JPS59100918A - 振動試験機の振動制御方法 - Google Patents
振動試験機の振動制御方法Info
- Publication number
- JPS59100918A JPS59100918A JP57210218A JP21021882A JPS59100918A JP S59100918 A JPS59100918 A JP S59100918A JP 57210218 A JP57210218 A JP 57210218A JP 21021882 A JP21021882 A JP 21021882A JP S59100918 A JPS59100918 A JP S59100918A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vibration
- level
- agc
- circuit
- generator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
- G01M7/02—Vibration-testing by means of a shake table
- G01M7/022—Vibration control arrangements, e.g. for generating random vibrations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は振動試験機に印加する交流信号の振幅を制御す
る方法に関する。
る方法に関する。
バネ材等の長期疲労試験を行う場合に、プログラムによ
って試験機への印加信号を複数のステージに分割し、各
ステージ毎に周波数、レベルおよび振幅を変化させてい
る。
って試験機への印加信号を複数のステージに分割し、各
ステージ毎に周波数、レベルおよび振幅を変化させてい
る。
すなわち、第１図に示す如く所定時間毎に周波数、レベ
ルおよび振幅の異なる交流信号を発生させ、これを試験
機に印加しているが、印加信号の振幅を一定にするため
に通常回路中にＡＧＣ回路を接続している。しかし、こ
のＡＧＣ＠路は連続的にしか動作しないため、各ステー
ジへの切換ねり時に、ＡＧＣ回路の感度が大きいと第２
図ａの如くオーバーシュートし、一定振幅に達するまで
時間か掛り、またＡＧＣ回路の感度が小さいと第２図す
の如く徐々に振幅か大きくなり、やはり一定振幅に達す
るまで時間が掛り、さらにＡＧＣ回路の感度が中程度で
あると第２図Ｃの如（一定振幅に達するまでの時間は短
いか、オーバーシュートするという欠点がある。これば
各ステージ毎にＡＧＣゲインが異なるために発生するこ
とである。
ルおよび振幅の異なる交流信号を発生させ、これを試験
機に印加しているが、印加信号の振幅を一定にするため
に通常回路中にＡＧＣ回路を接続している。しかし、こ
のＡＧＣ＠路は連続的にしか動作しないため、各ステー
ジへの切換ねり時に、ＡＧＣ回路の感度が大きいと第２
図ａの如くオーバーシュートし、一定振幅に達するまで
時間か掛り、またＡＧＣ回路の感度が小さいと第２図す
の如く徐々に振幅か大きくなり、やはり一定振幅に達す
るまで時間が掛り、さらにＡＧＣ回路の感度が中程度で
あると第２図Ｃの如（一定振幅に達するまでの時間は短
いか、オーバーシュートするという欠点がある。これば
各ステージ毎にＡＧＣゲインが異なるために発生するこ
とである。
ところで、この種の試験機ｑあっては、試験機への印加
信号電圧がオーバーシュートするということは、試験片
に予定値以上の振動が加わり、正確なる試験が行えない
ことになる。従って、印加信号電圧としては、オーバー
シュートすることのない、すなわち、ＡＧＣ回路に感度
か小さなものを使用しなげればならない。しかし、この
ＡＧＣ回路を使用した場合には、上記した如く一定振幅
に達するまでに時間が掛り過ぎるという欠点がある。
信号電圧がオーバーシュートするということは、試験片
に予定値以上の振動が加わり、正確なる試験が行えない
ことになる。従って、印加信号電圧としては、オーバー
シュートすることのない、すなわち、ＡＧＣ回路に感度
か小さなものを使用しなげればならない。しかし、この
ＡＧＣ回路を使用した場合には、上記した如く一定振幅
に達するまでに時間が掛り過ぎるという欠点がある。
本発明は叙上の欠点を是正せんとするもので、その目的
とするところは、各ステージ毎にＡＧＣ回路のゲインを
切換えて、各ステージに最適なゲインでＡＧＣを掛ける
ようにした振動試験機の振動制御方法を提供するにある
。
とするところは、各ステージ毎にＡＧＣ回路のゲインを
切換えて、各ステージに最適なゲインでＡＧＣを掛ける
ようにした振動試験機の振動制御方法を提供するにある
。
次に本発明の一実施例を第３図と共に説明する。
ＧはコンピュータＣＰＵの入出力端子Ｉ ／ ０１より
の波形情報により振幅、周波数、レベルの異なる交流信
号を出力するジェネレータ、Ａｃは該ジェネレータＧよ
りの出力と後述する増幅器Ａ２よりの出力を加算する加
算器、Ａ１は該加算器ＡＣよりの出力を増幅する増幅器
、Ａ２は振動試験機１の振動ピックアップ１３よりの出
力を増幅する増幅器、八ｇは該増幅器Ａ２よりの出力と
ジェネレータＧよりの出力との振幅を比較しゲインコン
ト１コールするＡＧＣ回路、ＣＰＣはコンピュータにし
て、入出力端子Ｉ ／ Ｏ＋に接続され、ジェネレータ
Ｇを第１図に示す３種類の交流信号を送出するように制
御するメモリＭ１〜Ｍ３と、最初の各ステージにおける
ＡＧＣ回路Ａｇにおける最終値等の安定したＡＧＣレヘ
レベ記憶するバッファＢ１〜Ｂ３と、一定時間毎、すな
わち第１図におけるｊ ｒ −ｊ ３時間毎に順次出力
を送出するタイマＴおよび該タイマＴの切換毎に入出力
端子ｌ１０１と■１０２さらニＡ Ｇ Ｃ回路Ａｇを制
御し、メモリＭ１〜Ｍ３の値をジェネレータＧに、また
バッファＢ Ｉ−８３の値をＡＧＣ回路Ａｇの初期値と
して与える制御回路Ｓとより構成されている。
の波形情報により振幅、周波数、レベルの異なる交流信
号を出力するジェネレータ、Ａｃは該ジェネレータＧよ
りの出力と後述する増幅器Ａ２よりの出力を加算する加
算器、Ａ１は該加算器ＡＣよりの出力を増幅する増幅器
、Ａ２は振動試験機１の振動ピックアップ１３よりの出
力を増幅する増幅器、八ｇは該増幅器Ａ２よりの出力と
ジェネレータＧよりの出力との振幅を比較しゲインコン
ト１コールするＡＧＣ回路、ＣＰＣはコンピュータにし
て、入出力端子Ｉ ／ Ｏ＋に接続され、ジェネレータ
Ｇを第１図に示す３種類の交流信号を送出するように制
御するメモリＭ１〜Ｍ３と、最初の各ステージにおける
ＡＧＣ回路Ａｇにおける最終値等の安定したＡＧＣレヘ
レベ記憶するバッファＢ１〜Ｂ３と、一定時間毎、すな
わち第１図におけるｊ ｒ −ｊ ３時間毎に順次出力
を送出するタイマＴおよび該タイマＴの切換毎に入出力
端子ｌ１０１と■１０２さらニＡ Ｇ Ｃ回路Ａｇを制
御し、メモリＭ１〜Ｍ３の値をジェネレータＧに、また
バッファＢ Ｉ−８３の値をＡＧＣ回路Ａｇの初期値と
して与える制御回路Ｓとより構成されている。
一方、振動試験機１はアンプＡ＋よりの出方によってア
クチュエータ１１を振動させる駆動源のサーボバルブ１
２を開閉（開度調整であって、その開度に応じてアクチ
ュエータ１１の振動量が変化する）させアクチュエータ
１１の振動量を制御すると共にその振動量はピックアッ
プ１３で検知され、増幅器Ａ２に伝送される。なお、２
はバネ材等の試験片である。
クチュエータ１１を振動させる駆動源のサーボバルブ１
２を開閉（開度調整であって、その開度に応じてアクチ
ュエータ１１の振動量が変化する）させアクチュエータ
１１の振動量を制御すると共にその振動量はピックアッ
プ１３で検知され、増幅器Ａ２に伝送される。なお、２
はバネ材等の試験片である。
次に上記した構成に基いて動作を説明するに、先ず、コ
ンピュータＣＰＵのタイマＴよりのｔ１時間制御回路Ｓ
がメモリＭ】の内容をＩ ／ ０１を介してジェネレー
タＧに送出する。これによりジェネレータＧは第１図の
ｔ１時間における交流信号を発生ずる。この信号は加算
器Ａｃ、増幅器Ａ１を介してサーボバルブ】２に印加さ
れ、アクチュエータ１１は振動を開始する。そしてこの
振動はピックアップ１３で検出され、その出力が増幅器
Ａ２を介して加算器Ａｃにフィードバックされると共に
ＡＧＣ回路Ａｇにも入力される。ここでＡＧＣ回路Ａ’
ｇはジェネレータＧよりの出力と比較し、サーボバルブ
１２への出力波形における振幅が一定となるように増幅
器Ａ１を制御する。この時、ＡＧＣ回路Ａｇの感度を低
くしてサーボバルブ１２への信号波形がオーバーシュー
トしないようにする。
ンピュータＣＰＵのタイマＴよりのｔ１時間制御回路Ｓ
がメモリＭ】の内容をＩ ／ ０１を介してジェネレー
タＧに送出する。これによりジェネレータＧは第１図の
ｔ１時間における交流信号を発生ずる。この信号は加算
器Ａｃ、増幅器Ａ１を介してサーボバルブ】２に印加さ
れ、アクチュエータ１１は振動を開始する。そしてこの
振動はピックアップ１３で検出され、その出力が増幅器
Ａ２を介して加算器Ａｃにフィードバックされると共に
ＡＧＣ回路Ａｇにも入力される。ここでＡＧＣ回路Ａ’
ｇはジェネレータＧよりの出力と比較し、サーボバルブ
１２への出力波形における振幅が一定となるように増幅
器Ａ１を制御する。この時、ＡＧＣ回路Ａｇの感度を低
くしてサーボバルブ１２への信号波形がオーバーシュー
トしないようにする。
そしてこのＡ’ＧＣ回路Ａｇにおける最適レベルは、す
なわぢ、増幅器Ａ１よりの出力波形における振幅が一定
となった時のＡＧＣレベルは、入出力端子ｌ１０２を介
してコンピュータＣＰＵのバッファＢ１に記憶される。
なわぢ、増幅器Ａ１よりの出力波形における振幅が一定
となった時のＡＧＣレベルは、入出力端子ｌ１０２を介
してコンピュータＣＰＵのバッファＢ１に記憶される。
次に、タイマＴが時間ｔ１を過ぎると制御回路Ｓが動作
してメモリＭ２の信号をジェネレータＧに入力する。従
ってジェネレータＧは第１図の時間ｔ２における出力を
送出する。以下上記したと同様な動作が行われ、この時
におけるＡＧＣ回路Ａｇの最適レベルがバッファＢ２に
記憶される。
してメモリＭ２の信号をジェネレータＧに入力する。従
ってジェネレータＧは第１図の時間ｔ２における出力を
送出する。以下上記したと同様な動作が行われ、この時
におけるＡＧＣ回路Ａｇの最適レベルがバッファＢ２に
記憶される。
さらに、タイマＴが時間ｔ２を過ぎると制御回路Ｓが動
作してメモリＭ３の信号をジェネレータＧに入力するの
で、第１図の時間ｔ３における信号をジェネレータＧか
出力する。そして、この場合におけるＡＧＣ回路Ａｇの
最適レベルがバッファＢ３に記憶される。
作してメモリＭ３の信号をジェネレータＧに入力するの
で、第１図の時間ｔ３における信号をジェネレータＧか
出力する。そして、この場合におけるＡＧＣ回路Ａｇの
最適レベルがバッファＢ３に記憶される。
このように、各ステージにおける最適なＡＧＣレベルが
バッファＢ１〜Ｂ３に記憶される。
バッファＢ１〜Ｂ３に記憶される。
次に、タイマＴが時間む３を経過すると、再び制御回路
ＳがメモリＭ１の信号をジェネレータＧに入力するので
、ジェネレータＧは第１図の時間ｔ１における出力を送
出する。一方、制御回路ＳハハソファＢ１に記憶した上
記ＡＧＣレベルをＡＣＣ回路Ａｇの初期値として入力す
る。従ってＡＧＣ回路Ａｇはステージが切換えられた瞬
間から直ちに、そのステージにおける最適レベルのＡＧ
Ｃを↑１）けるので、信号波形は瞬時に一定振幅となり
安定した信号がサーボバルブ１２に入力゛される。
ＳがメモリＭ１の信号をジェネレータＧに入力するので
、ジェネレータＧは第１図の時間ｔ１における出力を送
出する。一方、制御回路ＳハハソファＢ１に記憶した上
記ＡＧＣレベルをＡＣＣ回路Ａｇの初期値として入力す
る。従ってＡＧＣ回路Ａｇはステージが切換えられた瞬
間から直ちに、そのステージにおける最適レベルのＡＧ
Ｃを↑１）けるので、信号波形は瞬時に一定振幅となり
安定した信号がサーボバルブ１２に入力゛される。
また、タイマＴが時間ｔ１経過後、制御回路Ｓが次のス
テージに切換えても、そのステージにおける最適レベル
の信号がＡＧＣ回路Ａｇの初期値としてハソファＢ２か
ら与えるので、振幅一定の信号出力がサーボバルブ１２
に入力される。
テージに切換えても、そのステージにおける最適レベル
の信号がＡＧＣ回路Ａｇの初期値としてハソファＢ２か
ら与えるので、振幅一定の信号出力がサーボバルブ１２
に入力される。
以下同様に、ステージが切換えられる毎に、そのステー
ジに適したＡＧＣレヘレベＡＧＣ回路Ａｇに入力される
ので、振幅一定な出力信号によってサーボバルブ１２が
駆動されるものである。
ジに適したＡＧＣレヘレベＡＧＣ回路Ａｇに入力される
ので、振幅一定な出力信号によってサーボバルブ１２が
駆動されるものである。
なお、上記において、ＡＧＣ回路Ａｇの感度は低いため
サーボバルブ１２への出力信号がオーバシュートするこ
とがなく、従って試験片２に予定外な外力が加わること
がなく、安全な振動試験が行えるものである。
サーボバルブ１２への出力信号がオーバシュートするこ
とがなく、従って試験片２に予定外な外力が加わること
がなく、安全な振動試験が行えるものである。
本発明は上記したように、各ステージ毎の安定した最適
ＡＧＣレベルを各周期において記憶し、２周目からは上
記した前の周期における最適ＡＧＣレベルをＡ’Ｇ Ｃ
回路の初期値として入力するようにしたことによって、
２周目以降における振動制御信号出力は、安定した一定
振幅の出力波形となり、従って正確なる振動試験を行う
ことができる等の効果を有するものである。
ＡＧＣレベルを各周期において記憶し、２周目からは上
記した前の周期における最適ＡＧＣレベルをＡ’Ｇ Ｃ
回路の初期値として入力するようにしたことによって、
２周目以降における振動制御信号出力は、安定した一定
振幅の出力波形となり、従って正確なる振動試験を行う
ことができる等の効果を有するものである。
第１図は振動試験機に印加する信号の波形図、第２図は
上記波形における初期状態を示す波形図、第３図は本発
明における振動制御方法を実施するためのブロック図で
ある。 １・・・１辰動δ氏験］幾、Ｇ・・・ジェネレータ、Ａ
ｇ・・・ＡＣＣ回路
上記波形における初期状態を示す波形図、第３図は本発
明における振動制御方法を実施するためのブロック図で
ある。 １・・・１辰動δ氏験］幾、Ｇ・・・ジェネレータ、Ａ
ｇ・・・ＡＣＣ回路
Claims (1)
- 所定時間毎に周波数、振幅、レベルが異なる複数のステ
ージ毎に切換えて振動試験機の振動を制御する方法にお
いて、該制御系に接続されるＡＧＣ回路の最３１Ａｃｃ
レベルを、上記ステージの各周期において記憶し、２周
期日からは前の周期における各ステージの最１ＡＧｃレ
ベルを初期値として入力することを特徴とする振動試験
機の振動制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57210218A JPS59100918A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 振動試験機の振動制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57210218A JPS59100918A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 振動試験機の振動制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59100918A true JPS59100918A (ja) | 1984-06-11 |
Family
ID=16585737
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57210218A Pending JPS59100918A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | 振動試験機の振動制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59100918A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0521853A1 (en) * | 1990-05-21 | 1993-01-13 | Marcos A Underwood | ADAPTIVE CONTROL METHOD USED IN SINE WAVE TESTING OF MULTIPLE EXCITERS. |
| JP2002071506A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-08 | Akashi Corp | 振動試験装置 |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP57210218A patent/JPS59100918A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0521853A1 (en) * | 1990-05-21 | 1993-01-13 | Marcos A Underwood | ADAPTIVE CONTROL METHOD USED IN SINE WAVE TESTING OF MULTIPLE EXCITERS. |
| JP2002071506A (ja) * | 2000-08-28 | 2002-03-08 | Akashi Corp | 振動試験装置 |
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