KR870009389A - 반도체 메모리장치 - Google Patents
반도체 메모리장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR870009389A KR870009389A KR870002378A KR870002378A KR870009389A KR 870009389 A KR870009389 A KR 870009389A KR 870002378 A KR870002378 A KR 870002378A KR 870002378 A KR870002378 A KR 870002378A KR 870009389 A KR870009389 A KR 870009389A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- control circuit
- cell
- circuit
- block
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1076—Parity data used in redundant arrays of independent storages, e.g. in RAID systems
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Memory System (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 일실시예로서 반도체 메모리 장치의 구성을 나타내는 개통도.
제3도는 제1도에 보인 장치에 사용된 선택회로의 일실시예의 회로도.
Claims (4)
- 다수의 셀블록들, 상기 다수의 셀블록들을 순차적으로 재생하기 위한 재생제어회로 및 상기 다수의 셀블록들을 억세스하기 위한 억세스 제어회로를 포함하는 반도체 메모리 장치에서,상기 억세스 제어회로와 상기 다수의 셀블록들간의 데이타 경로내에 제공되는 회로로서 상기 억세스 제어회로로부터 수신된 데이타를 상기 수신된 데이타의 것보다 더 많은 수의 비트들을 갖는 데이타로 변환시킨 다음 상기 다수의 셀블록들내에 변환된 데이타를 기억시키기 위한 오차교정회로와,상기 다수의 셀블록들에 대응하여 각각 제공되는 회로로서, 상기 재생제어회로로부터 수신된 컬럼 어드레스들과 상기 억세스 제어회로로부터 수신된 컬럼 어드레스들을 상기 셀 블록들내의 컬럼 디코오더에 선택적으로 공급하는 다수의 선택회로를 포함하되,상기 재생 제어회로가 예정된 셀블록을 선택할 때 상기 억세스 제어회로로부터 상기 예정된 셀블록들로의 억세스가 억제되고, 또한 상기 억세스 제어회로가 예정된 셀블록을 억세스할 때 상기 재생제어회로에 의해 상기 예정된 셀블록으로의 재생이 억제되며,상기 특정 셀이 재생상태에 있을동안 상기 억세스 제어회로에 의해 상기 특정 셀로부터 데이타가 독출될 때 상기 특정 셀내의 데이타는 독출되지 않고, 또한 일비트가 생략된 데이타는 병렬로 독출되어 상기 오차 교정회로에 입력되며, 그리고상기 오차교정 회로는 일비트가 초기의 비트수에서 생략된 데이타를 교정하는 반도체 메모리장치.
- 제1항에서, 상기 특정 셀블록이 재생상태에 있을동안 상기 특정 셀블록에 데이타가 입력될 때, 데이타는 상기 특정셀로 기록되지 않고, 상기 특정셀블록 이외의 상기 셀블록에 기록되는 반도체 메모리장치.
- 제1항에서, 상기 오차교정 코드회로는 8비트 코드 데이타를 12비트 코드 데이타로 변환시키므로, 만일 재생상태에 있는 블록셀에 대응하는 일비트가 생략될 경우, 교정 데이타가 재생성될 수 있는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에서, 상기 오차교정 코드회로는 8비트 코드 데이타를 15비트 코드 데이타로 변환시키므로, 만일 재생상태에 있는 블록셀들에 대응하는 일비트가 생략될 경우, 교정 데이터가 재생성될 수 있는 반도체 메모리 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58205 | 1986-03-18 | ||
JP058205 | 1986-03-18 | ||
JP61058205A JPH0612613B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR870009389A true KR870009389A (ko) | 1987-10-26 |
KR910002501B1 KR910002501B1 (ko) | 1991-04-23 |
Family
ID=13077532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870002378A KR910002501B1 (ko) | 1986-03-18 | 1987-03-17 | 에러 교정회로를 갖는 반도체 기억장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4766573A (ko) |
EP (1) | EP0238417B1 (ko) |
JP (1) | JPH0612613B2 (ko) |
KR (1) | KR910002501B1 (ko) |
DE (1) | DE3781294T2 (ko) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2514954B2 (ja) * | 1987-03-13 | 1996-07-10 | 三菱電機株式会社 | Icカ−ド |
JPH0814985B2 (ja) * | 1989-06-06 | 1996-02-14 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH0748320B2 (ja) * | 1989-07-24 | 1995-05-24 | セイコー電子工業株式会社 | 半導体不揮発性メモリ |
JPH04144000A (ja) * | 1990-10-03 | 1992-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP2741112B2 (ja) * | 1991-03-29 | 1998-04-15 | シャープ株式会社 | ディジタル変調方式およびディジタル変調装置 |
KR940010838B1 (ko) * | 1991-10-28 | 1994-11-17 | 삼성전자 주식회사 | 데이타 출력 콘트롤 회로 |
US5748547A (en) * | 1996-05-24 | 1998-05-05 | Shau; Jeng-Jye | High performance semiconductor memory devices having multiple dimension bit lines |
US20050036363A1 (en) * | 1996-05-24 | 2005-02-17 | Jeng-Jye Shau | High performance embedded semiconductor memory devices with multiple dimension first-level bit-lines |
US7064376B2 (en) * | 1996-05-24 | 2006-06-20 | Jeng-Jye Shau | High performance embedded semiconductor memory devices with multiple dimension first-level bit-lines |
JPH10177800A (ja) * | 1996-10-21 | 1998-06-30 | Texas Instr Inc <Ti> | エラー訂正ダイナミック・メモリ及びそのエラー訂正方法 |
JP3177207B2 (ja) * | 1998-01-27 | 2001-06-18 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | リフレッシュ間隔制御装置及び方法、並びにコンピュータ |
US6668341B1 (en) * | 1999-11-13 | 2003-12-23 | International Business Machines Corporation | Storage cell with integrated soft error detection and correction |
JP3938842B2 (ja) * | 2000-12-04 | 2007-06-27 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4001724B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2007-10-31 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4782302B2 (ja) * | 2001-04-18 | 2011-09-28 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置 |
US20030009721A1 (en) * | 2001-07-06 | 2003-01-09 | International Business Machines Corporation | Method and system for background ECC scrubbing for a memory array |
JP4768163B2 (ja) | 2001-08-03 | 2011-09-07 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体メモリ |
JP4041358B2 (ja) * | 2002-07-04 | 2008-01-30 | 富士通株式会社 | 半導体メモリ |
KR100481820B1 (ko) * | 2002-09-26 | 2005-04-11 | (주)실리콘세븐 | 패러티로서 비유효한 출력 데이터를 보정하는 에스램 호한메모리와 그 구동방법 |
JP4300462B2 (ja) * | 2003-04-23 | 2009-07-22 | 富士フイルム株式会社 | 情報記録再生方法及び装置 |
WO2005017914A1 (ja) * | 2003-08-18 | 2005-02-24 | Fujitsu Limited | 半導体メモリおよび半導体メモリの動作方法 |
JP2005327437A (ja) * | 2004-04-12 | 2005-11-24 | Nec Electronics Corp | 半導体記憶装置 |
US7099221B2 (en) | 2004-05-06 | 2006-08-29 | Micron Technology, Inc. | Memory controller method and system compensating for memory cell data losses |
US20060010339A1 (en) * | 2004-06-24 | 2006-01-12 | Klein Dean A | Memory system and method having selective ECC during low power refresh |
US7340668B2 (en) * | 2004-06-25 | 2008-03-04 | Micron Technology, Inc. | Low power cost-effective ECC memory system and method |
US7116602B2 (en) * | 2004-07-15 | 2006-10-03 | Micron Technology, Inc. | Method and system for controlling refresh to avoid memory cell data losses |
US6965537B1 (en) * | 2004-08-31 | 2005-11-15 | Micron Technology, Inc. | Memory system and method using ECC to achieve low power refresh |
US7894289B2 (en) | 2006-10-11 | 2011-02-22 | Micron Technology, Inc. | Memory system and method using partial ECC to achieve low power refresh and fast access to data |
US7900120B2 (en) | 2006-10-18 | 2011-03-01 | Micron Technology, Inc. | Memory system and method using ECC with flag bit to identify modified data |
JP5216244B2 (ja) * | 2007-05-31 | 2013-06-19 | 株式会社東芝 | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
JP5127350B2 (ja) | 2007-07-31 | 2013-01-23 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US8473808B2 (en) * | 2010-01-26 | 2013-06-25 | Qimonda Ag | Semiconductor memory having non-standard form factor |
US9514800B1 (en) * | 2016-03-26 | 2016-12-06 | Bo Liu | DRAM and self-refresh method |
US11640331B2 (en) * | 2021-07-29 | 2023-05-02 | Texas Instruments Incorporated | Securing physical layer startup from a low-power state |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2247835C3 (de) * | 1972-09-29 | 1978-10-05 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zum Regenerieren der Speicherinhalte von MOS-Speichern und MOS-Speicher zur Durchführung dieses Verfahrens |
US3811117A (en) * | 1972-10-19 | 1974-05-14 | Ibm | Time ordered memory system and operation |
IT1041882B (it) * | 1975-08-20 | 1980-01-10 | Honeywell Inf Systems | Memoria dinamica a semiconduttori e relativo sistema di recarica |
JPS5564690A (en) * | 1978-11-06 | 1980-05-15 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Error detection and correction system of semiconductor memory device |
US4506362A (en) * | 1978-12-22 | 1985-03-19 | Gould Inc. | Systematic memory error detection and correction apparatus and method |
JPS5683896A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-08 | Nec Corp | Memory circuit |
EP0054023A1 (en) * | 1980-06-02 | 1982-06-23 | Mostek Corporation | Semiconductor memory for use in conjunction with error detection and correction circuit |
US4542454A (en) * | 1983-03-30 | 1985-09-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Apparatus for controlling access to a memory |
-
1986
- 1986-03-18 JP JP61058205A patent/JPH0612613B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-03-17 KR KR1019870002378A patent/KR910002501B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1987-03-17 US US07/026,519 patent/US4766573A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-03-18 EP EP87400607A patent/EP0238417B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-03-18 DE DE8787400607T patent/DE3781294T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62222497A (ja) | 1987-09-30 |
DE3781294T2 (de) | 1992-12-17 |
JPH0612613B2 (ja) | 1994-02-16 |
EP0238417A2 (en) | 1987-09-23 |
EP0238417A3 (en) | 1989-11-02 |
US4766573A (en) | 1988-08-23 |
KR910002501B1 (ko) | 1991-04-23 |
DE3781294D1 (de) | 1992-10-01 |
EP0238417B1 (en) | 1992-08-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR870009389A (ko) | 반도체 메모리장치 | |
KR890017668A (ko) | 디지탈 데이타 기록 및 재생장치 | |
KR870008307A (ko) | 데이타 기록장치 | |
KR890015280A (ko) | 마스크 rom | |
KR950704782A (ko) | 데이타 재생 방법 및 데이타 재생 장치(Method and device for reproducing data) | |
KR860003603A (ko) | 반도체 메모리 | |
GB2097621B (en) | Semiconductor memory devices | |
EP0193210A3 (en) | Semiconductor memory device with a built-in test circuit | |
KR890007169A (ko) | 버퍼 메모리 제어장치 | |
GB1468783A (en) | Memory systems | |
KR880005609A (ko) | 부호 에러 정정회로 | |
KR100255894B1 (ko) | 용장 메모리 셀 어레이 및 직렬 액세스 어드레스가 있는 반도체 장치 | |
JPS55125597A (en) | Semiconductor memory circuit | |
JPH0782751B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR940024668A (ko) | 기록 재생 장치 | |
JP3091522B2 (ja) | メモリ回路 | |
JP3001206B2 (ja) | 情報処理装置 | |
JPH0527193B2 (ko) | ||
JPS56159885A (en) | Storage device | |
KR900005309A (ko) | 데이타 처리 장치를 인터레이스 하기 위한 저장모듈 | |
JPH0520209A (ja) | 記憶装置 | |
JPH06131882A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH04134789A (ja) | メモリ装置 | |
JPS58225457A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS61118793A (ja) | メモリ集積回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060410 Year of fee payment: 16 |
|
EXPY | Expiration of term |