KR920015584A - Esd 면역성을 개선시키는 기술 - Google Patents
Esd 면역성을 개선시키는 기술 Download PDFInfo
- Publication number
- KR920015584A KR920015584A KR1019920001174A KR920001174A KR920015584A KR 920015584 A KR920015584 A KR 920015584A KR 1019920001174 A KR1019920001174 A KR 1019920001174A KR 920001174 A KR920001174 A KR 920001174A KR 920015584 A KR920015584 A KR 920015584A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- techniques
- branch line
- voltage
- circuit
- esd immunity
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/04—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage
- H02H9/045—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere
- H02H9/046—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess voltage adapted to a particular application and not provided for elsewhere responsive to excess voltage appearing at terminals of integrated circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 ESD보호 회로의 제1실시예에 때한 회로 다이어그램, 제3도는 본 발명에 따른 ESD보호 회로의 제2실시예에 대한 회로 다이어그램, 제4도는 본 발명에 따른 ESD보호 회로의 제2실시예에 대한 변형실시 예의 회로 다이어그램.
Claims (1)
- 정전방전에 대한 면역성을 지니는 디바이스에 있어서, a. 가지 라인에 의해 접근될수 있는 적어도 하나의 특징부를 지니되, 미리 결정된 전압레벨을 초과하는 제1전압이 상기 가지 라인상에 나타나는 경우 상기 회로 특정부의 적절한 동작이 파괴도는 MOS집적회로, 및 b.상기 가지라인에 접속되어 있는 적어도 하나의 스위칭 MOS트랜지스터로서, 상기 집적회로의 정상 동작 전압이상이지만 상기 미리 결정된 전압레벨보다 낮은 제2전압에 응답하여 상기 제1전압을 상기 회로 특징부로 부터 분로시키는 적어도 하나의 스위칭 MOS트랜지스터를 포함하는 디바이스.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/647,740 US5272586A (en) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | Technique for improving ESD immunity |
US07/647,740 | 1991-01-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920015584A true KR920015584A (ko) | 1992-08-27 |
Family
ID=24598082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920001174A KR920015584A (ko) | 1991-01-29 | 1992-01-28 | Esd 면역성을 개선시키는 기술 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5272586A (ko) |
EP (1) | EP0497471A3 (ko) |
JP (1) | JPH06120494A (ko) |
KR (1) | KR920015584A (ko) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5276582A (en) * | 1992-08-12 | 1994-01-04 | National Semiconductor Corporation | ESD protection using npn bipolar transistor |
US5510728A (en) * | 1994-07-14 | 1996-04-23 | Vlsi Technology, Inc. | Multi-finger input buffer with transistor gates capacitively coupled to ground |
JPH08274184A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-10-18 | Toshiba Microelectron Corp | 半導体集積回路の保護回路装置 |
US5754380A (en) * | 1995-04-06 | 1998-05-19 | Industrial Technology Research Institute | CMOS output buffer with enhanced high ESD protection capability |
US5572394A (en) * | 1995-04-06 | 1996-11-05 | Industrial Technology Research Institute | CMOS on-chip four-LVTSCR ESD protection scheme |
JP2882309B2 (ja) * | 1995-04-28 | 1999-04-12 | 日本電気株式会社 | 入力保護回路及び半導体集積回路装置の製造方法 |
US5745323A (en) * | 1995-06-30 | 1998-04-28 | Analog Devices, Inc. | Electrostatic discharge protection circuit for protecting CMOS transistors on integrated circuit processes |
JP2830783B2 (ja) * | 1995-07-18 | 1998-12-02 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JPH09148452A (ja) * | 1995-11-09 | 1997-06-06 | Ind Technol Res Inst | 静電放電防護能力を強化したcmos出力バッファ |
JP3400215B2 (ja) * | 1995-11-21 | 2003-04-28 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置 |
KR100194669B1 (ko) * | 1995-12-20 | 1999-06-15 | 윤종용 | 입력 보호 회로 및 보호 소자 |
US5751525A (en) * | 1996-01-05 | 1998-05-12 | Analog Devices, Inc. | EOS/ESD Protection circuit for an integrated circuit with operating/test voltages exceeding power supply rail voltages |
US6008508A (en) * | 1996-09-12 | 1999-12-28 | National Semiconductor Corporation | ESD Input protection using a floating gate neuron MOSFET as a tunable trigger element |
US5917689A (en) * | 1996-09-12 | 1999-06-29 | Analog Devices, Inc. | General purpose EOS/ESD protection circuit for bipolar-CMOS and CMOS integrated circuits |
TW322633B (en) * | 1996-10-14 | 1997-12-11 | Vanguard Int Semiconduct Corp | Electrostatic discharge protection device for integrated circuit input port |
TW322632B (en) * | 1996-10-14 | 1997-12-11 | Vanguard Int Semiconduct Corp | Electrostatic discharge protection device for integrated circuit input/output port |
US5838146A (en) * | 1996-11-12 | 1998-11-17 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for providing ESD/EOS protection for IC power supply pins |
JP2959528B2 (ja) * | 1997-06-09 | 1999-10-06 | 日本電気株式会社 | 保護回路 |
JP3270364B2 (ja) * | 1997-07-28 | 2002-04-02 | エヌイーシーマイクロシステム株式会社 | 静電保護回路 |
SE512494C2 (sv) * | 1997-09-02 | 2000-03-27 | Ericsson Telefon Ab L M | Skyddskrets |
DE29812092U1 (de) | 1998-07-07 | 1999-11-18 | Ic Haus Gmbh | Elektronischer Wechselspannungsschalter |
US6366435B1 (en) * | 2000-02-04 | 2002-04-02 | United Microelectronics Corp. | Multiple sources ESD protection for an epitaxy wafer substrate |
JP4410912B2 (ja) * | 2000-06-07 | 2010-02-10 | Nec液晶テクノロジー株式会社 | 静電保護回路 |
US6842318B2 (en) | 2001-03-15 | 2005-01-11 | Microsemi Corporation | Low leakage input protection device and scheme for electrostatic discharge |
JP2003007833A (ja) * | 2001-06-25 | 2003-01-10 | Nec Corp | 半導体装置 |
KR100443510B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-08-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정전기 보호 회로 |
KR100861193B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2008-09-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정전기 방전 보호 회로 |
KR100937652B1 (ko) | 2002-12-31 | 2010-01-19 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 반도체 장치의 정전기방전 보호회로 |
CN100403536C (zh) * | 2004-04-01 | 2008-07-16 | 凌阳科技股份有限公司 | 可承受高电压及负电压的静电放电保护装置 |
JP5041672B2 (ja) * | 2004-04-09 | 2012-10-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US9577639B1 (en) * | 2015-09-24 | 2017-02-21 | Qualcomm Incorporated | Source separated cell |
JP6566316B2 (ja) * | 2015-10-23 | 2019-08-28 | Tianma Japan株式会社 | 保護回路および電子機器 |
CN109659303A (zh) * | 2017-10-10 | 2019-04-19 | 群创光电股份有限公司 | 面板装置 |
CN110676253B (zh) * | 2019-09-29 | 2022-03-22 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种静电释放电路、阵列基板、显示面板及显示装置 |
KR20220026172A (ko) * | 2020-08-25 | 2022-03-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57109375A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-07 | Fujitsu Ltd | Mis type transistor protection circuit |
US4527213A (en) * | 1981-11-27 | 1985-07-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit device with circuits for protecting an input section against an external surge |
JPS6132464A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-15 | Nec Corp | Cmos型集積回路装置 |
US4630162A (en) * | 1984-07-31 | 1986-12-16 | Texas Instruments Incorporated | ESD input protection circuit |
JPS6150358A (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-12 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
EP0242383B1 (en) * | 1985-10-15 | 1991-08-28 | AT&T Corp. | Protection of igfet integrated circuits from electrostatic discharge |
JPS6331157A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Fujitsu Ltd | C−mos lsiの保護回路 |
US4819047A (en) * | 1987-05-15 | 1989-04-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | Protection system for CMOS integrated circuits |
FR2623018B1 (fr) * | 1987-11-06 | 1990-02-09 | Thomson Semiconducteurs | Circuit integre protege contre les decharges electrostatiques avec seuil de protection variable |
US5111262A (en) * | 1988-08-10 | 1992-05-05 | Actel Corporation | Structure for protecting thin dielectrics during processing |
US4896243A (en) * | 1988-12-20 | 1990-01-23 | Texas Instruments Incorporated | Efficient ESD input protection scheme |
-
1991
- 1991-01-29 US US07/647,740 patent/US5272586A/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-01-16 EP EP19920300379 patent/EP0497471A3/en not_active Withdrawn
- 1992-01-28 KR KR1019920001174A patent/KR920015584A/ko not_active Application Discontinuation
- 1992-01-28 JP JP4013377A patent/JPH06120494A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06120494A (ja) | 1994-04-28 |
EP0497471A2 (en) | 1992-08-05 |
EP0497471A3 (en) | 1993-05-19 |
US5272586A (en) | 1993-12-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR920015584A (ko) | Esd 면역성을 개선시키는 기술 | |
KR890012385A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR930005351A (ko) | 정전방전 검출 및 클램프 제어회로 | |
KR940017215A (ko) | 과전압 보호기능을 지니는 저(low)전압 입력 및 출력회로 | |
KR900015142A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
KR930702811A (ko) | 회로 보호 장치 및 유니트 | |
KR840008097A (ko) | 기판 바이어스 전압제어회로 및 방법 | |
KR950030487A (ko) | 래치-업을 방지한 씨모스형 데이타 출력버퍼 | |
KR920010638A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR920013864A (ko) | 전원 전환 장치 | |
KR940006258A (ko) | 반도체장치 및 고체촬상장치의 수평레지스터 | |
KR910002128A (ko) | 집적 제어 회로 | |
KR900013714A (ko) | 피보호 다알링턴 트랜지스터 회로 장치 | |
KR970003927A (ko) | 전자기 방사가 감소된 반도체 장치 | |
KR890013795A (ko) | Mos형 집적회로 출력용 과전압 보호회로 | |
KR920008758A (ko) | 파워-온 리세트회로 | |
KR900004040A (ko) | 반도체 집적회로 디바이스 | |
KR980006875A (ko) | 정전방전보호회로 | |
KR840006894A (ko) | 다이리스터형 또는 트라이액형 반도체장치의 제어회로 | |
KR920003769A (ko) | 서라운드 제어회로 | |
KR970058387A (ko) | 정전기 보호 회로 | |
KR950025974A (ko) | 정전기 보호 회로 | |
KR920003323A (ko) | 반도체메모리의 린던던시시그니처 | |
KR870009335A (ko) | 트랙킹 제어 장치 | |
KR920001272A (ko) | 복사기의 노광램프 보호회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |