KR960024424A - 롬(rom) 소자 테스트 방법 및 시스템 - Google Patents

롬(rom) 소자 테스트 방법 및 시스템 Download PDF

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KR960024424A
KR960024424A KR1019940034047A KR19940034047A KR960024424A KR 960024424 A KR960024424 A KR 960024424A KR 1019940034047 A KR1019940034047 A KR 1019940034047A KR 19940034047 A KR19940034047 A KR 19940034047A KR 960024424 A KR960024424 A KR 960024424A
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rom device
rom
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test
test method
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KR1019940034047A
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Inventor
홍기호
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술 분야.
롬(ROM) 소자, 특히 마스크롬(MASKROM) 소자를 테스트하기 위한 테스트 방법 및 시스템.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제.
ROM 메모리를 갖추고 있지 않거나, 갖추고 있다 하더라도 테스트하고자 하는 ROM 소자의 용량(Density)보다 메모리 용량이 작은 테스터를 이용하여 테스트를 수행하고자 함.
3. 발명의 해결 방법의 요지.
양호한 기준 소자를 이용하여, 기준 소자와 ROM 코드 패턴과 테스트하고자 하는 ROM 소자의 ROM 코드 패턴을 비교한 후 그 결과를 테스터에 입력시켜 ROM 소자의 불량 여부를 테스트함.
4. 발명의 중요한 용도.
새로 제조된 ROM 소자의 불량 여부의 테스트에 이용됨.

Description

롬(ROM) 소자 테스트 방법 및 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (3)

  1. 기준 롬(ROM) 소자를 이용하여 ROM 소자를 테스트하기 위한 테스트 시스템에 있어서, 상기 기준 ROM 소자와 테스트하고자 하는 ROM 소자의 출력데이타를 비교하기 위한 비교 수단과, 상기 기준 ROM 소자와 테스트하고자 하는 ROM 소자에 입력신호를 제공하여 데이타를 출력하도록 제어하고, 상기 비교 수단의 출력에 따라 테스트하고자 하는 ROM 소자의 불량 여부를 결정하기 위한 테스트 수단을 포함해서 이루어진 ROM 소자 테스트 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 비교 수단은 다수의 배타적 OR 게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 ROM 소자 테스트 시스템.
  3. 기준 롬(ROM) 소자를 이용하여 ROM 소자를 테스트하기 위한 테스트 방법에 있어서, 상기 기준 ROM 소자와 테스트하고자 하는 ROM 소자에 입력신호를 제공하여, 각각의 ROM 소자가 데이타를 출력하도록 제어하는 단계와, 상기 기준 ROM 소자와 테스트하고자 하는 ROM 소자의 출력데이타를 비교하는 단계 및, 상기 비교 수단의 출력에 따라 테스트하고자 하는 ROM 소자의 불량 여부를 결정하는 단계를 포함해서 이루어진 ROM 소자 테스트 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940034047A 1994-12-14 1994-12-14 롬(rom) 소자 테스트 방법 및 시스템 KR960024424A (ko)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100504428B1 (ko) * 1997-12-30 2005-09-26 주식회사 하이닉스반도체 Edo dram 모듈의 불량소자 검출기
KR100697776B1 (ko) * 2005-06-07 2007-03-20 주식회사 유니테스트 반도체 테스트 장치

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100504428B1 (ko) * 1997-12-30 2005-09-26 주식회사 하이닉스반도체 Edo dram 모듈의 불량소자 검출기
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