KR910020556A - 정보처리장치의 테스트 용이화회로 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예를 나타낸 블럭구성도, 제2도는 제1도에 도시한 구성의 동작을 설명하기 위한 동작 설명도, 제3도는 제1도에 도시한 구성의 테스트동작에서의 동작과 테스트벡터 및 테스트시간의 관계를 나타낸 도면.
Claims (3)
- 중앙처리유니트(16)와 주변장치(3)가 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)를 매개하여 접속되어 이루어진 정보처리장치와, 상기 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)와 외부간에서 어드레스신호 및 데이타를 입출력하는 입출력수단(4), 상기 주변장치(3)를 테스트할 때에 상기 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)를 상기 중앙처리유니트(16)로부터 분리해 내는 것과 테스트대상으로 되는 상기 주변장치(3)의 입출력동작, 상기 입출력수단(4)의 입출력동작 및 상기 중앙처리 유니트(16)의 동작을 제어하는 제어수단(14)이 동일한 반도체 기판상에 형성되어 구성된 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제어수단(14)은 상기 데이타 버스(13)를 상기 중앙처리유니트(16)로부터 소프트웨어적으로 분리시키도록 상기 중앙처리유니트(16)를 제어하는 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제어수단(14)은 상기 데이트대상으로 되는 상기 주변장치(3)에 어드레스신호가 상기 중앙처리유니트(16)로부터 연속적으로 공급되도록 상기 중앙처리유니트(16)를 제어하고, 상기 중앙처리유니트(16)에 대해 어드레스신호를 프리세트시키는 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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