JP2959377B2 - 外部記憶装置の振動衝撃試験システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、外部記憶装置の振動衝
撃試験システムに関し、特に磁気ディスク装置，フレキ
シブルディスク装置および光ディスク装置の動作時にお
ける耐振動および耐衝撃性能を測定する試験システムに
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の外部記憶装置である磁気ディスク
装置の振動衝撃試験システムについて図面を参照して詳
細に説明する。図５は、従来例を示すシステム構成図で
ある。従来の振動衝撃試験システムは、図５に示すよう
に、加振系として被試験磁気ディスク装置である磁気デ
ィスク装置１１を搭載して加振する加振機１２と、この
加振機１２を作動させるための加振信号を生成する加振
機制御装置１４と、加振機制御装置１４が生成した加振
信号を増幅して加振機１２に駆動電力を供給する増幅器
１３とを備え、さらに、磁気ディスク装置１１に対して
試験データの書込みおよび読出しを行うリード・ライト
試験機（以下、Ｒ／Ｗテスタという）１５と、加振機制
御装置１４およびＲ／Ｗテスタ１５を制御するととも
に、加振機制御装置１４が加振機１２を駆動するための
加振条件データ（以下、加振データという）およびＲ／
Ｗテスタ１５が出力するエラー情報を格納し、かつデー
タ処理を行うパーソナルコンピュータ（以下、パソコン
という）１６とを組み合わせて構成されている。

【０００３】通常、磁気ディスク装置の電気的特性を試
験する試験システムにおいては、例えば、特開昭６３ー
４４１８２号公報に記載されているように、被試験用の
磁気ディスク装置に種々の試験データを書き込んだ後、
それらのデータを読出すことにより磁気ディスク装置の
性能を評価している。しかしながら、振動衝撃試験のよ
うに、外部から機械的な振動や衝撃を加える加振試験装
置と、試験データの書き込みおよび読み出しを電気的に
行うＲ／Ｗテスタのように、性質の異なる２つの試験装
置を組み合わせるものについては、従来、作業者が同時
に操作することにより試験を行っていた。

【０００４】また、従来の試験システムを用いて磁気デ
ィスク装置１１の加振中における書込み・読出し性能を
試験する場合は、作業者が各試験（加振）条件を随時設
定し、以下に説明する手順に従って試験装置を操作し、
加振特性のデータを記録していた。

【０００５】（１）Ｒ／Ｗテスタ１５を試験条件に合わ
せて設定し、書込み・読出し試験の試験回数を無限回に
して実行する。

【０００６】（２）加振機制御装置１４に対し振動試験
もしくは衝撃試験に応じて加速度，周波数，パルス幅等
の設定を行い、磁気ディスク装置１１の加振を開始す
る。

【０００７】（３）Ｒ／Ｗテスタ１５は、エラーが発生
すると、そのエラー情報をパソコン１６の表示画面上に
表示する。

【０００８】（４）作業者は、パソコン１６の表示画面
上に表示されたエラー情報の出力により、磁気ディスク
装置１１にエラーが発生したことを知ると、その時点に
おける加振機制御装置４の加振状態を確認し、エラー発
生時の加速度，周波数，パルス幅等をエラー情報ととも
に記録する。

【０００９】（５）所定の時間加振している間に、
（３）および（４）項を繰り返す。

【００１０】（６）加振が終了すると、Ｒ／Ｗテスタ１
５を停止する。

【００１１】（７）加振機２の加振条件を変更し、再び
（１）〜（６）項を実施する。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置の振動衝撃試験システムは、磁気ディスク装
置を加振する加振装置と、Ｒ／Ｗ試験装置を組み合わせ
て使用する試験システムであるため、試験中は加振機に
付属している加振機冷却用のブロワー（送風機）が発生
する騒音の大きな部屋で作業者が常駐して機器類を操作
し、エラー情報の有無を記録しなければならない。

【００１３】また、試験中にエラーが発生したときは、
作業者が加振機制御装置のその時点における加振状態を
確認し、エラー情報に加振条件のデータを付加するた
め、エラー発生から加振データを取得するまでに時間を
要し、これらのデータの精度が低下するという欠点があ
る。さらに、１回の試験において１台分のデータしか取
得できないという欠点がある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、被試験磁
気ディスク装置を搭載して環境を動的に変化させるため
に加振する加振機と、加振信号を生成し加振機の作動を
制御する加振機制御装置と、生成した加振信号を増幅し
加振機に出力する増幅器と、被試験磁気ディスク装置に
対して静的環境下で試験データの書込み・読出しを行う
書込み・読出し試験機と、加振機制御装置および書込み
・読出し試験機の動作を制御するとともに、加振機の作
動中の加振データおよび書込み・読出し試験機が出力す
るエラー情報を格納するデータベースを有する制御手段
とを備えている。

【００１５】その上で、前記制御手段は、所定の周期信
号を出力するインターバルタイマを内蔵し、書込み・読
出し試験機がエラー情報を出力したとき、制御手段は加
振機制御装置からインターバルタイマの指示する周期で
加振データを取得するようにしたものである。

【００１６】第３の発明は、第１または第２の発明が備
える手段と、加振データをデジタル信号に変換し制御手
段に出力するアナログ・デジタル変換手段を備えてい
る。

【００１７】第４の発明は、第１，第２または第３の発
明が備える手段と、被試験磁気ディスク装置を複数台書
込み・読出し試験機に接続し、かつこれらの被試験磁気
ディスク装置を加振機に搭載し複数台分の耐振試験デー
タを同時に取得するようにしたものである。

【００１８】そして、第５の発明は、被試験外部記憶装
置としてフレキシブルディスク装置を用いるものであ
り、さらに、第６の発明は、被試験外部記憶装置として
光ディスク装置を用いるものであって、その他の手段
は、第１，第２，第３または第４の発明と同様である。

【００１９】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。図１は、第１の発明の実施例を示すシステム
構成図である。本実施例の外部記憶装置の振動衝撃試験
システムは、図１に示すように、被試験装置である外部
記憶装置（例えば、磁気ディスク装置，フレキシブルデ
ィスク装置および光ディスク装置等）１を搭載して加振
する加振機２と、この加振機２を作動させるための加振
信号を生成する加振機制御装置４と、加振機制御装置４
が生成した加振信号を増幅して加振機２に駆動電力を供
給する増幅器３と、外部記憶装置１に対して試験データ
の書込みおよび読出しを行うリード・ライト試験機（以
下、Ｒ／Ｗテスタという）５と、加振機制御装置４およ
びＲ／Ｗテスタ５を制御するとともに、加振機制御装置
４が加振機２を駆動するための加振条件データ（以下、
加振データという）、およびＲ／Ｗテスタ５が出力した
エラー情報を格納するとともに、データ処理を行うパー
ソナルコンピュータ（以下、パソコンという）６とから
構成される。

【００２０】続いて、このように構成された本実施例の
動作について説明する。まず、外部記憶装置１を加振機
２に搭載し、パソコン６のキーボードから加振機制御装
置４に対し動的な環境条件を意味する加振条件を設定
し、さらに、Ｒ／Ｗテスタ５に対し試験条件を設定す
る。そして、書込み・読出し試験を開始するとともに、
パソコン６から加振命令を送出する。これにより、外部
記憶装置１に加振を加えながら書込み・読出し試験を行
うことができる。

【００２１】ここで、加振試験中に外部記憶装置１への
試験データの書込みもしくは読出しが失敗すると、Ｒ／
Ｗテスタ５はパソコン６に対しエラー情報を出力する。
そして、パソコン６は、加振機制御装置４からエラーが
発生した時点における加振データを取り込み、パソコン
６のデータベースに格納する。以後、加振試験終了ま
で、エラーが発生する度に上述した処理を繰り返す。次
に、加振試験が終了すると、パソコン６はＲ／Ｗテスタ
５および加振機２を停止し、続いて、加振条件を変更
し、再び加振試験を行いながら書込み・読出し試験を繰
り返す。

【００２２】しかしながら、上述したエラー情報の獲得
方法では、Ｒ／Ｗテスタ５からエラー情報が出力された
後、加振機制御装置４から加振データを得てエラー情報
に付け加えるというデータ処理が終了する前に、Ｒ／Ｗ
テスタ５から次のエラー情報が発生するという問題があ
る。

【００２３】そこで、Ｒ／Ｗテスタ５および加振機制御
装置４からのエラー情報の取得方法について図面を参照
して説明する。図２は、第２の発明によるインターバル
タイマ（以下、タイマという）を用いたときのエラー情
報の取得方法を説明するタイミングチャートである。図
２において、まず、書込み・読出し試験と加振が開始さ
れると、パソコン６に内蔵するタイマ（図示せず）を用
いて一定周期で割り込みを行い、加振機制御装置４の動
作状態、すなわち、加振データ（例えば、加速度，周波
数，パルス幅等）を調べる。そして、次の割り込みまで
調べた結果をパソコン６のメモリに格納する。

【００２４】Ｒ／Ｗテスタ５からは、任意の時間にエラ
ー情報が出力される。また、エラー情報が出力される
と、パソコン６は、メモリに格納した加振データをエラ
ー情報に加えて、パソコン６内のデータベースに保存す
るとともにデータ処理を行う。これにより、Ｒ／Ｗテス
タから出力するすべてのエラー情報をタイマの割り込み
周期に応じて格納することができる。

【００２５】図３は、第３の発明の実施例を示すシステ
ム構成図である。図３に示す別の実施例は、図１に示す
実施例において、加振機制御装置４とパソコン６との間
に、加振状態をリアルタイムで取り込むためのアナログ
−デジタル変換ボード（以下、Ａ−Ｄ変換ボードとい
う）７を備えたものであって、その他の構成は同様であ
る。

【００２６】エラー情報の取得において、上述したパソ
コン６のタイマを用いる方式では、エラー情報が割り込
み周期の間は同一加振状態として保存されることや、そ
の割り込み処理のプログラミングが複雑になるが、本実
施例では、加振機制御装置４から加振状態をリアルタイ
ムで出力するＤＣ信号（アナログ信号）をデジタル信号
に変換するＡ−Ｄ変換ボード７を用いて取り込むため、
Ｒ／Ｗテスタ５からエラー情報が出力される度に、Ａ−
Ｄ変換ボード７を介して現在の加振状態をリアルタイム
に読み取れば、エラー発生時の加振状況を正確に知るこ
とができる。

【００２７】図４は、第４の発明の実施例を示すシステ
ム構成図である。図４に示す別の実施例は、図１に示す
実施例において、複数台の外部記憶装置１をＲ／Ｗテス
タ５に接続するとともに、これらの外部記憶装置１を加
振機２に搭載して同時に加振可能であり、その他の構成
は第１、第２、第３の発明と同じである。

【００２８】本実施例においては、読出し・書出し試験
機５は、複数台の被試験装置を接続し、かつ同時に制御
することが可能であり、例えば、その代表的なインタフ
ェースのうちの１つは最大８台、もう１つでは最大４台
を接続することが可能である。そして、このように複数
台の外部記憶装置を接続した状態で、加振機２により加
振し複数台の外部記憶装置を検査することができる。

【００２９】本発明の試験システムは、外部記憶装置と
して磁気ディスク装置だけでなく、フレキシブルディス
ク装置や光ディスク装置に対しても同様な試験システム
を構築することにより、これら装置にデータを書込み・
読出しするとき（動作中）の耐振動衝撃特性を容易に取
得することができる。

【００３０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の外部記憶
装置の振動衝撃試験システムは、最初に作業者が試験シ
ステムの電源投入および試験内容の設定を行った後は、
試験システムの制御装置であるパソコンがＲ／Ｗテスタ
ーと加振機制御装置とを自動的に制御するため、作業者
が常駐する必要はない。これにより、作業者は加振機に
付属している加振機冷却用のブロワー（送風機）が発生
する騒音から解放され、かつ長時間の単純作業からも解
放される。さらに、加振条件と書込み・読出し試験条件
を記録して試験を行うため、被試験対象装置を交換して
も前回と同一条件で試験を容易に行うことができ、各外
部記憶装置の耐振動衝撃特性に関する性能を比較するこ
とができる。

【００３１】さらに、試験中はＲ／Ｗテスタからのエラ
ー情報と、その時の加振機制御装置の加振データとを精
度よく取得でき、これにより振動もしくは衝撃試験にお
いて加速度がどの程度の値まで正常に書込み・読出しが
できるかということと、エラーが発生した場合は、加速
度がどの値において被試験対象装置の記録媒体のどのシ
リンダ，ヘッドおよびセクタに、どのようなエラーが発
生したのかを詳細に知ることができる。

【００３２】また、単純に被試験対象装置の耐振動およ
び耐衝撃の加速度を得ることもでき、被試験対象装置の
構造的に弱い箇所を明らかにするための判断材料として
使用したり、使用部品の材質特性の検査に用いることも
できる。すなわち、被試験対象装置の耐振動衝撃特性の
向上に寄与することができる。しかも、外部記憶装置を
一度の試験で同時に複数台接続可能であるため、検査時
間を検査した磁気ディスク装置の台数分短縮することが
できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の発明の一実施例を示すシステム構成図で
ある。

【図２】第２の発明の一実施例の動作を説明するタイミ
ングチャートである。

【図３】第３の発明の一実施例を示す構成図である。

【図４】第４の発明の一実施例を示すシステム構成図で
ある。

【図５】従来例を示すシステム構成図である。

【符号の説明】

１ 外部記憶装置 ２，１２ 加振機 ３，１３ 増幅器 ４，１４ 加振機制御装置 ５，１５ Ｒ／Ｗテスタ（Ｒ／Ｗ試験機） ６，１６ パソコン（パーソナルコンピュータ） ７ Ａ−Ｄ変換ボード １１ 磁気ディスク装置

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被試験磁気ディスク装置を搭載して環境
   を動的に変化させるために加振する加振機と、 加振信号を生成し前記加振機の作動を制御する加振機制
   御装置と、 生成した前記加振信号を増幅し前記加振機に出力する増
   幅器と、 前記被試験磁気ディスク装置に対して静的環境下で試験
   データの書込み・読出しを行う書込み・読出し試験機
   と、 前記加振機制御装置および前記書込み・読出し試験機の
   動作を制御するとともに、前記加振機の作動中の加振デ
   ータおよび前記書込み・読出し試験機が出力するエラー
   情報を格納するデータベースを有する制御手段とを備
   え、 前記制御手段は、所定の周期信号を出力するインターバ
   ルタイマを内蔵し、前記書込み・読出し試験機がエラー
   情報を出力したとき、前記制御手段は前記加振機制御装
   置から前記インターバルタイマの指示する周期で前記加
   振データを取得するようにした ことを特徴とする外部記
   憶装置の振動衝撃試験システム。