JPH0376428A - Ａ／ｄコンバータ - Google Patents

Ａ／ｄコンバータ

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Publication number
JPH0376428A
JPH0376428A JP21356689A JP21356689A JPH0376428A JP H0376428 A JPH0376428 A JP H0376428A JP 21356689 A JP21356689 A JP 21356689A JP 21356689 A JP21356689 A JP 21356689A JP H0376428 A JPH0376428 A JP H0376428A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
converter
reference voltage
analog input
register
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP21356689A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Mio
三尾　雅夫
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はＡ／Ｄコンバータのテスト機能に関するもの
である。
〔従来の技術〕
第２図は従来のＡ／Ｄコンバータの回路図で、図におい
て、（１）はコンパレータ、（２）はアナログ入力端子
、（３）は基準電圧を発生するためのラダー抵抗、（４
）はＡ／Ｄ変換したデータを格納するＡ／Ｄレジスタ、
（５）は基準電圧の選択をするためのＡ／Ｄ制御回路で
ある。
次に動作について説明する。８ビツトのＡ／Ｄ変換を行
なう場合、アナログ入力端子（２）より入力された電圧
は、まずＶｃｃ／２の基準電圧と比較され、その比較結
果がＡ／Ｄレジスタ（４）の最上位ビットである８ビツ
ト目に格納される。この比較結果により、Ａ／Ｄ制御回
路（５）により、次に比較する基準電圧がＶｃｃ／４か
３Ｖｃｃ／４かが選択される。この時、Ｖｃｃ／２より
アナログ入力が小さいとすると、次に基準電圧はＶｃｃ
／４が選択される。Ｖｃｃ／４とアナログ入力の比較結
果がアナログ入力の方が小ざい時、Ａ／Ｄレジスタ（４
）のビット６に′ｏ＃が書き込まれ、次の基準電圧がＶ
ｃｃ／８に選択される。このような動作を８回くり返す
ことによりＡ／Ｄ変換が実行される。このようなＡ／Ｄ
コンバータをテストする場合は、８ビツトＡ／Ｄコンバ
ータである場合、２５６段階のアナログ値の電圧を外部
より入力することが必要となる。
〔発明が解決しようとする課題］ 従来のＡ／Ｄコンバータは以上のように構成されていた
ので、デジタルＩＣをテストするテスターを使用した時
、ＩＣの外部にはノイズが多くあり、Ａ／Ｄコンバータ
の実際の実力に対して測定結果が悪く出てしまうという
問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、外部よりアナログ入力電圧をすべて入力しな
いでも、Ａ／Ｄコンバータのテストが可能なＡ／Ｄコン
バータを得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係るＡ／Ｄコンバータは、アナログ入力線に
基準電圧発生回路の出力を接続可能なようにするととも
に、この時、基準電圧の出力を選択できるよ、うにした
ものである。
〔作用〕
この発明におけるＡ／Ｄコンバータは、テストする時に
外部よりアナログ入力を入力することなく、ＩＣの内部
でアナログ電圧を選択することが可能になることにより
、ＩＣの外部の環境にかかわらず、Ａ／Ｄコンバータの
テストが可能となる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、（１１はコンパレータ、（２）はアナログ
入力端子、（３）は基準電圧発生回路、（４）はコンパ
レータ（１）の出力を格納するＡ／Ｄレジスタ、（５）
はＡ／Ｄレジスタ（４）に格納されたデータにより次の
基準電圧を選択するためのＡ／Ｄ制御回路、（６）はテ
スト時にアナログ入力端子に出力する電圧を選択するＡ
／Ｄテストレジスタである。
次に動作について説明する。通常の使用時については前
記従来のものと同様の動作を行なうが、テスト時にはＡ
／Ｄテストレジスタ（６）により選択されたアナログ電
圧がアナログ入力端子（２）と接続され、この電圧をＡ
／Ｄ変換することにより、テストを実行する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、外部よりアナログ入力
を入力することなく、内部にてアナログ値を発生するこ
とが可能なようにしたので、精度の高いＡ／Ｄコンバー
タのテストが可能なＡ／Ｄコンバータが得られるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の一実施例によるテスト用の回路を内
蔵したＡ／Ｄコンバータの回路図、第２図は従来のＡ／
Ｄコンバータの回路図である。 図において、（１）はコンパレータ、（３）は基準電圧
発生回路、（４）はＡ／Ｄレジスタ、（５）はＡ／Ｄ制
御回路、（６）はＡ／Ｄテストレジスタを示す。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. アナログ入力を基準電圧と比較することによりデジタル
    値に変換するＡ／Ｄコンバータにおいて、基準電圧発生
    回路の出力電圧をテストモード時に外部に出力すること
    が可能なことを特徴とするＡ／Ｄコンバータ。
JP21356689A 1989-08-18 1989-08-18 Ａ／ｄコンバータ Pending JPH0376428A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21356689A JPH0376428A (ja) 1989-08-18 1989-08-18 Ａ／ｄコンバータ

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JPH0376428A true JPH0376428A (ja) 1991-04-02

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JP21356689A Pending JPH0376428A (ja) 1989-08-18 1989-08-18 Ａ／ｄコンバータ

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JP (1) JPH0376428A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06181434A (ja) * 1992-12-14 1994-06-28 Hitachi Ltd アナログ・ディジタル変換装置の異常検出方式
JP2011038876A (ja) * 2009-08-10 2011-02-24 Yazaki Corp 複数組電池の電圧測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH06181434A (ja) * 1992-12-14 1994-06-28 Hitachi Ltd アナログ・ディジタル変換装置の異常検出方式
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