KR960027358A - 아날로그/디지탈(a/d) 변환기의 자기진단 회로 - Google Patents

Abstract

본 발명은 A/D 변환기의 자기진단 회로는 A/D 변환기 자체에 자기진단 기능을 수행할 수 있는 회로를 부가함으로서 칩내의 다른 블럭과 병행하여 보다 고속의 자기진단을 실행할 수 있도록 한 것으로, 이를 위하여, 본 발명은, 자기진단 레지스터로부터의 세팅신호에 의거하여 각 블럭을 초기화함과 동시에 인터럽트 플래그 신호에 의거하여 자기진단 수행을 위한 각 블럭으로의 제어신호를 발생하는 제어수단, 이 제어수단으로부터의 제어신호 의거하여 증가 카운트 동작을 수행하고 오버플로우가 발생하는 경우 상기 제어수단에 그에 따른 중지 신호를 발생하는 상기 카운터, 아날로그 값으로 변환된 상기 카운터로부터의 카운트값과 상기 카운터로부터의 홀딩되어 입력되는 값을 비교한 다음 그에 상응하는 출력신호를 발생하는 제1비교수단, 입력 데이타신호에 대하여 MSB에서부터 LSB까지 순차적으로 각 비트를 변환하여 디지탈 데이타를 발생한 다음 아날로그 데이타로 변환하여 상기 제1비교수단에 제공하고 상기 LSB까지의 변환이 종료되면 인터럽트 플래그 신호를 발생하는 변환 제어수단, 상기 카운터로부터의 출력신호와 상기 변환 제어수단으로부터의 디지탈 데이타신호를 비교한 다음 그 비교결과에 상응하여 플래그 신호의 발생과 상기 카운터의 카운트값 증가를 제어하는 제2비교수단을 구비함으로서, 기능 테스트시에 사용자의 이용 편리성을 증진시키고 자기진단 회로를 A/D 변환기의 자체에 내장함으로서 테스트시의 이용 편리성을 증진시키고 또한 다른 블럭과 동시에 테스트가 가능하도록 하여 실제적인 테스트 시간을 단축시킬 수 있도록 한 것이다.

Description

아날로그/디지탈(A/D) 변환기의 자기진단 회로

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제2도는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 A/D 변환기의 자기진단 회로에 대한 블럭구성도, 제3도는 본 발명의 바람직한 다른 실시예에 따른 A/D 변환기의 자기진단 회로에 대한 블럭구성도.

Claims (6)

1. A/D 변환기의 기능 체크를 위한 자기진단 회로에 있어서, 자기진단 레지스터로부터의 세팅신호에 의거하여각 블럭을 초기화함과 동시에 인터럽트 플래그 신호에 의거하여 자기진단 수행을 위한 각 블럭으로의 제어신호를 발생하는 제어수단; 상기 제어수단으로부터의 제어신호에 의거하여 증가 카운트 동작을 수행하고 오버플로우가 발생하는 경우상기 제어수단에 그에 따른 중지신호를 발생하는 상기 카운터 ; 아날로그 값으로 변환된 상기 카운터로부터의 카운트값과상기 카운터로부터의 홀딩되어 입력되는 값을 비교한 다음 그에 상응하는 출력신호를 발생하는 제1비교수단 ; 입력 데이타신호에 대하여 MSB에서부터 LSB까지 순차적으로 각 비트를 변환하여 디지탈 데이타를 발생한 다음 아날로그 데이타로변환하여 상기 제1비교수단에 제공하고 상기 LSB까지의 변환이 종료되면 인터럽트 플래그 신호를 발생하는 변환 제어수단; 및 상기 카운터로부터의 출력신호와 상기 변환 제어수단으로부터의 디지탈 데이타신호를 비교한 다음 그 비교결과에 상응하여 플래그 신호의 발생과 상기 카운터의 카운트값 증가를 제어하는 제2비교수단으로 이루어진 A/D 변환기의 자기진단회로.
2. 제1항에 있어서, 상기 제1비교수단은, 상기 카운터의 아날로그 출력값을 디지탈 신호로 변환하는 저항 래더와, 상기 카운터로부터의 카운트값을 변환한 상기 저항 래더로부터의 아날로그 출력값을 홀딩하는 샘플/홀드수단과, 상기 저항 래더와 샘플/홀드수단의 출력을 각 입력으로 하여 그 값을 비교한 다음 그 비교결과에 상응하는 출력신호를 상기변환 제어수단에 제공하는 비교기로 구성된 것을 특징으로 하는 A/D 변환기의 자기진단 회로.
3. 제2항에 있어서, 상기 샘플/홀드수단은 자기진단 모드일때 상기 카운터로부터의 카운트값을 변환한 상기저항 래더의 출력값을 홀딩하는 것을 특징으로 하는 A/D 변환기의 자기진단 회로.
4. 제1항에 있어서, 상기 제2비교수단은, 상기 카운터로부터의 출력과 상기 변환 제어수단으로부터의 출력을각 입력으로 하여 그 값을 비교하는 제1비교기인 것을 특징으로 하는 A/D 변환기의 자기진단 회로.
5. 제1항에 있어서, 상기 제2비교수단은 프로그램에 의해 세팅 가능한 기준값을 갖는 기준값 레지스터와, 상기 카운터로부터의 카운트값에서 상기 변환 제어수단으로부터의 디지탈 출력값을 감산하는 감산기와, 상기 기준값 레지스터로부터의 기준값과 상기 감산기로부터의 출력값을 비교한 다음 그 비교결과에 상응하는 상기 플래그 신호를 발생하는 제2비교기로 구성된 것을 특징으로 하는 A/D 변환기의 자기진단 회로.
6. 제5항에 있어서, 상기 제2비교기는 상기 감산기의 출력값이 허용 오차값 보다 큰 경우 상기 플래그신호를 발생함과 동시에 이때의 카운트값이 출력되도록 동작하는 것을 특징으로 하는 A/D 변환기의 자기진단 회로.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.