KR970072238A - 디스크리트 소자 테스트 장치 - Google Patents

디스크리트 소자 테스트 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970072238A
KR970072238A KR1019960012469A KR19960012469A KR970072238A KR 970072238 A KR970072238 A KR 970072238A KR 1019960012469 A KR1019960012469 A KR 1019960012469A KR 19960012469 A KR19960012469 A KR 19960012469A KR 970072238 A KR970072238 A KR 970072238A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
discrete
signal
unit
testing
Prior art date
Application number
KR1019960012469A
Other languages
English (en)
Inventor
강정수
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960012469A priority Critical patent/KR970072238A/ko
Publication of KR970072238A publication Critical patent/KR970072238A/ko

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

본 발명은 테스트 장치에 관한 것으로서, 특히 디스크리트 소자를 테스트하는 테스트 장치에 관한 것이다.
복수개의 디스크리트 소자를 병렬로 테스트하는 테스트 장치는, 다수의 디스크리트 소자에 인가되는 테스트 인가신호를 생성하는 테스트신호 생성부; 상기 테스트신호 생성부에서 생성된 신호를 상기 디스크리트 소자에 인가하고 디스크리트 소자에서 출력된 신호를 프로그램된 소정의 값과 비교하여 테스트하는 테스트부; 상기 테스트부에서 입출력되는 신호를 핸들러와 인터페이스하기 위한 헤드박스부; 및 로딩된 각 디스크리트 소자의 테스트 프로그램에 의해 상기 테스트신호 생성부와 상기 테스트부를 제어하는 중앙처리 제어부를 포함함한다.
본 발명에 따른 디스크리트 소자 테스트 장치는 복수개의 신호생성부와 테스트단을 구비하여 다수의 핸들러를 제어함으로써, 동시에 복수개의 디스크리트 소자를 신속하게 테스트하는 기능을 제공한다.

Description

디스크리트 소자 테스트 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 디스크리트 소자 테스트 장치를 설명하기위한 블록도이다.

Claims (4)

  1. 복수개의 디스크리트 소자를 병렬로 테스트하는 테스트 장치에 있어서, 다수의 디스크리트 소자에 인가되는 테스트 인가신호를 생성하는 테스트신호 생성부; 상기 테스트신호 생성부에서 생성된 신호를 상기 디스크리트 소자에 인가하고 디스크리트 소자에서 출력된 신호를 프로그램된 소정의 값과 비교하여 테스트하는 테스트부; 상기 테스트부에서 입출력되는 신호를 핸들러와 인터베이스하기 위한 핸드박스부; 및 로딩된 각 디스크리트 소자의 테스트 프로그램에 의해 상기 테스트신호 생성부와 상기 테스부를 제어하는 중앙처리 제어부를 포함함을 특징으로 하는 디스크리트 소자 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 신호생성부는 상기 중앙처리 제어부의 제어에 의해 디스크리트 소자에 인가되는 테스트 인가신호를 각각 생성하는 복수개의 신호생성단으로 구성됨을 특징으로 하는 디스크리트소자 테스트 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 테스트부는 상기 중앙처리 제어부의 제어에 의해 디스크리트 소자의 출력신호를 테스트하는 복수개의 테스트단으로 구성됨을 특징으로 하는 디스크리트 소자 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 복수개의 테스트단은 동시에 병렬로 테스트함을 특징으로 하는 디스크리트 소자 테스트 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
KR1019960012469A 1996-04-24 1996-04-24 디스크리트 소자 테스트 장치 KR970072238A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960012469A KR970072238A (ko) 1996-04-24 1996-04-24 디스크리트 소자 테스트 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960012469A KR970072238A (ko) 1996-04-24 1996-04-24 디스크리트 소자 테스트 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970072238A true KR970072238A (ko) 1997-11-07

Family

ID=66217123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960012469A KR970072238A (ko) 1996-04-24 1996-04-24 디스크리트 소자 테스트 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970072238A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200063564A (ko) * 2018-11-28 2020-06-05 주식회사 디에이아이오 플래시 메모리 장치의 제조 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200063564A (ko) * 2018-11-28 2020-06-05 주식회사 디에이아이오 플래시 메모리 장치의 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR870004454A (ko) 테스트 패턴 제너레이터
KR910017301A (ko) 제어 집중 시스템
KR910020554A (ko) 정보처리장치의 테스트 용이화 회로
KR890015125A (ko) 정보처리장치의 자기시험회로
TW344895B (en) Delay element tester and integrated circuit with test function
JPH01133164A (ja) メモリ試験装置の電源回路
KR970072238A (ko) 디스크리트 소자 테스트 장치
KR910020556A (ko) 정보처리장치의 테스트 용이화회로
KR920010308A (ko) 집적회로 검사장치
KR100273524B1 (ko) 시뮬레이션을 위한 크랭크각 신호 생성장치 및 그 방법
KR970022352A (ko) 반도체 장치의 다중 테스트 구조를 갖는 핸들러
KR970011888A (ko) 테스트 모드 변환 장치
KR970022343A (ko) 시험보드의 전력핀을 소프트웨어로 연결하는 반도체시험 장치
JPH02130485A (ja) 半導体検査装置
JPH01193673A (ja) Lsiテスタ電源のダイナミック制御機構
KR970048545A (ko) 반도체 로직 ic의 출력단 패드 제어회로
JP2002071744A (ja) バーンイン試験装置、試験方法及び記憶媒体
JPS59100918A (ja) 振動試験機の振動制御方法
JPS59182603A (ja) 出力波形制御装置
JPS5838832A (ja) 振動自動停止装置
KR920017129A (ko) 메모리 시험장치
KR19990046834A (ko) 진동발생장치를 제어하는 시스템
JPS6468673A (en) Semiconductor tester
JPH04343445A (ja) Lsiテストシステム
KR970073248A (ko) 카 오디오의 출력파형 자동검사 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination