JP3028388B2 - 電子回路の周波数特性測定装置 - Google Patents
電子回路の周波数特性測定装置Info
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- JP3028388B2 JP3028388B2 JP4272342A JP27234292A JP3028388B2 JP 3028388 B2 JP3028388 B2 JP 3028388B2 JP 4272342 A JP4272342 A JP 4272342A JP 27234292 A JP27234292 A JP 27234292A JP 3028388 B2 JP3028388 B2 JP 3028388B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定周波数を可変し
て、被測定電子回路のレベル−周波数特性や位相−周波
数特性（以下、単に周波数特性と記す）等を測定する周
波数特性測定装置（以下、測定装置と記す）に関する。
て、被測定電子回路のレベル−周波数特性や位相−周波
数特性（以下、単に周波数特性と記す）等を測定する周
波数特性測定装置（以下、測定装置と記す）に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、バンドパスフィルタ（以下、Ｂ
ＰＦと記す）の特性を測定する場合、図１１に示す構成
の測定装置１が従来より用いられている。
ＰＦと記す）の特性を測定する場合、図１１に示す構成
の測定装置１が従来より用いられている。
【０００３】即ち、測定装置１の測定部２は、シンセサ
イザ型の発振器３からＢＰＦ１５へ測定信号を入力し、
ＢＰＦ１５の出力信号を検波回路４で検波し、その検波
出力をＡ／Ｄ変換器５によって、ディジタル信号に変換
出力する。
イザ型の発振器３からＢＰＦ１５へ測定信号を入力し、
ＢＰＦ１５の出力信号を検波回路４で検波し、その検波
出力をＡ／Ｄ変換器５によって、ディジタル信号に変換
出力する。
【０００４】発振器３は、測定実行部６から設定される
周波数データＦに一致する周波数Ｆで一定レベルの測定
信号を出力する。
周波数データＦに一致する周波数Ｆで一定レベルの測定
信号を出力する。
【０００５】測定実行部６は、発振器３に設定するため
の周波数データＦを一時記憶するラッチ回路７と、ラッ
チ回路７の記憶値に所定の周波数ステップΔＦを加算し
た値をラッチ回路７へ出力する加算器８と、所定周期の
クロック信号を計数するＭ進のアドレスカウンタ９と、
アドレスカウンタ９のキャリー出力でオンして、所定の
スタート周波数データＦstをラッチ回路７へ初期設定す
るスイッチ１０とを有している。
の周波数データＦを一時記憶するラッチ回路７と、ラッ
チ回路７の記憶値に所定の周波数ステップΔＦを加算し
た値をラッチ回路７へ出力する加算器８と、所定周期の
クロック信号を計数するＭ進のアドレスカウンタ９と、
アドレスカウンタ９のキャリー出力でオンして、所定の
スタート周波数データＦstをラッチ回路７へ初期設定す
るスイッチ１０とを有している。
【０００６】したがって、ラッチ回路７の記憶値は、ク
ロック信号が入力するごとに、初期値Ｆstから、Ｆst＋
ΔＦ、Ｆst＋２ΔＦ、…、Ｆst＋（Ｍ−１）ΔＦと順番
に更新されて、Ｍ個目のクロック信号が入力されると、
スイッチ１０がオンして、初期状態に戻る。
ロック信号が入力するごとに、初期値Ｆstから、Ｆst＋
ΔＦ、Ｆst＋２ΔＦ、…、Ｆst＋（Ｍ−１）ΔＦと順番
に更新されて、Ｍ個目のクロック信号が入力されると、
スイッチ１０がオンして、初期状態に戻る。
【０００７】このため、発振器３からの測定信号の周波
数は、図１２のＡに示すように、ＦstからΔＦステップ
でＦst＋（Ｍ−１）ΔＦまでステップ状に可変される。
数は、図１２のＡに示すように、ＦstからΔＦステップ
でＦst＋（Ｍ−１）ΔＦまでステップ状に可変される。
【０００８】この測定周波数の掃引中におけるＡ／Ｄ変
換５からの周波数毎の検波出力データＤ0 〜ＤM-1 （測
定値）は、Ｍ個のアドレスを有する測定値メモリ１１に
アドレス順に記憶される。
換５からの周波数毎の検波出力データＤ0 〜ＤM-1 （測
定値）は、Ｍ個のアドレスを有する測定値メモリ１１に
アドレス順に記憶される。
【０００９】測定値メモリ１１に記憶された測定値Ｄ0
〜ＤM-1 は、表示装置１２によってアドレス順に読出さ
れ、そのアドレス値を横軸、その測定値の大きさを縦軸
とする表示画面１２ａ上にドット表示される。この表示
装置の解像度は有限であって、測定値メモリ３１のアド
レス数Ｍは、一軸上に表示できるポイント数で規定され
ている。
〜ＤM-1 は、表示装置１２によってアドレス順に読出さ
れ、そのアドレス値を横軸、その測定値の大きさを縦軸
とする表示画面１２ａ上にドット表示される。この表示
装置の解像度は有限であって、測定値メモリ３１のアド
レス数Ｍは、一軸上に表示できるポイント数で規定され
ている。
【００１０】次に、この測定装置１によってＢＰＦ１５
の測定を行なう場合に説明する。
の測定を行なう場合に説明する。
【００１１】ＢＰＦの一般的な測定項目としては、３ｄ
Ｂ帯域幅Ｆｗ、中心周波数Ｆｃ、帯域内リップルＲ、帯
域外減衰量Ｐ等があり、これらの一般的な測定項目に加
え、ユーザ側からの要求による特定周波数における減衰
量を測定する場合もある。
Ｂ帯域幅Ｆｗ、中心周波数Ｆｃ、帯域内リップルＲ、帯
域外減衰量Ｐ等があり、これらの一般的な測定項目に加
え、ユーザ側からの要求による特定周波数における減衰
量を測定する場合もある。
【００１２】これらの測定項目のうち、Ｆｗ、Ｆｃ、Ｒ
のような通過帯域に関する測定を行なう場合には、測定
周波数を、ＢＰＦ１５の公称中心周波数Ｆｃ0 を中心に
した狭い測定領域（例えば公称帯域幅Ｆｗ0 の２倍程
度）を細かいステップで掃引する必要がある。
のような通過帯域に関する測定を行なう場合には、測定
周波数を、ＢＰＦ１５の公称中心周波数Ｆｃ0 を中心に
した狭い測定領域（例えば公称帯域幅Ｆｗ0 の２倍程
度）を細かいステップで掃引する必要がある。
【００１３】測定値メモリ１１のアドレス数はＭで固定
されているから、この場合、図１２のＢのようにスター
ト周波数ＦｓをＦｃ0 −Ｆｗ0 に設定し、周波数ステッ
プΔＦを２・Ｆｗ0 ／Ｍに設定して、クロック信号の入
力を開始すれば、測定信号の周波数は、Ｆｃ0 −Ｆｗ0
から２・Ｆｗ0 ／ＭのステップでＦｃ0 ＋Ｆｗ0 まで掃
引される。このため、表示装置１２の表示画面１２ａに
は、図１３に示すような通過帯域近傍の減衰特性が表示
される。
されているから、この場合、図１２のＢのようにスター
ト周波数ＦｓをＦｃ0 −Ｆｗ0 に設定し、周波数ステッ
プΔＦを２・Ｆｗ0 ／Ｍに設定して、クロック信号の入
力を開始すれば、測定信号の周波数は、Ｆｃ0 −Ｆｗ0
から２・Ｆｗ0 ／ＭのステップでＦｃ0 ＋Ｆｗ0 まで掃
引される。このため、表示装置１２の表示画面１２ａに
は、図１３に示すような通過帯域近傍の減衰特性が表示
される。
【００１４】この特性から、ＢＰＦ１５の挿入損失ａを
縦軸の０ｄＢから特性のピークまでの間隔を読取ること
で知ることができ、特性のピークから−３ｄＢ低下した
周波数Ｆ1 、Ｆ2 を読取ってその差を求めることで帯域
幅Ｆｗを知ることができる。また、中心周波数ＦｃはＦ
1 ＋Ｆｗ／２で求めることができる。また、帯域内リッ
プルＲは、この通過帯域Ｆｗ内のピーク値とボトム値の
差を読取ることで知ることができる。
縦軸の０ｄＢから特性のピークまでの間隔を読取ること
で知ることができ、特性のピークから−３ｄＢ低下した
周波数Ｆ1 、Ｆ2 を読取ってその差を求めることで帯域
幅Ｆｗを知ることができる。また、中心周波数ＦｃはＦ
1 ＋Ｆｗ／２で求めることができる。また、帯域内リッ
プルＲは、この通過帯域Ｆｗ内のピーク値とボトム値の
差を読取ることで知ることができる。
【００１５】このようにＢＰＦ１５の通過帯域近傍を細
かい周波数ステップで掃引したときには、各測定値を正
確に読取ることができるが、この特性からは、通過帯域
外の減衰量等を広い範囲にわたって知ることはできな
い。
かい周波数ステップで掃引したときには、各測定値を正
確に読取ることができるが、この特性からは、通過帯域
外の減衰量等を広い範囲にわたって知ることはできな
い。
【００１６】そこで、このような通過帯域外の測定を行
なう場合には、図１２のＡに示したように公称中心周波
数Ｆｃ0 を中心にした広い範囲（例えば±Ｆｃ0 ／２）
を広いステップで掃引する。
なう場合には、図１２のＡに示したように公称中心周波
数Ｆｃ0 を中心にした広い範囲（例えば±Ｆｃ0 ／２）
を広いステップで掃引する。
【００１７】即ち、スタート周波数Ｆｓを、Ｆｃ0 −Ｆ
ｃ0 ／２に設定し、周波数ステップΔＦをＦｃ／Ｍに設
定して、クロック信号の入力を開始すれば、測定信号の
周波数は、Ｆｃ0 ／２からＦｃ0 ／ＭのステップでＦｃ
0 ＋Ｆｃ0 ／２まで掃引される。このため、表示画面１
２ａには、図１４に示すような減衰特性が広い範囲にわ
たって表示される。
ｃ0 ／２に設定し、周波数ステップΔＦをＦｃ／Ｍに設
定して、クロック信号の入力を開始すれば、測定信号の
周波数は、Ｆｃ0 ／２からＦｃ0 ／ＭのステップでＦｃ
0 ＋Ｆｃ0 ／２まで掃引される。このため、表示画面１
２ａには、図１４に示すような減衰特性が広い範囲にわ
たって表示される。
【００１８】この特性から、通過帯域外の減衰量（最悪
値）Ｐ1 、Ｐ2 を、０ｄＢと帯域外のピークとの間隔を
読取ることで知ることができる。
値）Ｐ1 、Ｐ2 を、０ｄＢと帯域外のピークとの間隔を
読取ることで知ることができる。
【００１９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような従来の測定装置では、前述のように通過帯域内に
関する測定を行なうときと、通過帯域外の測定を行なう
ときとで、測定周波数の掃引条件（スタート周波数と周
波数ステップ）を切換え、最低２回の掃引測定を行なわ
なければならず、しかも、その掃引による特性のいずれ
か１つしか画面上でみることができないため、特性の良
否の判定が極めて非能率的であるという問題があった。
ような従来の測定装置では、前述のように通過帯域内に
関する測定を行なうときと、通過帯域外の測定を行なう
ときとで、測定周波数の掃引条件（スタート周波数と周
波数ステップ）を切換え、最低２回の掃引測定を行なわ
なければならず、しかも、その掃引による特性のいずれ
か１つしか画面上でみることができないため、特性の良
否の判定が極めて非能率的であるという問題があった。
【００２０】また、測定周波数の掃引範囲と測定値メモ
リのアドレス数（表示装置の表示ポイント数）との関係
から周波数ステップが決定されるのでユーザ要求の所定
周波数の特性値を正確に求めるためには、この所定周波
数を掃引のスタート周波数とする掃引を別に行なわなけ
ればならなかった。また、１回の掃引ごとに測定値メモ
リの内容が書かえられてしまうため、前の掃引による特
性確認等を行なうことができないという不便さがあっ
た。
リのアドレス数（表示装置の表示ポイント数）との関係
から周波数ステップが決定されるのでユーザ要求の所定
周波数の特性値を正確に求めるためには、この所定周波
数を掃引のスタート周波数とする掃引を別に行なわなけ
ればならなかった。また、１回の掃引ごとに測定値メモ
リの内容が書かえられてしまうため、前の掃引による特
性確認等を行なうことができないという不便さがあっ
た。
【００２１】本発明は、これらの課題を解決した測定装
置を提供することを目的としている。
置を提供することを目的としている。
【００２２】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の測定装置は、被測定電子回路からの信号を
受けて、周波数を掃引しながら測定し、測定周波数成分
の測定値を検出する測定部（２１）と、前記測定部によ
って検出された測定値を記憶するための所定アドレス数
の測定値メモリ （３１）と、前記測定部の測定周波数
をステップで掃引して測定させて、該測定周波数ごとの
前記測定値を前記測定値メモリの前記測定周波数に対応
するアドレスにそれぞれ記憶させる測定実行手段（４
５）と、前記測定値メモリのアドレス数にほぼ等しい表
示ポイント数を有し、前記測定値メモリに記憶された測
定値を読出して周波数軸上に表示する表示装置（４８）
とを有する電子回路の周波数特性測定装置において、前
記被測定電子回路の特性に応じて複数の異なる測定周波
数領域を指定する測定領域指定手段（３６）と、前記測
定領域指定手段によって指定された各測定周波数領域を
前記測定部が一掃引する間に順次連続的に測定するため
に、前記各測定周波数領域を、前記測定値メモリの全ア
ドレス数の範囲内に割当てるアドレス領域割当手段（４
０）と、前記アドレス領域割当手段によって割当てられ
た各アドレス領域のアドレス数とその測定周波数領域の
幅とに基づいて、１アドレス毎の前記測定周波数のステ
ップを前記指定された各測定周波数領域毎に算出する演
算手段（４１、４２）とを設け、前記測定実行手段は、
前記測定部の測定周波数を、前記測定領域指定手段で指
定された全ての測定周波数領域内を前記演算手段で算出
されたそれぞれのステップで掃引可変しながら、その測
定値を前記測定値メモリの各アドレス領域内に順番に記
憶させることを特徴としている。
に、本発明の測定装置は、被測定電子回路からの信号を
受けて、周波数を掃引しながら測定し、測定周波数成分
の測定値を検出する測定部（２１）と、前記測定部によ
って検出された測定値を記憶するための所定アドレス数
の測定値メモリ （３１）と、前記測定部の測定周波数
をステップで掃引して測定させて、該測定周波数ごとの
前記測定値を前記測定値メモリの前記測定周波数に対応
するアドレスにそれぞれ記憶させる測定実行手段（４
５）と、前記測定値メモリのアドレス数にほぼ等しい表
示ポイント数を有し、前記測定値メモリに記憶された測
定値を読出して周波数軸上に表示する表示装置（４８）
とを有する電子回路の周波数特性測定装置において、前
記被測定電子回路の特性に応じて複数の異なる測定周波
数領域を指定する測定領域指定手段（３６）と、前記測
定領域指定手段によって指定された各測定周波数領域を
前記測定部が一掃引する間に順次連続的に測定するため
に、前記各測定周波数領域を、前記測定値メモリの全ア
ドレス数の範囲内に割当てるアドレス領域割当手段（４
０）と、前記アドレス領域割当手段によって割当てられ
た各アドレス領域のアドレス数とその測定周波数領域の
幅とに基づいて、１アドレス毎の前記測定周波数のステ
ップを前記指定された各測定周波数領域毎に算出する演
算手段（４１、４２）とを設け、前記測定実行手段は、
前記測定部の測定周波数を、前記測定領域指定手段で指
定された全ての測定周波数領域内を前記演算手段で算出
されたそれぞれのステップで掃引可変しながら、その測
定値を前記測定値メモリの各アドレス領域内に順番に記
憶させることを特徴としている。
【００２３】
【作用】このように構成したため、本発明の測定装置で
は、指定された測定周波数領域に対して、測定値メモリ
のアドレス領域がそれぞれ割当てられ、各測定周波数領
域毎の周波数ステップが各アドレス領域のアドレス数と
測定領域の幅とによって算出され、算出された周波数ス
テップによる各測定領域の掃引が測定部で行われて、そ
の周波数毎の測定値が測定値メモリの各アドレス領域内
に順番に記憶される。
は、指定された測定周波数領域に対して、測定値メモリ
のアドレス領域がそれぞれ割当てられ、各測定周波数領
域毎の周波数ステップが各アドレス領域のアドレス数と
測定領域の幅とによって算出され、算出された周波数ス
テップによる各測定領域の掃引が測定部で行われて、そ
の周波数毎の測定値が測定値メモリの各アドレス領域内
に順番に記憶される。
【００２４】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１は、前記ＢＰＦ１５の各特性値を測定する
ための測定装置２０の構成を示している。
明する。図１は、前記ＢＰＦ１５の各特性値を測定する
ための測定装置２０の構成を示している。
【００２５】図１において、被測定電子回路としてのＢ
ＰＦ１５の入出力は、測定装置２０の出力端子２０ａお
よび入力端子２０ｂにそれぞれケーブルやプローブ等を
介して接続される。出力端子２０ａからは、測定部２１
のシンセサイザ型の発振器２２の出力が測定信号として
出力される。
ＰＦ１５の入出力は、測定装置２０の出力端子２０ａお
よび入力端子２０ｂにそれぞれケーブルやプローブ等を
介して接続される。出力端子２０ａからは、測定部２１
のシンセサイザ型の発振器２２の出力が測定信号として
出力される。
【００２６】発振器２２は、後述する制御部３０からの
周波数データＦｓに等しい周波数の所定レベルの測定信
号を出力端子２０ａおよび第１のミキサ２３へ出力す
る。第１のミキサ２３は、周波数Ｆｓの信号と固定発振
器２４からの周波数Ｆｉの信号とを混合して、例えばそ
の差の周波数（Ｆｓ−Ｆｉ）の信号を局発信号として第
２のミキサ２５へ出力する。
周波数データＦｓに等しい周波数の所定レベルの測定信
号を出力端子２０ａおよび第１のミキサ２３へ出力す
る。第１のミキサ２３は、周波数Ｆｓの信号と固定発振
器２４からの周波数Ｆｉの信号とを混合して、例えばそ
の差の周波数（Ｆｓ−Ｆｉ）の信号を局発信号として第
２のミキサ２５へ出力する。
【００２７】第２のミキサ２５は、入力端子２０ｂ入力
される信号と局発信号を混合し、その混合成分を中間周
波フィルタ２６へ出力する。中間周波フィルタ２６の通
過中心周波数は、固定発振器２４の周波数Ｆｉと一致
し、しかもその帯域幅は狭いため、中間周波フィルタ２
６からは、第２のミキサ２５への入力信号のうち、測定
信号周波数Ｆｓ成分のみが選択されて出力される。
される信号と局発信号を混合し、その混合成分を中間周
波フィルタ２６へ出力する。中間周波フィルタ２６の通
過中心周波数は、固定発振器２４の周波数Ｆｉと一致
し、しかもその帯域幅は狭いため、中間周波フィルタ２
６からは、第２のミキサ２５への入力信号のうち、測定
信号周波数Ｆｓ成分のみが選択されて出力される。
【００２８】中間周波フィルタ２６からの信号は、対数
変換型の検波回路２７で検波されて、Ａ／Ｄ変換器２８
によってディジタル変換され、その変換出力は、測定値
として制御部３０の測定値メモリ３１へ出力される。
変換型の検波回路２７で検波されて、Ａ／Ｄ変換器２８
によってディジタル変換され、その変換出力は、測定値
として制御部３０の測定値メモリ３１へ出力される。
【００２９】マイクロコンピュータ構成の制御部３０に
は、測定値メモリ３１の他に測定周波数メモリ３２が設
けられている。これら２つのメモリ３１、３２は、とも
に０からＭまでのアドレス値を有し、これらのメモリに
対するアドレス指定はＭ−１進のアドレスカウンタ３３
の出力値によってなされる。
は、測定値メモリ３１の他に測定周波数メモリ３２が設
けられている。これら２つのメモリ３１、３２は、とも
に０からＭまでのアドレス値を有し、これらのメモリに
対するアドレス指定はＭ−１進のアドレスカウンタ３３
の出力値によってなされる。
【００３０】測定周波数メモリ３２の各アドレスには、
予め、周波数テーブル作成部３５によって作成された周
波数データが記憶されている。
予め、周波数テーブル作成部３５によって作成された周
波数データが記憶されている。
【００３１】周波数テーブル作成部３５は、測定周波数
の領域を指定する手段として、通過帯域内測定の有無や
通過帯域外測定の有無とその領域数、あるいは、ユーザ
要求等による規定周波数における測定の有無を予め設定
するための測定指定手段３６と、ＢＰＦ１５の公称中心
周波数Ｆｃ0 、公称帯域幅Ｆｗ0 、通過帯域外の測定領
域のスタート周波数、エンド周波数、あるいはユーザ要
求の規定周波数Ｆ1 〜Ｆｎ等の規定値を予め設定するた
めの規定値設定手段３７を有している。
の領域を指定する手段として、通過帯域内測定の有無や
通過帯域外測定の有無とその領域数、あるいは、ユーザ
要求等による規定周波数における測定の有無を予め設定
するための測定指定手段３６と、ＢＰＦ１５の公称中心
周波数Ｆｃ0 、公称帯域幅Ｆｗ0 、通過帯域外の測定領
域のスタート周波数、エンド周波数、あるいはユーザ要
求の規定周波数Ｆ1 〜Ｆｎ等の規定値を予め設定するた
めの規定値設定手段３７を有している。
【００３２】アドレス領域割当手段４０は、測定指定手
段３６で指定された測定項目とその数に応じて、測定周
波数メモリ３２の全アドレス範囲の中でアドレス領域の
割当てを行なう。このアドレス領域の割当ては、最大で
測定値メモリ３１の全アドレスを１つの測定領域に割当
てることも可能である。
段３６で指定された測定項目とその数に応じて、測定周
波数メモリ３２の全アドレス範囲の中でアドレス領域の
割当てを行なう。このアドレス領域の割当ては、最大で
測定値メモリ３１の全アドレスを１つの測定領域に割当
てることも可能である。
【００３３】帯域内周波数データ演算手段４１は、帯域
内測定に対して割当てられたアドレス領域に記憶するた
めの周波数データを各アドレス毎に演算して出力する。
帯域外周波数データ演算手段４２は、帯域外測定に対し
て割当てられたアドレス領域に記憶するための周波数デ
ータを各アドレス毎に演算して出力する。周波数登録手
段４３は、前記演算手段４１、４２で算出された周波数
データと、ユーザ要求による規定周波数データを、測定
周波数メモリ３２の割当てのアドレスにそれぞれ書込
む。この周波数データ書込みは、測定周波数メモリ３２
への書込み信号Ｗ1 の出力と、アドレスカウンタ３３へ
の歩進制御によって行なわれる。したがって、測定周波
数メモリ３２に記憶されている周波数の測定信号による
測定値は、その周波数データのアドレスと同一アドレス
の測定値メモリ３１に記憶されることになり、測定周波
数メモリ３２に対するアドレス領域の割当ては、測定値
メモリ３１に対するアドレス領域の割当てと等価であ
る。
内測定に対して割当てられたアドレス領域に記憶するた
めの周波数データを各アドレス毎に演算して出力する。
帯域外周波数データ演算手段４２は、帯域外測定に対し
て割当てられたアドレス領域に記憶するための周波数デ
ータを各アドレス毎に演算して出力する。周波数登録手
段４３は、前記演算手段４１、４２で算出された周波数
データと、ユーザ要求による規定周波数データを、測定
周波数メモリ３２の割当てのアドレスにそれぞれ書込
む。この周波数データ書込みは、測定周波数メモリ３２
への書込み信号Ｗ1 の出力と、アドレスカウンタ３３へ
の歩進制御によって行なわれる。したがって、測定周波
数メモリ３２に記憶されている周波数の測定信号による
測定値は、その周波数データのアドレスと同一アドレス
の測定値メモリ３１に記憶されることになり、測定周波
数メモリ３２に対するアドレス領域の割当ては、測定値
メモリ３１に対するアドレス領域の割当てと等価であ
る。
【００３４】図２〜図５は、このアドレス領域の割当て
と周波数データの登録の手順の一例を示すフローチャー
トである。以下、これらのフローチャートに従って、Ｍ
が５００の場合の周波数テーブルの作成処理を詳しく説
明する。
と周波数データの登録の手順の一例を示すフローチャー
トである。以下、これらのフローチャートに従って、Ｍ
が５００の場合の周波数テーブルの作成処理を詳しく説
明する。
【００３５】図２のフローチャートは、ユーザに対して
減衰量を保証する複数の規定周波数（例えばＦ1 、
Ｆ2 、Ｆ3 ）と、ＢＰＦの帯域内の周波数データの登録
手順を示しており、始めに、規定周波数における保証減
衰量の測定の有無が判定され、測定有りと判定された場
合には、測定周波数メモリ３２の０番地から５ポイント
ずつ連続したアドレスに規定周波数が登録される（Ｓ
１、Ｓ２）。例えば、３つの規定周波数Ｆ1 、Ｆ2 、Ｆ
3 が予め設定されているものとすると、Ｆ1 は０番地か
ら４番地まで、Ｆ2 は５番地から９番地まで、Ｆ3 は１
０番地から１４番地までに直接登録される。この保証減
衰量測定のための規定周波数の割当て領域は、図６に示
すように、０番地から４９番地までであって、最大で１
０個までの規定周波数の登録が可能となっている。
減衰量を保証する複数の規定周波数（例えばＦ1 、
Ｆ2 、Ｆ3 ）と、ＢＰＦの帯域内の周波数データの登録
手順を示しており、始めに、規定周波数における保証減
衰量の測定の有無が判定され、測定有りと判定された場
合には、測定周波数メモリ３２の０番地から５ポイント
ずつ連続したアドレスに規定周波数が登録される（Ｓ
１、Ｓ２）。例えば、３つの規定周波数Ｆ1 、Ｆ2 、Ｆ
3 が予め設定されているものとすると、Ｆ1 は０番地か
ら４番地まで、Ｆ2 は５番地から９番地まで、Ｆ3 は１
０番地から１４番地までに直接登録される。この保証減
衰量測定のための規定周波数の割当て領域は、図６に示
すように、０番地から４９番地までであって、最大で１
０個までの規定周波数の登録が可能となっている。
【００３６】次に、０番地から４９番地までの空領域に
公称中心周波数Ｆｃ0 がダミーデータとして登録され、
帯域内の測定の有無が判定される（Ｓ３、Ｓ４）。
公称中心周波数Ｆｃ0 がダミーデータとして登録され、
帯域内の測定の有無が判定される（Ｓ３、Ｓ４）。
【００３７】帯域内の測定が有りと判定されたときに
は、公称中心周波数Ｆｃ0 と測定帯域幅Ｆｗ′とに基づ
いて、帯域内測定の掃引開始周波数Ｆst1 が次式 Ｆst1 ＝Ｆｃ0 −Ｆｗ′／２ によって算出される（Ｓ５）。なお、測定帯域幅Ｆｗ′
は、実際のＢＰＦの帯域幅と中心周波数のバラツキを考
慮した値で、例えば公称帯域幅Ｆｗ0 の１．２倍程度の
値である。この帯域内の掃引開始周波数Ｆst1 は、５０
番地から５９番地まで登録される（Ｓ６）。
は、公称中心周波数Ｆｃ0 と測定帯域幅Ｆｗ′とに基づ
いて、帯域内測定の掃引開始周波数Ｆst1 が次式 Ｆst1 ＝Ｆｃ0 −Ｆｗ′／２ によって算出される（Ｓ５）。なお、測定帯域幅Ｆｗ′
は、実際のＢＰＦの帯域幅と中心周波数のバラツキを考
慮した値で、例えば公称帯域幅Ｆｗ0 の１．２倍程度の
値である。この帯域内の掃引開始周波数Ｆst1 は、５０
番地から５９番地まで登録される（Ｓ６）。
【００３８】次に帯域内の周波数ステップΔＦ1 が次式 ΔＦ1 ＝Ｆｗ′／２００によって算出され、６０番地か
ら２５９番地までの各アドレスＡに、次式 Ｆst1 ＋ΔＦ（Ａ−５９） で決まる周波数データがそれぞれ登録される（Ｓ８〜Ｓ
１１）。
ら２５９番地までの各アドレスＡに、次式 Ｆst1 ＋ΔＦ（Ａ−５９） で決まる周波数データがそれぞれ登録される（Ｓ８〜Ｓ
１１）。
【００３９】以上の処理によって、測定周波数メモリ３
２の５０〜２５９番地の間には、通過帯域近傍を測定領
域とする掃引測定に必要な一連の周波数データが図６に
示すように登録されることになる。
２の５０〜２５９番地の間には、通過帯域近傍を測定領
域とする掃引測定に必要な一連の周波数データが図６に
示すように登録されることになる。
【００４０】次に、通過帯域外測定用の周波数データ作
成処理が図３〜図５のフローチャートに従って行なわれ
る。
成処理が図３〜図５のフローチャートに従って行なわれ
る。
【００４１】図３のフローチャートは、通過帯域外の測
定領域の指定が無い場合と、１つ有る場合の処理を示し
ており、通過帯域外測定が無い場合には、アドレス２６
０番地から最終のアドレス５００番地に公称中心周波数
Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ１２、Ｓ１３）。
定領域の指定が無い場合と、１つ有る場合の処理を示し
ており、通過帯域外測定が無い場合には、アドレス２６
０番地から最終のアドレス５００番地に公称中心周波数
Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ１２、Ｓ１３）。
【００４２】周波数がＦst2 からＦen2 の通過帯域外の
測定領域が１つ指定されている場合には、その指定領域
のスタート周波数Ｆst2 が２６０番地から２６９番地に
登録され、掃引のステップ周波数ΔＦ2 が次式 ΔＦ2 ＝（Ｆen2 −Ｆst2 ）／２００ によって算出される（Ｓ１４〜Ｓ１６）。
測定領域が１つ指定されている場合には、その指定領域
のスタート周波数Ｆst2 が２６０番地から２６９番地に
登録され、掃引のステップ周波数ΔＦ2 が次式 ΔＦ2 ＝（Ｆen2 −Ｆst2 ）／２００ によって算出される（Ｓ１４〜Ｓ１６）。
【００４３】そして、２７０番地から４６９番地までの
各アドレスに、次式 Ｆst2 ＋ΔＦ2 （Ａ−２６９） で決まる周波数データがそれぞれ登録され、４７０番地
から５００番地には、Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ１
７〜Ｓ２１）。
各アドレスに、次式 Ｆst2 ＋ΔＦ2 （Ａ−２６９） で決まる周波数データがそれぞれ登録され、４７０番地
から５００番地には、Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ１
７〜Ｓ２１）。
【００４４】このように通過帯域外の測定領域が１つ指
定された場合には、周波数メモリ３２の２６０番地から
４７０番地までの範囲にその周波数データが登録され
る。
定された場合には、周波数メモリ３２の２６０番地から
４７０番地までの範囲にその周波数データが登録され
る。
【００４５】通過帯域外の測定が２領域指定された場合
には、各領域ごとに、図４に示すように前記Ｓ１５〜Ｓ
２０までの処理と同等の処理がなされ、第１の帯域外領
域のスタート周波数Ｆst2 が２６０〜２６９番地に登録
され、これに続く周波数データが、２７０〜３６９番地
までにΔＦ2 のステップでＦen2 まで１００個登録され
る（Ｓ２２〜Ｓ２８）。
には、各領域ごとに、図４に示すように前記Ｓ１５〜Ｓ
２０までの処理と同等の処理がなされ、第１の帯域外領
域のスタート周波数Ｆst2 が２６０〜２６９番地に登録
され、これに続く周波数データが、２７０〜３６９番地
までにΔＦ2 のステップでＦen2 まで１００個登録され
る（Ｓ２２〜Ｓ２８）。
【００４６】また、第２の帯域外領域のスタート周波数
Ｆst3 が３７０〜３７９番地に登録され、これに続く周
波数データが３８０〜４７９番地までにΔＦ3 のステッ
プでＦen3 まで１００個登録され、残りの４８０〜５０
０番地までにＦｃ0 が登録される（Ｓ２９〜Ｓ３５）。
Ｆst3 が３７０〜３７９番地に登録され、これに続く周
波数データが３８０〜４７９番地までにΔＦ3 のステッ
プでＦen3 まで１００個登録され、残りの４８０〜５０
０番地までにＦｃ0 が登録される（Ｓ２９〜Ｓ３５）。
【００４７】通過帯域外の測定領域が３つあるいは４つ
ある場合には、図５に示すように、第１の帯域外領域の
スタート周波数Ｆst2 が２６０〜２６９番地に登録さ
れ、これに続く周波数データが２７０〜３１９番地まで
ΔＦ2 のステップでＦen2 まで５０個登録され、第２の
帯域外領域のスタート周波数Ｆst3 が３２０〜３２９番
地に登録され、これに続く周波数データが３３０〜３７
９番までΔＦ3 のステップでＦen3 まで５０個登録され
る（Ｓ３６〜Ｓ４８）。
ある場合には、図５に示すように、第１の帯域外領域の
スタート周波数Ｆst2 が２６０〜２６９番地に登録さ
れ、これに続く周波数データが２７０〜３１９番地まで
ΔＦ2 のステップでＦen2 まで５０個登録され、第２の
帯域外領域のスタート周波数Ｆst3 が３２０〜３２９番
地に登録され、これに続く周波数データが３３０〜３７
９番までΔＦ3 のステップでＦen3 まで５０個登録され
る（Ｓ３６〜Ｓ４８）。
【００４８】次に第３の帯域外領域のスタート周波数Ｆ
st4 が３８０〜３８９番地に登録され、これに続く周波
数データが３９０〜４３９番地にΔＦ4 のステップで５
０個登録され、第４の帯域外領域の指定の有無が判定さ
れる（Ｓ４９〜Ｓ５５）。
st4 が３８０〜３８９番地に登録され、これに続く周波
数データが３９０〜４３９番地にΔＦ4 のステップで５
０個登録され、第４の帯域外領域の指定の有無が判定さ
れる（Ｓ４９〜Ｓ５５）。
【００４９】第４の領域が指定されている場合には、そ
のスタート周波数Ｆst5 が４４０〜４４９番地に登録さ
れ、これに続く周波数データが４５０〜４９９番地まで
にΔＦ5 のステップで５０個登録され、残りアドレスに
Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ５６〜Ｓ６２）。
のスタート周波数Ｆst5 が４４０〜４４９番地に登録さ
れ、これに続く周波数データが４５０〜４９９番地まで
にΔＦ5 のステップで５０個登録され、残りアドレスに
Ｆｃ0 がダミー登録される（Ｓ５６〜Ｓ６２）。
【００５０】以上の処理によって、測定周波数メモリ３
２には、図６にその一例を示すように、測定周波数領域
毎の周波数データが各アドレス領域毎に登録されること
になる（図６は通過帯域外の測定領域が２つ指定された
場合の周波数データを示している）。
２には、図６にその一例を示すように、測定周波数領域
毎の周波数データが各アドレス領域毎に登録されること
になる（図６は通過帯域外の測定領域が２つ指定された
場合の周波数データを示している）。
【００５１】測定実行手段４５（図１参照）は、外部あ
るいは図示しない測定スイッチの操作による測定開始信
号を受けると、測定周波数メモリ３２に対する読出し信
号Ｒ1 と、測定値メモリ３１に対する書込み信号Ｗ2 と
を出力するとともに、アドレスカウンタ３３の出力を一
定周期で０番地から５００番地まで歩進させて、測定部
２１による測定を実行させる。
るいは図示しない測定スイッチの操作による測定開始信
号を受けると、測定周波数メモリ３２に対する読出し信
号Ｒ1 と、測定値メモリ３１に対する書込み信号Ｗ2 と
を出力するとともに、アドレスカウンタ３３の出力を一
定周期で０番地から５００番地まで歩進させて、測定部
２１による測定を実行させる。
【００５２】表示装置４８は、測定実行手段４５によっ
て測定が行なわれた後、測定値メモリ３１に対して、読
出し信号Ｒ2 を出力し、アドレスカウンタ３３を一定周
期で０番地から５００番地まで歩進させて測定値をアド
レス順に読出し、アドレス値を横軸、測定値の大きさを
縦軸とする表示画面４８ａ上にドット表示させる。な
お、表示装置４８は、表示画面４８ａ上で周波数の読取
りが行なえるように、前記周波数登録手段４３等からの
周波数データを受けて、測定周波数領域のスタート周波
数やエンド周波数に対応する横軸の位置にこれらの周波
数を表示するように構成されている。
て測定が行なわれた後、測定値メモリ３１に対して、読
出し信号Ｒ2 を出力し、アドレスカウンタ３３を一定周
期で０番地から５００番地まで歩進させて測定値をアド
レス順に読出し、アドレス値を横軸、測定値の大きさを
縦軸とする表示画面４８ａ上にドット表示させる。な
お、表示装置４８は、表示画面４８ａ上で周波数の読取
りが行なえるように、前記周波数登録手段４３等からの
周波数データを受けて、測定周波数領域のスタート周波
数やエンド周波数に対応する横軸の位置にこれらの周波
数を表示するように構成されている。
【００５３】次に、通過帯域をはさむ２つの帯域外測定
領域が図６に示したように登録されている場合の測定動
作について説明する。
領域が図６に示したように登録されている場合の測定動
作について説明する。
【００５４】測定開始信号が測定実行手段４５に入力さ
れると、測定周波数メモリ３２と測定値メモリ３１のア
ドレスがｔ0 時に０番地に指定され、発振器２２への周
波数データとして規定周波数Ｆ1 がセットされる。この
ため、図７に示すようにＢＰＦ１５へ規定周波数Ｆ1 の
測定信号が出力され、ＢＰＦ１５の出力信号のうちＦ1
成分のみが検波されて、その検波データが最初の測定値
として測定値メモリ３１の０番地へ記憶される。規定周
波数Ｆ1 による測定が５回連続して行なわれて、ｔ1 時
にアドレスが５番地になると、規定周波数Ｆ2 による測
定が５回連続してなされ、ｔ2 時にアドレスが１０番地
になると、規定周波数Ｆ3 による測定が５回連続してな
される。
れると、測定周波数メモリ３２と測定値メモリ３１のア
ドレスがｔ0 時に０番地に指定され、発振器２２への周
波数データとして規定周波数Ｆ1 がセットされる。この
ため、図７に示すようにＢＰＦ１５へ規定周波数Ｆ1 の
測定信号が出力され、ＢＰＦ１５の出力信号のうちＦ1
成分のみが検波されて、その検波データが最初の測定値
として測定値メモリ３１の０番地へ記憶される。規定周
波数Ｆ1 による測定が５回連続して行なわれて、ｔ1 時
にアドレスが５番地になると、規定周波数Ｆ2 による測
定が５回連続してなされ、ｔ2 時にアドレスが１０番地
になると、規定周波数Ｆ3 による測定が５回連続してな
される。
【００５５】アドレスがｔ3 時に１５番地になってから
４９番地まで歩進する間の測定周波数は、公称中心周波
数Ｆｃ0 に固定され、Ｆｃ0 による測定がなされる。ア
ドレスがｔ4 時に５０番地になってから５９番地まで歩
進する間の測定周波数は、通過帯域内測定のための掃引
開始周波数Ｆst1 に固定され、ｔ5 時にアドレスが６０
番地になってから２５９番まで歩進する間の測定周波数
は、ΔＦ1 のステップで掃引され、Ｆｃ0 −Ｆｗ′／２
からＦｃ0 ＋Ｆｗ′／２までの測定帯域の測定がなされ
る。
４９番地まで歩進する間の測定周波数は、公称中心周波
数Ｆｃ0 に固定され、Ｆｃ0 による測定がなされる。ア
ドレスがｔ4 時に５０番地になってから５９番地まで歩
進する間の測定周波数は、通過帯域内測定のための掃引
開始周波数Ｆst1 に固定され、ｔ5 時にアドレスが６０
番地になってから２５９番まで歩進する間の測定周波数
は、ΔＦ1 のステップで掃引され、Ｆｃ0 −Ｆｗ′／２
からＦｃ0 ＋Ｆｗ′／２までの測定帯域の測定がなされ
る。
【００５６】アドレスがｔ6 時に２６０番地になってか
ら２６９番地までの歩進する間の測定周波数は、第１の
帯域外測定領域のスタート周波数Ｆst2 に固定され、ア
ドレスがｔ7 時に２７０番地になってから３６９番地ま
で歩進する間の測定周波数は、ΔＦ2 のステップで掃引
される。
ら２６９番地までの歩進する間の測定周波数は、第１の
帯域外測定領域のスタート周波数Ｆst2 に固定され、ア
ドレスがｔ7 時に２７０番地になってから３６９番地ま
で歩進する間の測定周波数は、ΔＦ2 のステップで掃引
される。
【００５７】アドレスがｔ8 時に３７０番地になってか
ら３７９番地まで歩進する間の測定周波数は、第２の帯
域外領域のスタート周波数Ｆst3 に固定され、アドレス
がｔ9 時に３８０番地になってから４７９番地まで歩進
する間の測定周波数は、ΔＦ3 のステップで掃引され、
２つの帯域外測定が終了し、アドレスがｔ10時に４８０
番地になってから５００番地まで歩進する間の測定周波
数は、公称中心周波数Ｆｃ0 に固定された測定が行なわ
れる。
ら３７９番地まで歩進する間の測定周波数は、第２の帯
域外領域のスタート周波数Ｆst3 に固定され、アドレス
がｔ9 時に３８０番地になってから４７９番地まで歩進
する間の測定周波数は、ΔＦ3 のステップで掃引され、
２つの帯域外測定が終了し、アドレスがｔ10時に４８０
番地になってから５００番地まで歩進する間の測定周波
数は、公称中心周波数Ｆｃ0 に固定された測定が行なわ
れる。
【００５８】このように一つの連続した測定が終了する
と、表示装置４８は、測定値メモリ３１に記憶された測
定値を測定順に０番地から読出して、図８に示すように
表示画面４８ａ上に一連の波形として表示する。
と、表示装置４８は、測定値メモリ３１に記憶された測
定値を測定順に０番地から読出して、図８に示すように
表示画面４８ａ上に一連の波形として表示する。
【００５９】この波形のＡ部分は、規定周波数Ｆ1 、Ｆ
2 、Ｆ3 の減衰量を示しているため、Ａ部分の大きさが
保証値（例えば−７０ｄＢ）を越えていればこのＢＰＦ
１５を不良品と判定することができる。
2 、Ｆ3 の減衰量を示しているため、Ａ部分の大きさが
保証値（例えば−７０ｄＢ）を越えていればこのＢＰＦ
１５を不良品と判定することができる。
【００６０】また、波形のＢ部分は、通過帯域内特性を
示しているため、０ｄＢラインとピーク値との差および
ピーク値とボトム値の差から、挿入損失ａおよびリップ
ルＲを知ることができる。また、ピーク値から３ｄＢ低
下した周波数Ｆａ、Ｆｂを読取れば、その通過帯域幅Ｆ
ｗ（＝Ｆｂ−Ｆａ）を知ることができ、Ｆａ＋Ｆｗ／２
の演算から中心周波数Ｆｃを知ることができる。これら
通過帯域内の特性は、小さな周波数ステップ即ち、高い
分解度で示されているので、各特性値（ａ、Ｒ、Ｆｗお
よびＦｃ）を正確に読みとることができる。
示しているため、０ｄＢラインとピーク値との差および
ピーク値とボトム値の差から、挿入損失ａおよびリップ
ルＲを知ることができる。また、ピーク値から３ｄＢ低
下した周波数Ｆａ、Ｆｂを読取れば、その通過帯域幅Ｆ
ｗ（＝Ｆｂ−Ｆａ）を知ることができ、Ｆａ＋Ｆｗ／２
の演算から中心周波数Ｆｃを知ることができる。これら
通過帯域内の特性は、小さな周波数ステップ即ち、高い
分解度で示されているので、各特性値（ａ、Ｒ、Ｆｗお
よびＦｃ）を正確に読みとることができる。
【００６１】さらに、通過帯域外の特性を示すＣ、Ｄの
部分から帯域外減衰量Ｐ1 、Ｐ2 も同一画面上で知るこ
とができる。
部分から帯域外減衰量Ｐ1 、Ｐ2 も同一画面上で知るこ
とができる。
【００６２】なお、この実施例では、予め、測定周波数
メモリに登録した周波数データを、測定実行時に順番に
読出して測定部２１へ設定していたが、測定周波数メモ
リ３２を介さずに前記図２〜図５の処理を測定部２１の
発振器２１に対して直接行なって、一連の測定を実行さ
せてもよい。
メモリに登録した周波数データを、測定実行時に順番に
読出して測定部２１へ設定していたが、測定周波数メモ
リ３２を介さずに前記図２〜図５の処理を測定部２１の
発振器２１に対して直接行なって、一連の測定を実行さ
せてもよい。
【００６３】また、前記実施例では、測定値メモリ３１
に記憶された測定値を直接表示するようにしていたが、
同一の測定を複数（Ｋ）回行ない、測定値の平均化処理
を各アドレス毎に行なった結果を表示するようにしても
よい。この場合には、測定値をアドレス単位で測定回数
分積算する手段と、その積算値を測定回数で除算する手
段を設け、その除算結果を表示すればよい。
に記憶された測定値を直接表示するようにしていたが、
同一の測定を複数（Ｋ）回行ない、測定値の平均化処理
を各アドレス毎に行なった結果を表示するようにしても
よい。この場合には、測定値をアドレス単位で測定回数
分積算する手段と、その積算値を測定回数で除算する手
段を設け、その除算結果を表示すればよい。
【００６４】また、前記実施例では、測定値メモリ３１
から測定値を読出して画面表示する表示装置４８を用い
ていたが、Ｘ−Ｙプロッタのような機械式の表示器を用
いてもよい。
から測定値を読出して画面表示する表示装置４８を用い
ていたが、Ｘ−Ｙプロッタのような機械式の表示器を用
いてもよい。
【００６５】また、前記実施例では、規定周波数による
測定に続いて通過帯域内の掃引測定を行ない、さらに続
いて帯域外の測定を行なっていたが、この順序は任意で
あって、例えば図９に示すように、規定周波数の測定Ｓ
の次に低域側の帯域外測定Ｔを行ない、その次に通過帯
域内測定Ｕを行ない、さらに続いて高域側の帯域外測定
Ｖを行なうように測定周波数を掃引してもよい。
測定に続いて通過帯域内の掃引測定を行ない、さらに続
いて帯域外の測定を行なっていたが、この順序は任意で
あって、例えば図９に示すように、規定周波数の測定Ｓ
の次に低域側の帯域外測定Ｔを行ない、その次に通過帯
域内測定Ｕを行ない、さらに続いて高域側の帯域外測定
Ｖを行なうように測定周波数を掃引してもよい。
【００６６】また、測定値メモリ３１に対する測定値の
読出し順序を前記実施例のように測定順に行なう必要は
なく、例えば、図９に示した順に測定を行なった場合で
あっても、Ｓ部分の規定周波数による測定値を読出した
後に、Ｕ部分の通過帯域内の測定値を読出し、さらにＴ
部分とＶ部分の帯域外測定値を読出すようにすれば、そ
の特性を図８に示すように表示することができる。
読出し順序を前記実施例のように測定順に行なう必要は
なく、例えば、図９に示した順に測定を行なった場合で
あっても、Ｓ部分の規定周波数による測定値を読出した
後に、Ｕ部分の通過帯域内の測定値を読出し、さらにＴ
部分とＶ部分の帯域外測定値を読出すようにすれば、そ
の特性を図８に示すように表示することができる。
【００６７】また、前記実施例の測定部は、ＢＰＦ１５
の出力信号のうち、測定周波数成分の信号を狭帯域に検
波し、その検波出力を測定値としていたが、外乱信号や
発振器２２のスプリアス成分が少ない場合には、前述の
従来装置のように広帯域な検波回路を用いてもよい。
の出力信号のうち、測定周波数成分の信号を狭帯域に検
波し、その検波出力を測定値としていたが、外乱信号や
発振器２２のスプリアス成分が少ない場合には、前述の
従来装置のように広帯域な検波回路を用いてもよい。
【００６８】前記実施例は、ＢＰＦの周波数に対する減
衰量の変化を測定する測定装置について説明したが、被
測定電子回路はＢＰＦに限らず低域フィルタ、高域通過
フィルタ、増幅器、減衰器の周波数特性あるいはミキサ
のアイソレーション測定等についても同様に行うことが
できる。また、被測定電子回路の入出力位相差の周波数
に対する変化を測定値として検出する場合には、図１０
に示す測定部２１′のように、発振器２２の出力と被測
定電子回路１５′の出力との位相差を検出する位相検波
器５０と、その検波出力を低域通過フィルタ５１によっ
て直流電圧に変換し、この直流電圧をＡ／Ｄ変換して測
定値を検出すればよい。
衰量の変化を測定する測定装置について説明したが、被
測定電子回路はＢＰＦに限らず低域フィルタ、高域通過
フィルタ、増幅器、減衰器の周波数特性あるいはミキサ
のアイソレーション測定等についても同様に行うことが
できる。また、被測定電子回路の入出力位相差の周波数
に対する変化を測定値として検出する場合には、図１０
に示す測定部２１′のように、発振器２２の出力と被測
定電子回路１５′の出力との位相差を検出する位相検波
器５０と、その検波出力を低域通過フィルタ５１によっ
て直流電圧に変換し、この直流電圧をＡ／Ｄ変換して測
定値を検出すればよい。
【００６９】また、発振器のように自ら信号を出力する
電子回路を測定する場合には、測定部２１の発振器２２
から被測定電子回路への測定信号の出力は不要で、被測
定電子回路から出力される信号を入力端子２０ｂに入力
し、指定帯域毎のスペクトラム分析を行なえばよい。
電子回路を測定する場合には、測定部２１の発振器２２
から被測定電子回路への測定信号の出力は不要で、被測
定電子回路から出力される信号を入力端子２０ｂに入力
し、指定帯域毎のスペクトラム分析を行なえばよい。
【００７０】また、前記実施例では、測定結果を表示装
置の画面上に表示して、その特性値を読み取るようにし
ていたが、測定領域毎に測定値のピーク値やボトム値を
検出して各特性値を求める手段と、その特性値を基準値
と比較して、特性の良否の判定を行う手段とを設けて、
電子回路の自動選別を行うようにしてもよい。
置の画面上に表示して、その特性値を読み取るようにし
ていたが、測定領域毎に測定値のピーク値やボトム値を
検出して各特性値を求める手段と、その特性値を基準値
と比較して、特性の良否の判定を行う手段とを設けて、
電子回路の自動選別を行うようにしてもよい。
【００７１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電子回路
の周波数特性測定装置は、指定された各測定周波数領域
に対して、測定値メモリのアドレス領域を割当て、アド
レス領域の各アドレス数と各測定領域の幅とから測定領
域毎の周波数ステップを算出し、各測定領域内をそれぞ
れの周波数ステップで掃引可変するとともに、各周波数
毎の測定値を測定値メモリの割当てアドレス領域に記憶
するように構成されている。
の周波数特性測定装置は、指定された各測定周波数領域
に対して、測定値メモリのアドレス領域を割当て、アド
レス領域の各アドレス数と各測定領域の幅とから測定領
域毎の周波数ステップを算出し、各測定領域内をそれぞ
れの周波数ステップで掃引可変するとともに、各周波数
毎の測定値を測定値メモリの割当てアドレス領域に記憶
するように構成されている。
【００７２】このため、ＢＰＦの通過帯域内のように、
狭い周波数範囲を小さな周波数ステップで観測する必要
のある測定領域に対しては、広いアドレス領域を割当
て、広い周波数範囲を粗い周波数ステップで観測する必
要のある測定領域に対しては、狭いアドレス領域を割当
てることができ、測定に必要な所望の周波数領域だけ集
合して１回の掃引で測定し、記憶するようにしているの
で、各領域間の周波数スケール換算も必要なく、正確に
一連に記憶することができる。また、これら全ての測定
領域の測定値を、表示画面の切換えを行なわずに、一画
面上に一連に表示でき、測定を格段に高速化できる。
狭い周波数範囲を小さな周波数ステップで観測する必要
のある測定領域に対しては、広いアドレス領域を割当
て、広い周波数範囲を粗い周波数ステップで観測する必
要のある測定領域に対しては、狭いアドレス領域を割当
てることができ、測定に必要な所望の周波数領域だけ集
合して１回の掃引で測定し、記憶するようにしているの
で、各領域間の周波数スケール換算も必要なく、正確に
一連に記憶することができる。また、これら全ての測定
領域の測定値を、表示画面の切換えを行なわずに、一画
面上に一連に表示でき、測定を格段に高速化できる。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】規定周波数と通過帯域内の周波数データの登録
手順を示すフローチャートである。
手順を示すフローチャートである。
【図３】通過帯域外の測定領域の指定数が０または１の
場合の登録手順を示すフローチャートである。
場合の登録手順を示すフローチャートである。
【図４】通過帯域外の測定領域の指定数が２の場合の登
録手順を示すフローチャートである。
録手順を示すフローチャートである。
【図５】通過帯域外の測定領域の指定数が４以下の場合
の登録手順を示すフローチャートである。
の登録手順を示すフローチャートである。
【図６】測定周波数メモリ内への周波数データの登録例
を示すメモリ図である。
を示すメモリ図である。
【図７】図６の周波数データの読出しによる測定周波数
の変化を示す図である。
の変化を示す図である。
【図８】図７に示した測定周波数の変化によって測定さ
れた測定値の表示例を示す図である。
れた測定値の表示例を示す図である。
【図９】測定周波数の他の変化例を示す図である。
【図１０】測定部の他の構成例を示すブロック図であ
る。
る。
【図１１】従来装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】従来装置の測定周波数の変化を示す図であ
る。
る。
【図１３】従来装置の測定値の表示例を示す図である。
【図１４】従来装置の測定値の他の表示例を示す図であ
る。
る。
１５ ＢＰＦ ２０ 測定装置 ２１ 測定部 ２２ 発振器 ２３、２５ ミキサ ２４ 固定発振器 ２６ 中間周波フィルタ ２７ 検波器 ２８ Ａ／Ｄ変換器 ３０ 制御部 ３１ 測定値メモリ ３２ 測定周波数メモリ ３３ アドレスカウンタ ３５ 周波数テーブル作成部 ３６ 測定指定手段 ３７ 規定値設定手段 ４０ アドレス領域割当手段 ４１ 帯域内周波数データ演算手段 ４２ 帯域外周波数データ演算手段 ４３ 周波数データ登録手段 ４５ 測定実行手段 ４８ 表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】被測定電子回路からの信号を受けて、周波
数を掃引しながら測定し、測定周波数成分の測定値を検
出する測定部（２１）と、 前記測定部によって検出された測定値を記憶するための
所定アドレス数の測定値メモリ （３１）と、 前記測定部の測定周波数をステップで掃引して測定させ
て、該測定周波数ごとの前記測定値を前記測定値メモリ
の前記測定周波数に対応するアドレスにそれぞれ記憶さ
せる測定実行手段（４５）と、 前記測定値メモリのアドレス数にほぼ等しい表示ポイン
ト数を有し、前記測定値メモリに記憶された測定値を読
出して周波数軸上に表示する表示装置（４８）とを有す
る電子回路の周波数特性測定装置において、 前記被測定電子回路の特性に応じて複数の異なる測定周
波数領域を指定する測定領域指定手段（３６）と、 前記測定領域指定手段によって指定された各測定周波数
領域を前記測定部が一掃引する間に順次連続的に測定す
るために、前記各測定周波数領域を、前記測定値メモリ
の全アドレス数の範囲内に割当てるアドレス領域割当手
段（４０）と、 前記アドレス領域割当手段によって割当てられた各アド
レス領域のアドレス数とその測定周波数領域の幅とに基
づいて、１アドレス毎の前記測定周波数のステップを前
記指定された各測定周波数領域毎に算出する演算手段
（４１、４２）とを設け、 前記測定実行手段は、前記測定部の測定周波数を、前記
測定領域指定手段で指定された全ての測定周波数領域内
を前記演算手段で算出されたそれぞれのステップで掃引
可変しながら、その測定値を前記測定値メモリの各アド
レス領域内に順番に記憶させることを特徴とする電子回
路の周波数特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4272342A JP3028388B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | 電子回路の周波数特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4272342A JP3028388B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | 電子回路の周波数特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0694766A JPH0694766A (ja) | 1994-04-08 |
| JP3028388B2 true JP3028388B2 (ja) | 2000-04-04 |
Family
ID=17512553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4272342A Expired - Lifetime JP3028388B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | 電子回路の周波数特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3028388B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4698136B2 (ja) * | 2003-09-11 | 2011-06-08 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 帯域分布検査装置、および帯域分布検査方法 |
-
1992
- 1992-09-16 JP JP4272342A patent/JP3028388B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0694766A (ja) | 1994-04-08 |
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