KR890005159B1 - 백 바이어스 전압 발생기 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제 1 도는 본 발명에 따른 회로도.
제 2도는 제 1도의 동작 파형도.
본 발명은 반도체 메모리 장치의 회로에 관한 것으로 특히 반도체 메모리 장치에서 사용하는 백 바이어스 전압 발생기에 관한 것이다.
최근 반도체 메모리 장치는 장치의 성능을 향상시키고 외부 핀 수를 줄이기 위해 백 바이어스 전압 발생기를 반도체 칩상에 내장하고 있다. 이와 같이 P형 반도체 기판상에 형성된 백 바이어스 전압 발생기에서 음의 전압(통상-2볼트 이하)을 상시 P형 반도체 기판에 인가함으로써 생기는 향상은 반도체 기판상에 형성되는 트랜지스터들의 드레쉬 홀드 전압을 안정시킬 수 있으며 접합 용량 (JUNCTION CAPACITANCE)의 감소로 인한 동작 속도의 향상 및 누설 전류의 감소등이다.
그러나 상기와 같은 성능의 향상은 전원 공급전압의 변동이 일정범위의 백 바이어스 전압을 공급할 경우에 보장이 된다. 실제 반도체 메모리장치에 외부에서 인가되는 전원 공급 전압은 외부회로의 요인 또는 잡음의 영향으로 순간적으로 변하는 경우가 많다.
따라서, 백 바이어스 전압 발생기는 상기와 같이 전원공급 전압이 변동할 경우에는 반도체 회로에 불리한 영향을 미치게 된다. 즉 전원 공급전압의 변동으로 백 바이어스 전압이 크게 내려갔을 경우에는 N+/P 접합부위의 역 바이어스가 증가하여 브레이크 다운이 일어나게 되며 접지 전압보다 백 바이어스 전압이 상승하였을 경우에는 상기 접합에서 정방향 바이어스가 걸려 회로동작이 안되는 위험이 있게 된다.
따라서 본 발명의 목적은 백 바이어스 전압 레벨을 일정수준에서 클램핑하는 백 바이어스 전압발생기를 제공함에 있다.
상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 소정 주파수의 구형파를 발생하는 발진기와, 상기 발진기의 출력과 접속되어 상기 발진기에서 출력하는 신호를 전원 공급전압 레벨의 상기 구형파로 만들며 버퍼링을 하기 위한 버퍼회로와, 상기 버퍼회로의 출력을 입력하고 상기 버퍼회로에서 출력하는 구형파로 전하를 펌프하여 백바이어스 전압을 출력하는 챠아지 펌프회로에서 출력되는 백 바이어스 전압중 전원 공급전압의 급속한 변동으로 생기는 음과 양의 피크 전압을 클리핑하여 소정 전압 레벨의 백 바이어스 전압을 공급하는 클램핑회로로 구성된 백 바이어스 전압 발생기를 제공하는 것이다.
이하 본 발명을 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
제1도는 본 발명에 따른 백 바이어스 전압 발생기의 회로도를 나타낸 도면이다.
본 발명에 따른 제 1도의 백 바이어스 전압 발생기는 통상의 인버터로 구성된 링 발진기 또는 슈미트 트리거와 게이트로 구성되어 구형파를 발생하는 발진기(1)와, 이 발진기의 출력을 입력하며 상시 발진기(10)에서 발생된 구형파를 전원 공급전압 VCC와 접지전압Vss의 크기를 갖는 구형파로 발생하여 출력하는 버퍼회로(20)와, 상기 버퍼회로의 출력을 입력하여 백 바이어스 전압을 출력하는 캐패시터(10)와 모오스 트랜지스터(2) 및 (3)으로 구성된 챠아지 펌프회로(30)와, 상기 회로의 출력을 입력하고 상기 전원 공급전압 Vcc의 변동에 따른 상기 백 바이어스 전압의 변동중 소정의 전압 이하 또는 이상을 클리핑하는 모오스 트랜지스터(4a)(4b)…및 (5a)…로 구성된 클램핑회로(40)로 구성된다.
상기에서 발진기(10)에서 출력하는 구형파의 주파수는 통상 3-12MHZ이며 듀티 사이클 1인 것이 사용된다. 또한 챠아지 펌프회로(30)는 큰 용량을 갖는 모오스 캐패시터(1)가 사용되며 상기 캐패시터(1)의 한 전극은 상기 버퍼회로(20)의 출력측과 접속되고 타전극은 노오드점(14)와 접속이 된다. 노오드점(14)에는 n형 모오스 트랜지스터(2)의 드레인이 접속되고 소오스측은 접지전압 VSS(=0)에 접속이 되며 게이트는 상기 노오드 점 (14)과 접속이 된다. 또한 노오드 점 (15)는 n형 모오스 트랜지스터(3)의 게이트와 접속이 되며 드레인 소오스 통로는 노오드점(14)와 (15)에 직렬로 접속이 되어 있으며 상기 노오드점(15)와 접지전압 VSS사이에는 게이트와 소오스가 접속된 모오스 트랜지스터(4a)(4b)…들이 직결로 접속이 되며 또한 드레인과 게이트가 접속된 모오스 트랜지스터(5a)…들이 직렬로 접속되어 있다.
본 발명에 따른 제1도의 백 바이어스 전압 발생기의 동작은 하기와 같다.
발진기(10)에서 출력하는 구형파는 버퍼회로(20)에서 전원공급 전압 VCC의 레벨을 갖는 구형파로 변환이 되어 출력라인(12)을 따라 모오스 캐패시터(1)로 입력된다. 모오스 캐패시터(1)의 입력단자는 소오스와 드레인이 공통으로 접속된 단자가 될 수도 있다. 이때 상기 모오스 캐패시터(1)의 출력단자는 게이트 전극이 되며 노오드 점 (14)과 접속이 된다. 지금 상기 캐패시터(1)의 입력단자로 입력하는 신호가 상기 구형파의 엎 에지(Up edge 또는 rising edge)이며 상기 Vcc의 전압은 상기 캐패시터(1)을 충전하고 트랜지스터(2)은 오프상태에 있다. 그후 상기 구형파의 다운에지가 라인(12)로 캐패시터(1)의 입력단자에 입력하면 상기 캐패시터(1)의 출력라인상의 노오드(14)는 음의 전압으로 되고 상기 트랜지스터(2)는 오프상태가 된다.
이때 트랜지스터(3)의 게이트와 접속된 노오드(15)의 전압이 상기 노오드(14)의 음의 전압보다 상기 트랜지스터(3)의 드레쉬 홀드 전압 만큼 높게 되면 상기 트랜지스터(3)는 도통을 하게 되고 음의 전하가 노오드(14)에서 트랜지스터(3)을 통해 노오드(15)로 전달이 되고 백 바이어스 전압 BBB는 음의 전압으로 된다. 그러나 상기 노오드(15)의 전압이 상기 노오드(14)의 전압보다 상기 드레쉬 홀드 전압 이하로 낮으면 상기 트랜지스터(3)는 오프 상태가 되고 노오드(15)를 통해 출력하는 백 바이어스, 전압은 원래의 백 바이어스 전압을 갖게 되며 안정된 백 바이어스 전압을 반도체 기판에 공급하게 된다.
그러나 제2(a)도에 도시한 바와 같이 전원 공급전압 VCC에서 갑자기 VCC'로 전원 공급전압이 떨어지게 되면 다운 에지(41)에서 제 1도의 노오드(14)는 더욱 음의 전압으로 하강하여 트랜지스터(3)이 도통하므로써 출력 노오드(15)는 제2(b)도의 음의 스파이크(42)와 같이 백 바이어스 전압은 더욱 음의 전압으로 내려가고 제2(a)도와 같이 전원 공급전압이 Vcc'로 안정되면 백 바이어스 전압은 제2(b)도의 표시(48)와 같이 상기 전원공급 전압 VCC가 VCC'로 하강한 만큼 상승된 Vcc1가 되어 안정이 된다. 그후 전원공급 전압이 다시 Vcc로 복귀하여 안정되면 제2(b)도의 스파이크 (44)와 같이 백 바이어스 전압이 일시적으로 상승하고 다시 Vcc의 전압으로 복귀하게 된다. 따라서 제2(b)도와 같은 노오드(15)의 전압은 트랜지스터(4a)(4b)…의 직렬 접속된 구성에 의해 제2(c)도 표시 (45)와 같이 클리핑이 일어난다. 이때 클램프 전압은 상기 트랜지스터 (4a)(4b)…의 드레쉬 홀드 전압은 VT라 하고 K가 직렬 접속되어 있다 가정하면 상기 클램프 전압은 KTT로 주어진다.
한편 노오드(15)와 접지 전압 Vss사이에 직렬 접속된 트랜지스터(5a)…들은 제 2 (c)도의 표시(46)와 같이 VBB전압 레벨이 일정범위 위로 올라가는 경우를 방지하게 된다. 따라서 제2(c)도와 같이 전원 공급이 변동하여도 일정범위에서도 클램핑이 된 백 바이어스 전압을 출력하므로 제2(b)도의 스파이크(42)에 의한 접합면에서의 역방향 브레이크 다운을 방지하고 또한 제2(b)도의 스파이크(44)에 의한 정방향 브레이크 다운을 방지하므로 반도체 메모리 장치가 안정된 동작을 할 수 있게 된다.
Claims (1)
- 반도체 칩상에 내장되며 반도체 기판에 백 바이어스를 공급하기 위한 백 바이어스 발생기에 있어서, 소정 주파수의 구형파를 발생하는 발진기(10)와 상기 발진기 출력을 입력하여 전원 공급전압 레벨의 구형파로 만드는 버퍼회로(20)와, 상기 버퍼회로의 출력을 입력하여 백 바이어스 전압을 출력하는 챠아지 펌프회로(30)화, 상기 챠아지 펌프회로의 출력단과 접지 사이에 병렬로 접속되며 상기 전원 공급전압의 변동에 따라 상기 챠아지 펌프회로에서 출력하는 백 바이어스 전압을 소정범위로 클램핑하는 클램핑회로(40)를 구비함을 특징으로 하는 반도체 장치.
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