KR910020451A - 인쇄회로 기판 검사장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 인쇄 회로기판 검사장치의 사시도, 제2도는 제1도의 인쇄회로기판 검사장치의 단면도, 제3도는 크로스바 (crossbar) 조립체를 X-방향으로 그리고 관련된 아암 (arm)을 Y-방향으로 구동시키기 위한 구동기구를 보여주는 상부와 하부 크로스바 조립체의 분해 부분품 배열 사시도.
Claims (6)
- 인쇄회로 기판을 소정의 위치에 고정시키기 위한 장착수단 (2)와 각각 한쌍의 상부와 하부 크로스바 조립체 (3a)(3b)(4a)(4b)로 구성된 2개 또는 그 이상의 안내본체 (3)(4)와 각 크로스바 조립체 (3a)(3b)(4a)(4b)는 그 크로스바 조립체 (3a)(3b)(4a)(4b)에 매달리고 그 끝에 적어도 하나의 검사용 탐사침 (15)가 장착된 아암 (10)을 갖고 있으며, 크로스바 조립체 (3a)(3b)(4a)(4b)를 상기한 인쇄회로기판의 X-방향으로 구동시키고, 상기한 아암(10)을 상기한 X-방향과 직각인 Y-방향으로 구동시키고 관련된 탐사침 (15)를 상승 또는 하강시키기 위한 구동수단 (5)와 상기한 인쇄회로 기판의 선택된 위치에 선택된 검사용 탐사침 (15)를 이동시키고, 상기한 인쇄회로 기판의 단락이나 단선을 검출하고, 상기한 선택된 각각의 회로부품의 종류와 성능을 판정하기 위해 그러한 검사용 탐사침 (15)가 선택된 각각의 회로부품이나 인쇄회로의 단자에 접촉할때까지 이것을 하강시키기 위해 상기한 구동수단 (5)에 지령을 하기 위한 중앙연산 처리장치 (6)과 하나의 안내본체의 검사용 탐사침이 선택된 회로부품이나 인쇄회로의 검사를 수행하고 있는 동안 다른 안내 본체의 검사용 탐사침이 중앙연산처리장치의 제어하에 다른 검사가 수행돼야할 다른 선택된 위치로 이동하도록 구성한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 검사장치.
- 제1항에 있어서, 관련된 크로스바 조립체에 미끄러져 움직일 수 있도록 장착된 금속편 (11)으로 구성된 각 아암(10)과 상기한 금속편 (11)에 장착된 장착판 (12)과 상기한 장착판 (12)에 수직으로 이동가능하게 고정된 한쌍의 탐사침 두부 (13)과 상기한 탐사침 두부 (13)을 상승 또는 하강시키는 구동수단 (5)와 상기한 검사용 탐사침 (15)가 상기한 한쌍의 탐사침 두부 (13)에 고정된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
- 제2항에 있어서, 탐사침 두부 (13)를 상승 또는 하강시키기 위한 구동수단 (5)는 스테핑 모우터로 구성되고, 회전링크판의 중앙에서 상기한 스테핑 모우터의 축과 연결된 회전링크판과 회전링크의 반대쪽 끝에서 뻗어나오고 상기한 탐사침 두부 (13)의 상부 끝에 형성된 측면흠에 미끄러져 움직일 수 있도록 맞춰진 2개의 핀을 갖고 있으며, 상기한 스테핑 모우터가 회전하면 상기한 회전링크판이 상기한 측면홈에 전류하는 동안에 상기한 핀을 원호를 그리며 반대방향으로 이동시켜서 한쪽의 탐사침 두부 (13)을 밀어내리면 다른쪽 탐사침 두부 (13)을 끌어올리도록 한 것을 특징으로 하는 인쇄회로 기판의 검사장치.
- 제3항에 있어서, 상기한 한쌍의 탐사침 두부 (13)은 동일 평면상의 소정의 지점에서 그들의 영상범위내에서 교차하고 수렴하도록 장착판 (12)에 고정된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 검사장치.
- 제4항에 있어서, 한쌍의 탐사침 두부 (13)은 같은 종류의 검사용 탐사침 (15)를 갖는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
- 제4항에 있어서, 한쌍의 탐사침 두부 (13)은 다른 종류의 검사용 탐사침 (15)를 갖는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100519271B1 (ko) * | 1998-04-15 | 2005-10-06 | 발드윈-저팬 리미티드 | 광센서 |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6828812B2 (en) * | 1991-06-04 | 2004-12-07 | Micron Technology, Inc. | Test apparatus for testing semiconductor dice including substrate with penetration limiting contacts for making electrical connections |
US5469064A (en) * | 1992-01-14 | 1995-11-21 | Hewlett-Packard Company | Electrical assembly testing using robotic positioning of probes |
TW227644B (ko) * | 1992-12-18 | 1994-08-01 | Tesukon Kk | |
US5543726A (en) * | 1994-01-03 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Open frame gantry probing system |
DE4414770A1 (de) * | 1994-04-27 | 1995-11-02 | Hubert Driller | Testsystem für bestückte und unbestückte Leiterplatten |
DE4441347C2 (de) * | 1994-11-21 | 1998-10-29 | Peter Fritzsche | Verfahren zum Prüfen von elektronischen Schaltungen auf Leiterplatten und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens |
DE19503329C2 (de) * | 1995-02-02 | 2000-05-18 | Ita Ingb Testaufgaben Gmbh | Testvorrichtung für elektronische Flachbaugruppen |
US5735173A (en) * | 1995-10-04 | 1998-04-07 | Probot Incorporated | Pivotally linked position control drive system |
KR0176627B1 (ko) * | 1995-12-30 | 1999-05-15 | 김광호 | 인쇄회로기판의 통전검사용 프로브 장치 |
USD383683S (en) * | 1996-04-25 | 1997-09-16 | Tokyo Electron Limited | Wafer prober |
US6259960B1 (en) * | 1996-11-01 | 2001-07-10 | Joel Ltd. | Part-inspecting system |
AU9063298A (en) * | 1997-09-15 | 1999-04-05 | Tellabs Denmark A/S | A method of controlling test probes in a testing apparatus for electronic printed circuit boards, and an apparatus for performing the method |
WO2001036985A1 (de) * | 1999-11-16 | 2001-05-25 | Connexion Rosenberger Gmbh | Messstation für integrierte schaltkreise auf wafern oder andere elektronische bauelemente sowie bausatz zum zusammenbau derartiger messstationen |
US6657449B2 (en) * | 2000-12-21 | 2003-12-02 | Hansaem Digitec Co., Ltd. | Test pin unit for PCB test device and feeding device of the same |
JP4794808B2 (ja) * | 2001-04-04 | 2011-10-19 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置用コンタクタ装置及び半導体装置の試験方法 |
DE10314462B4 (de) * | 2003-03-28 | 2007-02-08 | Ina - Drives & Mechatronics Gmbh & Co. Ohg | Anordnung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten |
US7319335B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-01-15 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array testing |
US7355418B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-04-08 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
US7355417B1 (en) * | 2005-09-20 | 2008-04-08 | Emc Corporation | Techniques for obtaining electromagnetic data from a circuit board |
US8860449B2 (en) * | 2011-06-10 | 2014-10-14 | Tektronix, Inc. | Dual probing tip system |
KR101685461B1 (ko) * | 2011-09-05 | 2016-12-20 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 시트상 이차전지의 평가장치 및 평가방법 |
DE102013102564A1 (de) * | 2013-03-13 | 2014-09-18 | Dtg International Gmbh | Traverseneinheit für eine Prüfvorrichtung für Leiterplatten, sowie Prüfvorrichtung damit |
US9989583B2 (en) * | 2013-03-13 | 2018-06-05 | Xcerra Corporation | Cross-bar unit for a test apparatus for circuit boards, and test apparatus containing the former |
TWI586967B (zh) * | 2015-10-27 | 2017-06-11 | Mpi Corp | Probe module |
DE202016102705U1 (de) * | 2016-05-20 | 2016-06-30 | Bobst Mex Sa | Qualitätskontrollstation mit Kamerakalibrierungssystem für Bogenelement-Verarbeitungsmaschine |
DE102017102700A1 (de) | 2017-02-10 | 2018-09-13 | Atg Luther & Maelzer Gmbh | Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten |
CN110286307B (zh) * | 2018-03-19 | 2022-04-08 | 科磊股份有限公司 | 探针检测系统及用于检测半导体元件的方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2628428C3 (de) * | 1976-06-24 | 1979-02-15 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Adapter zum Verbinden von Anschluß- und/oder Prüfpunkten einer Baugruppe mit einer Mefischaltung |
DE2637878C3 (de) * | 1976-08-23 | 1979-09-27 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Anordnung zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer elektrischen Baugruppe |
DE2800775A1 (de) * | 1978-01-09 | 1979-07-12 | Luther & Maelzer Gmbh | Verfahrensanordnung und vorrichtung zur aufnahme und funktionsmessueberpruefung von unbestueckten leiterplatten |
FR2418466A1 (fr) * | 1978-02-24 | 1979-09-21 | Telecommunications Sa | Appareil pour etablir des prises de contact temporaires sur des circuits electriques |
US4251772A (en) * | 1978-12-26 | 1981-02-17 | Pacific Western Systems Inc. | Probe head for an automatic semiconductive wafer prober |
US4362991A (en) * | 1980-12-12 | 1982-12-07 | Burroughs Corporation | Integrated circuit test probe assembly |
JPS5798869A (en) * | 1980-12-12 | 1982-06-19 | Fujitsu Ltd | Checking method for continuity of printed board circuit |
US4574235A (en) * | 1981-06-05 | 1986-03-04 | Micro Component Technology, Inc. | Transmission line connector and contact set assembly for test site |
US4471298A (en) * | 1981-12-11 | 1984-09-11 | Cirdyne, Inc. | Apparatus for automatically electrically testing printed circuit boards |
US4527119A (en) * | 1982-05-17 | 1985-07-02 | Testamatic, Incorporated | High speed, low mass, movable probe and/or instrument positioner, tool and like items suitable for use in a controlled environment chamber |
US4705447A (en) * | 1983-08-11 | 1987-11-10 | Intest Corporation | Electronic test head positioner for test systems |
US4523749A (en) * | 1983-03-02 | 1985-06-18 | W. A. Whitney Corp. | Hole forming machine with adjustable work clamps |
DE3784710D1 (de) * | 1987-05-26 | 1993-04-15 | Ibm Deutschland | Kontaktsonden-anordnung mit feinpositionier-vorrichtung. |
-
1991
- 1991-05-20 US US07/702,858 patent/US5107206A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-05-21 DE DE69123290T patent/DE69123290T2/de not_active Expired - Fee Related
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100519271B1 (ko) * | 1998-04-15 | 2005-10-06 | 발드윈-저팬 리미티드 | 광센서 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5107206A (en) | 1992-04-21 |
EP0458280B1 (en) | 1996-11-27 |
KR0169739B1 (ko) | 1999-03-20 |
EP0458280A3 (en) | 1993-05-26 |
ATE145729T1 (de) | 1996-12-15 |
DE69123290D1 (de) | 1997-01-09 |
EP0458280A2 (en) | 1991-11-27 |
DE69123290T2 (de) | 1997-06-26 |
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