KR920017129A - 메모리 시험장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명의 메모리 시험장치에 있어서의 패턴발생기의 구성을 나타내는 블록도, 제6도는 제5도에 있어서의 번지발생기(2A)에 의해 발생되는 번지 영역의 설명도.
Claims (2)
- 패턴발생기에 설치한 순서 제어부로 부터의 명령에 따라 X번지 연산부와 Y번지 연산부로 부터 피시험 메모리에 주는 X번지 신호와 Y번지 신호를 발생시키는 번지 발생부를 포함함 메모리 시험장치에 있어서, 바라는 X오프셋 값이 설정가능한 X오프셋 레지스터와 바라는 Y오프셋 값이 설정가능한 Y오프셋 레지스터와, 상기 X 번지 연산부의 출력 데이타가 한쪽의 입력에 주어지고, 상기 X오프셋 레지스터로 부터의 상기 X오프셋 값이 다른쪽의 입력에 주어지며, 그들 사이의 연산을 행하여 그 연산결과를 상기 X번지 신호로서 출력하는 제1연산수단과, 상기 Y번지 연산부의 출력데이타가 한쪽의 입력에 주어지고, 상기 Y오프 셋 레지스터로 부터의 상기 오프셋 값이 다른쪽의 입력에 주어지며, 그들 사이의 연산을 행하여 그 연산결과를 상기 Y번지 신호로서 출력하는 제2연산수단을 포함한 것을 특징으로 하는 메모리 시험장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1및 제2연산수단은 각각 제1및 제2가산 수단인 것을 특징으로 하는 메모리 시험장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3023370A JP3001012B2 (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | メモリ試験装置 |
| JP91-23370 | 1991-02-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR920017129A true KR920017129A (ko) | 1992-09-26 |
| KR960008202B1 KR960008202B1 (ko) | 1996-06-20 |
Family
ID=12108667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019920001824A KR960008202B1 (ko) | 1991-02-18 | 1992-02-08 | 임의주소발생기능을 갖는 메모리 시험장치 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3001012B2 (ko) |
| KR (1) | KR960008202B1 (ko) |
-
1991
- 1991-02-18 JP JP3023370A patent/JP3001012B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-02-08 KR KR1019920001824A patent/KR960008202B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3001012B2 (ja) | 2000-01-17 |
| JPH04264275A (ja) | 1992-09-21 |
| KR960008202B1 (ko) | 1996-06-20 |
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