KR910020556A - 정보처리장치의 테스트 용이화회로 - Google Patents

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KR910020556A
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마코토 시노하라
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아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
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Abstract

내용 없음

Description

정보처리장치의 테스트 용이화회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예를 나타낸 블럭구성도, 제2도는 제1도에 도시한 구성의 동작을 설명하기 위한 동작 설명도, 제3도는 제1도에 도시한 구성의 테스트동작에서의 동작과 테스트벡터 및 테스트시간의 관계를 나타낸 도면.

Claims (3)

  1. 중앙처리유니트(16)와 주변장치(3)가 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)를 매개하여 접속되어 이루어진 정보처리장치와, 상기 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)와 외부간에서 어드레스신호 및 데이타를 입출력하는 입출력수단(4), 상기 주변장치(3)를 테스트할 때에 상기 어드레스 버스(12) 및 데이타 버스(13)를 상기 중앙처리유니트(16)로부터 분리해 내는 것과 테스트대상으로 되는 상기 주변장치(3)의 입출력동작, 상기 입출력수단(4)의 입출력동작 및 상기 중앙처리 유니트(16)의 동작을 제어하는 제어수단(14)이 동일한 반도체 기판상에 형성되어 구성된 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제어수단(14)은 상기 데이타 버스(13)를 상기 중앙처리유니트(16)로부터 소프트웨어적으로 분리시키도록 상기 중앙처리유니트(16)를 제어하는 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제어수단(14)은 상기 데이트대상으로 되는 상기 주변장치(3)에 어드레스신호가 상기 중앙처리유니트(16)로부터 연속적으로 공급되도록 상기 중앙처리유니트(16)를 제어하고, 상기 중앙처리유니트(16)에 대해 어드레스신호를 프리세트시키는 것을 특징으로 하는 정보처리장치의 테스트용이화회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
KR1019910007836A 1990-05-16 1991-05-15 정보처리장치의 테스트용이화회로 KR950009691B1 (ko)

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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05233352A (ja) * 1992-02-19 1993-09-10 Nec Corp マイクロプロセッサ
FR2697356B1 (fr) * 1992-10-22 1994-12-09 Sagem Circuit intégré à la demande à microprocesseur.
US5432464A (en) * 1993-09-29 1995-07-11 Societe D'applications Generales D'electricite Et De Mecanique Sagem Application specific integrated circuit including a microprocessor for customized functions as defined by the user
JPH07110803A (ja) * 1993-10-13 1995-04-25 Nec Corp シングルチップマイクロコンピュータ
JP4899248B2 (ja) * 2001-04-02 2012-03-21 富士通セミコンダクター株式会社 半導体集積回路
US7673177B2 (en) * 2003-07-01 2010-03-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit and method for providing PCB power-on self test capability for peripheral devices
JP2005316643A (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Fuji Xerox Co Ltd 無線データ送受信システムのcpuエミュレータ
CN104182316A (zh) * 2013-05-22 2014-12-03 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 转换装置
CN104216464A (zh) * 2013-05-31 2014-12-17 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 转换装置
JP6241323B2 (ja) * 2014-03-06 2017-12-06 富士通株式会社 スイッチ装置、情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置の制御プログラム

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3921142A (en) * 1973-09-24 1975-11-18 Texas Instruments Inc Electronic calculator chip having test input and output
US4334268A (en) * 1979-05-01 1982-06-08 Motorola, Inc. Microcomputer with branch on bit set/clear instructions
JPS60207942A (ja) * 1984-03-30 1985-10-19 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 記憶コントロ−ラおよび記憶装置検査装置
US4878168A (en) * 1984-03-30 1989-10-31 International Business Machines Corporation Bidirectional serial test bus device adapted for control processing unit using parallel information transfer bus
US4654804A (en) * 1984-07-23 1987-03-31 Texas Instruments Incorporated Video system with XY addressing capabilities
US5032783A (en) * 1985-10-23 1991-07-16 Texas Instruments Incorporated Test circuit and scan tested logic device with isolated data lines during testing
JPH0821028B2 (ja) * 1986-04-23 1996-03-04 株式会社日立製作所 デ−タ処理装置
JPS6349870A (ja) * 1986-08-19 1988-03-02 Mitsubishi Electric Corp マイクロコンピユ−タ
KR880014482A (ko) * 1987-05-27 1988-12-24 미다 가쓰시게 반도체 집적회로 장치
JP2760157B2 (ja) * 1991-01-23 1998-05-28 日本電気株式会社 Lsiテスト方法

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EP0457115A3 (en) 1992-11-04

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