第2のMOSトランジスタをスイッチング
制御し、前記第2のMOSトランジスタがオン状態のと
きは前記第2のMOSトランジスタを通して選択的に前
インバータ回路から出力された前記第2の信号を導入
し、前記第2のMOSトランジスタがオフ状態のときは
前記第1のMOSトランジスタを通して前記第1の信号
を導入し、データの読み出し時とデータの書き込み時と
では前記導入された前記第1及び第2の信号のレベルが
異なることにより、前記メモリセルが選択される時及び
非選択の時の前記メモリセルに供給されるデコード信号
の論理レベルが、前記メモリセルからのデータ読み出し
時とメモリセルへのデータの書き込み時とで異なるよう
に制御され、前記第1及び第2のMOSトランジスタを
通して導入された前記第1及び第2の信号を前記第1及
び第2のMOSトランジスタの直列接続点から前記メモ
リセルに伝達することによって前記第1及び第2の信号
前記メモリセルを制御するデコード回路とを具備した
ことを特徴とする。
【0011】
【作用】この発明のE2 PROMでは、上記回路手段に
おいて、データの読み出しとデータの書き込み時とで信
号の論理レベルを変化させて発生させ、この信号を複数
のデコード回路に供給し、各デコード回路において、上
記信号に応じてメモリセルからのデータの読み出し時と
メモリセルへのデータの書き込み時とでデコード信号の
論理レベルを異ならせるようにしている。しかも、上記
回路手段で発生された信号によって複数のデコード回路
を直接的に制御することにより、上記回路手段自体の回
路構成を簡略化を図ることができる。
【0012】
【実施例】まず、この発明の実施例の説明の前に、この
発明のE2 PROMの原理について図1及び図2を用い
て説明する。
【0013】図1はE2 PROMで使用されるアドレス
デコード回路の一つのデコーダの構成を示す回路図であ
る。正極性の電源電圧Vcc印加点と回路点21との間に
は負荷としてのD型のMOSトランジスタ22が挿入さ
れ、さらに上記回路点21とアース電圧Vss印加点との
間には各ゲートに1ビット線のアドレス信号が供給され
るデコード用の複数のE型の駆動用MOSトランジスタ
23が挿入されている。
【0014】また、D型のMOSトランジスタ24のドレ
インおよびゲートがE型のMOSトランジスタ25のドレ
インに接続されている。両トランジスタ24および25はE
/D型のインバータ26を構成しており、D型MOSトラ
ンジスタ24のドレインが接続された第1の電源端子27に
は、電源として後述する論理信号VAが供給される。ま
た、E型MOSトランジスタ25のソースが接続された第
2の電源端子28には、電源として後述する論理信号VB
が供給される。さらにトランジスタ25のゲートには上記
信号X1が供給されている。上記E/D型インバータ26
の出力信号はD型MOSトランジスタおよびE型MOS
トランジスタからなるE/D型インバータ29に供給され
ており、このE/D型インバータ29の出力端30の信号X
2がデコード出力として図示しないメモリセルに供給さ
れる。アドレスデコード回路では図1のような構成のデ
コーダが多数設けられており、さらに上記論理信号VA
およびVBを発生する制御回路40が設けられている。
【0015】この制御回路40は電源電圧Vccとアース
電圧Vssとの間で動作し、制御信号Aを反転して上記
論理信号VBを出力するE/D型インバータ41と、同じ
くVccとVssとの間で動作し、上記論理信号VBを
反転して上記論理信号VAを出力するE/D型インバー
タ42とで構成されている。なお、上記制御信号Aは、図
示しないメモリセルにおいてデータの書き込みが行われ
る場合には“0”レベルにされ、データの読み出しが行
われる場合には“1”レベルにされるような信号であ
る。そして上記論理信号VAおよびVBは上記の各デコ
ーダ内の第1の電源端子27および第2の電源端子28それ
ぞれに並列に供給されている。なお、上記したMOSト
ランジスタは全てNチャネル型であるとする。
【0016】次にこのように構成された回路の動作を図
2のタイミングチャートを用いて説明する。いま、図示
しないメモリセルにおいてデータの読み出しを行なう場
合、制御信号Aは“1”レベルにされる。このとき、制
御回路40ではインバータ41が制御信号Aを反転し、その
出力信号である論理信号VBは“0”レベルすなわちV
ssにされ、これに続くインバータ42の出力信号である
論理信号VAは“1”レベルすなわちVccにされる。
そしていま、あるデコーダ内のMOSトランジスタ23の
全てのゲートに“0”レベルのアドレス信号が供給され
てその論理が成立し、回路点21の信号X1が“1”レベ
ルにされたとする。ここで上記信号X1が供給されるイ
ンバータ26の第1の電源端子27にはVccにされた論理
信号VAが、第2の電源端子28にはVssにされた論理
信号VBがそれぞれ供給されている。このため、このイ
ンバータ26は通常に動作して信号X1を反転する。これ
により、このインバータ26の出力信号は“0”レベルに
される。この“0”レベルの信号はインバータ29によっ
て再び反転されるので、その出力信号X2であるデコー
ド出力信号はX1と同じレベルの“1”レベルにされ
る。
【0017】またこのとき、MOSトランジスタ23の少
なくとも一つのゲートに“1”レベルのアドレス信号が
供給されて回路点21の信号X1が“0”レベルにされた
場合、信号X2も“0”レベルにされる。
【0018】次に、図示しないメモリセルにおいてデー
タの書き込みを行なう場合、制御信号Aは“0”レベル
にされる。このとき、制御回路40ではインバータ41が制
御信号Aを反転し、その出力信号である論理信号VBは
“1”レベルすなわちVccにされ、これに続くインバ
ータ42の出力信号である論理信号VAは“0”レベルす
なわちVssにされる。そして上記デコーダ内のMOS
トランジスタ23の全てのゲートに“0”レベルのアドレ
ス信号が供給されてその論理が成立し、回路点21の信号
X1が“1”レベルにされている場合を考える。ここで
上記信号X1が供給されるインバータ26の第1の電源端
子27にはVssにされた論理信号VAが、第2の電源端
子28にはVccにされた論理信号VBがそれぞれ供給さ
れているので、信号X1によりトランジスタ25がオン状
態にされることにより、インバータ26の出力信号はVc
c、すなわち“1”レベルにされる。従って、これに続
くインバータ29の出力信号であるデコード出力信号X2
は“0”レベルにされる。
【0019】他方、MOSトランジスタ23の少なくとも
一つのゲートに“1”レベルのアドレス信号が供給され
て回路点21の信号X1が“0”レベルにされた場合、信
号X1によりトランジスタ25がオフ状態にされて、イン
バータ26の出力信号はVssすなわち“0”レベルにさ
れる。従って、これに続くインバータ29の出力信号であ
るデコード出力信号X2は“1”レベルにされる。
【0020】このように図1に示す回路では、メモリセ
ル選択時のデコード出力信号X2のレベルが、データ読
み出し時では“0”レベルに、データ書き込み時では
“1”レベルにされる。しかも各デコーダでは従来より
もMOSトランジスタの数をそれぞれ2個ずつ削減する
ことができ、また制御回路40は複数のデコーダに対して
共通に設けられるので、アドレスデコード回路全体の素
子数は従来よりも大幅に減少させることができる。
【0021】そして、この発明の実施例では、上記制御
回路40内のインバータ41に信号Aの反転信号/Aを入力
するようにしたものである。すなわち、前記信号Aの代
わりに信号/Aをインバータ41に入力すれば前記インバ
ータ29も省略することができる。このとき、インバータ
26の出力信号がX2として利用される。すなわちこの場
合には、制御回路40からの信号がMOSトランジスタ25
あるいはMOSトランジスタ24を介してインバータ26の
出力端に導かれて信号X2となり、この信号X2により
直接的にメモリセルが制御されることになる。そして、
この場合にMOSトランジスタ25のしきい値電圧は0V
であることが好ましい。なお、この発明は上記した実施
例に限定されるものではなく種々の変形が可能であるこ
とはいうまでもない。
【0022】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
制御信号に応じて出力信号の論理レベルを反転する機能
を有し、少ない素子数でもって構成することができる電
気的にデータのプログラムが可能なE2 PROMを提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例の構成を示す回路図。
【図2】上記実施例回路のタイミングチャート。
【図3】従来の回路図。
【図4】従来回路のタイミングチャート。
【符号の説明】
26,29,41,42…E/D型インバータ、27…第1の電源
端子、28…第2の電源端子、40…制御回路。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルからのデータ読み出しとメモ
    リセルへのデータの書き込みを制御するために、データ
    を読み出す時の論理レベルとデータを書き込む時の論理
    レベルとが反対に設定される第1の信号が入力され、こ
    の第1の信号に対して反対の論理レベルを有する第2の
    信号を出力するインバータ回路と、 アドレス信号が入力され、このアドレス信号に応答して
    前記メモリセルの選択動作を制御するデコーダ部を有す
    ると共に、前記第1の信号と前記第2の信号との間に直
    列に接続された少なくとも2個の第1、第2のMOSト
    ランジスタを含み前記第2のMOSトランジスタは前記
    デコーダ部からの出力信号によってゲートが制御され、
    前記デコーダ部からの出力信号によって前記第2のMO
    Sトランジスタをスイッチング制御し、前記第2のMO
    Sトランジスタがオン状態のときは前記第2のMOSト
    ランジスタを通して選択的に前記インバータ回路から出
    力された前記第2の信号を導入し、前記第2のMOSト
    ランジスタがオフ状態のときは前記第1のMOSトラン
    ジスタを通して前記第1の信号を導入し、データの読み
    出し時とデータの書き込み時とでは前記導入された前記
    第1及び第2の信号のレベルが異なることにより、前記
    メモリセルが選択される時及び非選択の時の前記メモリ
    セルに供給されるデコード信号の論理レベルが、前記メ
    モリセルからのデータ読み出し時とメモリセルへのデー
    タの書き込み時とで異なるように制御され、前記第1及
    び第2のMOSトランジスタを通して導入された前記
    1及び第2の信号を前記第1及び第2のMOSトランジ
    スタの直列接続点から前記メモリセルに伝達することに
    よって前記第1及び第2の信号で前記メモリセルを制御
    するデコード回路とを具備したことを特徴とする電気的
    にデータのプログラムが可能なEEPROM。
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FR2415392A1 (fr) * 1978-01-20 1979-08-17 Anvar Circuit electronique multifonction a quatre circuits de base et applications de ce circuit
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JP3336619B2 (ja) * 1991-07-12 2002-10-21 ソニー株式会社 信号処理装置

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