JP2002071506A

JP2002071506A - 振動試験装置

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Publication number: JP2002071506A
Application number: JP2000257696A
Authority: JP
Inventors: Naoto Nakamura; 直人中村
Original assignee: Akashi Corp
Current assignee: Akashi Corp
Priority date: 2000-08-28
Filing date: 2000-08-28
Publication date: 2002-03-08

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明の課題は、被試験体に対する一連の振
動試験内で、定点加振と掃引加振を組合せた複合的な加
振が可能な振動試験装置を提供することである。【解決手段】振動試験装置１は、被試験体を保持する
振動台５と、振動数、加速度等の諸条件に基づいて、定
点加振と掃引加振の各加振条件を設定する加振条件設定
部３と、加振条件設定部３により設定された各加振条件
に従って、振動台５を振動制御する制御部２と、を備え
て構成され、加振条件設定部３は、前記定点加振と掃引
加振の各加振条件を、一連の振動試験の加振条件として
一括して設定し、制御部２は、前記一連の振動試験内で
各加振条件に基づく前記定点加振と掃引加振とを、組合
せて複合的に振動制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、定点加振、掃引加
振の各加振条件に従って、被試験体の振動試験を行う振
動試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、先端工業分野の製品は、高度な技
術を駆使して小型化、高機能化が追求されていると共
に、高い信頼性が求められている。このため、製品の試
作段階や製造段階において、被試験体に所定の振動波を
与えて過酷な条件下で多様な振動試験を行うことによ
り、輸送時や使用環境の変化に伴う振動耐性を評価する
振動試験装置が開発されている。

【０００３】この様な振動試験装置の発生する振動波
は、連続振動波と不連続振動波に大別され、更に連続振
動波には、正弦波、ランダム波、実波等が挙げられる。
この内、例えば所定の振幅（変位）を有する正弦波によ
る振動試験を行う振動試験装置は、一般的に定点加振、
掃引加振の２種類の加振モードを有するものが利用され
ている。

【０００４】ここで、定点加振とは、被試験体に対して
同一の振動数（周波数）を一定の加振レベル（加速度）
で連続加振するモードである。すなわち、図６（ａ）の
加振特性図に示す様に、定点加振モードでは、振動数と
加速度は共に一定値を示す。また、図６（ｂ）に示す様
に、加速度は時系列変化せず、振動数に対応付けて設定
された一定値を維持する。この場合、設定を要する加振
条件としては、振動数、加速度、加振時間等が挙げられ
る。

【０００５】これに対して、掃引加振とは、被試験体に
対して一定のスイープレート（周波数の変化率）で振動
数を経時的にスイープ（変化）させるモードである。す
なわち、図６（ｃ）の加振特性図に示す様に、掃引加振
モードでは、振動数をその高低により複数の帯域に分割
し、該複数帯域の各境界点でスロープ（加速度の変化
率）を可変的に制御する。同様に、図６（ｄ）に示す様
に、加速度は経時的に増大すると共に、上記各境界点で
その増加率を減少させる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
振動試験装置では、定点加振、掃引加振の各モード毎に
設定された振動数、加速度等の複数の加振条件の設定情
報を、所定の振動数帯域が終了する都度読込むことによ
り、加振条件を適宜変更制御して試験台を振動させてい
た。この様に、同一の被試験体に対して所定の加振時間
で振動試験を行う際に、加振条件をモード毎に個別に設
定することにより、定点加振と掃引加振の切替制御を行
うため、操作者は一連の振動試験を一括して管理できな
かった。

【０００７】従って、異なる加振モードを組合せた複合
的な加振制御ができず、加振条件の設定範囲も限られて
いた。また、加振モードの切替時における設定情報の再
読込に伴うタイムラグが加振条件の時系列変化に影響を
与え、振動試験自体の信頼性を損なう事もあった。

【０００８】上記事情に鑑み、本発明の課題は、被試験
体に対する一連の振動試験内で、定点加振と掃引加振を
組合せた複合的な加振が可能な振動試験装置を提供する
ことである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、以下の様な特徴を備えている。なお、以下
に示す手段の説明中、括弧書きにより実施の形態に対応
する構成を例示する。また、符号等は、後述する図面参
照符号に対応する。

【００１０】請求項１記載の発明は、被試験体（例え
ば、被試験体Ｗ）を保持する保持手段（例えば、図１の
振動台５）と、振動数、加速度等の諸条件に基づいて、
定点加振と掃引加振の各加振条件を設定する設定手段
（例えば、図１の加振条件設定部３）と、前記設定手段
により設定された各加振条件に従って、前記保持手段を
振動制御する制御手段（例えば、図１の制御部２）と、
を備える振動試験装置（例えば、図１の振動試験装置
１）において、前記設定手段は、前記定点加振と掃引加
振の各加振条件を、一連の振動試験の加振条件として一
括して設定し、前記制御手段は、前記一連の振動試験内
で前記各加振条件に基づく前記定点加振と掃引加振と
を、組合せて複合的に振動制御することを特徴とする。

【００１１】請求項１記載の発明によれば、前記保持手
段と、前記設定手段と、前記制御手段と、を備え、前記
制御手段は、一連の同一試験内で前記定点加振と掃引加
振を組合せて複合的に振動制御するため、異なる加振モ
ードを組合せた多様な条件下で振動試験を行う事ができ
る。また、加振モードの切替時における設定情報の再読
込に伴うタイムラグを軽減することが可能となり、振動
試験装置の信頼性を向上できる。更に、上記設定情報の
再読込を省略して振動試験の効率化を図る事ができる。

【００１２】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、例えば、前記設定手段が同一の振動数で異
なる複数の加振条件を設定することを特徴とする。

【００１３】従って、同一の振動数で定点加振と掃引加
振の２種類の加振モードを組合せて実行する事が可能と
なり、加速度、スイープレート、スロープ等の異なるよ
り多様な条件下における振動試験を実現できる。

【００１４】請求項３記載の発明は、請求項１記載の発
明において、例えば、前記設定手段は、前記一連の振動
試験内で加速度が非連続的に変化する加振を含む加振条
件を設定することを特徴とする。

【００１５】従って、加速度が経時的に非連続変化する
加振条件下での振動試験を実行制御する事が可能とな
り、加速度の急激な増加または減少時における被試験体
の振動耐性を適確に評価できる。このため、振動試験装
置の機能及び信頼性をより向上できる。

【００１６】請求項４記載の発明は、請求項１記載の発
明において、例えば、前記設定手段は、加速度が経時的
に減少する加振を含む加振条件を設定することを特徴と
する。

【００１７】従って、加速度が経時的に減少する加振条
件下での振動試験を実行制御する事が可能となり、保持
手段の加速時のみならず減速時における被試験体の振動
耐性を適確に評価できる。このため、振動試験装置の機
能及び利便性をより向上できる。

【００１８】請求項５記載の発明は、請求項１記載の発
明において、例えば、前記設定手段は、振動数、加振時
間、加速度の諸条件の中から指定された、少なくとも１
つの条件に基づいて、前記定点加振または前記掃引加振
の加振条件を設定することを特徴とする。

【００１９】従って、必ずしも振動数、加振時間、加速
度の全条件を指定しなくても、該条件に対応する加振条
件を自動設定することが可能となり、加振条件の構成要
素となる複数の条件を指定する場合に比べて、容易かつ
迅速に加振条件を設定できる。このため、振動試験装置
の利便性及び高速性を向上できる。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、図１〜図５を参照して本発
明の一実施の形態における振動試験装置１について説明
する。

【００２１】まず、図２を参照して振動試験装置１の内
部構成を説明する。図２は、振動試験装置１の機能的構
成を示すブロック図である。図２に示す様に、振動試験
装置１は、制御部２、入力部３ａを有する加振条件設定
部３、記憶部４、振動台５、加振部６、振動検出部７、
表示部８より概略構成され、各部はバス９により接続さ
れる。

【００２２】制御部２は、例えばＣＰＵ（Central Proc
essing Unit）等の各ブロックの動作を統一的に制御す
る中央演算処理装置であり、記憶部４に予め記憶されて
いる各種プログラムの中から指定されたプログラム、入
力部３ａから入力される各種信号、及びデータを記憶部
４内のワークエリア４ｃに展開し、上記プログラムに従
って入力信号、及びデータに基づく各種処理を実行し、
その処理結果を記憶部４の所定領域に格納すると共に、
表示部７に表示させる。また、制御部２は、設定された
加振条件に対応する振動台に対する加振を制御するた
め、後述する加振制御処理（図３参照）を実行制御す
る。

【００２３】加振条件設定部３は、入力部３ａを備えて
構成され、操作者による入力部３ａの指示操作に従って
入力される条件入力信号に基づいて、加振条件を設定す
る。ここで、加振条件とは一連の振動試験における加振
制御を指示する基本条件であり、振動数、加振時間等の
各条件から成る１または複数の加振パターンを複合的に
組合せて生成される。

【００２４】入力部３ａは、加振開始／停止、条件設定
用の操作キー若しくは釦であり、操作者の入力操作に応
じた各種入力信号を制御信号として制御部２へ出力す
る。

【００２５】記憶部４は、磁気的、光学的記録媒体、若
しくは不揮発性のＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ
（Random Access Memory）等の半導体メモリであり、振
動試験装置１を実行制御するための各種プログラム、条
件データ、検出データ等を所定の格納領域に記憶する。
また、記憶部４は、加振条件を構成する各種条件データ
を記憶する加振条件テーブル４ａを有し、該加振条件に
従って生成された加振データを記憶する加振データメモ
リ４ｂ、後述する加振制御処理の実行に際して上記プロ
グラムを一時的に展開するワークエリア４ｃを形成す
る。

【００２６】ここで、図２は、加振条件テーブル４ａに
予め格納される加振パターンの一例を示す図である。図
２に示す様に、加振条件テーブル４ａは、６種類の加振
パターン毎に各種条件データ格納領域として、振動数格
納領域４１ａ、加振時間格納領域４２ａ、スイープレー
ト格納領域４３ａ、加振レベル格納領域４４ａ、スロー
プ格納領域４５ａを備えて構成される。

【００２７】振動数格納領域４１ａは、各加振パターン
１〜６に対応する振動数として、最低振動数１０Ｈｚか
ら１０Ｈｚ間隔で６０Ｈｚまでの振動数データ（表中の
10，20，30，40，50，60Hz）を予め記憶する振動数デー
タの格納領域である。すなわち、後述する加振部６は、
該振動数データに基づいて例えば加振パターン１に対応
する１秒間に１０周期の正弦波振動を振動台５に対して
加える。

【００２８】加振時間格納領域４２ａは、各加振パター
ン１〜６に対応する加振時間として、１０秒を１単位と
した加振時間データ（150，60，120，180，120，60s）
を予め記憶する加振時間データの格納領域である。すな
わち、加振部６は、該加振時間データに基づいて、例え
ば加振パターン２に対応する６０秒間の正弦波振動を振
動台５に対して継続的に与える。

【００２９】スイープレート格納領域４３ａは、各加振
パターン１〜６に対応するスイープレートとして、小数
点第１位までのスイープレートデータ（3.0，0，2.0，
0.6，0，2.5oct/min）を予め記憶するスイープレートデ
ータの格納領域である。すなわち、加振部６は、該スイ
ープレートデータに基づいて、例えば加振パターン３に
対応する２．０oct/minの正弦波振動を振動台５に対し
て継続的に与える。なお、スイープレートとは１分間当
りの振動数の変化倍率を示す値であり、例えばスイープ
レートが２．０oct/minの場合、振動数は１分間に２倍
まで増加する。

【００３０】加振レベル格納領域４４ａは、各加振パタ
ーン１〜６に対応する加振レベル（加速度）として、１
０ｍ／ｓ²を１単位とした加振レベルデータ（30，40，8
0，50，60，40m/s²）を予め記憶する加振レベルデータ
の格納領域である。すなわち、加振部６は、該加振レベ
ルデータに基づいて、例えば加振パターン４に対応する
加速度５０ｍ／ｓ²の正弦波振動を振動台５に対して加
える。

【００３１】スロープ格納領域４５ａは、各加振パター
ン１〜６に対応するスロープ（加速度の変化率）とし
て、５（m/s²／min）を１単位とした正負のスロープデ
ータ（+40，-30，+15，-15 m/s²／min）を予め記憶する
スロープデータの格納領域である。すなわち、加振部６
は、該スロープデータに基づいて、例えば加振パターン
５に対応するスロープ−１５（m/s²／min）の正弦波振
動を振動台５に対して継続的に与える。

【００３２】振動台５は、被試験体Ｗを保持すると共に
加振部６の振動に伴って正弦波振動をする周知の振動台
である。すなわち、振動台５は、所定の加振条件に基づ
く加振部６の振動を被試験体Ｗに伝達し、被試験体Ｗを
振動または停止させる。

【００３３】加振部６は、例えば磁極と電磁コイルより
要部構成される機構部である。すなわち、加振部６は、
制御部２から入力される制御信号に従って振動台５を振
動制御する。該振動制御は、所定の振動数、加振時間、
スイープレート、加振レベル、スロープ等の各種条件
（パラメータ）を構成要素とする加振パターンを、複合
的に組合せて構成される加振条件に従って実行される。

【００３４】振動検出部７は、例えば周知の加速度計で
あり、上記加振条件に基づく振動台５の振動状態に応じ
て出力される電圧信号を検出し、検出信号として制御部
２へ出力する。また、表示部８は、ＬＣＤ（Liquid Cry
stal Display）等により構成され、制御部２から入力さ
れる上記検出信号を表示信号に変換し、加振条件、振動
検出結果等の各種データを表示する。

【００３５】次に、図３を参照して本実施の形態におけ
る動作を説明する。図３は、加振制御処理を示すフロー
チャートである。振動試験装置１の加振開始釦が押下さ
れると、電源部より各部に電力が供給され、以下に説明
する加振制御処理を実行するプログラムを記憶部４から
読み出してワークエリア４ｃに展開すると共に、図３の
フローチャートに従った動作を実行する。

【００３６】すなわち、制御部２は「パラメータを入力
して下さい。」等のメッセージと共に、振動数の入力項
目を表示部８に画面表示させ、操作者に加振パターンの
特定条件となる振動数の入力を促す（ステップＳ１）。
なお、ここで入力されるパラメータは「振動数」に限ら
ず、加振パターンを特定可能な構成要素であれば任意で
ある。すなわち、「加振時間」、「スイープレート」、
「加振レベル」、「スロープ」の何れでもよい。

【００３７】また、操作者がパラメータを直接入力する
構成としたが、選択候補となる複数のパラメータを表示
部８にプルダウン表示し、その中から択一的に選択する
構成としてもよい。これにより、誤入力を防止した効率
かつ迅速な条件設定が可能となる。

【００３８】次に、制御部２は記憶部４内のカウンタメ
モリ（図示略）に、加振パターンの指定回数の計数値ｎ
として”１”を設定する（ステップＳ２）。次に、入力
部３ａから１回目の加振パターンのパラメータとなる振
動数が入力指定されると（ステップＳ３）、制御部２は
加振条件テーブル４ａ（図２参照）に格納された６種類
の加振パターン１〜６の中から、指定された振動数に対
応する加振パターンを抽出して記憶する（ステップＳ
４）。

【００３９】次に、制御部２は例えば「加振条件の入力
は終了しましたか。」等のメッセージを表示部８に画面
表示させ、操作者による加振条件の入力終了指示の待機
状態に入り、当該指示入力の有無を監視する（ステップ
Ｓ５）。ここで、加振条件の入力終了指示が無ければ
（ステップＳ５；Ｎｏ）、制御部２はカウンタメモリの
加振パターンの指定回数の計数値ｎに”１”を追加
し、”ｎ＋１”とする（ステップＳ６）。そして、再度
ステップＳ３に戻り、加振条件の入力終了指示が有るま
でステップＳ３〜Ｓ６までの各処理を繰り返し実行す
る。

【００４０】また、ステップＳ５において、加振条件の
入力終了指示が有れば（ステップＳ５；Ｙｅｓ）、制御
部２はステップＳ３〜Ｓ６で抽出された１または複数の
加振パターンを抽出順に組み合せて、後述する一連の加
振データを生成する（ステップＳ７）。なお、抽出され
る複数の加振パターンは重複していてもよい。

【００４１】次に、制御部２はステップＳ７で生成され
た加振データに従って加振部６に制御信号を送信し、実
際に振動台５を振動制御する（ステップＳ８）。そし
て、振動検出部７に被試験体Ｗの振動状態を検出させる
と共に、検出結果を加振条件と共に表示部８に表示させ
（ステップＳ９）、加振制御処理を終了する。

【００４２】次に、図４〜図５を参照して、上記加振制
御処理に基づく具体的処理例について詳述する。まず、
図４は加振制御処理（ステップＳ７）の実行に伴って生
成される加振データの一例を示す図である。

【００４３】図４において、加振データ４ｂは、図２の
加振条件テーブル４ａから加振パターン２→５→４を順
次抽出して生成される加振データである。すなわち、加
振データ４ｂは、加振時間データ領域４１ｂ、振動数デ
ータ領域４２ｂ、加振レベルデータ領域４３ｂを有し、
１秒単位で記憶された加振時間データに対応する振動数
データ、及び加振レベルデータが夫々の対応領域に記憶
されて構成される。この様に、加振データ４ｂは加振制
御に必要な最小限のデータ群が時系列形式で機能的に整
列されるため、制御部２はデータ選択や並替処理等の負
荷を抑えた容易な加振制御を実行する。

【００４４】また、図５は、図４の加振データ４ｂに対
応する加振条件の特性図であり、（ａ）は対振動数加速
度の特性図、（ｂ）は同時間加速度の特性図である。図
５（ａ）において、該特性図が示す加振制御は、「ａ→
ｂ」、「ｃ→ｄ」の様な加速レベルの変化を伴う定点加
振と、「ｅ→ｆ」の様な掃引加振が、一連の振動試験内
に複合的に組み合わされて形成されている。また、「ｃ
→ｄ」と「ｅ→ｆ」の様に同一の振動数で定点加振と掃
引加振の２種類の異なる加振モードを実行する事も可能
となる。

【００４５】更に、図５（ｂ）に示す様に、上記一連の
振動試験では「ａ→ｂ」と「ｃ→ｄ」、及び「ｃ→ｄ」
と「ｅ→ｆ」の境界点で、加速度が経時的に非連続変化
する加振条件下における振動試験が実行される。また、
「ｃ→ｄ」の線分に示す様に、加速度が経時的に減少す
る加振条件下での振動試験を実行制御する事も可能であ
る。

【００４６】以上説明した様に、本実施の形態における
振動試験装置１によれば、被試験体Ｗを保持する振動台
５と、振動数、加速度等の諸条件に基づいて定点加振と
掃引加振の各加振条件を設定する加振条件設定部３と、
加振条件設定部３により設定された各加振条件に従って
振動台５を振動制御する制御部２と、を備えて構成され
る。また、加振条件設定部３は、定点加振と掃引加振の
各加振条件を一連の振動試験の加振条件として一括して
設定し、制御部２は、一連の振動試験内で各加振条件に
基づく定点加振と掃引加振とを、組合せて複合的に振動
制御する。

【００４７】従って、異なる加振モードを組合せた多様
な条件下で振動試験を行う事ができる。また、加振モー
ドの切替時における設定情報の再読込に伴うタイムラグ
を軽減することが可能となり、振動試験装置の信頼性を
向上できる。更に、上記設定情報の再読込を省略して振
動試験の効率化を図る事ができる。また、指定された振
動数をパラメータとして加振パターンを決定するため、
操作者は加振時間、加速度等の条件を指定しなくても、
該条件に対応する加振条件を自動設定することが可能と
なり、複数の条件を指定する場合に比べて、容易かつ迅
速に加振条件を設定できる。このため、振動試験装置の
利便性及び高速性を向上できる。この様に、振動試験装
置１によれば、操作者の条件設定時の容易な操作性を維
持しつつ、多様な条件下で振動試験を行う事ができる。

【００４８】なお、上記実施の形態における記述内容
は、本発明に係る振動試験装置の好適な一例であり、こ
れに限定されるものではない。例えば、図２の加振条件
テーブル４ａに格納される各条件データの種類（例え
ば、振幅、波長等）、既定値及びその間隔は任意であ
る。また、操作者が各条件値を任意に入力または選択す
る構成としてもよい。更に、スイープレート、スロープ
の変化率は定数でなくてもよい。これにより、操作者は
設定条件を所望の値に変更することが可能となり、より
多様な条件下で振動試験を行うことができる。このた
め、振動試験の信頼性を向上できる。

【００４９】その他、振動試験装置の細部構成、及び詳
細動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱することのない
範囲で適宜変更可能である。

【００５０】

【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、前記保
持手段と、前記設定手段と、前記制御手段と、を備え、
前記制御手段は、一連の同一試験内で前記定点加振と掃
引加振を組合せて複合的に振動制御するため、異なる加
振モードを組合せた多様な条件下で振動試験を行う事が
できる。また、加振モードの切替時における設定情報の
再読込に伴うタイムラグを軽減することが可能となり、
振動試験装置の信頼性を向上できる。更に、上記設定情
報の再読込を省略して振動試験の効率化を図る事ができ
る。

【００５１】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、同一の振動数で定点加振と掃
引加振の２種類の加振モードを組合せて実行する事が可
能となり、加速度、加速率（加速度の変化率）、振幅等
の異なるより多様な条件下における振動試験を実現でき
る。

【００５２】請求項３記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、加速度が経時的に非連続変化
する加振条件下での振動試験を実行制御する事が可能と
なり、加速度の急激な増加または減少時における被試験
体の振動耐性を適確に評価できる。このため、振動試験
装置の機能及び信頼性をより向上できる。

【００５３】請求項４記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、加速度が経時的に減少する加
振条件下での振動試験を実行制御する事が可能となり、
保持手段の加速時のみならず減速時における被試験体の
振動耐性を適確に評価できる。このため、振動試験装置
の機能及び利便性をより向上できる。

【００５４】請求項５記載の発明によれば、請求項１記
載の発明の効果に加えて、必ずしも振動数、加振時間、
加速度の全条件を指定しなくても、該条件に対応する加
振条件を自動設定することが可能となり、加振条件の構
成要素となる複数の条件を指定する場合に比べて、容易
かつ迅速に加振条件を設定できる。このため、振動試験
装置の利便性及び高速性を向上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した一実施の形態における振動試
験装置１の機能的構成を示すブロック図である。

【図２】図１の加振条件テーブル４ａに格納される加振
パターンの一例を示す図である。

【図３】図１の制御部２により実行される加振制御処理
を示すフローチャートである。

【図４】図３の加振制御処理の実行に伴って生成される
加振データの一例を示す図である。

【図５】図１の振動試験装置１における加振条件の特性
図であり、（ａ）は対振動数加速度の特性図、（ｂ）は
同時間加速度の特性図である。

【図６】従来の振動試験装置における加振条件の特性図
であり、（ａ）は定点加振時における対振動数加速度の
特性図、（ｂ）は同時間加速度の特性図、（ｃ）は掃引
加振時における対振動数加速度の特性図、（ｄ）は同時
間加速度の特性図である。

【符号の説明】

１振動試験装置２制御部３加振条件設定部３ａ入力部４記憶部４ａ加振条件テーブル４１ａ振動数格納領域４２ａ加振時間格納領域４３ａスイープレート格納領域４４ａ加振レベル格納領域４５ａスロープ格納領域４ｂ加振データ４１ｂ加振時間データ領域４２ｂ振動数データ領域４３ｂ加振レベルデータ領域４ｃワークエリア５振動台６加振部７振動検出部８表示部９バスＷ被試験体

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被試験体を保持する保持手段と、振動数、加速度等の諸条件に基づいて、定点加振と掃引
加振の各加振条件を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された各加振条件に従って、前
記保持手段を振動制御する制御手段と、を備える振動試験装置において、前記設定手段は、前記定点加振と掃引加振の各加振条件
を、一連の振動試験の加振条件として一括して設定し、前記制御手段は、前記一連の振動試験内で前記各加振条
件に基づく前記定点加振と掃引加振とを、組合せて複合
的に振動制御することを特徴とする振動試験装置。
【請求項２】前記設定手段は、同一の振動数で異なる複
数の加振条件を設定することを特徴とする請求項１記載
の振動試験装置。
【請求項３】前記設定手段は、前記一連の振動試験内で
加速度が非連続的に変化する加振を含む加振条件を設定
することを特徴とする請求項１記載の振動試験装置。
【請求項４】前記設定手段は、加速度が経時的に減少す
る加振を含む加振条件を設定することを特徴とする請求
項１記載の振動試験装置。
【請求項５】前記設定手段は、振動数、加振時間、加速
度の諸条件の中から指定された、少なくとも１つの条件
に基づいて、前記定点加振または前記掃引加振の加振条
件を設定することを特徴とする請求項１記載の振動試験
装置。