JPH07209352A - スペクトラム・アナライザ - Google Patents

スペクトラム・アナライザ

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JPH07209352A
JPH07209352A JP1487094A JP1487094A JPH07209352A JP H07209352 A JPH07209352 A JP H07209352A JP 1487094 A JP1487094 A JP 1487094A JP 1487094 A JP1487094 A JP 1487094A JP H07209352 A JPH07209352 A JP H07209352A
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JP
Japan
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measurement
specifications
frequency
screen
setting
Prior art date
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JP1487094A
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Hiroaki Takaoku
浩明 高奥
Hiroshi Sakuma
啓 佐久間
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、予め複数の測定諸元を用意してお
き、一度に測定実施して得たデータを、複数画面、例え
ば分割画面やウインドウ画面に表示して、繰返しの設定
操作をなくし、また複数画面間のデータ比較を容易にす
ることを目的とする。 【構成】 少なくとも、掃引する中心周波数と、掃引す
るスパン周波数と、バンドパス・フィルタのフィルタ諸
元と、分割表示画面諸元を有する情報記録媒体12を設
け、該情報記録媒体から上記の掃引諸元設定内容を順次
取り出して対応する設定レジスタに設定制御するμCP
U14を設け、該情報記録媒体から上記の分割表示画面
諸元を受けて表示装置13の表示画面を制御する画面分
割制御部16を設け、該情報記録媒体から上記のスパン
周波数条件を受けて周波数の掃引を制御する諸元設定部
15を設けて、複数諸元での測定結果を複数の画面に表
示する手段。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、スペクトラム・アナ
ライザの測定表示において、複数の任意の周波数範囲
を、複数の任意の掃引諸元で掃引して、得られた周波数
データを任意の画面表示形態で画面表示する手段に関す
る。
【0002】
【従来の技術】スペクトラム・アナライザを用いて被測
定対象物、例えば発振回路や装置を測定する場合におい
て、複数の測定項目の測定を必要とする場合がある。こ
の為には、スペクトラムアナライザの測定諸元を何度も
設定変更して測定実施する必要がある。この場合、前に
一度設定した測定諸元を再度繰り返し設定することが多
く、決まり切った測定パターンの繰り返し測定をする場
合においては、利用上の不便である。
【0003】図6に従来の測定構成ブロック図を示して
測定手順を説明する。繰り返しパターン測定の一例とし
て、発振回路の位相安定度と高調波スプリアス・レベル
を測定する事例とする。この場合では基本周波数のC/
N、いわゆるフェーズ・ノイズ測定と、この発振回路の
2次、3次高調波レベルを測定する必要がある為に、2
つの測定形態に設定切り替えて測定する必要がある。
【0004】まず第1測定として、基本周波数のC/N
測定する設定では、主な設定諸元として、中心周波数
(CF)とスパン周波数(SPAN)とフィルタ諸元の
設定条件を設定する。例えば、被測定発振源の例えば1
0KHz離れた周波数位置でのC/Nを測定する為に、
掃引する中心周波数を被測定入力信号の基本波周波数に
設定し、さらに、C/Nが測定判別できる様に、狭いス
パン周波数範囲に設定し、さらに、隣接周波数を分離で
きる様にする為、フィルタのバンド幅を高分解能な値に
設定する。これらの設定は、図6のスペクトラムアナラ
イザの構成ブロック図例に示すように、ハードウエアの
各々のレジスタに対して設定する。掃引発振源であるY
TO(YIG-tuned Oscillator)46の中心周波数を設定
する中心周波数設定レジスタ54に値を設定し、また周
波数範囲即ち掃引する下限周波数から上限周波数の間の
周波数範囲を設定するスパン周波数設定レジスタ55に
値を設定し、中間周波数のバンド幅選択度を決めるBP
F(バンドパス・フィルタ)49のBPF設定レジスタ
49aに値を設定する。これらの測定諸元を使用者が設
定した後、ランプ電圧発生部53がランプ電圧を発生し
て掃引し、測定する。そして、この測定結果のレベル波
形画面を見ながら、マーカー等を操作して、C/N値を
求める操作手順を行う。
【0005】この測定後、次に第2測定として、被測定
発振源の2次、3次高調波のレベル測定をする為に、次
の測定諸元に設定を変更する。上記と同様にして、基本
波と3次高調波を包含する中心周波数とスパン周波数を
設定し、フィルタのバンド幅を適当な値に設定する。こ
の設定後、測定を開始する。そして、この測定結果のレ
ベル波形画面を見ながら、前記同様にマーカー等を操作
して、基本波周波数と2次高調波及び、3次高調波のレ
ベルを求める操作を行う。
【0006】上記第1、第2測定のように、単に1、2
度測定実施する程度の場合には、操作の繰り返し作業は
あまり問題とはならない。しかし、何度も何度も上記測
定を繰り返し実施する測定形態、例えば調整追込み作業
等の場合においては、同じ繰り返し設定操作がわずらわ
しくなってくる。従来においては、これを解決するひと
つの手段として、GPIBインターフェースを用いてス
ペクトラムアナライザを外部コントローラから制御する
方法で自動的に順次これらの設定切り替えをしていた。
しかし、この為には、専用のGPIBコントローラを外
部に設置しなければならないという欠点がある。又、G
PIBの制御コマンドをその都度習得し作成するにもか
なりの時間と習熟度を必要としている。また、測定諸元
設定を切り替える都度、表示画面、測定データも消えて
しまうので、比較検討がやりにくく、また、前画面の値
をメモ用紙等に記録しておく必要もあり不便であった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、何
度も複数諸元での測定を繰り返し実施する場合において
は、単純な繰り返し設定操作がわずらわしく不便であ
る。また、GPIBインターフェイスによる自動制御に
は、専用のコントローラを設置しなければならないし、
又、GPIBの制御コマンドの作成にも時間と習熟度を
必要としていて実用上の不便な面があった。
【0008】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、複数の測定形態での測定を容易にする為に、予めこ
れらの複数測定手段を用意しておき、一度に測定実施し
て得られたデータを、必要により複数画面、例えば分割
画面やウインドウ画面に表示することで、測定に伴う繰
り返しの設定操作をなくして、また、複数画面間の比較
検討を容易にして、利便性を向上することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、複数の掃引諸元設定内容とし
て、少なくとも、掃引する中心周波数と、掃引周波数範
囲であるスパン周波数と、バンドパス・フィルタのフィ
ルタ諸元と、分割表示画面諸元等を記憶する情報記録媒
体12を設ける。そして、情報記録媒体12から上記の
掃引諸元設定内容を順次取り出して対応する設定レジス
タに設定制御するμCPU14を設ける。そして、当該
情報記録媒体12から上記の分割表示画面諸元を受けて
表示装置13の表示画面を制御する画面分割制御部16
を設ける。そして、情報記録媒体12から上記の中心周
波数、スパン周波数、フィルタ諸元等を受けて、各レジ
スタに設定する諸元設定部15を設けて、複数諸元で掃
引した測定結果を複数の表示画面に表示する手段として
いる。
【0010】
【作用】予め、複数の測定したい項目をパラメータ・メ
モリ12に設定しておけば、これら諸元の測定を順次取
り出して測定実行することにより、複数諸元での繰り返
し測定の自動化が実現できる働きがある。また、複数の
測定諸元でリアルタイムに各々表示している為、あたか
も、複数チャンネルの同時測定を実現しているような役
割をもつ。
【0011】
【実施例】本発明の実施例について、図1の本発明のス
ペクトラム・アナライザの測定構成ブロック図と、図2
の本発明の実施例1の場合の表示装置の表示結果例と、
図3の本発明の実施例2の場合の表示装置の表示結果例
と、図4の本発明の複数測定の動作説明図例1と、図5
の本発明の複数測定の動作説明図例2を参照して順次説
明する。
【0012】(実施例1)第1の例として、前記の従来
技術での説明例と同様に、発振回路の位相安定度測定と
高調波スプリアス・レベルを測定する事例を示して説明
する。ここで、3種類の各種設定諸元は、予め既にパラ
メータ・メモリ12に記憶済みであると仮定する。
【0013】図4の複数測定の動作説明図に示すよう
に、最初に、μCPU14がパラメータ・メモリ12
(情報記録媒体)から第1測定グループの各種設定諸元
(図4の21参照)を取り出す。そして、μCPU14
は、この設定諸元を各々の設定レジスタに設定する。こ
の設定は、中心周波数設定レジスタ54にCF値を設定
し、スパン周波数設定レジスタ55にスパン周波数値を
設定し、BPF設定レジスタ49aにフィルタ諸元を設
定し、諸元設定部15に各種掃引諸元を設定し、画面分
割制御部16に画面分割表示諸元(表示形態、表示位
置、表示サイズ、表示単位、表示分解能、基準レベル
等)を設定する。これらの設定のその他として、図示し
ていないが、入力信号の入力アッテネータ条件や、演算
装置52でのアベレージング回数等も設定することがで
きる。
【0014】ここでの設定諸元で、C/N測定する為の
設定条件としては、例えば10KHz離れた位置でのレ
ベルを求められる様に周波数の分解能は、細かく設定す
る。また、C/N測定の為に、BPF49のフィルタ諸
元はシャープなバンド幅条件に設定する。またC/N測
定の為に、中心周波数は基本周波数に設定する。これら
の諸元で設定の後、掃引測定する。その測定結果のデー
タ群を演算装置52で演算処理し、画面分割制御部16
により、表示装置13aの第1表示画面位置22aの位
置に示すように分割画面としてC/N測定波形が表示さ
れる。
【0015】次の測定の設定諸元は、図4の23に示す
ように、第2測定グループのメモリから前記説明と同様
に次の設定値を取り出し各々の設定レジスタに設定す
る。ここでは2次高調波の測定をする為の設定諸元であ
るから、中心周波数は2次高調波に設定し、またフィル
タ諸元はスパン周波数に対応して適切なバンド幅条件に
設定する。またスパン周波数は2次高調波全体が掃引で
きるように適切なスパン値に設定する。これらの諸元で
設定の後、前記同様に掃引測定し、測定結果のデータ群
を演算装置52で演算処理し、画面分割制御部16によ
り、表示装置13aの第2表示画面位置24aの位置に
示すように分割画面として2次高調波全体が表示され
る。
【0016】次に、図4の25に示すように、第3測定
グループのメモリから前記説明と同様に次の設定値を取
り出し各々の設定レジスタに設定する。以下前記2次高
調波と同様な諸元設定し、測定演算して、表示装置13
aの第3表示画面位置26aの位置に示すように分割画
面として3次高調波全体が表示される。この様にして、
上記3種の複数の諸元設定での測定形態を順次繰り返し
測定表示を実行することで、リアルタイム測定の画面表
示が実現される。そして、複数画面上に表示されている
スペクトラム画面や数値データ値から、C/N値や2
次、3次高調波のレベルを容易に求めることができる。
【0017】また、これら表示画面の表示形式には、複
数の表示形態がある。図2及び図3にその表示形態を示
す。通常の表示形態は、図2の13aに示すように測定
グループ毎に対応した個々に表示する分割画面形態であ
る。つまり、分割画面毎に独立にCF周波数とスパン設
定に応じた横軸、即ち周波数軸でスペクトラムや数値デ
ータ値を表示する。またこの時、表示の基準レベルや表
示単位も個々に任意に変えて分割画面毎に表示すること
もできる。また、図2の13bに示す、ウインドウ画面
形式の表示形態の場合では、ユーザーが見たい画面、つ
まりウインドウ画面22b、24b、26bの何れかを
任意に選択して、選択された画面のみを表示する形態が
ある。また、図2の13cに示す、数値データ・ウイン
ドウ形式の表示形態の場合では、測定結果の数値、例え
ばレベル値や周波数値等の数値データ24c、26cを
画面上に表示する形態がある。また、表示画面の位置や
縦や横のサイズについても、ユーザーが任意に変更する
ことも、各測定グループのパラメータ・メモリ12に登
録しておくことで任意の画面サイズで表示することもで
きる。
【0018】これらの測定形態により、本測定及び表示
手段は、あたかも複数台のスペクトラムアナライザでの
同時測定と同等の機能を提供していることにもなる。ユ
ーザーは、これらの複数表示画面から、マーカー等を操
作して、C/N値を求めたり、基本波周波数と2次高調
波及び、3次高調波のレベルを同時に同一画面上で求め
比較検討することが極めて容易にできる。
【0019】(実施例2)次に第2の例として、同一中
心周波数での側波帯の測定と、近傍スプリアスの測定
と、全スプリアスの測定事例を示して説明する。また、
3種類の各種設定諸元は、予め既にパラメータ・メモリ
12に設定済みであると仮定する。
【0020】図5に複数測定の動作説明図に示し、図3
にその表示形態を示す。CFであるf1は3つの測定グ
ループとも同一の周波数設定である。パラメータ・メモ
リ12の第1測定グループから各種設定諸元31を対応
する設定レジスタに出力する。ここでは側波帯の測定を
する為の設定をする。この為に、SPAN(スパン周波
数)を狭い周波数値、例えば100KHzに設定する。
また、フィルタ諸元もこれに対応してバンド幅を狭くし
てシャープな特性に設定する。これら設定の後、掃引測
定した結果は、図3の表示装置13dの第1表示画面位
置31bに示すように側波帯スペクトラム波形が明瞭に
表示される。
【0021】この後、次に第2測定グループのメモリか
ら各種設定諸元32を同様に設定出力する。ここでは、
近傍スプリアスを測定する為の設定をする。この為に、
SPANを適切な値(例えば1MHz)に設定する。ま
た、フィルタ諸元もこれに対応したバンド幅特性に設定
する。これら設定の後、掃引測定した結果は、図3の表
示装置13dの第2表示画面位置32bに示すように近
傍スプリアスのスペクトラム波形が明瞭に表示される。
【0022】この後、次に第3測定グループのメモリか
ら各種設定諸元33を同様に設定出力する。ここでは、
全スプリアスを測定する為の設定をする。この為に、S
PANを大きな周波数値、例えば100MHzに設定す
る。また、フィルタ諸元もこれに対応したバンド幅特性
に設定する。これら設定の後、掃引測定した結果は、図
3の表示装置13dの第3表示画面位置33bに示すよ
うに全スプリアスのスペクトラム波形が明瞭に表示され
る。
【0023】このようにして、上記3つの各諸元設定で
繰り返し実行することでリアルタイム測定データの画面
表示が実現される。この画面上から、求めたい側波帯ス
ペクトラムと近傍スプリアスのスペクトラムと全スプリ
アスのスペクトラムの各種のレベルや周波数の測定が同
時にかつ容易に実現できる。なお、図4、図5では、各
測定毎に分割画面へ表示するようにしているが、これを
一時記憶しておいて全測定後に一度に表示するようにし
ても良い。
【0024】また、この複数諸元での測定及び表示機能
を利用することで、ズーム測定機能を実現する応用例も
ある。つまり、スペクトラム画面上の任意の部分を拡大
して分割画面に表示するように設定諸元をパラメータ・
メモリ12に設定する。この結果、図2の13eの画面
例に示すように、見たい部分を任意の周波数スパンで任
意のレベルで拡大表示39されて観測することができ
る。
【0025】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。予
め複数の測定諸元をパラメータ・メモリ12に設定入力
しておくことで、従来のように、何度も何度も同じ測定
諸元を繰り返しキー入力設定するわずらわしさがなくな
る。この結果、繰り返し設定操作がなくなり、ユーザー
の利便性が得られる。また、一度に同一画面に、複数の
測定値の変化をリアルタイムに表示できる為、画面上で
複数の測定データ間の比較検討が容易にできるので、新
たな利点が提供できる。
【0026】また、ユーザーが必要としない周波数領域
を削除した測定形態とすることもできる。つまり、必要
とする部分の周波数領域に分割した設定諸元で掃引する
ことで、必要とする周波数領域のみの表示画面になる。
この結果、表示画面の有効利用を計ることができる為、
表示波形の視認性が向上するので、ユーザーの利便性が
一層増す利点が得られる。また、複数の周波数信号を同
時にかつリアルタイムに画面表示できる為、複数周波数
信号間の相関性の測定という新たな測定アプリケーショ
ン機能を提供できる効果が得られる。
【0027】また、この複数の測定諸元機能を応用利用
して、スペクトラム画面上の任意の部分を拡大して分割
画面に表示するズーム測定機能を提供できる。これによ
り拡大して詳細を確認したい新たな測定アプリケーショ
ンをユーザーに提供できる効果がある。
【0028】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスペクトラム・アナライザの測定構成
ブロック図である。
【図2】本発明の実施例1の場合の表示装置の表示結果
例である。
【図3】本発明の実施例2の場合の表示装置の表示結果
例である。
【図4】本発明の実施例1の場合の複数測定の動作説明
図である。
【図5】本発明の実施例2の場合の複数測定の動作説明
図である。
【図6】従来のスペクトラム・アナライザの測定構成ブ
ロック図である。
【符号の説明】
12 パラメータ・メモリ(情報記憶媒
体) 13a、13b、13c、13d、13e 表示装置 14 μCPU 15 諸元設定部 16 画面分割制御部 21、23、25、31、32、33 各種設定諸元 22b、24b、26b ウインドウ画面 24c、26c 数値データ 22a 表示装置13aの第1表示画面位置 24a 表示装置13aの第2表示画面位置 26a 表示装置13aの第3表示画面位置 31b 第1表示画面位置 32b 第2表示画面位置 33b 第3表示画面位置 32 第2測定グループのメモリから各種
設定諸元 33 第3測定グループのメモリから各種
設定諸元 39 拡大表示 46 YTO(YIG-tuned Oscillator) 49 バンドパス・フィルタ(BPF) 49a BPF設定レジスタ 52 演算装置 53 ランプ電圧発生部 54 中心周波数設定レジスタ 55 スパン周波数設定レジスタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号周波数のスペクトラムを測定し
    表示する場合において、 複数の掃引諸元設定内容として、少なくとも、掃引する
    中心周波数と、掃引周波数範囲であるスパン周波数と、
    バンドパス・フィルタのフィルタ諸元と、分割表示画面
    諸元を記憶する情報記録媒体(12)を設け、 当該情報記録媒体(12)から上記の掃引諸元設定内容
    を順次取り出して対応する設定レジスタに設定し制御す
    るμCPU(14)を設け、 当該情報記録媒体(12)から上記の分割表示画面諸元
    を受けて表示装置(13)の表示を制御する画面分割制
    御部(16)を設け、 当該情報記録媒体(12)から上記の中心周波数、スパ
    ン周波数、フィルタ諸元等を受けて、各レジスタに設定
    する諸元設定部(15)を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラム・ア
    ナライザ。
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