JPS63874B2 - - Google Patents
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- JPS63874B2 JPS63874B2 JP58169443A JP16944383A JPS63874B2 JP S63874 B2 JPS63874 B2 JP S63874B2 JP 58169443 A JP58169443 A JP 58169443A JP 16944383 A JP16944383 A JP 16944383A JP S63874 B2 JPS63874 B2 JP S63874B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/14—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements
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- Computer Hardware Design (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明はバブルメモリのパツケージ試験器の機
能とバブルメモリのバイアス用の永久磁石を減磁
させる機能を併せ有するパツケージ試験器の機能
を備えたバブルメモリ減磁テスタに関する。
能とバブルメモリのバイアス用の永久磁石を減磁
させる機能を併せ有するパツケージ試験器の機能
を備えたバブルメモリ減磁テスタに関する。
技術の背景
バブルメモリの減磁テスタは、バブルメモリの
外側から強力な磁界を加えて、バブルメモリのバ
イアス磁界を与える永久磁石を減磁してバイアス
磁界を適当な値に設定するものである。この減磁
に当つては供試バブルメモリの特性を監視しつつ
最適な条件を求める必要がある。
外側から強力な磁界を加えて、バブルメモリのバ
イアス磁界を与える永久磁石を減磁してバイアス
磁界を適当な値に設定するものである。この減磁
に当つては供試バブルメモリの特性を監視しつつ
最適な条件を求める必要がある。
第１図には従来形の減磁テスタのブロツク回路
図が示される。供試バブルメモリ２５を駆動する
バブルドライバ３８は減磁試験制御部３１によつ
て制御され、減磁試験データ部３２から固定電源
１７を介して電流値が決定され、リードライトデ
ータ部１４からシーケンスデータを受け、データ
パターンジエネレータ２０から試験に用いるデー
タパターンの供給を受ける。一方バブルメモリ２
５の永久磁石（図示せず）を減磁するための減磁
コイル３５は減磁プログラム電源３４によつて励
磁される。バブルメモリ２５からの読出し出力は
バブル検出部２１で検出され、比較判定部２２で
書込まれたデータパターンと照合され、その結果
が表示装置２３および印刷機２４に出力される。
減磁が不足の場合は演算部３３で不足分を算出し
減磁プログラム電源に設定し、再スタートさせ
る。
図が示される。供試バブルメモリ２５を駆動する
バブルドライバ３８は減磁試験制御部３１によつ
て制御され、減磁試験データ部３２から固定電源
１７を介して電流値が決定され、リードライトデ
ータ部１４からシーケンスデータを受け、データ
パターンジエネレータ２０から試験に用いるデー
タパターンの供給を受ける。一方バブルメモリ２
５の永久磁石（図示せず）を減磁するための減磁
コイル３５は減磁プログラム電源３４によつて励
磁される。バブルメモリ２５からの読出し出力は
バブル検出部２１で検出され、比較判定部２２で
書込まれたデータパターンと照合され、その結果
が表示装置２３および印刷機２４に出力される。
減磁が不足の場合は演算部３３で不足分を算出し
減磁プログラム電源に設定し、再スタートさせ
る。
第２図には従来形のバブルメモリのパツケージ
試験器のブロツク回路図が示される。供試バブル
メモリ２５を駆動するバブルドライバ１８は、パ
ツケージ試験制御部１３により制御されたパツケ
ージ試験データ部１５からプログラム電源部１６
を介して電流値が設定され、パツケージ試験制御
部１３から制御されかつリードライトデータ部１
４からシーケンスデータを受けデータパターンジ
エネレータ２０から試験に用いられる書込みデー
タの供給を受けるタイミングジエネレータにより
制御される。バブルメモリ２５から読出された出
力はバブル検出部２１で検出され、該検出データ
と書込まれたデータパターンが比較判定部２２で
照合され、その結果が表示装置２３および印刷機
２４によつて出力される。
試験器のブロツク回路図が示される。供試バブル
メモリ２５を駆動するバブルドライバ１８は、パ
ツケージ試験制御部１３により制御されたパツケ
ージ試験データ部１５からプログラム電源部１６
を介して電流値が設定され、パツケージ試験制御
部１３から制御されかつリードライトデータ部１
４からシーケンスデータを受けデータパターンジ
エネレータ２０から試験に用いられる書込みデー
タの供給を受けるタイミングジエネレータにより
制御される。バブルメモリ２５から読出された出
力はバブル検出部２１で検出され、該検出データ
と書込まれたデータパターンが比較判定部２２で
照合され、その結果が表示装置２３および印刷機
２４によつて出力される。
従来技術と問題点
前述の減磁テスタおよびパツケージ試験器は、
共通する構成要素を有し、かつ同じ作業場所で使
用されるにもかかわらず、従来は、互いに別個の
ものとして構成されていた。このため目的に応じ
て減磁テスタまたはパツケージ試験器を選択し用
意しなければならない煩わしさがあり、稼動率も
低いという問題点があつた。
共通する構成要素を有し、かつ同じ作業場所で使
用されるにもかかわらず、従来は、互いに別個の
ものとして構成されていた。このため目的に応じ
て減磁テスタまたはパツケージ試験器を選択し用
意しなければならない煩わしさがあり、稼動率も
低いという問題点があつた。
発明の目的
本発明の目的は、前述の従来形の装置における
問題点にかんがみ、減磁テスタとパツケージ試験
器を一体とし、同一な構成要素は共通に使用し、
かつ減磁プログラム電源と減磁コイルは着脱可能
にしてパツケージ試験器として使用する時には取
りはずすという構想に基づき、減磁試験およびパ
ツケージ試験の２つの試験を１つの装置で行うこ
とができるようにし、共通する構成要素の重復を
省き、装置の稼動率を向上することにある。
問題点にかんがみ、減磁テスタとパツケージ試験
器を一体とし、同一な構成要素は共通に使用し、
かつ減磁プログラム電源と減磁コイルは着脱可能
にしてパツケージ試験器として使用する時には取
りはずすという構想に基づき、減磁試験およびパ
ツケージ試験の２つの試験を１つの装置で行うこ
とができるようにし、共通する構成要素の重復を
省き、装置の稼動率を向上することにある。
発明の構成
本発明においては、減磁試験かパッケージ試験
かの区別を入力するキーボード、該キーボードの
出力を受ける入力解析部、該入力解析部の一方の
出力を受けるパツケージ試験制御部、該入力解析
部の他方の出力を受ける減磁試験制御部、該パツ
ケージ試験制御部の出力および該減磁試験制御部
の第１の出力を受けるリードライトデータ部、該
パツケージ試験制御部と接続されたパツケージ試
験データ部、該減磁試験制御部と接続された減磁
試験データ部、該パツケージ試験データ部の出力
および該減磁試験データ部の出力を受けるプログ
ラム電源部、該プログラム電源部の出力を受け供
試バブルメモリを駆動するバブルドライバ、該パ
ツケージ試験制御部の出力、該減磁試験制御部の
出力、および該リードライトデータ部の出力を受
けて出力を該バブルドライバへ供給するタイミン
グジエネレータ、該減磁試験制御部の第２の出力
を受け出力を該タイミングジエネレータへ供給す
るデータパターンジエネレータ、該バブルドライ
バにより駆動された供試バブルメモリの出力を受
けるバブル検出部、該データパターンジエネレー
タの出力を一方の入力端子に、該バブル検出部の
出力を他方の入力端子にそれぞれ受け出力を該パ
ツケージ試験制御部および該減磁試験制御部へ供
給する比較判定回路、該減磁試験制御部の第３の
出力および該減磁試験データ部の出力を受ける演
算部、該演算部の出力を受ける着脱可能な減磁プ
ログラム電源、および該減磁プログラム電源によ
り励磁される着脱可能な減磁コイルを具備し、該
キーボードから減磁試験が指定された時には、該
入力解析部を介して該減磁試験制御部に起動をか
け、該減磁試験データ部の内容を該プログラム電
源部に転送し、該バブルドライバの電流値を決定
し、該データパターンジエネレータ内のデータパ
ターンおよび該リードライトデータ部内のシーケ
ンスデータをもつて該タイミングジエネレータを
介して該バブルドライバを動作させて供試バブル
メモリを駆動し、該供試バブルメモリからの出力
を該バブル検出部を介して該比較判定部で該デー
タパターンと照合し、減磁が不足であれば該演算
部を介して該減磁プログラム電源により該減磁コ
イルを励磁し、減磁が規定に達していれば終了す
るようにし、該キーボードからパツケージ試験が
指定された時には、該減磁プログラム電源および
該減磁コイルを取はずし、該入力解析部を介して
該パツケージ試験制御部に起動をかけ、該パツケ
ージ試験データ部の内容を該プログラム電源部に
転送し、該バブルドライバの電流値を決定し、該
データパターンジエネレータからのデータパター
ンおよび該リードライトデータ部内の該パツケー
ジ試験制御部から指定されたシーケンスデータを
もつて該タイミングジエネレータを介して該バブ
ルドライバを動作させて該供試バブルメモリを駆
動し、該供試バブルメモリからの出力を該バブル
検出器を介して該比較判定部で該データパターン
と照合するようにしたパツケージ試験器の機能を
備えたバブルメモリ減磁テスタが提供される。
かの区別を入力するキーボード、該キーボードの
出力を受ける入力解析部、該入力解析部の一方の
出力を受けるパツケージ試験制御部、該入力解析
部の他方の出力を受ける減磁試験制御部、該パツ
ケージ試験制御部の出力および該減磁試験制御部
の第１の出力を受けるリードライトデータ部、該
パツケージ試験制御部と接続されたパツケージ試
験データ部、該減磁試験制御部と接続された減磁
試験データ部、該パツケージ試験データ部の出力
および該減磁試験データ部の出力を受けるプログ
ラム電源部、該プログラム電源部の出力を受け供
試バブルメモリを駆動するバブルドライバ、該パ
ツケージ試験制御部の出力、該減磁試験制御部の
出力、および該リードライトデータ部の出力を受
けて出力を該バブルドライバへ供給するタイミン
グジエネレータ、該減磁試験制御部の第２の出力
を受け出力を該タイミングジエネレータへ供給す
るデータパターンジエネレータ、該バブルドライ
バにより駆動された供試バブルメモリの出力を受
けるバブル検出部、該データパターンジエネレー
タの出力を一方の入力端子に、該バブル検出部の
出力を他方の入力端子にそれぞれ受け出力を該パ
ツケージ試験制御部および該減磁試験制御部へ供
給する比較判定回路、該減磁試験制御部の第３の
出力および該減磁試験データ部の出力を受ける演
算部、該演算部の出力を受ける着脱可能な減磁プ
ログラム電源、および該減磁プログラム電源によ
り励磁される着脱可能な減磁コイルを具備し、該
キーボードから減磁試験が指定された時には、該
入力解析部を介して該減磁試験制御部に起動をか
け、該減磁試験データ部の内容を該プログラム電
源部に転送し、該バブルドライバの電流値を決定
し、該データパターンジエネレータ内のデータパ
ターンおよび該リードライトデータ部内のシーケ
ンスデータをもつて該タイミングジエネレータを
介して該バブルドライバを動作させて供試バブル
メモリを駆動し、該供試バブルメモリからの出力
を該バブル検出部を介して該比較判定部で該デー
タパターンと照合し、減磁が不足であれば該演算
部を介して該減磁プログラム電源により該減磁コ
イルを励磁し、減磁が規定に達していれば終了す
るようにし、該キーボードからパツケージ試験が
指定された時には、該減磁プログラム電源および
該減磁コイルを取はずし、該入力解析部を介して
該パツケージ試験制御部に起動をかけ、該パツケ
ージ試験データ部の内容を該プログラム電源部に
転送し、該バブルドライバの電流値を決定し、該
データパターンジエネレータからのデータパター
ンおよび該リードライトデータ部内の該パツケー
ジ試験制御部から指定されたシーケンスデータを
もつて該タイミングジエネレータを介して該バブ
ルドライバを動作させて該供試バブルメモリを駆
動し、該供試バブルメモリからの出力を該バブル
検出器を介して該比較判定部で該データパターン
と照合するようにしたパツケージ試験器の機能を
備えたバブルメモリ減磁テスタが提供される。
発明の実施例
本発明の一実施例としてのパツケージ試験器の
機能を備えたバブルメモリ減磁テスタのブロツク
回路図が第３図に示される。
機能を備えたバブルメモリ減磁テスタのブロツク
回路図が第３図に示される。
この減磁テスタは、キーボード１１、入力解析
部１２、パツケージ試験制御部１３、リードライ
トデータ部１４、パツケージ試験データ部１５、
プログラム電源部１６、バブルドライバ１８、タ
イミングジエネレータ１９、データパターンジエ
ネレータ２０、バブル検出部２１、比較判定部２
２、表示装置２３、印刷機２４、減磁試験制御部
３１、減磁試験データ部３２、演算部３３、減磁
プログラム電源３４、および減磁コイル３５を具
備する。このうち減磁プログラム電源３４および
減磁コイル３５は着脱可能であり、減磁試験の時
のみ装着して用いられる。
部１２、パツケージ試験制御部１３、リードライ
トデータ部１４、パツケージ試験データ部１５、
プログラム電源部１６、バブルドライバ１８、タ
イミングジエネレータ１９、データパターンジエ
ネレータ２０、バブル検出部２１、比較判定部２
２、表示装置２３、印刷機２４、減磁試験制御部
３１、減磁試験データ部３２、演算部３３、減磁
プログラム電源３４、および減磁コイル３５を具
備する。このうち減磁プログラム電源３４および
減磁コイル３５は着脱可能であり、減磁試験の時
のみ装着して用いられる。
上述の減磁テスタの動作について説明する。キ
ーボード１１で減磁試験かパツケージ試験かのい
ずれを行うか入力し、入力解析部１２で解析し、
減磁試験制御部３１またはパツケージ試験制御部
１３に起動をかける。
ーボード１１で減磁試験かパツケージ試験かのい
ずれを行うか入力し、入力解析部１２で解析し、
減磁試験制御部３１またはパツケージ試験制御部
１３に起動をかける。
減磁試験の場合、起動をかけられると減磁試験
制御部３１は減磁試験データ部３２の内容をプロ
グラム電源部１６に転送し、バブルドライバ１８
の電流値を決定する。減磁試験制御部３１はまた
データパターンジエネレータ２０内のデータパタ
ーンを選択し、タイミングジエネレータ１９へデ
ータパターンを送出する。さらに減磁試験制御部
３１はリードライトデータ部１４の中より減磁試
験に使用するシーケンスデータを選択しタイミン
グジエネレータ１９のバブルドライバ１８を駆動
するパルスのタイミングを決定する。次いでタイ
ミングジエネレータ１９へ減磁試験制御部３１か
らスタートをかけると、バブルドライバ１８は駆
動パルスで供試バブルメモリ２５を駆動する。バ
ブルメモリ２５からの出力はバブル検出部２１で
検出され、比較判定部２２で書込まれたデータパ
ターンと照合され、結果が減磁試験制御部３１、
表示装置２３および印刷機２４へ転送される。判
定結果を受けた減磁試験制御部３１は減磁過程の
終了か否かを減磁試験データを参照して決定し、
減磁を続ける場合には、その不足分の減磁量を演
算部３３にて演算し、減磁プログラム電源３４に
設定し、減磁コイル３５にてバブルメモリ２５を
減磁する。次いで再び減磁試験制御部３１からタ
イミングジエネレータ１９にスタートをかけ、バ
ブルメモリ２５の書込みおよび読出しを行つて特
性を測定しながら減磁を進める。所望の特性が得
られると減磁を終了する。この減磁の過程は常に
比較判定の結果として表示装置２３および印刷機
２４へ出力される。
制御部３１は減磁試験データ部３２の内容をプロ
グラム電源部１６に転送し、バブルドライバ１８
の電流値を決定する。減磁試験制御部３１はまた
データパターンジエネレータ２０内のデータパタ
ーンを選択し、タイミングジエネレータ１９へデ
ータパターンを送出する。さらに減磁試験制御部
３１はリードライトデータ部１４の中より減磁試
験に使用するシーケンスデータを選択しタイミン
グジエネレータ１９のバブルドライバ１８を駆動
するパルスのタイミングを決定する。次いでタイ
ミングジエネレータ１９へ減磁試験制御部３１か
らスタートをかけると、バブルドライバ１８は駆
動パルスで供試バブルメモリ２５を駆動する。バ
ブルメモリ２５からの出力はバブル検出部２１で
検出され、比較判定部２２で書込まれたデータパ
ターンと照合され、結果が減磁試験制御部３１、
表示装置２３および印刷機２４へ転送される。判
定結果を受けた減磁試験制御部３１は減磁過程の
終了か否かを減磁試験データを参照して決定し、
減磁を続ける場合には、その不足分の減磁量を演
算部３３にて演算し、減磁プログラム電源３４に
設定し、減磁コイル３５にてバブルメモリ２５を
減磁する。次いで再び減磁試験制御部３１からタ
イミングジエネレータ１９にスタートをかけ、バ
ブルメモリ２５の書込みおよび読出しを行つて特
性を測定しながら減磁を進める。所望の特性が得
られると減磁を終了する。この減磁の過程は常に
比較判定の結果として表示装置２３および印刷機
２４へ出力される。
パツケージ試験においては、起動をかけられる
とパツケージ試験制御部１３はパツケージ試験デ
ータ部１５の内容をプログラム電源部１６に転送
し、バブルドライバ１８の電流値を決定する。パ
ツケージ試験制御部１３はまたデータパターンジ
エネレータ２０内のデータパターンを選択し、タ
イミングジユネレータ１９へデータパターンを送
出する。さらにパツケージ試験制御部１３はリー
ドライトデータ部１４の中よりパツケージ試験に
使用するシーケンスデータを選択しタイミングジ
エネレータ１９のバブルドライバ１８を駆動する
パルスのタイミングを決定する。次いでタイミン
グジエネレータ１９へパツケージ試験制御部１３
からスタートをかけると、バブルドライバ１８は
駆動パルスで供試バブルメモリ２５を駆動する。
バブルメモリ２５からの出力はバブル検出部２１
で検出され、比較判定部２２で書込まれたデータ
パターンと照合され、結果がパツケージ試験制御
部１３、表示装置２３および印刷機２４へ転送さ
れる。パツケージ試験制御部１３ではエラーが多
ければ試験を停止させるよう制御する。
とパツケージ試験制御部１３はパツケージ試験デ
ータ部１５の内容をプログラム電源部１６に転送
し、バブルドライバ１８の電流値を決定する。パ
ツケージ試験制御部１３はまたデータパターンジ
エネレータ２０内のデータパターンを選択し、タ
イミングジユネレータ１９へデータパターンを送
出する。さらにパツケージ試験制御部１３はリー
ドライトデータ部１４の中よりパツケージ試験に
使用するシーケンスデータを選択しタイミングジ
エネレータ１９のバブルドライバ１８を駆動する
パルスのタイミングを決定する。次いでタイミン
グジエネレータ１９へパツケージ試験制御部１３
からスタートをかけると、バブルドライバ１８は
駆動パルスで供試バブルメモリ２５を駆動する。
バブルメモリ２５からの出力はバブル検出部２１
で検出され、比較判定部２２で書込まれたデータ
パターンと照合され、結果がパツケージ試験制御
部１３、表示装置２３および印刷機２４へ転送さ
れる。パツケージ試験制御部１３ではエラーが多
ければ試験を停止させるよう制御する。
減磁試験とパツケージ試験においては、特性測
定のシーケンスが異なるため、それぞれ専用の減
磁試験データ部３２およびパツケージ試験データ
部１５が必要であるが、リードライトデータ部１
４およびデータパターンジエネレータは共用可能
で２式設ける必要はない。
定のシーケンスが異なるため、それぞれ専用の減
磁試験データ部３２およびパツケージ試験データ
部１５が必要であるが、リードライトデータ部１
４およびデータパターンジエネレータは共用可能
で２式設ける必要はない。
発明の効果
本発明によれば、減磁試験およびパツケージ試
験の２つの試験を１つの装置で行うことができ、
共通する構成要素の重復を省き、装置の稼動率を
向上することができる。
験の２つの試験を１つの装置で行うことができ、
共通する構成要素の重復を省き、装置の稼動率を
向上することができる。
第１図は従来用いられている減磁テスタのブロ
ツク回路図、第２図は従来用いられているパツケ
ージ試験器のブロツク回路図、および第３図は本
発明の一実施例としてのパツケージ試験器の機能
を備えたバブルメモリ減磁テスタのブロツク回路
図である。 １１…キーボード、１２…入力解析部、１３…
パツケージ試験制御部、１４…リードライトデー
タ部、１５…パツケージ試験データ部、１６…プ
ログラム電源部、１７…固定電源、１８…バブル
ドライバ、１９…タイミングジエネレータ、２０
…データパターンジエネレータ、２１…バブル検
出部、２２…比較判定部、２３…表示装置、２４
…印刷機、２５…供試バブルメモリ、３１…減磁
試験制御部、３２…減磁試験データ部、３３…演
算部、３４…減磁プログラム電源、３５…減磁コ
イル。
ツク回路図、第２図は従来用いられているパツケ
ージ試験器のブロツク回路図、および第３図は本
発明の一実施例としてのパツケージ試験器の機能
を備えたバブルメモリ減磁テスタのブロツク回路
図である。 １１…キーボード、１２…入力解析部、１３…
パツケージ試験制御部、１４…リードライトデー
タ部、１５…パツケージ試験データ部、１６…プ
ログラム電源部、１７…固定電源、１８…バブル
ドライバ、１９…タイミングジエネレータ、２０
…データパターンジエネレータ、２１…バブル検
出部、２２…比較判定部、２３…表示装置、２４
…印刷機、２５…供試バブルメモリ、３１…減磁
試験制御部、３２…減磁試験データ部、３３…演
算部、３４…減磁プログラム電源、３５…減磁コ
イル。
Claims (1)
- １ 減磁試験かパツケージ試験かの区別を入力す
るキーボード、該キーボードの出力を受ける入力
解析部、該入力解析部の一方の出力を受けるパツ
ケージ試験制御部、該入力解析部の他方の出力を
受ける減磁試験制御部、該パツケージ試験制御部
の出力および該減磁試験制御部の第１の出力を受
けるリードライトデータ部、該パツケージ試験制
御部と接続されたパツケージ試験データ部、該減
磁試験制御部と接続された減磁試験データ部、該
パツケージ試験データ部の出力および該減磁試験
データ部の出力を受けるプログラム電源部、該プ
ログラム電源部の出力を受け供試バブルメモリを
駆動するバブルドライバ、該パツケージ試験制御
部の出力、該減磁試験制御部の出力、および該リ
ードライトデータ部の出力を受けて出力を該バブ
ルドライバへ供給するタイミングジエネレータ、
該減磁試験制御部の第２の出力を受け出力を該タ
イミングジエネレータへ供給するデータパターン
ジエネレータ、該バブルドライバにより駆動され
た供試バブルメモリの出力を受けるバブル検出
部、該データパターンジエネレータの出力を一方
の入力端子に、該バブル検出部の出力を他方の入
力端子にそれぞれ受け出力を該パツケージ試験制
御部および該減磁試験制御部へ供給する比較判定
回路、該減磁試験制御部の第３の出力および該減
磁試験データ部の出力を受ける演算部、該演算部
の出力を受ける着脱可能な減磁プログラム電源、
および該減磁プログラム電源により励磁される着
脱可能な減磁コイルを具備し、該キーボードから
減磁試験が指定された時には、該入力解析部を介
して該減磁試験制御部に起動をかけ、該減磁試験
データ部の内容を該プログラム電源部に転送し、
該バブルドライバの電流値を決定し、該データパ
ターンジエネレータ内のデータパターンおよび該
リードライトデータ部内のシーケンスデータをも
つて該タイミングジエネレータを介して該バブル
ドライバを動作させて供試バブルメモリを駆動
し、該供試バブルメモリからの出力を該バブル検
出部を介して該比較判定部で該データパターンと
照合し、減磁が不足であれば該演算部を介して該
減磁プログラム電源により該減磁コイルを励磁
し、減磁が規定に達していれば終了するように
し、該キーボードからパツケージ試験が指定され
た時には、該減磁プログラム電源および該減磁コ
イルを取はずし、該入力解析部を介して該パツケ
ージ試験制御部に起動をかけ、該パツケージ試験
データ部の内容を該プログラム電源部に転送し、
該バブルドライバの電流値を決定し、該データパ
ターンジエネレータからのデータパターンおよび
該リードライトデータ部内の該パツケージ試験制
御部から指定されたシーケンスデータをもつて該
タイミングジエネレータを介して該バブルドライ
バを動作させて該供試バブルメモリを駆動し、該
供試バブルメモリからの出力を該バブル検出器を
介して該比較判定部で該データパターンと照合す
るようにしたパツケージ試験器の機能を備えたバ
ブルメモリ減磁テスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58169443A JPS6061980A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | パッケ−ジ試験器の機能を備えたバブルメモリ減磁テスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58169443A JPS6061980A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | パッケ−ジ試験器の機能を備えたバブルメモリ減磁テスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6061980A JPS6061980A (ja) | 1985-04-09 |
| JPS63874B2 true JPS63874B2 (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15886695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58169443A Granted JPS6061980A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | パッケ−ジ試験器の機能を備えたバブルメモリ減磁テスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6061980A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0227367U (ja) * | 1988-08-11 | 1990-02-22 |
-
1983
- 1983-09-16 JP JP58169443A patent/JPS6061980A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0227367U (ja) * | 1988-08-11 | 1990-02-22 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6061980A (ja) | 1985-04-09 |
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