KR920006830A - Cip보드 고장상태 표시방법 및 장치 - Google Patents

Cip보드 고장상태 표시방법 및 장치 Download PDF

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KR920006830A
KR920006830A KR1019900013876A KR900013876A KR920006830A KR 920006830 A KR920006830 A KR 920006830A KR 1019900013876 A KR1019900013876 A KR 1019900013876A KR 900013876 A KR900013876 A KR 900013876A KR 920006830 A KR920006830 A KR 920006830A
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KR
South Korea
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test
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cip
test device
Prior art date
Application number
KR1019900013876A
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English (en)
Inventor
소도영
Original Assignee
한태희
주식회사 금성사
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내용 없음

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CIP보드 고장상태 표시방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 구성도.
제4도는 본 발명의 플로우챠트,
제5도 (A) (B)는 본 발명에 의한 파워 업 테스트 플로우챠트.

Claims (4)

  1. 전원이 들어오면 자기자신의 보드를 체크하는 파워-업 테스트를 실시한 다음 그 결과를 2개 구조로 된 테스트결과 레지스터에 일시저장하는 단계와, 모니터 프로그램에서 파워-업 테스트 결과를 체크하는 루틴을 수행하는 단계, 테스트 결과가 테스트 패일로 확인되면 패일램프 어드레스에 참값을 실어 램프를 점등시킴과 동시에 파워-업 테스트결과 레지스터에 저장된 데이타를 디스플레이 수단을 통해 디스플레이 시키는 단계가 순차적으로 포함된 것을 특징으로 하는 CIP보드의 고장상태 표시방법.
  2. 제1항에 있어서, 파워-업 테스트는 마이크로 에러 플래그 레지스터값을 클리어시키고 보드상의 해당 테스트 소자를 콜한 후 리셋트 시키는 단계와, 데이터 패턴값의 초기치를 해당 테스트 소자의 백터 레지스터에 기록한 다음 해당 테스트 소자 레지스터 시프트 함수를 수행하는 단계, 데이터 패턴값의 종료치를 해당 테스트 소자의 백터 레지스터에 기록한 다음 해당 테스트 소자의 레지스터 시프트 함수를 수행하는 단계, 테스트가 끝나면 마이크로 에러 플래그 레지스터가 셋트되었는지를 확인하여 레지스터값이 "Ф"이면 다음 테스트 과정을 실시하고, "Ф"이 아니면 에러상태이므로 마이크로 에러 해당 테스트 소자 데이터를 마이크로 에러 레지스터에 기록하는 단계가 순차적으로 포함됨을 특징으로하는 CIP보드의 고장상태 표시방법.
  3. 제2항에 있어서, 해당 테스트소자 레지스터 시프트 함수 수행과정은, 데이터 패턴값을 취하고 해당테스트소자 레지스터를 선택한 다음 비트 패턴값을 기록하는 단계와, 비트 패턴값과 레지스터에 기록된 값이 일치하는지를 체크하는 단계, 일치하면 이터 패턴값을 시프트 시켜서 맨처음 받은 데이터 패턴값이 원위치로 올때까지 상기 과정을 반복수행하고 일치하지 않으면 마이크로 에러플래그 레지스터를 셋트시킨 후 다음 테스트를 실시하는 단계로 넘어가는 단계가 순차적으로이루어짐을 특징으로 하는 CIP보드의 고장상태 표시방법.
  4. 콘트롤 어드레서블 래치와 이 래치의 출력신호에 의해 "온" "오프"되는 CIP되는 램프 및 CIP패일램프로 이루어진 것에 있어서, 상기 CIP패일램프 측에는 함께 액티브되어 두개의 어드레스를 더 지정할 수 있도록 다른 콘트롤 어드레서블 래치의 게이트 단자가 접속되고 이 래치의 출력측에는 두개의 인코더의 게이트 단자가 접속되며 이 두개의 인코더의 출력측에는 7세그먼트가 접속되어 상기 두개의 어드레스에 해당하는 패일 데이터를 입력하여 상기 7세그먼트에 디스플레이 할 수 있도록 구성함을 특징으로 하는 CIP보드 고장상태 표시장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019900013876A 1990-09-03 1990-09-03 Cip보드 고장상태 표시방법 및 장치 KR920006830A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100753050B1 (ko) * 2005-09-29 2007-08-30 주식회사 하이닉스반도체 테스트장치

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KR100753050B1 (ko) * 2005-09-29 2007-08-30 주식회사 하이닉스반도체 테스트장치

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