JPS59182603A - 出力波形制御装置 - Google Patents
出力波形制御装置Info
- Publication number
- JPS59182603A JPS59182603A JP5695983A JP5695983A JPS59182603A JP S59182603 A JPS59182603 A JP S59182603A JP 5695983 A JP5695983 A JP 5695983A JP 5695983 A JP5695983 A JP 5695983A JP S59182603 A JPS59182603 A JP S59182603A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- amplitude
- frequency
- waveform
- load
- computer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/02—Digital function generators
- G06F1/03—Digital function generators working, at least partly, by table look-up
- G06F1/0321—Waveform generators, i.e. devices for generating periodical functions of time, e.g. direct digital synthesizers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2101/00—Indexing scheme relating to the type of digital function generated
- G06F2101/14—Probability distribution functions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は材料試験機等に使用される出力波形制御装置に
関する”。
関する”。
（ロ）従来技術
従来の材料の疲労試験は、負荷振幅及び負荷波形の周波
数を個別に設定していたから、小振幅、低周波の場合は
、いつまでも疲労せず、試験時間力・長くなる欠点があ
った。
数を個別に設定していたから、小振幅、低周波の場合は
、いつまでも疲労せず、試験時間力・長くなる欠点があ
った。
（ハ）発明の目的
本発明の目的は、負荷振幅の大きさによって出力波形周
波数を制御することにより試験すべき材料に効果的な疲
労を与え、試験期間を短縮しうる出力波形制御装置を提
供することにある。
波数を制御することにより試験すべき材料に効果的な疲
労を与え、試験期間を短縮しうる出力波形制御装置を提
供することにある。
（ニ）発明の構成
本発明の出力波形制御装置は、ノ辰幅信号に応して被試
験体に繰返し荷重を与えるための負荷波形を発生する装
置において、上記振幅信号に対し所定の関数関係をもつ
周波数信号を記憶するメモリを設け、被試験体に対する
負荷）膜幅の変化に対応して負荷波形の周波数が変化す
るよう構成されたことを特徴としている。
験体に繰返し荷重を与えるための負荷波形を発生する装
置において、上記振幅信号に対し所定の関数関係をもつ
周波数信号を記憶するメモリを設け、被試験体に対する
負荷）膜幅の変化に対応して負荷波形の周波数が変化す
るよう構成されたことを特徴としている。
（ホン実施例
以下、ランダム波を出力する装置について本発明の詳細
な説明する。
な説明する。
第１図に実施例のブロック図を示す。コンピュータｌは
制御部、演算部、記１９部、を内臓し、記憶部（メモリ
）５は、出力振幅ａと出力周波数ｆを一対一に対応させ
゛る関数テーブル、及びプログラムを含んでいる。プロ
グラムの概要を示すフロ−チャートを第２図に示し、出
力振１陥と出刃周波数の関数関係の一例を第３図に示す
。インターフェース２は波形発生器を含み、コンピュー
タ１の指示に従い波形情報を発生ずる。Ｄ／Ａ変換器３
ばデジタル波形情報をアナログ信号に変換し、試験機４
は試験すべき材料に対し負荷を与える。インターフェー
ス２ばコンピュータ１から入力される波形情報が波形の
極値に達したときコンピュータ１に対し割り込め信号を
発する。コンピュータ１には乱数発生装置６が外部接続
されている。
制御部、演算部、記１９部、を内臓し、記憶部（メモリ
）５は、出力振幅ａと出力周波数ｆを一対一に対応させ
゛る関数テーブル、及びプログラムを含んでいる。プロ
グラムの概要を示すフロ−チャートを第２図に示し、出
力振１陥と出刃周波数の関数関係の一例を第３図に示す
。インターフェース２は波形発生器を含み、コンピュー
タ１の指示に従い波形情報を発生ずる。Ｄ／Ａ変換器３
ばデジタル波形情報をアナログ信号に変換し、試験機４
は試験すべき材料に対し負荷を与える。インターフェー
ス２ばコンピュータ１から入力される波形情報が波形の
極値に達したときコンピュータ１に対し割り込め信号を
発する。コンピュータ１には乱数発生装置６が外部接続
されている。
次に、第２図に示すプログラムのフローチ中−トと、第
４図の出力波形例に従い、実施例の作用を説明する。は
じめフラグには“０″であって、乱数のひとつを取り込
んで振幅ａ、及び関数テーブルにより定まる周波数ｆ１
を決定し、波形情報をインターフェース２へ出力する。
４図の出力波形例に従い、実施例の作用を説明する。は
じめフラグには“０″であって、乱数のひとつを取り込
んで振幅ａ、及び関数テーブルにより定まる周波数ｆ１
を決定し、波形情報をインターフェース２へ出力する。
ここでフラグにし−１にセットする。インターフェース
２による出力波形が極値に達するとコンピュータに割り
込みがかかり、波形出力が一瞬停止され、次の乱数を取
り込んで振幅ａ２及び周波数ｆ２を決定し、ごの波形情
報がインターフェース２に出力される。
２による出力波形が極値に達するとコンピュータに割り
込みがかかり、波形出力が一瞬停止され、次の乱数を取
り込んで振幅ａ２及び周波数ｆ２を決定し、ごの波形情
報がインターフェース２に出力される。
この手順が繰り返されて第４図に示すようなランダム正
弦波形が試験機４に加えられる。 本５ｅ明の出力波形
は、ランダム波に１ｖらず、振幅がある確率分布例えば
正規分布に従うもの、或いは単調に増加又は減少するも
の、１辰幅が周期的に変化する変調波等、種々な波形に
適用することができる。
弦波形が試験機４に加えられる。 本５ｅ明の出力波形
は、ランダム波に１ｖらず、振幅がある確率分布例えば
正規分布に従うもの、或いは単調に増加又は減少するも
の、１辰幅が周期的に変化する変調波等、種々な波形に
適用することができる。
（へ）発明の効果
本発明によれば、振幅が小さいときに周波数が高（なり
、振幅が大きくなると周波数が低くなるように振幅と周
波数を相関させれば、振幅の大小にかかわらす常時はぼ
一定の疲労を材料に加えることができ、振幅が小さく且
つ周波数が低くていつまでも材料が疲弊しないというこ
とがなくなり、効果的な試験を行うことができ、試験時
間を短縮することができる。
、振幅が大きくなると周波数が低くなるように振幅と周
波数を相関させれば、振幅の大小にかかわらす常時はぼ
一定の疲労を材料に加えることができ、振幅が小さく且
つ周波数が低くていつまでも材料が疲弊しないというこ
とがなくなり、効果的な試験を行うことができ、試験時
間を短縮することができる。
第１図は本発明の実施例を示ずブロック図、第２図はプ
ログラムの内容を示すフローチ中−ト、第３図は振幅ａ
と周波数ｆの関数関係の一例を示ず図、第４図は出力波
形の一例を示す図である。 １−コンピュータ ４−試験機 ５− メモリ 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士 西 １） 新
ログラムの内容を示すフローチ中−ト、第３図は振幅ａ
と周波数ｆの関数関係の一例を示ず図、第４図は出力波
形の一例を示す図である。 １−コンピュータ ４−試験機 ５− メモリ 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士 西 １） 新
Claims (1)
- 振幅信号に応じて被試験体に繰返し荷重を与えるための
負荷波形を発生する装置において、上記振幅信号に対し
所定の関数関係をもつ周波数信号を記憶するメモリを設
け、被試験体に対する負荷振幅の変化に対応して負荷波
形の周波数が変化するよう構成された出力波形制御装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5695983A JPS59182603A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 出力波形制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5695983A JPS59182603A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 出力波形制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59182603A true JPS59182603A (ja) | 1984-10-17 |
Family
ID=13042071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5695983A Pending JPS59182603A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 出力波形制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59182603A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0897111A2 (en) * | 1997-08-13 | 1999-02-17 | Japan Tobacco Inc. | Material testing machine |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656005A (en) * | 1979-10-12 | 1981-05-16 | Shimadzu Corp | Random-waveform generator |
| JPS5760706A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-12 | Shinko Electric Co Ltd | Generating device for variable frequency voltage |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5695983A patent/JPS59182603A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5656005A (en) * | 1979-10-12 | 1981-05-16 | Shimadzu Corp | Random-waveform generator |
| JPS5760706A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-12 | Shinko Electric Co Ltd | Generating device for variable frequency voltage |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0897111A2 (en) * | 1997-08-13 | 1999-02-17 | Japan Tobacco Inc. | Material testing machine |
| EP0897111A3 (en) * | 1997-08-13 | 2000-01-12 | Japan Tobacco Inc. | Material testing machine |
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