KR840002107A - 검사 벡터 인덱싱 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

내용 없음

Description

검사 벡터 인덱싱 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 회로 성분(in circuit) 디지탈 검사기의 회로 계통도. 제2도는 본 발명을 실시하는 순차 제어회로 및 스위칭 회로부분의 회로계통도. 제3도는 상이한 검사 상태하에서 여러개의 순차 제어 레지스터(register)에 인가되는 클럭킹(clocking) 신호들내의 변화를 도시한 타이밍도.

Claims (10)

  1. 검사벡터 셋트를 저장하는 수단, 상기 검사 벡터내에 삽입될 변수 리스트를 저장하는 수단, 검사 패턴명령 셋트를 저장하는 수단, 저장된 검사 패턴 명령에 응답하여 상기 검사 벡터들 중 한 벡터를 호출하기 위해 제1어드레스 신호를 발생시키는 수단, 상기 변수들 중 한 변수를 호출하기 위해 제2어드레스 신호를 발생시키는 수단, 및 저장된 검사 패턴 명령에 응답하여 상기 검사벡터들 또는 상기 변수들 중의 한 벡터 또는 변수를 호출하도록 상기 제1 및 제2 어드레스 신호들 중의 한 신호를 선택적으로 사용하는 수단을 특징으로 하는, 검사 벡터들의 순차를 발생시키는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 동기 신호셋트를 저장하고 상기 제1어드레스 신호들 중의 예정된 신호에 응답하여 상기 동기 신호들을 호출하는 수단을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1어드레스신호에 응답하여 다음의 검사 패턴명령을 호출하는 수단을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항, 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 제2어드레스 신호가 호출된 검사 패턴명령에 응답하여 발생되는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 상기 항들중의 어느 한 항에 있어서, 상기 검사 벡터변수들 중의 예정된 변수의 어드레스에 관련된 위치에 레지스터를 인덱싱시키는 수단 및 변수 벡터가 메모리로부터 해독되는 검사 벡터들의 패턴내에 삽입될 때 레지스터의 인덱스된 위치에 응답하여 제1 메모리로부터 검사벡터를 해독하는 수단을 특징으로 하는 방법.
  6. 제5항에 있어서, 레지스터의 인덱스 위치가 제2메모리내에 저장된 검사 순차 명령들에 의해 정해지는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제1검사 벡터 셋트와 상기 제1검사 벡터 셋트내에 삽입될 변수들을 표시하는 제2검사벡터 셋트를 저장하기 위한 제1메모리, 검사 패턴 명령들을 저장하기 위한 제2메모리, 상기 제1셋트로부터 검사 벡터를 호출하도록 상기 제1메모리를 어드레싱하기 위해 상기 제2메모리 내에 저장된 명령들에 응답하는 검사 패턴 제어기, 상기 제2셋트로부터 검사 벡터를 호출하도록 상기 제1메모리를 어드레싱하기 위해 상기 제2메모리내에 저장된 명령들에 응답하는 벡터 데이타제어기, 및 상기 제2메모리로부터의 명령들에 따라 상기 검사 패턴 제어기 또는 상기 벡터 데이타 제어기로부터 상기 제1메모리로 어드레스 신호들을 선택적으로 인가시키기 위한 스위칭장치를 특징으로 하는, 검사벡터들의 순차를 발생시키는 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 검사 패턴 제어기로부터의 예정된 어드레스 신호들에 응답하여 호출되는 동기 정보를 저장하기 위한 제3 메모리를 특징으로 하는 장치.
  9. 제7항 또는 제8항에 있어서, 상기 벡터 데이타제어기가 어드레스 신호를 발생시키도록 상기 제2메모리로부터의 명령에 응답하여 예정된 위치에 인덱스되는 레지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제7항, 제8항 또는 제9항에 있어서, 상기 제2 메모리가 다음의 명령 신호들을 발생시키도록 상기 검사 패턴 제어기에 의해 발생된 어드레스 신호들에 응답하는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR8204688A 1981-10-19 1982-10-18 검사 벡터 인덱싱 방법 및 장치 KR890004450B1 (ko)

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