KR20200016946A - 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스 - Google Patents

표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스 Download PDF

Info

Publication number
KR20200016946A
KR20200016946A KR1020207000404A KR20207000404A KR20200016946A KR 20200016946 A KR20200016946 A KR 20200016946A KR 1020207000404 A KR1020207000404 A KR 1020207000404A KR 20207000404 A KR20207000404 A KR 20207000404A KR 20200016946 A KR20200016946 A KR 20200016946A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
group
inorganic nitride
preferable
modified inorganic
substituent
Prior art date
Application number
KR1020207000404A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102293461B1 (ko
Inventor
세이이치 히토미
케이타 타카하시
나오유키 하야시
다이스케 하야시
Original Assignee
후지필름 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 후지필름 가부시키가이샤 filed Critical 후지필름 가부시키가이샤
Publication of KR20200016946A publication Critical patent/KR20200016946A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102293461B1 publication Critical patent/KR102293461B1/ko

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B21/00Nitrogen; Compounds thereof
    • C01B21/06Binary compounds of nitrogen with metals, with silicon, or with boron, or with carbon, i.e. nitrides; Compounds of nitrogen with more than one metal, silicon or boron
    • C01B21/064Binary compounds of nitrogen with metals, with silicon, or with boron, or with carbon, i.e. nitrides; Compounds of nitrogen with more than one metal, silicon or boron with boron
    • C01B21/0648After-treatment, e.g. grinding, purification
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B21/00Nitrogen; Compounds thereof
    • C01B21/06Binary compounds of nitrogen with metals, with silicon, or with boron, or with carbon, i.e. nitrides; Compounds of nitrogen with more than one metal, silicon or boron
    • C01B21/064Binary compounds of nitrogen with metals, with silicon, or with boron, or with carbon, i.e. nitrides; Compounds of nitrogen with more than one metal, silicon or boron with boron
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F2/00Processes of polymerisation
    • C08F2/44Polymerisation in the presence of compounding ingredients, e.g. plasticisers, dyestuffs, fillers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F292/00Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to inorganic materials
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K9/00Use of pretreated ingredients
    • C08K9/04Ingredients treated with organic substances
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L101/00Compositions of unspecified macromolecular compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09CTREATMENT OF INORGANIC MATERIALS, OTHER THAN FIBROUS FILLERS, TO ENHANCE THEIR PIGMENTING OR FILLING PROPERTIES ; PREPARATION OF CARBON BLACK  ; PREPARATION OF INORGANIC MATERIALS WHICH ARE NO SINGLE CHEMICAL COMPOUNDS AND WHICH ARE MAINLY USED AS PIGMENTS OR FILLERS
    • C09C1/00Treatment of specific inorganic materials other than fibrous fillers; Preparation of carbon black
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09CTREATMENT OF INORGANIC MATERIALS, OTHER THAN FIBROUS FILLERS, TO ENHANCE THEIR PIGMENTING OR FILLING PROPERTIES ; PREPARATION OF CARBON BLACK  ; PREPARATION OF INORGANIC MATERIALS WHICH ARE NO SINGLE CHEMICAL COMPOUNDS AND WHICH ARE MAINLY USED AS PIGMENTS OR FILLERS
    • C09C1/00Treatment of specific inorganic materials other than fibrous fillers; Preparation of carbon black
    • C09C1/40Compounds of aluminium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09CTREATMENT OF INORGANIC MATERIALS, OTHER THAN FIBROUS FILLERS, TO ENHANCE THEIR PIGMENTING OR FILLING PROPERTIES ; PREPARATION OF CARBON BLACK  ; PREPARATION OF INORGANIC MATERIALS WHICH ARE NO SINGLE CHEMICAL COMPOUNDS AND WHICH ARE MAINLY USED AS PIGMENTS OR FILLERS
    • C09C3/00Treatment in general of inorganic materials, other than fibrous fillers, to enhance their pigmenting or filling properties
    • C09C3/06Treatment with inorganic compounds
    • C09C3/063Coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09CTREATMENT OF INORGANIC MATERIALS, OTHER THAN FIBROUS FILLERS, TO ENHANCE THEIR PIGMENTING OR FILLING PROPERTIES ; PREPARATION OF CARBON BLACK  ; PREPARATION OF INORGANIC MATERIALS WHICH ARE NO SINGLE CHEMICAL COMPOUNDS AND WHICH ARE MAINLY USED AS PIGMENTS OR FILLERS
    • C09C3/00Treatment in general of inorganic materials, other than fibrous fillers, to enhance their pigmenting or filling properties
    • C09C3/08Treatment with low-molecular-weight non-polymer organic compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D157/00Coating compositions based on unspecified polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds
    • C09D157/06Homopolymers or copolymers containing elements other than carbon and hydrogen
    • C09D157/10Homopolymers or copolymers containing elements other than carbon and hydrogen containing oxygen atoms
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09DCOATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
    • C09D157/00Coating compositions based on unspecified polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds
    • C09D157/06Homopolymers or copolymers containing elements other than carbon and hydrogen
    • C09D157/12Homopolymers or copolymers containing elements other than carbon and hydrogen containing nitrogen atoms
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K5/00Heat-transfer, heat-exchange or heat-storage materials, e.g. refrigerants; Materials for the production of heat or cold by chemical reactions other than by combustion
    • C09K5/08Materials not undergoing a change of physical state when used
    • C09K5/14Solid materials, e.g. powdery or granular
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/90Other properties not specified above
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08JWORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
    • C08J5/00Manufacture of articles or shaped materials containing macromolecular substances
    • C08J5/18Manufacture of films or sheets
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K2201/00Specific properties of additives
    • C08K2201/001Conductive additives

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)

Abstract

본 발명은, 분산성이 우수한 표면 수식 무기 질화물을 제공한다. 또, 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 조성물, 열전도 재료, 및 열전도층 부착 디바이스를 제공한다. 본 발명의 표면 수식 무기 질화물은, 무기 질화물과, 무기 질화물 표면 상에 흡착된 하기 일반식 (1)로 나타나는 화합물을 포함한다.

Description

표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스
본 발명은, 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 및 열전도층 부착 디바이스에 관한 것이다.
무기 질화물의 응용 범위를 넓히기 위하여, 그 표면을 수식하는 방법이 제안되어 있다.
예를 들면, 특허문헌 1에, "질화 알루미늄 입자와, 질화 알루미늄 입자의 표면에 화학적으로 결합한 메소젠기를 갖는 유기 화합물을 포함하는 유기 피복층을 포함하는 것을 특징으로 하는 고열전도 복합 입자"가 개시되어 있다([청구항 1]).
특허문헌 1: 일본 공개특허공보 2011-236376호
한편, 무기 질화물을 수지 바인더 등의 유기물과 혼합하여 사용하는 경우, 무기 질화물의 유기물에 대한 친화성의 추가적인 향상이 요구되고 있다. 예를 들면, 질화 붕소 등의 무기 질화물을 유기물과 혼합하여 열전도 재료로서 이용하는 경우, 열전도성의 추가적인 향상의 점에서, 유기물 중에서의 무기 질화물의 분산성의 향상이 요망되고 있다. 무기 질화물의 분산성 향상을 위해서는, 무기 질화물의 표면을 개질하는 것이 필요하게 되었다.
본 발명자들은, 특허문헌 1을 참조하여 질화 붕소의 표면을 처리한 표면 수식 무기 질화물을 준비하고, 이 표면 수식 무기 질화물을 유기물과 혼합하여 열전도 재료를 제작하여, 유기물 중에서의 표면 수식 무기 질화물의 분산성을 평가한바, 분산성이 불충분하여, 추가적인 개선이 필요한 것이 확인되었다.
따라서, 본 발명은, 분산성이 우수한 표면 수식 무기 질화물을 제공하는 것을 과제로 한다.
또, 본 발명은, 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 조성물, 열전도 재료, 및 열전도층 부착 디바이스를 제공하는 것을 과제로 한다.
본 발명자들은, 상기 과제를 달성하기 위하여 예의 검토한 결과, 소정의 화합물로 표면 처리를 한 무기 질화물을 이용함으로써 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하여, 본 발명을 완성시켰다.
즉, 이하의 구성에 의하여 상기 목적을 달성할 수 있는 것을 발견했다.
〔1〕 무기 질화물과, 상기 무기 질화물 표면 상에 흡착된 후술하는 일반식 (1)로 나타나는 화합물을 포함하는, 표면 수식 무기 질화물.
〔2〕 상기 화합물이, 알데하이드기, 수산기, 카복실산기, 아이소사이아네이트기, 아이소싸이오사이아네이트기, 사이아네이트기, 아실아자이드기, 석신산 이미드기, 설폰일 클로라이드기, 카복실산 클로라이드기, 오늄기, 카보네이트기, 아릴할라이드기, 카보다이이미드기, 산무수물기, 포스폰산기, 포스핀산기, 인산기, 인산 에스터기, 설폰산기, 할로젠 원자, 할로젠화 알킬기, 나이트릴기, 나이트로기, 이미도에스터기, 알콕시카보닐기, 알콕시실릴기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세탄일기, 바이닐기, 알카인일기, 말레이미드기, 싸이올기, 아미노기, 옥시란일기, 및 실릴기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 특정 관능기를 1개 이상 갖는, 〔1〕에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔3〕 상기 화합물이, 수산기, 아미노기, 산무수물기, 싸이올기, 카복실산기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 및 바이닐기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 특정 관능기를 1개 이상 갖는, 〔2〕에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔4〕 상기 화합물이, 상기 특정 관능기를 2개 이상 갖는, 〔2〕 또는 〔3〕에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔5〕 후술하는 일반식 (1) 중, Z 중 적어도 1개가, 상기 특정 관능기를 포함하는 치환기를 갖는, 아릴기 또는 헤테로환기인, 〔2〕 내지 〔4〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔6〕 후술하는 일반식 (1) 중, X가, 벤젠환기인, 〔1〕 내지 〔5〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔7〕 상기 화합물이, 벤젠환기를 4개 이상 갖는, 〔1〕 내지 〔6〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔8〕 후술하는 일반식 (1) 중, 복수 존재하는 m이, 모두 1 이상의 정수를 나타내는, 〔1〕 내지 〔7〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔9〕 상기 무기 질화물이, 질화 붕소 및 질화 알루미늄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 〔1〕 내지 〔8〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔10〕 상기 무기 질화물이, 질화 붕소인, 〔9〕에 기재된 표면 수식 무기 질화물.
〔11〕 〔1〕 내지 〔10〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물과, 중합성 모노머를 포함하는, 조성물.
〔12〕 상기 중합성 모노머 또는 그 경화물이, 액정성을 나타내는, 〔11〕에 기재된 조성물.
〔13〕 열전도 재료를 형성하기 위하여 이용되는, 〔11〕 또는 〔12〕에 기재된 조성물.
〔14〕 〔1〕 내지 〔10〕 중 어느 하나에 기재된 표면 수식 무기 질화물을 포함하는, 열전도 재료.
〔15〕 시트상인, 〔14〕에 기재된 열전도 재료.
〔16〕 디바이스와, 상기 디바이스 상에 배치된 〔14〕 또는 〔15〕에 기재된 열전도 재료를 포함하는 열전도층을 갖는, 열전도층 부착 디바이스.
본 발명에 의하면, 분산성이 우수한 표면 수식 무기 질화물을 제공할 수 있다.
또, 본 발명에 의하면, 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 조성물, 열전도 재료, 및 열전도층 부착 디바이스를 제공할 수 있다.
도 1은 질화 붕소 첨가 전후의 화합물 C-5 함유 용액의 자외 가시 흡수 스펙트럼을 나타낸다.
도 2는 질화 붕소 첨가 전후의 화합물 C-23 함유 용액의 자외 가시 흡수 스펙트럼을 나타낸다.
도 3은 질화 붕소 첨가 전후의 화합물 C-46 함유 용액의 자외 가시 흡수 스펙트럼을 나타낸다.
도 4는 질화 붕소 첨가 전후의 화합물 C-51 함유 용액의 자외 가시 흡수 스펙트럼을 나타낸다.
이하, 본 발명의 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 및 열전도층 부착 디바이스에 대하여 상세하게 설명한다.
이하에 기재하는 구성 요건의 설명은, 본 발명의 대표적인 실시형태에 근거하여 이루어지는 경우가 있지만, 본 발명은 그와 같은 실시형태에 한정되지 않는다.
또한, 본 명세서에 있어서, "~"를 이용하여 나타나는 수치 범위는, "~"의 전후에 기재되는 수치를 하한값 및 상한값으로서 포함하는 범위를 의미한다.
본 명세서에 있어서, "(메트)아크릴로일기"라는 기재는, "아크릴로일기 및 메타크릴로일기 중 어느 한쪽 또는 쌍방"의 의미를 나타낸다.
본 명세서에 있어서, 옥시란일기는 에폭시기라고도 불리는 관능기이며, 예를 들면 포화 탄화 수소환기의 인접하는 탄소 원자 2개가 옥소기(-O-)에 의하여 결합하여 옥시레인환을 형성하고 있는 기 등도 옥시란일기에 포함한다.
본 명세서에 있어서, 산무수물기는, 무수 말레산, 무수 프탈산, 무수 파이로멜리트산, 및 무수 트라이멜리트산 등의 산무수물로부터 임의의 수소 원자를 제외하고 얻어지는 치환기이면 된다.
본 명세서에 있어서 "표면 수식 무기 질화물"은, 후술하는 일반식 (1)로 나타나는 화합물(이하, "특정 화합물"이라고도 함)로 표면 수식되어 있는 무기 질화물을 의미한다.
본 명세서에 있어서, "표면 수식"이란, 무기 질화물 표면의 적어도 일부에 후술하는 특정 화합물이 흡착되어 있는 상태를 의미한다. 흡착의 형태는 특별히 한정되지 않지만, 결합되어 있는 상태가 바람직하다. 또한, 표면 수식은, 특정 화합물의 일부가 탈리하여 얻어지는 유기기(예를 들면, 양이온성기)가 무기 질화물 표면에 결합되어 있는 상태도 포함한다. 결합은, 공유 결합, 배위 결합, 이온 결합, 수소 결합, 판데르발스 결합, 및 금속 결합 등, 어느 결합이어도 된다. 표면 수식은, 무기 질화물 표면의 적어도 일부에 단분자막을 형성하도록 이루어져 있어도 된다.
또한, 본 명세서에 있어서, 표면 수식은, 무기 질화물 표면의 일부만이어도 되고, 전체여도 된다.
본 명세서에 있어서, "치환기를 가져도 된다"고 하는 경우의 치환기의 종류, 치환기의 위치, 및 치환기의 수는 특별히 한정되지 않는다. 치환기의 수는 예를 들면, 1개, 또는 2개 이상이어도 된다. 치환기의 예로서는 수소 원자를 제외한 1가의 비금속 원자단을 들 수 있고, 예를 들면 이하의 치환기군 T로부터 선택할 수 있다.
치환기군 T: 할로젠 원자(-F, -Br, -Cl, -I), 수산기, 알콕시기, 아릴옥시기, 싸이올기, 알킬싸이오기, 아릴싸이오기, 알킬다이싸이오기, 아릴다이싸이오기, 아미노기, N-알킬아미노기, N,N-다이알킬아미노기, N-아릴아미노기, N,N-다이아릴아미노기, N-알킬-N-아릴아미노기, 아실옥시기, 카바모일옥시기, N-알킬카바모일옥시기, N-아릴카바모일옥시기, N,N-다이알킬카바모일옥시기, N,N-다이아릴카바모일옥시기, N-알킬-N-아릴카바모일옥시기, 알킬설폭시기, 아릴설폭시기, 아실싸이오기, 아실아미노기, N-알킬아실아미노기, N-아릴아실아미노기, 유레이도기, N'-알킬유레이도기, N',N'-다이알킬유레이도기, N'-아릴유레이도기, N',N'-다이아릴유레이도기, N'-알킬-N'-아릴유레이도기, N-알킬유레이도기, N-아릴유레이도기, N'-알킬-N-알킬유레이도기, N'-알킬-N-아릴유레이도기, N',N'-다이알킬-N-알킬유레이도기, N',N'-다이알킬-N-아릴유레이도기, N'-아릴-N-알킬유레이도기, N'-아릴-N-아릴유레이도기, N',N'-다이아릴-N-알킬유레이도기, N',N'-다이아릴-N-아릴유레이도기, N'-알킬-N'-아릴-N-알킬유레이도기, N'-알킬-N'-아릴-N-아릴유레이도기, 알콕시카보닐아미노기, 아릴옥시카보닐아미노기, N-알킬-N-알콕시카보닐아미노기, N-알킬-N-아릴옥시카보닐아미노기, N-아릴-N-알콕시카보닐아미노기, N-아릴-N-아릴옥시카보닐아미노기, 폼일기, 아실기, 카복시기 및 그 공액 염기기, 알콕시카보닐기, 아릴옥시카보닐기, 카바모일기, N-알킬카바모일기, N,N-다이알킬카바모일기, N-아릴카바모일기, N,N-다이아릴카바모일기, N-알킬-N-아릴카바모일기, 알킬설핀일기, 아릴설핀일기, 알킬설폰일기, 아릴설폰일기, 설포기(-SO3H) 및 그 공액 염기기, 알콕시설폰일기, 아릴옥시설폰일기, 설피나모일기, N-알킬설피나모일기, N,N-다이알킬설피나모일기, N-아릴설피나모일기, N,N-다이아릴설피나모일기, N-알킬-N-아릴설피나모일기, 설파모일기, N-알킬설파모일기, N,N-다이알킬설파모일기, N-아릴설파모일기, N,N-다이아릴설파모일기, N-알킬-N-아릴설파모일기, N-아실설파모일기 및 그 공액 염기기, N-알킬설폰일설파모일기(-SO2NHSO2(alkyl)) 및 그 공액 염기기, N-아릴설폰일설파모일기(-SO2NHSO2(aryl)) 및 그 공액 염기기, N-알킬설폰일카바모일기(-CONHSO2(alkyl)) 및 그 공액 염기기, N-아릴설폰일카바모일기(-CONHSO2(aryl)) 및 그 공액 염기기, 알콕시실릴기(-Si(Oalkyl)3), 아릴옥시실릴기(-Si(Oaryl)3), 하이드록시실릴기(-Si(OH)3) 및 그 공액 염기기, 포스포노기(-PO3H2) 및 그 공액 염기기, 다이알킬포스포노기(-PO3(alkyl)2), 다이아릴포스포노기(-PO3(aryl)2), 알킬아릴포스포노기(-PO3(alkyl)(aryl)), 모노알킬포스포노기(-PO3H(alkyl)) 및 그 공액 염기기, 모노아릴포스포노기(-PO3H(aryl)) 및 그 공액 염기기, 포스포노옥시기(-OPO3H2) 및 그 공액 염기기, 다이알킬포스포노옥시기(-OPO3(alkyl)2), 다이아릴포스포노옥시기(-OPO3(aryl)2), 알킬아릴포스포노옥시기(-OPO3(alkyl)(aryl)), 모노알킬포스포노옥시기(-OPO3H(alkyl)) 및 그 공액 염기기, 모노아릴포스포노옥시기(-OPO3H(aryl)) 및 그 공액 염기기, 사이아노기, 나이트로기, 아릴기, 알킬기, 복소환기, 옥시란일기, 알켄일기 및 알카인일기.
또, 이들 치환기는, 가능하다면 치환기끼리, 또는 치환하고 있는 기와 결합하여 환을 형성해도 된다.
〔표면 수식 무기 질화물〕
본 발명의 표면 수식 무기 질화물은, 무기 질화물과, 상기 무기 질화물 표면 상에 흡착된 후술하는 특정 화합물을 포함한다. 바꾸어 말하면, 본 발명의 표면 수식 무기 질화물은, 무기 질화물의 표면을 후술하는 특정 화합물로 수식하여 이루어지는 표면 수식 무기 질화물이다.
본 발명의 표면 수식 무기 질화물에 있어서는, 무기 질화물의 표면 수식제로서, 후술하는 특정 화합물을 이용한다. 특정 화합물이 무기 질화물의 표면에 흡착됨으로써, 얻어지는 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 향상된다.
그 결과, 예를 들면 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 재료의 열전도성이 향상된다. 구체적으로는, 예를 들면 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 조성물로부터 얻어지는 경화물에 있어서는, 무기 질화물의 분산성이 우수한 것에 의하여(즉, 경화물 중에 있어서의 무기 질화물의 편향이 억제되고 있는 것에 의하여), 경화물 전체로서의 열전도성이 우수하다라고 추측된다. 또한, 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 조성물이 중합성 모노머를 포함하는 경우에 있어서, 특정 화합물은 분자 중에 특정의 방사상 구조를 가짐으로써, 얻어지는 표면 수식 무기 질화물은, 중합성 모노머를 배향시키는 기능도 갖는다고 생각된다. 그 결과, 표면 수식 무기 질화물 표면 상에서 중합성 모노머 또는 그 경화물이 배향(수직 배향)되어, 표면 수식 무기 질화물끼리의 사이에 배향한 성분이 개재하는 형태가 된다고 생각된다. 이로써 표면 수식 무기 질화물끼리의 사이에서의 열전도성이 보다 향상되어, 재료 전체의 열전도성이 보다 향상된다고 추측된다.
이하, 표면 수식 무기 질화물에 포함되는 성분에 대하여 상세하게 설명하고, 그 후, 표면 수식 무기 질화물의 제조 방법 및 그 용도 등에 대하여 상세하게 설명한다.
<무기 질화물>
무기 질화물의 종류는 특별히 한정되지 않는다.
무기 질화물의 예로서는, 질화 붕소(BN), 질화 탄소(C3N4), 질화 규소(Si3N4), 질화 갈륨(GaN), 질화 인듐(InN), 질화 알루미늄(AlN), 질화 크로뮴(Cr2N), 질화 구리(Cu3N), 질화 철(Fe4N 또는 Fe3N), 질화 란타넘(LaN), 질화 리튬(Li3N), 질화 마그네슘(Mg3N2), 질화 몰리브데넘(Mo2N), 질화 나이오븀(NbN), 질화 탄탈럼(TaN), 질화 타이타늄(TiN), 질화 텅스텐(W2N, WN2, 또는 WN), 질화 이트륨(YN), 및 질화 지르코늄(ZrN) 등을 들 수 있다.
상기의 무기 질화물은, 단독으로 이용해도 되고, 복수를 조합하여 이용해도 된다.
무기 질화물은, 얻어지는 표면 수식 무기 질화물의 열전도성이 보다 우수한 점에서, 붕소 원자, 알루미늄 원자, 및 규소 원자로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 포함하는 것이 바람직하다. 보다 구체적으로는, 무기 질화물은, 질화 알루미늄, 질화 붕소, 또는 질화 규소인 것이 바람직하고, 질화 붕소 또는 질화 알루미늄인 것이 보다 바람직하며, 질화 붕소인 것이 더 바람직하다.
무기 질화물의 형상은 특별히 한정되지 않고, 입자상, 필름상, 및 판상 등을 들 수 있다. 무기 질화물이 입자상인 경우, 입자의 형상은, 예를 들면 미립상(米粒狀), 구 형상, 입방체상, 방추 형상, 인편상(鱗片狀), 응집상, 및 부정 형상 등을 들 수 있다.
무기 질화물의 크기는 특별히 한정되지 않지만, 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 보다 우수한 점에서, 무기 질화물의 평균 입경은 500μm 이하가 바람직하고, 300μm 이하가 보다 바람직하며, 200μm 이하가 더 바람직하다. 하한은 특별히 한정되지 않지만, 취급성의 점에서, 10nm 이상이 바람직하고, 100nm 이상이 보다 바람직하다.
상기 평균 입경의 측정 방법으로서는, 전자 현미경을 이용하여, 100개의 무기 질화물을 무작위로 선택하여, 각각의 무기 질화물의 입경(장경)을 측정하고, 그들을 산술 평균하여 구한다. 또한, 시판품을 이용하는 경우, 카탈로그값을 이용해도 된다.
<일반식 (1)로 나타나는 화합물>
일반식 (1)로 나타나는 화합물(특정 화합물)은, 상술한 바와 같이, 무기 질화물 표면에 흡착되는 성분이다. 이하, 특정 화합물에 대하여 설명한다.
이하의 설명 중, 특정 화합물에 대하여 적합으로 하는 조건은, 특필이 없는 한, 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 우수한 점에 근거한다.
[화학식 1]
Figure pct00001
일반식 (1) 중, X는, 치환기를 가져도 되는, 벤젠환기 또는 헤테로환기를 나타낸다. 즉, X는, 치환기를 가져도 되는 벤젠환기, 또는 치환기를 가져도 되는 헤테로환기를 나타낸다.
상기 헤테로환기로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 지방족 헤테로환기 및 방향족 헤테로환기를 들 수 있다. 또한, 지방족 헤테로환기로서는, 5원환기, 6원환기, 혹은 7원환기, 또는 그 축합환기를 들 수 있다. 또, 방향족 헤테로환기로서는, 5원환기, 6원환기, 혹은 7원환기, 또는 그 축합환기를 들 수 있다.
또한, 상기 축합환기에 있어서는, 벤젠환기 등의 헤테로환기 이외의 환기가 포함되어 있어도 된다.
상기 지방족 헤테로환기의 구체예로서는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 옥솔레인환기, 옥세인환기, 피페리딘환기, 및 피페라진환기 등을 들 수 있다.
상기 방향족 헤테로환기가 포함하는 헤테로 원자로서는, 예를 들면 질소 원자, 산소 원자, 및 황 원자를 들 수 있다. 방향족 헤테로환기의 탄소수는 특별히 한정되지 않지만, 3~20이 바람직하다.
상기 방향족 헤테로환기의 구체예로서는 특별히 한정되지 않지만, 퓨란환기, 싸이오펜환기, 피롤환기, 옥사졸환기, 아이소옥사졸환기, 옥사다이아졸환기, 싸이아졸환기, 아이소싸이아졸환기, 싸이아다이아졸환기, 이미다졸환기, 피라졸환기, 트라이아졸환기, 퓨라잔환기, 테트라졸환기, 피리딘환기, 피리다진환기, 피리미딘환기, 피라진환기, 트라이아진환기, 테트라진환기, 벤조퓨란환기, 아이소벤조퓨란환기, 벤조싸이오펜환기, 인돌환기, 인돌린환기, 아이소인돌환기, 벤즈옥사졸환기, 벤조싸이아졸환기, 인다졸환기, 벤즈이미다졸환기, 퀴놀린환기, 아이소퀴놀린환기, 신놀린환기, 프탈라진환기, 퀴나졸린환기, 퀴녹살린환기, 다이벤조퓨란환기, 다이벤조싸이오펜환기, 카바졸환기, 아크리딘환기, 페난트리딘환기, 페난트롤린환기, 페나진환기, 나프티리딘환기, 퓨린환기, 및 프테리딘환기 등을 들 수 있다.
X로 나타나는 헤테로환기는, 방향족 헤테로환기인 것이 바람직하다.
그 중에서도, X는, 벤젠환기 또는 트라이아진환기인 것이 바람직하다.
X가 치환기를 갖는 경우, 치환기는 후술하는 특정 관능기를 포함하는 것이 바람직하다.
일반식 (1) 중, n은 3~6의 정수를 나타내고, X에는, [-(L1)m-Z]로 나타나는 기가 n개 결합하고 있다.
일반식 (1) 중, [-(L1)m-Z]로 나타나는 기는, X와 직접 결합하는 기이다.
복수 존재할 수 있는 L1은, 각각 독립적으로, 치환기를 가져도 되는 아릴렌기, 에스터기(-CO-O-), 에터기(-O-), 싸이오에스터기(-SO-O-), 싸이오에터기(-S-), 카보닐기(-CO-), -NRN-, 아조기(-N=N-), 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기를 나타낸다.
또한, RN은, 수소 원자 또는 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~10의 유기기를 나타낸다.
L1로 나타나는 아릴렌기의 탄소수는, 6~20이 바람직하고, 6~10이 보다 바람직하며, 6이 더 바람직하다. 그 중에서도, 아릴렌기는, 페닐렌기인 것이 바람직하다.
상기 아릴렌기가 페닐렌기인 경우, 인접하는 기(X, L1, 및 Z 중의 2개의 기로, 2개의 기가 모두 L1인 경우를 포함함)와 결합하는 위치에 특별히 제한은 없고, 오쏘위, 메타위, 및 파라위 중 어느 위치에서 결합하고 있어도 되고, 파라위에서 결합하고 있는 것이 바람직하다. 상기 아릴렌기는 치환기를 가져도 되고 갖지 않아도 되며, 갖지 않는 것이 바람직하다. 상기 아릴렌기가 치환기를 갖는 경우, 치환기는 후술하는 특정 관능기를 포함하는 것이 바람직하다.
L1이 에스터기인 경우, 에스터기 중의 탄소 원자는 X의 측에 존재하는 것이 바람직하다. L1이 싸이오에스터기인 경우, 싸이오에스터기 중의 황 원자는 X의 측에 존재하는 것이 바람직하다.
L1로 나타나는 불포화 탄화 수소기는, 직쇄상이어도 되고 분기쇄상이어도 되며, 환상 구조를 가져도 된다. 불포화 탄화 수소기의 탄소수는, 2~10이 바람직하고, 2~5가 보다 바람직하며, 2~3이 더 바람직하고, 2가 특히 바람직하다. 단, 상기 탄소수에, 상기 불포화 탄화 수소기가 가질 수 있는 치환기에 포함되는 탄소 원자의 수는 포함하지 않는다. 상기 불포화 탄화 수소기가 갖는 불포화 결합은, 이중 결합(-C=C-)이어도 되고, 삼중 결합(-C≡C-)이어도 된다. 상기 불포화 탄화 수소기는 치환기를 가져도 되고 갖지 않아도 되며, 갖지 않는 것이 바람직하다. 상기 불포화 탄화 수소기가 치환기를 갖는 경우, 치환기는 특정 관능기를 포함하는 것이 바람직하다.
L1로 나타나는 -NRN-의 RN이, 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~10의 유기기인 경우, RN은 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~10 알킬기인 것이 바람직하고, 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~5의 알킬기인 것이 바람직하며, 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~3의 알킬기인 것이 바람직하다. 상기 알킬기는, 직쇄상이어도 되고 분기쇄상이어도 되며, 환상 구조를 가져도 된다. RN은 수소 원자가 바람직하다.
m은 0 이상의 정수를 나타낸다. m은, 0~10의 정수가 바람직하고, 0~5의 정수가 보다 바람직하며, 0~2의 정수가 더 바람직하고, 1~2의 정수가 특히 바람직하다.
m이 0인 경우, Z는 X와 직접 결합한다.
m이 1인 경우, L1은, 치환기를 가져도 되는 아릴렌기, 에스터기, 에터기, 싸이오에스터기, 싸이오에터기, 카보닐기, -NRN-, 아조기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기인 것이 바람직하고, 치환기를 가져도 되는 아릴렌기, 에스터기, 에터기, 카보닐기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기인 것이 보다 바람직하며, 에스터기, 에터기, 카보닐기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기인 것이 더 바람직하다.
m이 2인 경우, [-(L1)m-Z]는 [-L1-L1-Z]이며, X와 결합하는 L1은, 치환기를 가져도 되는 아릴렌기인 것이 바람직하다. 이 경우, Z와 결합하는 L1은, 에스터기, 에터기, 싸이오에스터기, 싸이오에터기, 카보닐기, -NRN-, 아조기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기인 것이 바람직하고, 에스터기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기인 것이 보다 바람직하다.
m이 2보다 큰 경우, [-(L1)m-Z] 중에 복수 존재하는 L1은 동일해도 되고 달라도 되지만, 서로 결합하는 L1끼리는 다른 것이 바람직하다.
일반식 (1) 중의 -(L1)m-은, 일반식 (Lq)로 나타나는 기인 것이 바람직하다. 즉, [-(L1)m-Z]로 나타나는 기는, [-La-Z]로 나타나는 기인 것이 바람직하다.
일반식 (Lq) -La-
La는, 단결합, -O-, -CO-, -COO-, 페닐렌기, -C=C-, -C≡C-, -페닐렌기-COO-, 또는 -페닐렌기-C≡C-를 나타낸다.
Z는, 치환기를 가져도 되는, 아릴기 또는 헤테로환기를 나타낸다. 즉, Z는, 치환기를 가져도 되는 아릴기, 또는 치환기를 가져도 되는 헤테로환기를 나타낸다.
Z로 나타나는 아릴기의 탄소수는, 6~20이 바람직하고, 6~14가 보다 바람직하며, 6이 더 바람직하다. 아릴기로서는, 예를 들면 페닐기, 나프틸기, 및 안트라센일기 등을 들 수 있다.
Z로 나타나는 헤테로환기로서는, 상술의 X가 될 수 있는 헤테로환기를 동일하게 들 수 있다. 또, Z로 나타나는 헤테로환기는 방향족성을 나타내는 것이 바람직하다.
그 중에서도, Z는, 아릴기인 것이 바람직하고, 페닐기 또는 안트라센일기인 것이 보다 바람직하며, 페닐기인 것이 더 바람직하다.
Z는, 치환기를 갖는 것도 바람직하고, 상기 치환기가 후술하는 특정 관능기를 포함하는 것이 보다 바람직하다. 1개의 Z가 갖는 치환기의 수는, 0~5가 바람직하고, 0~2가 보다 바람직하며, 1~2가 더 바람직하다.
복수 존재하는 Z 중 적어도 1개가, 특정 관능기를 포함하는 치환기를 갖는 것이 바람직하다.
특정 화합물은, 복수 존재하는 Z의 치환기에 포함되는 특정 관능기를, 합계로, 1개 이상 갖는 것이 바람직하고, 2개 이상 갖는 것이 보다 바람직하며, 3개 이상 갖는 것이 더 바람직하다.
특정 화합물이 갖는, 복수 존재하는 Z의 치환기에 포함되는 특정 관능기의 합계수의 상한에 특별히 제한은 없지만, 15개 이하가 바람직하고, 10개 이하가 보다 바람직하며, 8개 이하가 더 바람직하다.
상술한 바와 같이, 일반식 (1) 중, n은 3~6의 정수를 나타낸다. 복수의 [-(L1)m-Z]의 각 기는, 동일해도 되고 달라도 된다.
즉, 일반식 (1) 중, 복수 존재하는 m은 동일해도 되고 달라도 되며, L1이 복수 존재하는 경우에 있어서 복수 존재하는 L1은 동일해도 되고 달라도 되며, 복수 존재하는 Z는 동일해도 되고 달라도 된다.
복수 존재하는 m은, 모두 동일한 것도 바람직하다. 또, 복수 존재하는 m이, 모두 1 이상의 정수를 나타내는 것이 바람직하고, 모두 2 이상의 정수를 나타내는 것도 바람직하다.
복수 존재하는 [-(L1)m-Z]는, Z가 갖는 치환기 이외 어느 구성도 동일한 것도 바람직하고, Z가 갖는 치환기도 포함하여 어느 구성도 동일한 것도 바람직하다.
n은, 3 또는 6인 것이 바람직하다.
[-(L1)m-Z] 중에, (L1)m일 수도 있고 Z일 수도 있는 기가 존재하는 경우, 그 기는 (L1)m인 것으로 한다. 예를 들면, [-(L1)m-Z]가, [-벤젠환기-벤젠환기-할로젠 원자]인 경우, 좌측의 벤젠환기는 (L1)m이며, Z가 아니다. 보다 구체적으로는, 상기의 경우, "m=1, L1은 페닐렌기(아릴렌기), 또한 Z는 치환기로서는 할로젠 원자를 갖는 페닐기(아릴기)"이고, "m=0, 또한 Z는 치환기로서 아릴할라이드기를 갖는 페닐기(아릴기)"가 아니다.
또, 일반식 (1)로 나타나는 특정 화합물은, 벤젠환기를 4개 이상 갖는 것이 바람직하다. 예를 들면, 특정 화합물은, 트라이페닐벤젠의 구조를 갖는 것도 바람직하다.
또, 일반식 (1)로 나타나는 특정 화합물이, 벤젠환기와 트라이아진환기를 합계 4개 이상 갖는 것도 바람직하다. 이 경우, 예를 들면 X가 트라이아진환기인 것도 바람직하다.
(특정 관능기)
특정 화합물은, 특정 관능기를 1개 이상 갖는 것이 바람직하고, 2개 이상 갖는 것이 보다 바람직하다.
특정 관능기란, 알데하이드기(-CHO), 수산기(-OH), 카복실산기(-COOH), 아이소사이아네이트기(-N=C=O), 아이소싸이오사이아네이트기(-N=C=S), 사이아네이트기(-O-CN), 아실아자이드기, 석신산 이미드기, 설폰일 클로라이드기(-SO2Cl), 카복실산 클로라이드기(-COCl), 오늄기, 카보네이트기(-O-CO-O-), 아릴할라이드기, 카보다이이미드기(-N=C=N-), 산무수물기(-CO-O-CO-), 포스폰산기(-PO(OH)2), 포스핀산기(-HPO(OH)), 인산기(-OP(=O)(OH)2), 인산 에스터기(-OP(=O)(ORB)2), 설폰산기(-SO3H), 할로젠 원자(F원자, Cl원자, Br원자, 및 I원자), 할로젠화 알킬기, 나이트릴기(-CN), 나이트로기(-NO2), 이미도에스터기(-C(=NRC)-O-), 알콕시카보닐기, 알콕시실릴기, 아크릴로일기(-COCH2=CH2), 메타크릴로일기(-COCH(CH3)=CH2), 옥세탄일기, 바이닐기(-CH=CH2), 알카인일기(알카인으로부터 수소 원자를 1개 제외한 기. 예를 들면, 에타인일기, 및 프로파-2-인-1-일기 등이 포함됨), 말레이미드기, 싸이올기(-SH), 아미노기, 옥시란일기, 및 실릴기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기이다.
그 중에서도, 특정 관능기로서는, 수산기, 아미노기, 산무수물기, 싸이올기, 카복실산기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 바이닐기가 바람직하다.
상기 수산기는, -OH기가 직접 탄소 원자에 결합하고 있는 기를 의도한다. 또, 카복실산기(-COOH)에 포함되는 형태로 존재하는 -OH기는, 수산기가 아닌 것으로 한다.
상기 아실아자이드기는, 하기 구조에 의하여 나타나는 기를 의도한다. 또한, 식 중의 *는 결합 위치를 나타낸다. 아실아자이드기의 카운터 음이온(Z-)은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 할로젠 이온을 들 수 있다.
[화학식 2]
Figure pct00002
상기 석신산 이미드기, 옥세탄일기, 및 말레이미드기는, 각각 하기 식으로 나타나는 화합물로부터, 임의의 위치의 수소 원자를 1개 제외하여 형성되는 기를 나타낸다.
[화학식 3]
Figure pct00003
또, 상기 오늄기란, 오늄염 구조를 갖는 기를 의미한다. 오늄염이란, 화학 결합에 관여하지 않는 전자쌍을 갖는 화합물이, 그 전자쌍에 의하여, 다른 양이온형의 화합물과 배위 결합하여 발생하는 화합물이다. 통상, 오늄염은, 양이온과 음이온을 포함한다.
오늄염 구조로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 암모늄염 구조, 피리디늄염 구조, 이미다졸륨염 구조, 피롤리디늄염 구조, 피페리디늄염 구조, 트라이에틸렌다이아민염 구조, 포스포늄염 구조, 설포늄염 구조, 및 싸이오피릴륨염 구조 등을 들 수 있다. 또한, 카운터가 되는 음이온의 종류는 특별히 한정되지 않고, 공지의 음이온이 이용된다. 음이온의 가수도 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 1~3가를 들 수 있으며, 1~2가가 바람직하다.
오늄기로서는, 그 중에서도, 하기 일반식 (A1)로 나타나는 암모늄염 구조를 갖는 기도 바람직하다.
[화학식 4]
Figure pct00004
일반식 (A1) 중, R1A~R3A는, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 나타낸다. 알킬기 중의 탄소수는, 예를 들면 1~10이며, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다. M-는, 음이온을 나타낸다. *는, 결합 위치를 나타낸다. 또한, 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 아릴할라이드기로서는, 방향환기에 할로젠 원자가 1개 이상 치환한 기이면 특별히 한정되지 않는다. 상기 방향환기로서는, 단환 구조 및 다환 구조 중 어느 것이어도 되지만, 페닐기가 바람직하다. 또, 할로젠 원자로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브로민 원자, 및 아이오딘 원자를 들 수 있고, 불소 원자가 바람직하다. 또한, 아릴할라이드기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
아릴할라이드기로서는, 구체적으로는, 플루오로페닐기, 퍼플루오로페닐기, 클로로페닐기, 브로모페닐기, 및 아이오도페닐기 등을 들 수 있다.
상기 인산 에스터기로서는, -OP(=O)(ORB)2로 나타나는 기이면 특별히 한정되지 않는다. 상기 RB로서는, 수소 원자 또는 1가의 유기기를 들 수 있다. 단, RB 중 어느 1개 이상은 1가의 유기기를 나타낸다. 1가의 유기기로서는, 예를 들면 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 들 수 있다. 알킬기 중의 탄소수는, 예를 들면 1~10이며, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다. 또한, 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 할로젠화 알킬기로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 탄소수 1~10의 알킬기에 할로젠 원자가 1개 이상 치환한 기를 들 수 있다. 상기 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)의 탄소수는, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다. 할로젠 원자로서는, 불소 원자, 염소 원자, 브로민 원자, 및 아이오딘 원자를 들 수 있고, 불소 원자, 염소 원자, 또는 브로민 원자가 바람직하다. 또한, 할로젠화 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 이미도에스터기로서는, -C(=NRC)-O-로 나타나는 기이면 특별히 한정되지 않는다. 상기 RC로서는, 예를 들면 수소 원자, 및 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 들 수 있다. 알킬기 중의 탄소수는, 예를 들면 1~10이며, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다. 또한, 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
또한, 이미도에스터기는, 이민 질소의 화학 결합에 관여하지 않는 전자쌍이 다른 양이온(예를 들면, 수소 이온)과 배위 결합함으로써 오늄염 구조로 되어 있어도 된다.
상기 알콕시실릴기로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 하기 일반식 (A2)로 나타나는 기를 들 수 있다.
일반식 (A2): *-Si(ORD)3
일반식 (A2) 중, RD는, 각각 독립적으로, 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 나타낸다. *는, 결합 위치를 나타낸다.
RD로 나타나는 알킬기의 탄소수로서는, 예를 들면 1~10을 들 수 있고, 1~6이 바람직하며, 1~3이 보다 바람직하다.
구체적으로는, 트라이메톡시실릴기 및 트라이에톡시실릴기 등을 들 수 있다.
또한, 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 아미노기로서는 특별히 한정되지 않고, 1급, 2급, 및 3급 중 어느 것이어도 된다. 구체적으로는, -N(RE)2(RE는, 각각 독립적으로, 수소 원자, 또는 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 들 수 있다. 알킬기 중의 탄소수는, 예를 들면 1~10이며, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다. 또한, 알킬기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T)를 더 갖고 있어도 된다.)로 나타나는 아미노기를 들 수 있다.
상기 알콕시카보닐기로서는, -CO-O-Rf로 나타나는 기이면 특별히 한정되지 않는다. 상기 Rf는, 알킬기(직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 모두 포함함)를 나타낸다.
Rf로 나타나는 알킬기의 탄소수로서는, 예를 들면 1~10을 들 수 있고, 1~6이 바람직하며, 1~3이 보다 바람직하다.
특정 화합물이, 복수의 특정 관능기를 갖는 경우, 복수의 특정 관능기는 동일해도 되고 달라도 된다.
특정 관능기가 존재하는 위치는 특별히 제한되지 않고, 예를 들면 특정 관능기는 일반식 (1) 중의 X의 치환기에 포함되어 있어도 되고, 아릴렌기 또는 불포화 탄화 수소기인 경우의 L1의 치환기에 포함되어 있어도 되며, Z의 치환기에 포함되어 있어도 된다.
또한, 특정 관능기는, 특정 관능기 이외의 기와 결합하여, 1개의 치환기를 형성해도 된다.
또, 특정 관능기는 1개의 치환기 중에 복수 포함되어 있어도 된다.
특정 관능기를 포함하는 치환기로서는, 일반식 (Rx)로 나타나는 기, 일반식 (Ry)로 나타나는 기, 또는 일반식 (Rz)로 나타나는 기가 바람직하다.
일반식 (Rx) -Lx1-Qx
일반식 (Ry) -Ly1-Qy
일반식 (Rz) -Lz1-Sz-(Lz2-Qz)s
일반식 (Rx) 중, Lx1은, 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다.
2가의 연결기로서는 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면 -O-, -CO-, -NH-, 2가의 탄화 수소기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 어느 1종 또는 2종 이상을 조합한 2가의 연결기를 나타낸다.
상기 2가의 탄화 수소기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T로 예시된 기)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 2가의 탄화 수소기로서는, 예를 들면 알킬렌기, 알켄일렌기(예: -CH=CH-), 알카인일렌기(예: -C≡C-), 및 아릴렌기(예: 페닐렌기)를 들 수 있다. 상기 알킬렌기로서는, 직쇄상, 분기쇄상, 환상 중 어느 것이어도 되지만 직쇄상이 바람직하다. 또, 그 탄소수는, 1~10이 바람직하고, 1~6이 보다 바람직하며, 1~4가 더 바람직하다.
Lx1로서는, 단결합, -AL-, -O-, -O-CO-, -O-AL-, -AL-CO-, -O-AL-O-, -O-CO-AL-, -CO-O-AL-, -AL-NH-CO-, -O-AL-O-AL-, -CO-O-AL-O-, 또는 -O-AL-O-Ar-이 바람직하다.
상기 AL은, 탄소수 1~10의 알킬렌기(탄소수는, 1~6이 바람직하고, 1~4가 보다 바람직함)를 나타낸다.
상기 Ar은, 탄소수 6~20 아릴렌기(페닐렌기가 바람직함)를 나타낸다. 또한, Lx1이 "-O-AL-O-Ar-"인 경우, "-O-AL-O-Ar-" 중의 Ar은 Qx와 결합한다.
Qx는, 1가의 특정 관능기를 나타낸다. 구체적으로는, 알데하이드기, 수산기, 카복실산기, 아이소사이아네이트기, 아이소싸이오사이아네이트기, 사이아네이트기, 아실아자이드기, 석신산 이미드기, 설폰일 클로라이드기, 카복실산 클로라이드기, 오늄기, 아릴할라이드기, 포스폰산기, 포스핀산기, 인산기, 설폰산기, 인산 에스터기, 할로젠 원자, 산무수물기, 할로젠화 알킬기, 나이트릴기, 나이트로기, 알콕시카보닐기, 알콕시실릴기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세탄일기, 바이닐기, 알카인일기, 말레이미드기, 싸이올기, 아미노기, 옥시란일기, 및 실릴기를 들 수 있다.
일반식 (Ry) 중, Ly1은, 카보다이이미드기, 카보네이트기, 또는 이미도에스터기를 포함하는 2가의 연결기를 나타낸다. Ly1로 나타나는 2가의 연결기는, 카보다이이미드기, 카보네이트기, 또는 이미도에스터기를 포함하고 있으면 되고, 다른 연결기와의 조합이어도 된다. 다른 연결기로서는, 알킬렌기를 들 수 있다. 예를 들면, Ly1은, -알킬렌기-Ly3-알킬렌기-여도 된다. Ly3은, 카보다이이미드기, 카보네이트기, 또는 이미도에스터기를 나타낸다.
상기 Qy는, 1가의 유기기를 나타낸다. 상기 Qy로 나타나는 1가의 유기기로서는, 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 알킬기를 들 수 있다. 알킬기 중의 탄소수는, 예를 들면 1~10이며, 1~6이 바람직하고, 1~3이 보다 바람직하다.
일반식 (Rz) 중, s는 2~3의 정수를 나타낸다. s는, 2가 바람직하다.
Lz1은, 상기 Lx1이 나타낼 수 있는 기를 나타내고, 바람직한 조건도 동일하다.
복수 존재하는 Lz2는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다.
2가의 연결기로서는 특별히 제한되지 않지만, 예를 들면 -O-, -CO-, -NH-, 및 2가의 탄화 수소기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 어느 1종 또는 2종 이상을 조합한 2가의 연결기를 나타낸다.
상기 2가의 탄화 수소기는, 치환기(예를 들면, 치환기군 T로 예시된 기)를 더 갖고 있어도 된다.
상기 2가의 탄화 수소기로서는, 예를 들면 알킬렌기, 알켄일렌기(예: -CH=CH-), 알카인일렌기(예: -C≡C-, 및 아릴렌기(예: 페닐렌기)를 들 수 있다. 상기 알킬렌기로서는, 직쇄상, 분기쇄상, 및 환상 중 어느 것이어도 되지만 직쇄상이 바람직하다. 또, 그 탄소수는, 1~10이 바람직하고, 1~6이 보다 바람직하며, 1~4가 더 바람직하다.
Lz2로서는, 단결합, -AL-, -O-, -O-CO-, -O-AL-, -AL-CO-, -O-AL-O-, -O-CO-AL-, -CO-O-AL-, -AL-NH-CO-, -O-AL-O-AL-, -CO-O-AL-O-, -O-AL-O-Ar-, 또는 -O-Ar-이 바람직하다.
상기 AL은, 탄소수 1~10의 알킬렌기(탄소수는, 1~6이 바람직하고, 1~4가 보다 바람직함)를 나타낸다.
상기 Ar은, 탄소수 6~20 아릴렌기(페닐렌기가 바람직함)를 나타낸다.
Sz는, (s+1)가의 연결기를 나타낸다.
Sz로서는, (s+1)가의 방향환기가 바람직하다. 상기 방향환기는 방향족 탄화 수소환기여도 되고 방향족 헤테로환기여도 되며, 벤젠환기 또는 트라이아진환기가 바람직하다.
Qz는, 1가의 특정 관능기를 나타낸다.
복수 존재하는 Qz는, 각각 독립적으로, 상기 Qx가 나타낼 수 있는 기를 나타내고, 바람직한 조건도 동일하다.
(일반식 (2)로 나타나는 화합물)
특정 화합물은, 하기 일반식 (2)로 나타나는 화합물인 것이 바람직하다.
[화학식 5]
Figure pct00005
일반식 (2) 중, La 및 Z의 정의는, 상술한 바와 같다. 또한, 복수의 La는, 동일해도 되고 달라도 된다. 복수의 Z는, 동일해도 되고 달라도 된다.
T는, 각각 독립적으로, -CRa=, 또는 -N=을 나타낸다. Ra는, 수소 원자, 1가의 특정 관능기, 또는 -La-Z를 나타낸다. La 및 Z의 정의는, 상술한 바와 같다.
예를 들면, 모든 T가 -CRa=이며, 또한 모든 Ra가 -La-Z인 경우, 일반식 (2)로 나타나는 화합물은 6개의 -La-Z로 나타나는 기를 갖는다.
또, 모든 T가 -N=인 경우, 일반식 (2)로 나타나는 화합물은 트라이아진환을 갖는다.
(일반식 (3)으로 나타나는 화합물)
일반식 (2)로 나타나는 화합물로서는, 일반식 (3)으로 나타나는 화합물이 바람직하다.
[화학식 6]
Figure pct00006
일반식 (3) 중, La의 정의는, 상술한 바와 같다. 또한, 복수의 La는, 동일해도 되고 달라도 된다.
Ar은, 각각 독립적으로, 아릴기를 나타낸다. 아릴기의 적합 양태로서는, Z로 나타나는 아릴기를 들 수 있다.
Rb는, 각각 독립적으로, 특정 치환기를 포함하는 치환기를 나타낸다. 특정 치환기의 정의는, 상술한 바와 같다. 또, 특정 치환기를 포함하는 치환기로서는, 일반식 (Rx)로 나타나는 기, 일반식 (Ry)로 나타나는 기, 또는 일반식 (Rz)로 나타나는 기가 바람직하다.
p는, 각각 독립적으로, 0~5의 정수를 나타낸다. p는, 0~2가 바람직하다. 그 중에서도, 일반식 (3) 중의 3개의 p 중, 2개의 p가 0이고, 또한 1개의 p가 1인 양태 1, 또는 3개의 p가 모두 1인 양태 2가 바람직하다.
일반식 (3) 중, T1은, 각각 독립적으로, -CRc=, 또는 -N=을 나타낸다. Rc는, 수소 원자, 1가의 특정 관능기, 또는 -La-Ar-(Rb)p를 나타낸다. La, Ar, Rb 및 p의 정의는, 상술한 바와 같다.
상기 특정 화합물의 분자량은, 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 보다 우수한 점에서, 300 이상이 바람직하고, 350 이상이 보다 바람직하다. 또, 상기 특정 화합물의 분자량은, 용해도가 우수한 점에서, 3000 이하가 바람직하고, 2000 이하가 보다 바람직하다.
특정 화합물은, 공지의 방법에 따라 합성할 수 있다.
<표면 수식 무기 질화물의 제조 방법>
표면 수식 무기 질화물의 제조 방법은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 무기 질화물과 특정 화합물을 접촉시키는 공정을 갖는 방법을 들 수 있다.
무기 질화물과 특정 화합물과의 접촉은, 예를 들면 무기 질화물 및 특정 화합물을 포함하는 용액을 교반함으로써 실시된다.
상기 용액의 용매의 종류는 특별히 한정되지 않지만, 유기 용매가 바람직하다. 유기 용매로서는, 예를 들면 아세트산 에틸, 메틸에틸케톤, 다이클로로메테인, 및 테트라하이드로퓨란을 들 수 있다.
상기 용액은, 후술하는 중합성 모노머 등의 그 외의 성분을 포함하고 있어도 된다. 이 경우, 얻어진 혼합물은, 후술하는 조성물로서 이용할 수도 있다.
무기 질화물과 특정 화합물과의 혼합비는, 무기 질화물의 구조 및 표면적과, 특정 화합물의 분자의 애스팩트비 등의 분자 구조를 고려하여 결정하면 된다.
교반 조건(교반 회전수, 온도 조건)은 특별히 한정되지 않는다.
<표면 수식 무기 질화물>
표면 수식 무기 질화물에 있어서, 특정 화합물은, 무기 질화물을 표면 수식하고 있다. 특정 화합물은, 무기 질화물과 수소 결합 등의 결합을 형성하여, 표면 수식을 달성하고 있는 것이 바람직하다.
표면 수식 무기 질화물의 형상은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 입자상, 필름상, 및 판상을 들 수 있다.
표면 수식 무기 질화물 중에 있어서의 특정 화합물과 무기 질화물과의 질량비(특정 화합물의 질량/무기 질화물의 질량)는 특별히 한정되지 않지만, 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 보다 우수한 점에서, 상기 질량비는 0.0001~0.5가 바람직하고, 0.0005~0.1이 보다 바람직하다.
표면 수식 무기 질화물에서는 특정 화합물이 무기 질화물 표면에 흡착되어 있으면 되고, 다른 표면 수식제가 무기 질화물 표면에 흡착되어 있어도 된다. 즉, 표면 수식 무기 질화물은, 무기 질화물과, 무기 질화물 표면 상에 흡착된 특정 화합물, 및 다른 표면 수식제를 포함하고 있어도 된다.
〔조성물〕
상기 표면 수식 무기 질화물은, 각종 재료로의 분산성이 개선되어 있다. 이를 이용하여, 표면 수식 무기 질화물은, 다른 재료와 혼합하여, 조성물로서 다양한 용도에 적용할 수 있다.
조성물 중에 있어서의 표면 수식 무기 질화물의 함유량은 특별히 한정되지 않고, 조성물의 용도에 따라 적절히 최적의 함유량이 선택된다. 표면 수식 무기 질화물의 함유량은, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 예를 들면 0.01~95질량%이며, 그 중에서도, 표면 수식 무기 질화물의 특성이 보다 나타나는 점에서, 표면 수식 무기 질화물의 함유량은, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 20~95질량%가 바람직하고, 30~90질량%가 보다 바람직하며, 40~85질량%가 더 바람직하다.
조성물은, 표면 수식 무기 질화물을 1종 포함하고 있어도 되고, 2종 이상 포함하고 있어도 된다.
조성물에는, 상술한 바와 같이, 표면 수식 무기 질화물 이외의 재료가 포함되어 있어도 되고, 예를 들면 중합성 모노머, 경화제, 경화 촉진제, 및 중합 개시제 등을 들 수 있다.
이하, 각종 성분에 대하여 상세하게 설명한다.
<중합성 모노머>
중합성 모노머는, 열 또는 광 등의 소정의 처리에 의하여 경화하는 화합물이다.
중합성 모노머는, 중합성기를 갖는다.
중합성기의 종류는 특별히 제한되지 않고, 공지의 중합성기를 들 수 있으며, 반응성의 점에서, 부가 중합 반응이 가능한 관능기가 바람직하고, 중합성 에틸렌성 불포화기 또는 환중합성기가 보다 바람직하다. 중합성기로서는, 예를 들면 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥시란일기, 바이닐기, 말레이미드기, 스타이릴기, 알릴기, 및 옥세탄일기 등을 들 수 있다. 또한, 상기 각 기 중의 수소 원자는, 할로젠 원자 등 다른 치환기로 치환되어 있어도 된다. 중합성기는, 그 중에서도, 반응성의 관점에서, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥시란일기, 및 바이닐기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 기인 것이 바람직하다.
또한, 중합성 모노머에 포함되는 중합성기의 수는 특별히 한정되지 않지만, 조성물을 경화하여 얻어지는 경화물의 내열성이 보다 우수한 점에서, 2개 이상인 것이 바람직하고, 3개 이상인 것이 보다 바람직하다. 상한은 특별히 한정되지 않지만, 8개 이하인 경우가 많다.
중합성 모노머의 종류는 특별히 한정되지 않고, 공지의 중합성 모노머를 이용할 수 있다. 예를 들면, 일본 특허공보 제4118691호의 단락 0028에 기재된 에폭시 수지 모노머 및 아크릴 수지 모노머, 일본 공개특허공보 2008-013759호의 단락 0006~0011에 기재된 에폭시 화합물, 그리고, 일본 공개특허공보 2013-227451호의 단락 0032~0100에 기재된 에폭시 수지 혼합물 등을 들 수 있다.
구체예로서, 비스페놀 A 다이글리시딜에터 수지 모노머, 및 비스페놀 F 다이글리시딜에터 수지 모노머 등도 이용할 수 있다.
조성물 중에 있어서의 중합성 모노머의 함유량은 특별히 한정되지 않고, 조성물의 용도에 따라 적절히 최적의 함유량이 선택된다. 그 중에서도, 중합성 모노머의 함유량은, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 10~90질량%가 바람직하고, 15~70질량%가 보다 바람직하며, 20~60질량%가 더 바람직하다.
조성물은, 중합성 모노머를 1종 포함하고 있어도 되고, 2종 이상 포함하고 있어도 된다.
중합성 모노머는, 액정성을 나타내는 것이 바람직하다. 즉, 중합성 모노머가, 액정 화합물인 것이 바람직하다. 바꾸어 말하면, 중합성기를 갖는 액정 화합물인 것이 바람직하다.
또, 중합성 모노머의 경화물이 액정성을 나타내는 것도 바람직하다. 또한, 중합성 모노머의 경화물이란, 중합성 모노머 자체를 경화시켜 얻어지는 경화물을 의도하고, 상술한 표면 수식 무기 질화물은 포함되지 않는다. 또한, 상기 경화물을 얻을 때에는, 필요에 따라서, 후술하는 경화제를 이용해도 된다.
이상과 같이, 중합성 모노머 또는 그 경화물은, 액정성을 나타내는 것이 바람직하다. 즉, 중합성 모노머 또는 그 경화물은, 액정 성분인 것이 바람직하다.
중합성 모노머는, 봉상 액정 화합물 및 원반상 액정 화합물 중 어느 것이어도 된다. 즉, 중합성 모노머는, 중합성기를 갖는 봉상 액정 화합물 및 중합성기를 갖는 원반상 액정 화합물 중 어느 것이어도 된다.
또한, 일반식 (1)로 나타나는 화합물과 원반상 액정 화합물은 다른 화합물이며, 일반식 (1)에 해당하는 화합물은 원반상 액정 화합물에는 포함되지 않는다.
이하, 봉상 액정 화합물 및 원반상 액정 화합물에 대하여 상세하게 설명한다.
(봉상 액정 화합물)
봉상 액정 화합물로서는, 아조메타인류, 아족시류, 사이아노바이페닐류, 사이아노페닐에스터류, 벤조산 에스터류, 사이클로헥세인카복실산 페닐에스터류, 사이아노페닐사이클로헥세인류, 사이아노 치환 페닐피리미딘류, 알콕시 치환 페닐피리미딘류, 페닐다이옥세인류, 톨란류, 및 알켄일사이클로헥실벤조나이트릴류를 들 수 있다. 이상과 같은 저분자 액정 화합물뿐만 아니라, 고분자 액정 화합물도 이용할 수 있다. 상기 고분자 액정 화합물은, 저분자의 반응성기를 갖는 봉상 액정 화합물이 중합한 고분자 화합물이다.
바람직한 봉상 액정 화합물로서는, 하기 일반식 (XXI)로 나타나는 봉상 액정 화합물을 들 수 있다.
일반식 (XXI): Q1-L111-A111-L113-M-L114-A112-L112-Q2
식 중, Q1 및 Q2는 각각 독립적으로, 중합성기이며, L111, L112, L113, 및 L114는 각각 독립적으로, 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다. A111 및 A112는 각각 독립적으로, 탄소수 1~20의 2가의 연결기(스페이서기)를 나타낸다. M은 메소젠기를 나타낸다.
또한, 중합성기의 정의는, 상술한 바와 같다.
Q1 및 Q2 중 적어도 1개는 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 옥시란일기인 것이 바람직하고, 모두 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 옥시란일기인 것이 보다 바람직하다.
L111, L112, L113, 및 L114로 나타나는 2가의 연결기로서는, -O-, -S-, -CO-, -NR112-, -CO-O-, -O-CO-O-, -CO-NR112-, -NR112-CO-, -O-CO-, -CH2-O-, -O-CH2-, -O-CO-NR112-, -NR112-CO-O-, 및 -NR112-CO-NR112-로 이루어지는 군으로부터 선택되는 2가의 연결기인 것이 바람직하다. 상기 R112는 탄소수 1~7의 알킬기 또는 수소 원자이다.
A111 및 A112는, 탄소수 1~20의 2가의 연결기를 나타낸다. 2가의 연결기는, 인접하고 있지 않은 산소 원자 및 황 원자 등의 헤테로 원자를 포함하고 있어도 된다. 그 중에서도, 탄소수 1~12의 알킬렌기, 알켄일렌기, 또는 알카인일렌기가 바람직하고, 탄소수 1~12의 알킬렌기가 보다 바람직하다. 상기의 알킬렌기, 알켄일렌기, 또는 알카인일렌기가 에스터기를 갖고 있는 것도 바람직하다.
2가의 연결기는 직쇄상인 것이 바람직하고, 또 상기 2가의 연결기는 치환기를 갖고 있어도 되며, 치환기로서는, 예를 들면 할로젠 원자(불소 원자, 염소 원자, 또는 브로민 원자), 사이아노기, 메틸기, 및 에틸기를 들 수 있다.
M으로 나타나는 메소젠기로서는, 공지의 메소젠기를 들 수 있다. 그 중에서도, 하기 일반식 (XXII)로 나타나는 기가 바람직하다.
일반식 (XXII): -(W1-L115)n-W2-
식 중, W1 및 W2는, 각각 독립적으로, 2가의 환상 알킬렌기, 2가의 환상 알켄일렌기, 아릴렌기, 또는 2가의 헤테로환기를 나타낸다. L115는, 단결합 또는 2가의 연결기를 나타낸다. n은, 1~4의 정수를 나타낸다.
W1 및 W2로서는, 예를 들면 1,4-사이클로헥센다이일, 1,4-사이클로헥세인다이일, 1,4-페닐렌, 피리미딘-2,5-다이일, 피리딘-2,5-다이일, 1,3,4-싸이아다이아졸-2,5-다이일, 1,3,4-옥사다이아졸-2,5-다이일, 나프탈렌-2,6-다이일, 나프탈렌-1,5-다이일, 싸이오펜-2,5-다이일, 및 피리다진-3,6-다이일을 들 수 있다. 1,4-사이클로헥세인다이일의 경우, 트랜스체 및 시스체의 구조 이성체 중 어느 쪽의 이성체여도 되고, 임의의 비율의 혼합물이어도 된다. 그 중에서도, 트랜스체가 바람직하다.
W1 및 W2는, 각각 치환기를 갖고 있어도 된다. 치환기로서는, 예를 들면 상술한 치환기군 T로 예시된 기를 들 수 있고, 보다 구체적으로는, 할로젠 원자(불소 원자, 염소 원자, 브로민 원자, 및 아이오딘 원자), 사이아노기, 탄소수 1~10의 알킬기(예를 들면, 메틸기, 에틸기, 및 프로필기 등), 탄소수 1~10의 알콕시기(예를 들면, 메톡시기, 및 에톡시기 등), 탄소수 1~10의 아실기(예를 들면, 폼일기, 및 아세틸기 등), 탄소수 1~10의 알콕시카보닐기(예를 들면, 메톡시카보닐기, 및 에톡시카보닐기 등), 탄소수 1~10의 아실옥시기(예를 들면, 아세틸옥시기, 및 프로피온일옥시기 등), 나이트로기, 트라이플루오로메틸기, 및 다이플루오로메틸기 등을 들 수 있다.
L115로 나타나는 2가의 연결기로서는, 상술한 L111~L114로 나타나는 2가의 연결기의 구체예를 들 수 있고, 예를 들면, -CO-O-, -O-CO-, -CH2-O-, 및 -O-CH2-를 들 수 있다.
상기 일반식 (XXII)로 나타나는 메소젠기의 기본 골격으로 바람직한 골격을, 이하에 예시한다. 이들에 상기 치환기가 치환하고 있어도 된다.
[화학식 7]
Figure pct00007
[화학식 8]
Figure pct00008
또한, 일반식 (XXI)로 나타나는 화합물은, 일본 공표특허공보 평11-513019호(WO97/000600)에 기재된 방법을 참조하여 합성할 수 있다.
봉상 액정 화합물은, 일본 공개특허공보 평11-323162호 및 일본 특허공보 4118691호에 기재된 메소젠기를 갖는 모노머여도 된다.
(원반상 액정 화합물)
원반상 액정 화합물은, 적어도 부분적으로 원반상 구조를 갖는다. 원반상 구조는, 적어도 방향족환을 갖는다. 이로 인하여, 원반상 액정 화합물은, 분자 간의 π-π 상호 작용에 의한 스태킹 구조의 형성에 의하여 기둥상 구조를 형성할 수 있다.
원반상 구조로서, 구체적으로는, Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 7990-7993 및 일본 공개특허공보 평7-306317호에 기재된 트라이페닐렌 구조, 그리고, 일본 공개특허공보 2007-002220호 및 일본 공개특허공보 2010-244038호에 기재된 3치환 벤젠 구조 등을 들 수 있다.
그 중에서도, 중합성 모노머로서 원반상 액정 화합물을 이용함으로써, 높은 열전도성을 나타내는 열전도 재료가 얻어진다. 그 이유로서는, 봉상 액정 화합물이 직선적(일차원적)으로밖에 열전도할 수 없는 데에 대하여, 원반상 액정 화합물은 법선 방향으로 평면적(이차원적)으로 열전도할 수 있기 때문에, 열전도 패스가 증가하여, 열전도율이 향상된다고 생각된다.
또, 원반상 액정 화합물을 이용함으로써, 조성물의 경화물의 내열성이 향상된다.
원반상 액정 화합물은, 3개 이상의 중합성기를 갖는 것이 바람직하다. 3개 이상의 중합성기를 갖는 원반상 액정 화합물을 포함하는 조성물의 경화물은 유리 전이 온도가 높고, 내열성이 높은 경향이 있다. 원반상 액정 화합물은 봉상 액정 화합물과 비교하여, 메소젠 부분의 특성에 영향을 주는 일 없이 3개 이상의 중합성기를 갖기 쉽다. 원반상 액정 화합물이 갖는 중합성기의 수는 8개 이하가 바람직하고, 6개 이하가 보다 바람직하다. 중합성기는 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 옥시란일기인 것이 바람직하다.
원반상 액정 화합물로서는, 이하의 일반식 (XI)로 나타나는 화합물 또는 일반식 (XII)로 나타나는 화합물이 바람직하다.
[화학식 9]
Figure pct00009
식 중, R11, R12, R13, R14, R15, 및 R16은 각각 독립적으로 *-X11-L11-P11 또는 *-X12-Y12를 나타내고, *는 트라이페닐렌환과의 결합 위치를 나타내고, R11, R12, R13, R14, R15, 및 R16 중 2개 이상은 *-X11-L11-P11이며, X11 및 X12는 각각 독립적으로, 단결합, -O-, -C(=O)-, -OC(=O)-, -OC(=O)O-, -OC(=O)NH-, -OC(=O)S-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -C(=O)S-, -NHC(=O)-, -NHC(=O)O-, -NHC(=O)NH-, -NHC(=O)S-, -S-, -SC(=O)-, -SC(=O)O-, -SC(=O)NH-, 또는 -SC(=O)S-를 나타내고, L11은 2가의 연결기 또는 단결합을 나타내고, P11은 중합성기를 나타내며, Y12는, 수소 원자, 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기에 있어서 1개 또는 2개 이상의 메틸렌기가 -O-, -S-, -NH-, -N(CH3)-, -C(=O)-, -OC(=O)-, 또는 -C(=O)O-로 치환된 기를 나타낸다.
R11, R12, R13, R14, R15, 및 R16은 3개 이상이 *-X11-L11-P11인 것이 바람직하다. 그 중에서도, R11 및 R12 중 어느 1개 이상, R13 및 R14 중 어느 1개 이상과, R15 및 R16 중 어느 1개 이상이 *-X11-L11-P11인 것이 보다 바람직하며, R11, R12, R13, R14, R15, 및 R16이 모두 *-X11-L11-P11인 것이 더 바람직하고, R11, R12, R13, R14, R15, 및 R16이 모두 동일한 *-X11-L11-P11인 것이 특히 바람직하다.
X11 및 X12로서는, 각각 독립적으로, -O-, -OC(=O)-, -OC(=O)O-, -OC(=O)NH-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -NHC(=O)-, 또는 -NHC(=O)O-가 바람직하고, -OC(=O)-, -C(=O)O-, -OC(=O)NH-, 또는 -C(=O)NH-가 보다 바람직하며, -C(=O)O-가 더 바람직하다.
L11은, X11과 P11을 연결하는 2가의 연결기 또는 단결합을 나타낸다. 2가의 연결기로서는, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)O-, 탄소수 1~10(바람직하게는 탄소수 1~8, 보다 바람직하게는 탄소수 1~6)의 알킬렌기, 탄소수 6~20(바람직하게는 탄소수 6~14, 보다 바람직하게는 탄소수 6~10)의 아릴렌기, 또는 이들의 조합으로 이루어지는 기 등을 들 수 있다.
탄소수 1~10의 알킬렌기로서는, 예를 들면 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 뷰틸렌기, 펜틸렌기, 및 헥실렌기 등을 들 수 있다.
탄소수 6~20의 아릴렌기로서는, 예를 들면 1,4-페닐렌기, 1,3-페닐렌기, 1,4-나프틸렌기, 1, 5-나프틸렌기, 및 안트라센일렌기 등을 들 수 있고, 1,4-페닐렌기가 바람직하다.
상기 알킬렌기 및 상기 아릴렌기는, 각각 치환기를 갖고 있어도 된다. 치환기로서는, 예를 들면 상술한 치환기군 T로 예시된 기를 들 수 있다. 치환기의 수는 1~3개가 바람직하고, 1개가 보다 바람직하다. 치환기의 치환 위치는 특별히 한정되지 않는다. 치환기로서는, 할로젠 원자 또는 탄소수 1~3의 알킬기가 바람직하고, 메틸기가 보다 바람직하다. 알킬렌기 및 아릴렌기는 무치환인 것도 바람직하다. 특히 알킬렌기는 무치환인 것이 바람직하다.
P11은, 중합성기를 나타낸다. 중합성기의 정의는, 상술한 바와 같다.
P11은 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 옥시란일기인 것이 바람직하다.
또한, P11이 하이드록시기일 때, L11은 아릴렌기를 포함하고, 이 아릴렌기는 P11과 결합하고 있는 것이 바람직하다.
Y12는, 수소 원자, 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기에 있어서 1개 또는 2개 이상의 메틸렌기가 -O-, -S-, -NH-, -N(CH3)-, -C(=O)-, -OC(=O)-, 또는 -C(=O)O-로 치환된 기를 나타낸다.
Y12가 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기에 있어서 1개 또는 2개 이상의 메틸렌기가 -O-, -S-, -NH-, -N(CH3)-, -C(=O)-, -OC(=O)-, 또는 -C(=O)O-로 치환된 기인 경우, Y12가 나타내는 기에 존재하는 수소 원자는 할로젠 원자로 치환되어 있어도 된다.
탄소수 1~20의 직쇄상 또는 분기쇄상의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 아이소프로필기, n-뷰틸기, 아이소뷰틸기, sec-뷰틸기, tert-뷰틸기, n-펜틸기, 아이소펜틸기, 네오펜틸기, 1,1-다이메틸프로필기, n-헥실기, 아이소헥실기, 직쇄상 또는 분기쇄상의 헵틸기, 옥틸기, 노닐기, 데실기, 운데실기, 및 도데실기를 들 수 있다.
환상의 알킬기의 탄소수는, 3 이상이 바람직하고, 5 이상이 보다 바람직하며, 또 20 이하가 바람직하고, 10 이하가 보다 바람직하며, 8 이하가 더 바람직하고, 6 이하가 특히 바람직하다. 환상의 알킬기의 예로서는, 사이클로프로필기, 사이클로뷰틸기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 사이클로헵틸기, 및 사이클로옥틸기를 들 수 있다.
Y12로서는, 수소 원자, 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 알킬렌 옥사이드기가 바람직하고, 탄소수 1~12의 직쇄상 혹은 분기쇄상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 에틸렌옥사이드기 혹은 프로필렌옥사이드기가 보다 바람직하다.
상기 일반식 (XI)로 나타나는 화합물의 구체예에 대해서는, 일본 공개특허공보 평7-281028호의 단락 0028~0036, 일본 공개특허공보 평7-306317호, 일본 공개특허공보 2005-156822호의 단락 0016~0018, 일본 공개특허공보 2006-301614호의 단락 0067~0072, 및 액정 편람(헤이세이 12년 마루젠 주식회사 발간) 330페이지~333페이지에 기재된 예를 참조할 수 있다.
[화학식 10]
Figure pct00010
식 중, A2, A3, 및 A4는 각각 독립적으로 -CH= 또는 -N=을 나타내고, R17, R18, 및 R19는 각각 독립적으로, *-X211-(Z21-X212)n21-L21-P21 또는 *-X211-(Z22-X222)n22-Y22를 나타내며, *는 중심환과의 결합 위치를 나타내고, R17, R18, 및 R19 중 2개 이상은 *-X211-(Z21-X212)n21-L21-P21이며, X211, X212, 및 X222는 각각 독립적으로, 단결합, -O-, -C(=O)-, -OC(=O)-, -OC(=O)O-, -OC(=O)NH-, -OC(=O)S-, -C(=O)O-, -C(=O)NH-, -C(=O)S-, -NHC(=O)-, -NHC(=O)O-, -NHC(=O)NH-, -NHC(=O)S-, -S-, -SC(=O)-, -SC(=O)O-, -SC(=O)NH-, 또는 -SC(=O)S-를 나타내고, Z21 및 Z22는 각각 독립적으로, 5원환 혹은 6원환의 방향족기, 또는 5원환 혹은 6원환의 비방향족기를 나타내며, L21은, X212와 P21을 연결하는 2가의 연결기 또는 단결합을 나타내고, P21은 중합성기를 나타내며, Y22는 수소 원자, 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기에 있어서 1개 또는 2개 이상의 메틸렌기가 -O-, -S-, -NH-, -N(CH3)-, -C(=O)-, -OC(=O)-, 또는 -C(=O)O-로 치환된 기를 나타내고, n21 및 n22는 각각 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, n21 및 n22가 2 이상인 경우의 복수 개 존재하는 Z21-X212 및 Z22-X222는 동일해도 되고 달라도 된다.
R17, R18, 및 R19는 모두, *-X211-(Z21-X212)n21-L21-P21인 것이 바람직하다. R17, R18, 및 R19는 모두 동일한 *-X211-(Z21-X212)n21-L21-P21인 것이 보다 바람직하다.
X211, X212, 및 X222로서는, 단결합, 또는 -OC(=O)-가 바람직하다.
Z21 및 Z22는 각각 독립적으로, 5원환 혹은 6원환의 방향족기, 또는 5원환 혹은 6원환의 비방향족기를 나타내고, 예를 들면 1,4-페닐렌기, 1,3-페닐렌기, 및 2가의 복소환기 등을 들 수 있다.
상기 방향족기 및 비방향족기는 치환기를 갖고 있어도 된다. 치환기로서는, 상술한 치환기군 T로 예시된 기를 들 수 있다. 치환기의 수는 1개 또는 2개가 바람직하고, 1개가 보다 바람직하다. 치환기의 치환 위치는 특별히 한정되지 않는다. 치환기로서는, 할로젠 원자 또는 메틸기가 바람직하다. 할로젠 원자로서는 염소 원자 또는 불소 원자가 바람직하다. 상기 방향족기 및 비방향족기는 무치환인 것도 바람직하다.
2가의 복소환으로서는, 예를 들면 이하의 복소환을 들 수 있다.
[화학식 11]
Figure pct00011
식 중, *는 X211에 결합하는 측의 부위를 나타내고, **는 X212(또는 X222)에 결합하는 측의 부위를 나타내며; A41 및 A42는 각각 독립적으로 메타인기 또는 질소 원자를 나타내고; X4는, 산소 원자, 황 원자, 메틸렌기, 또는 이미노기를 나타낸다.
A41 및 A42는, 적어도 한쪽이 질소 원자인 것이 바람직하고, 양쪽 모두가 질소 원자인 것이 보다 바람직하다. 또, X4는 산소 원자인 것이 바람직하다.
L21은, X212와 P21을 연결하는 2가의 연결기 또는 단결합을 나타내며, 일반식 (XI)에 있어서의 L11과 동의이다. L21로서는, -O-, -OC(=O)-, -C(=O)O-, 탄소수 1~10(바람직하게는 탄소수 1~8, 보다 바람직하게는 탄소수 1~6)의 알킬렌기, 또는 이들의 조합으로 이루어지는 기가 바람직하다.
P21은, 중합성기를 나타낸다. 중합성기의 정의는, 상술한 바와 같다.
P21은, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 또는 옥시란일기인 것이 바람직하다.
Y22는 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기, 또는 탄소수 1~20의 직쇄상, 분기쇄상, 혹은 환상의 알킬기에 있어서 1개 또는 2개 이상의 메틸렌기가 -O-, -S-, -NH-, -N(CH3)-, -C(=O)-, -OC(=O)-, 또는 -C(=O)O-로 치환된 기를 나타내고, 일반식 (XI)에 있어서의 Y12와 동의이며, 바람직한 범위도 마찬가지이다.
n21 및 n22는 각각 독립적으로, 0~3의 정수를 나타내고, 1~3의 정수가 바람직하며, 2 또는 3이 보다 바람직하다.
일반식 (XII)로 나타나는 화합물의 상세 및 구체예에 대해서는, 일본 공개특허공보 2010-244038호의 단락 0013~0077의 기재를 참조할 수 있고, 그 내용은 본 명세서에 원용된다.
전자 밀도를 줄임으로써 스태킹을 강하게 하여, 칼럼상 집합체를 형성하기 쉬워진다고 하는 점에서, 일반식 (XI) 또는 일반식 (XII)로 나타나는 화합물로서는, 수소 결합성 관능기를 갖는 화합물인 것이 바람직하다.
수소 결합성 관능기로서는, -OC(=O)NH-, -C(=O)NH-, -NHC(=O)-, -NHC(=O)O-, -NHC(=O)NH-, -NHC(=O)S-, 및 SC(=O)NH- 등을 들 수 있다.
일반식 (XI)로 나타나는 화합물, 및 일반식 (XII)로 나타나는 화합물로서 특히 바람직한 구체예로서는 이하의 화합물을 들 수 있다. 또한, 이하에 들 수 있는 화합물에 있어서의 옥시란일기 및 옥세탄일기가, 아크릴로일 또는 메타크릴로일기인 예도 바람직하다.
[화학식 12]
Figure pct00012
[화학식 13]
Figure pct00013
[화학식 14]
Figure pct00014
[화학식 15]
Figure pct00015
[화학식 16]
Figure pct00016
[화학식 17]
Figure pct00017
[화학식 18]
Figure pct00018
[화학식 19]
Figure pct00019
[화학식 20]
Figure pct00020
일반식 (XI)로 나타나는 화합물은, 일본 공개특허공보 평7-306317호, 일본 공개특허공보 평7-281028호, 일본 공개특허공보 2005-156822호, 및 일본 공개특허공보 2006-301614호에 기재된 방법에 준하여 합성할 수 있다.
일반식 (XII)로 나타나는 화합물은, 일본 공개특허공보 2010-244038호, 일본 공개특허공보 2006-076992호, 및 일본 공개특허공보 2007-002220호에 기재된 방법에 준하여 합성할 수 있다.
<그 외의 성분>
(경화제)
조성물은, 경화제를 더 함유해도 된다.
경화제의 종류는 특별히 한정되지 않고, 상술한 중합성 모노머를 경화할 수 있는 화합물이면 된다. 경화제로서는, 하이드록시기, 아미노기, 싸이올기, 아이소사이아네이트기, 카복시기, (메트)아크릴로일기, 및 무수 카복실산기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 관능기를 갖는 화합물인 것이 바람직하고, 하이드록시기, (메트)아크릴로일기, 아미노기, 및 싸이올기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 관능기를 갖는 화합물인 것이 보다 바람직하다.
경화제는, 상기 관능기를 2개 이상 갖는 것이 바람직하고, 2개 또는 3개 갖는 것이 보다 바람직하다.
경화제로서는, 예를 들면 아민계 경화제, 페놀계 경화제, 구아니딘계 경화제, 이미다졸계 경화제, 나프톨계 경화제, 아크릴계 경화제, 산 무수물계 경화제, 활성 에스터계 경화제, 벤조옥사진계 경화제, 및 사이아네이트에스터계 경화제 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 아크릴계 경화제, 페놀계 경화제, 또는 아민계 경화제가 바람직하다. 아민계 경화제로서는, 예를 들면 4,4'-다이아미노다이페닐메테인을 들 수 있다. 아크릴계 경화제로서는, 예를 들면 에톡시화 (3)트라이메틸올프로페인트라이아크릴레이트를 들 수 있다. 페놀계 경화제로서는, 예를 들면 바이페닐아랄킬형 페놀 수지를 들 수 있다.
조성물 중에 있어서의 경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 1~50질량%가 바람직하고, 1~30질량%가 보다 바람직하다.
(경화 촉진제)
조성물은, 경화 촉진제를 더 함유해도 된다.
경화 촉진제의 종류는 한정되지 않고, 예를 들면 트라이페닐포스핀, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 삼불화 붕소 아민 착체, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 및 일본 공개특허공보 2012-067225호의 단락 0052에 기재된 경화 촉진제를 들 수 있다.
조성물 중에 있어서의 경화 촉진제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 0.1~20질량%가 바람직하다.
(중합 개시제)
조성물은, 중합 개시제를 더 함유해도 된다.
또, 특정 화합물 또는 중합성 모노머가 (메트)아크릴로일기를 갖는 경우에는, 조성물은 아조계 중합 개시제를 포함하는 것이 바람직하다. 또, 적합한 예로서 일본 공개특허공보 2010-125782의 단락 0062 및 일본 공개특허공보 2015-052710의 단락 0054에 기재된 중합을 들 수 있다.
조성물 중에 있어서의 중합 개시제의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 조성물 중의 전체 고형분에 대하여, 0.1~50질량%가 바람직하다.
(용매)
조성물은, 용매를 더 함유해도 된다.
용매의 종류는 특별히 한정되지 않고, 유기 용매가 바람직하다. 유기 용매로서는, 예를 들면 아세트산 에틸, 메틸에틸케톤, 다이클로로메테인, 및 테트라하이드로퓨란 등을 들 수 있다.
<조성물의 제조 방법>
조성물의 제조 방법은 특별히 한정되지 않고, 공지의 방법을 채용할 수 있으며, 예를 들면, 상술한 각종 성분(표면 수식 무기 질화물 및 중합성 모노머 등)을 공지의 방법으로 혼합함으로써 제조할 수 있다. 혼합할 때에는, 각종 성분을 일괄로 혼합해도 되고, 차례로 혼합해도 된다.
또, 상술한 바와 같이, 표면 수식 무기 질화물을 제조할 때에, 무기 질화물, 특정 화합물, 및 그 외의 첨가제를 일괄하여 혼합하여, 조성물을 제조해도 된다.
<조성물의 경화 방법>
조성물의 경화 방법은 특별히 한정되지 않고, 중합성 모노머의 종류에 따라 적절히 최적인 방법이 선택된다. 경화 방법은, 예를 들면 열경화 반응이어도 되고, 광경화 반응이어도 되며, 열경화 반응이 바람직하다.
열경화 반응 시의 가열 온도는 특별히 한정되지 않는다. 예를 들면, 50~200℃의 범위에서 적절히 선택하면 된다. 또, 열경화 반응을 행할 때에는, 온도가 다른 가열 처리를 복수 회에 걸쳐서 실시해도 된다.
또한, 경화 반응은, 시트상으로 한 조성물에 대하여 실시하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 예를 들면 조성물을 도포하고, 얻어진 도막에 대하여 경화 반응을 실시하면 된다. 그때, 프레스 가공을 행해도 된다.
또, 경화 반응은, 반(半)경화 반응이어도 된다. 즉, 얻어지는 경화물이, 이른바 B 스테이지 상태(반경화 상태)여도 된다.
상기와 같은 반경화시킨 경화물을 디바이스 등에 접촉하도록 배치한 후, 추가로 가열 등에 의하여 본 경화시킴으로써, 경화물인 열전도 재료를 포함하는 층과 디바이스와의 접착성이 보다 향상된다.
<용도>
상기 표면 수식 무기 질화물 및 상기 조성물은, 다양한 용도에 적용할 수 있다. 예를 들면, 안료, 촉매, 전극 재료, 반도체 재료, 열전도 재료, 및 윤활제 등으로서 다양한 분야에 응용할 수 있다. 즉, 상기 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 재료는, 다양한 용도에 적용할 수 있다. 또한, 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 재료의 형상은 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 시트상이어도 된다.
그 중에서도, 상기 표면 수식 무기 질화물 및 상기 조성물은, 열전도 재료 또는 윤활제를 형성하기 위하여 이용하는 것이 바람직하다.
이하, 이 적합 용도에 관하여 상세하게 설명한다.
(열전도 재료)
본 발명의 열전도 재료는, 표면 수식 무기 질화물을 포함한다.
열전도 재료 중에는, 표면 수식 무기 질화물 이외의 성분이 포함되어 있어도 되고, 예를 들면 바인더를 들 수 있다. 또한, 바인더로서는, 상술한 중합성 모노머가 경화하여 형성되는 바인더를 들 수 있다.
열전도 재료는, 상술한 조성물을 경화하여 제작할 수 있다. 즉, 상기 조성물은, 열전도 재료를 형성하기 위하여 이용할 수 있다. 또한, 경화 반응을 포함하는 열전도 재료의 제작 방법에 대해서는, "고열전도성 콤퍼짓 재료"(씨엠씨 슛판, 다케자와 요시타카 저)를 참조할 수 있다.
또한, 상기 열전도 재료에는 표면 수식 무기 질화물이 포함되어 있으면 되고, 그 제조 방법은 상기 조성물을 이용하는 양태에는 한정되지 않는다.
열전도 재료는, 열전도성이 우수한 재료이며, 방열 시트 등의 방열 재료로서 이용할 수 있다. 예를 들면, 파워 반도체 디바이스 등의 각종 디바이스의 방열 용도에 이용할 수 있다. 보다 구체적으로는, 디바이스 상에 상기 열전도 재료를 포함하는 열전도층을 배치하여 열전도층 부착 디바이스를 제작함으로써, 디바이스로부터의 발열을 효율적으로 열전도층에서 방열할 수 있다.
열전도 재료의 형상은 특별히 한정되지 않고, 용도에 따라, 다양한 형상으로 성형되어 있어도 된다. 전형적으로는, 열전도 재료는, 시트상인 것이 바람직하다.
또한, 상기 열전도 재료는, 완전하게 경화된 상태여도 되고, 반경화 상태(상술한 B 스테이지 상태)여도 된다. 상술한 바와 같이, 반경화 상태의 열전도 재료이면 디바이스 상에 배치한 후, 가열 처리를 실시함으로써, 디바이스 상에 접착성이 우수한 열전도층을 형성할 수 있다.
(윤활제)
상기 표면 수식 무기 질화물은, 윤활제의 제작에 적합하게 사용할 수 있다. 즉, 표면 수식 무기 질화물의 용도로서, 표면 수식 무기 질화물을 포함하는 윤활제를 들 수 있다.
윤활제는, 그리스(저분자 모노머, 고분자 수지) 등과 표면 수식 무기 질화물을 혼합함으로써 제작할 수 있다. 그리스로서는, 공지의 재료를 이용할 수 있다.
윤활제를 제작할 때에는, 표면 수식 무기 질화물 중의 무기 질화물로서는, 질화 붕소를 바람직하게 들 수 있다. 질화 붕소는, 고온 영역에서 그 자체가 윤활성을 나타내는 것이 알려져 있기 때문이다.
실시예
이하에 실시예에 근거하여 본 발명을 더 상세하게 설명한다. 이하의 실시예에 나타내는 재료, 사용량, 비율, 처리 내용, 및 처리 수순 등은, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한 적절히 변경할 수 있다. 따라서, 본 발명의 범위는 이하에 나타내는 실시예에 의하여 한정적으로 해석되어서는 안 된다.
〔실험계의 확립〕
알리자린은, 산화 아연과 결합하여 산화 아연 표면을 수식하는 것이 잘 알려져 있는 화합물이다(일본 특허공보 5479175호). 알리자린(와코 준야쿠사제, 카탈로그 번호 015-01151) 12mg을 메틸에틸케톤 300mL에 용해시키고, 이 용액의 가시 흡수 스펙트럼(측정 장치: 시마즈 세이사쿠쇼제 UV-3100PC)을 이용하여 파장 427nm의 흡광도를 측정했다. 또한, 이 용액(25mL)에, 별도로 준비한 산화 아연 미립자(와코 준야쿠사제, 264-00365)를 첨가하여, 가볍게 교반했다. 약 5분 후, 얻어진 용액의 상등액을 0.45미크론 필터(싸토리우스사제 Minisart RC15)를 사용하여 필터 여과했다. 얻어진 여과액에 대하여, 상기와 동일하게 흡광도를 측정했다. 그 결과, 산화 아연 미립자 첨가 전의 용액의 흡광도에 대하여, 산화 아연 미립자 첨가 후의 용액의 흡광도가 27.6%였다. 얻어진 결과로부터, 상기와 같은 흡광도의 비교를 행함으로써, 흡광도의 감소분으로부터 화합물의 무기 질화물의 표면 수식의 유무, 및 그 정도를 결정할 수 있는 것을 알 수 있었다.
(무기 질화물에 대한 흡착 시험)
하기 화합물 C-5(10mg)를 아세토나이트릴기(100mL)에 용해하고, 또한 1/10로 희석함으로써 용액을 얻었다. 얻어진 용액의 자외 가시 흡수 스펙트럼(측정 장치: 시마즈 세이사쿠쇼제 UV-3100PC)을 측정하고, 흡수 극대 파장에서의 흡광도 X를 구했다.
다음으로, 상기 용액(20mL)에 덴카 주식회사제 질화 붕소 "SGPS"(0.5g)를 첨가하여 수 초 간 교반했다. 교반 후, 얻어진 용액의 상등액을 필터 여과했다. 얻어진 여과액을 이용하여, 상기와 동일하게, 여과액의 자외 가시 흡수 스펙트럼(측정 장치: 시마즈 세이사쿠쇼제 UV-3100PC)을 측정하고, 흡수 극대 파장에서의 흡광도 Y를 구했다. 자외 가시 흡수 스펙트럼의 결과를 도 1에 나타낸다.
이어서, 질화 붕소를 첨가하기 전의 용액의 흡수 극대 파장에서의 흡광도 X에 대한, 질화 붕소를 첨가하여 얻어진 상기 여과액의 흡수 극대 파장에서의 흡광도 Y의 비율(잔존율(%))을 산출했다. 잔존율(%)이 작을수록, 질화 붕소에 대한 흡착이 우수한 것을 의미한다. 결과를 표 1에 나타낸다.
또한, 화합물 C-5 이외에도, 하기에 나타내는 각 화합물을 이용하여, 상기와 동일한 수순에 따라, 질화 붕소의 첨가 후의 흡광도의 잔존율(%)을 산출했다. 각 결과를 하기 표 1에 정리하여 나타낸다.
또, 이하의 화합물을 이용한 경우의 자외 가시 흡수 스펙트럼의 결과를 도 2~4에 각각 나타낸다.
[화학식 21]
Figure pct00021
[표 1]
Figure pct00022
상기 표 1의 결과로부터 알 수 있는 바와 같이, 표 1에 나타내는 각 화합물을 이용한 경우, 모두 흡광도의 감소가 확인되었다. 이 결과로부터, 표 1에 나타내는 각 화합물은, 질화 붕소의 표면에 흡착되는 것이 확인되었다. 또한, 후술하는 실시예에서 이용되는 화합물 C-1~C-51 중, 표 1에 나타내는 화합물 이외의 화합물을 이용한 경우에 있어서도 흡광도의 감소가 확인되었다. 이 결과로부터, 후술하는 실시예에서 이용되는 화합물 C-1~C-51 중, 표 1에 나타내는 화합물 이외의 화합물에 대해서도, 질화 붕소의 표면에 흡착되는 것이 확인되었다.
〔조성물의 조제 및 평가〕
<각종 성분>
이하에, 실시예 및 비교예에서 사용하는 각종 성분을 나타낸다.
(중합성 모노머)
중합성 모노머로서, 하기 A-1~A-4로 나타나는 화합물을 이용했다.
A-1: 비스페놀 F 다이글리시딜에터 수지와 비스페놀 A 다이글리시딜에터 수지의 혼합물, 에폭시 당량: 165.7g/eq, 전체 염소: 0.008중량%, 점도: 2,340mPa·s, 신닛테쓰 스미킨 가가쿠사제.
[화학식 22]
Figure pct00023
(경화제)
경화제로서, 하기 B-1~B-3으로 나타나는 화합물을 이용했다.
[화학식 23]
Figure pct00024
(용제)
용제로서, MEK(메틸에틸케톤)를 이용했다.
(중합 개시제)
중합 개시제로서, VAm-110(유용성 아조 중합 개시제, 와코 준야쿠사제)을 이용했다.
(경화 촉진제)
경화 촉진제로서, PPh3(트라이페닐포스핀)을 이용했다.
(무기 질화물)
무기 질화물로서, SGPS(질화 붕소, 평균 입경 12μm, 덴카사제)를 이용했다.
(표면 수식제)
표면 수식제로서, 하기 C-1~C-52로 나타나는 화합물을 이용했다.
또한, 하기 일람 중, "Me"는 메틸기를 나타내고, "Et"는 에틸기를 나타낸다.
[화학식 24]
Figure pct00025
[화학식 25]
Figure pct00026
[화학식 26]
Figure pct00027
[화학식 27]
Figure pct00028
[화학식 28]
Figure pct00029
(비교용 표면 수식제)
비교용 표면 수식제로서, 하기 D-1~D-4로 나타나는 화합물을 이용했다.
[화학식 29]
Figure pct00030
<실시예 1>
하기 표 2에 나타내는 각종 성분을, 중합성 모노머, MEK(메틸에틸케톤), 경화제, 표면 수식제(일반식 (1)로 나타나는 화합물), 및 중합 개시제의 순서로 혼합한 후, 무기 질화물을 첨가했다. 얻어진 혼합물을 자전 공전 믹서(THINKY사제, 아와토리 렌타로 ARE-310)로 5분간 처리함으로써 조성물 1을 얻었다. 또한, 조성물 1의 최종적인 고형분은, 표 2에 기재된 고형분 농도("용매"란 내에 기재)가 되도록, MEK로 조정했다.
다음으로, 어플리케이터를 이용하여, 폴리에스터 필름(NP-100A 파낙사제, 막두께 100μm)의 이형면 상에 막두께가 약 600μm가 되도록 조성물 1을 도포하고, 공기하에서 1시간 방치함으로써 도막 1을 얻었다.
다음으로, 도막 1의 도막면을 다른 폴리에스터 필름으로 덮고, 진공 열 프레스(열판 온도 130℃, 진공도≤1kPa, 압력 12MPa, 처리 시간 5시간)로 처리함으로써 도막을 경화하여, 수지 시트를 얻었다. 수지 시트의 양면에 있는 폴리에스터 필름을 박리하여, 평균 막두께 350μm의 열전도성 시트 1을 얻었다.
(평가)
얻어진 열전도성 시트 1에 대하여, 하기의 평가를 행했다.
[1] 분산성 평가
분산성 평가는, 열전도성 시트 1을 이용하여 실시했다. 구체적으로는, 열전도성 시트 1의 막두께를 임의의 5개소의 위치에 있어서 측정하고, 그 측정 편차에 대하여 표준 편차를 구하여, 하기의 기준에 따라 평가했다. 표준 편차가 작은 경우(바꾸어 말하면 막두께의 편차가 작은 경우), 표면 수식 무기 질화물이 양호하게 분산되어 있는 것을 나타낸다. 한편, 표준 편차가 큰 경우(바꾸어 말하면 막두께의 편차가 큰 경우), 경화물 중에 있어서 응집 등이 발생하여 표면 요철이 생기고 있는 것을 의미하며, 즉 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 뒤떨어져 있는 것을 나타낸다.
막두께 측정은, 아이페이즈사제의 "아이페이즈·모바일 1u"를 이용하여 실시했다.
(평가 기준)
"A": 표준 편차가 5μm 미만
"B": 표준 편차가 5μm 이상 10μm 미만
"C": 표준 편차가 10μm 이상 30μm 미만
"D": 표준 편차가 30μm 이상
결과를 표 2에 나타낸다.
[2] 열전도성 평가
열전도성 평가는, 열전도성 시트 1을 이용하여 실시했다. 열전도율의 측정은 하기 방법으로 행하여, 하기의 기준에 따라 열전도성을 평가했다.
·열전도율(W/m·K)의 측정
(1) 아이페이즈사제의 "아이페이즈·모바일 1u"를 이용하여, 열전도성 시트 1의 두께 방향의 열확산율을 측정했다.
(2) 메틀러·톨레도(Mettler Toledo)사제의 천칭 "XS204"를 이용하여, 열전도성 시트 1의 비중을 아르키메데스법("고체 비중 측정 키트" 사용)으로 측정했다.
(3) 세이코 인스트루먼츠사제의 "DSC320/6200"을 이용하여 10℃/분의 승온 조건하, 25℃에 있어서의 열전도성 시트 1의 비열을 구했다.
(4) 얻어진 열확산율에 비중 및 비열을 곱함으로써, 열전도성 시트 1의 열전도율을 산출했다.
(평가 기준)
"A": 15W/m·K 이상
"B": 12W/m·K 이상 15 W/m·K 미만
"C": 9W/m·K 이상 12 W/m·K 미만
"D": 9W/m·K 미만
결과를 표 2에 나타낸다.
<실시예 2~56, 비교예 1~4>
실시예 1과 동일한 수순에 의하여, 하기 표 2에 나타내는 실시예 및 비교예의 각 조성물을 얻었다. 또한, 조성물의 최종적인 고형분은, 표 2에 기재된 고형분 농도("용매"란 내에 기재)가 되도록, MEK로 조정했다.
또, 얻어진 각 조성물로부터 열전도성 시트 2~56, 비교용 열전도성 시트 1~4를 제작하여, 실시예 1과 동일한 평가 시험을 실시했다. 결과를 표 2에 나타낸다.
표 2에 있어서, 각종 성분란에 기재되는 (수치)는, 조성물 중의 전체 고형분에 대한 각종 성분의 함유량(질량%)을 의미한다.
또, 표 2 중에 기재되는 "막두께(μm)"는, 열전도성 시트의 평균 막두께를 의미한다.
표 2 중에 기재되는 "X"는, 특정 화합물을 일반식 (1)에 적용시킨 경우에 있어서의 X의 구조를 나타낸다.
표 2 중에 기재되는 "m"은, 특정 화합물을 일반식 (1)에 적용시킨 경우에 있어서의 m의 값을 나타낸다.
표 2 중에 기재되는 "L1"은, 특정 화합물을 일반식 (1)에 적용시킨 경우에 있어서의 L1의 기를 나타낸다. 또한, 일반식 (1)에 있어서 m이 2 이상인 결과로서 복수 종류 존재하는 L1은, X에 가까운 기부터 기재한다.
또한, C-32를 제외한 특정 화합물은, 일반식 (1)에 있어서의 복수의 "-(L1)m-"은 동일한 구성을 갖는다.
C-32는, 3개 존재하는 것 중 1개의 "-(L1)m-"만, 페닐렌기 및 카보닐기로 이루어지고, 다른 "-(L1)m-"에 대해서는 m=0이다.
표 2 중에 기재되는 "n"은, 특정 화합물을 일반식 (1)에 적용시킨 경우에 있어서의 n의 값을 나타낸다.
표 2 중에 기재되는 "특정 관능기"는, 화합물이 갖는 대표적인 특정 관능기를 의미한다.
[표 2]
Figure pct00031
[표 3]
Figure pct00032
[표 4]
Figure pct00033
상기 표에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 표면 수식 무기 질화물은, 분산성이 우수한 것이 확인되었다. 이와 같이 표면 수식 무기 질화물의 분산성이 우수한 결과, 본 발명의 표면 수식 무기 질화물을 이용하여 제작된 열전도성 시트는 열전도성도 우수했다.
또, 특정 화합물은, 특정 관능기를 갖고 있는 경우에, 보다 분산성이 우수한 것이 확인되었다(실시예 53과 다른 실시예의 비교).
특정 화합물은, 복수의 특정 관능기를 갖고 있는 경우에, 보다 분산성이 우수한 것이 확인되었다(실시예 15와 실시예 16의 비교).
특정 화합물은, 특정 관능기로서 수산기를 갖고 있는 경우에, 보다 분산성이 우수한 것이 확인되었다(실시예 16과 실시예 8, 11, 12, 18~20, 22~24, 26 및 29의 비교).
일반식 (1)에 있어서의, 모든 m이 1 이상인 경우, 특정 화합물은, 보다 분산성이 우수한 경향이 있는 것이 확인되었다(실시예 39~45, 47~50, 54 및 56의 결과).
실시예 46, 57~60의 결과로부터, 일반식 (1)에 있어서의 X가 트라이아진환인 경우도, 특정 화합물은 분산성이 우수한 것이 확인되었다.

Claims (16)

  1. 무기 질화물과, 상기 무기 질화물 표면 상에 흡착된 하기 일반식 (1)로 나타나는 화합물을 포함하는, 표면 수식 무기 질화물.
    [화학식 30]
    Figure pct00034

    일반식 (1) 중, m은, 0 이상의 정수를 나타내고, m이 0인 경우, Z는 X와 직접 결합한다. n은 3~6의 정수를 나타낸다. X는, 치환기를 가져도 되는, 벤젠환기 또는 헤테로환기를 나타낸다. L1은, 치환기를 가져도 되는 아릴렌기, 에스터기, 에터기, 싸이오에스터기, 싸이오에터기, 카보닐기, -NRN-, 아조기, 또는 치환기를 가져도 되는 불포화 탄화 수소기를 나타낸다. Z는, 치환기를 가져도 되는, 아릴기 또는 헤테로환기를 나타낸다. 복수 존재하는 m은, 동일해도 되고 달라도 된다. L1이 복수 존재하는 경우, 복수 존재하는 L1은 동일해도 되고 달라도 된다. 복수 존재하는 Z는, 동일해도 되고 달라도 된다. RN은, 수소 원자 또는 치환기를 갖고 있어도 되는 탄소수 1~10의 유기기를 나타낸다.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 화합물이, 알데하이드기, 수산기, 카복실산기, 아이소사이아네이트기, 아이소싸이오사이아네이트기, 사이아네이트기, 아실아자이드기, 석신산 이미드기, 설폰일 클로라이드기, 카복실산 클로라이드기, 오늄기, 카보네이트기, 아릴할라이드기, 카보다이이미드기, 산무수물기, 포스폰산기, 포스핀산기, 인산기, 인산 에스터기, 설폰산기, 할로젠 원자, 할로젠화 알킬기, 나이트릴기, 나이트로기, 이미도에스터기, 알콕시카보닐기, 알콕시실릴기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 옥세탄일기, 바이닐기, 알카인일기, 말레이미드기, 싸이올기, 아미노기, 옥시란일기, 및 실릴기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 특정 관능기를 1개 이상 갖는, 표면 수식 무기 질화물.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 화합물이, 수산기, 아미노기, 산무수물기, 싸이올기, 카복실산기, 아크릴로일기, 메타크릴로일기, 및 바이닐기로 이루어지는 군으로부터 선택되는 특정 관능기를 1개 이상 갖는, 표면 수식 무기 질화물.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 화합물이, 상기 특정 관능기를 2개 이상 갖는, 표면 수식 무기 질화물.
  5. 청구항 2 내지 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,
    Z 중 적어도 1개가, 상기 특정 관능기를 포함하는 치환기를 갖는, 아릴기 또는 헤테로환기인, 표면 수식 무기 질화물.
  6. 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
    X가, 벤젠환기인, 표면 수식 무기 질화물.
  7. 청구항 1 내지 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 화합물이, 벤젠환기를 4개 이상 갖는, 표면 수식 무기 질화물.
  8. 청구항 1 내지 청구항 7 중 어느 한 항에 있어서,
    복수 존재하는 m이, 모두 1 이상의 정수를 나타내는, 표면 수식 무기 질화물.
  9. 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 무기 질화물이, 질화 붕소 및 질화 알루미늄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종인, 표면 수식 무기 질화물.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 무기 질화물이, 질화 붕소인, 표면 수식 무기 질화물.
  11. 청구항 1 내지 청구항 10 중 어느 한 항에 기재된 표면 수식 무기 질화물과, 중합성 모노머를 포함하는, 조성물.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 중합성 모노머 또는 그 경화물이, 액정성을 나타내는, 조성물.
  13. 청구항 11 또는 청구항 12에 있어서,
    열전도 재료를 형성하기 위하여 이용되는, 조성물.
  14. 청구항 1 내지 청구항 10 중 어느 한 항에 기재된 표면 수식 무기 질화물을 포함하는, 열전도 재료.
  15. 청구항 14에 있어서,
    시트상인, 열전도 재료.
  16. 디바이스와, 상기 디바이스 상에 배치된 청구항 14 또는 청구항 15에 기재된 열전도 재료를 포함하는 열전도층을 갖는, 열전도층 부착 디바이스.
KR1020207000404A 2017-07-14 2018-07-11 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스 KR102293461B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017138278 2017-07-14
JPJP-P-2017-138278 2017-07-14
PCT/JP2018/026217 WO2019013261A1 (ja) 2017-07-14 2018-07-11 表面修飾無機窒化物、組成物、熱伝導材料、熱伝導層付きデバイス

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200016946A true KR20200016946A (ko) 2020-02-17
KR102293461B1 KR102293461B1 (ko) 2021-08-25

Family

ID=65001321

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020207000404A KR102293461B1 (ko) 2017-07-14 2018-07-11 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20200180957A1 (ko)
EP (1) EP3653572B1 (ko)
JP (1) JP6847219B2 (ko)
KR (1) KR102293461B1 (ko)
CN (1) CN110799455B (ko)
WO (1) WO2019013261A1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7221307B2 (ja) * 2019-01-23 2023-02-13 富士フイルム株式会社 組成物、熱伝導シート、熱伝導層付きデバイス
JP7363051B2 (ja) * 2019-02-26 2023-10-18 日本ゼオン株式会社 熱伝導シートおよびその製造方法
WO2021010291A1 (ja) * 2019-07-17 2021-01-21 富士フイルム株式会社 熱伝導材料形成用組成物、熱伝導材料、表面修飾無機物
EP4201990A1 (en) * 2020-08-21 2023-06-28 Adeka Corporation Compound, additive for synthetic resin, additive composition for synthetic resin, resin composition, and molded article of same
CN115386245A (zh) * 2022-08-08 2022-11-25 浙江理工大学 一种亲油性氮化碳纳米片制备方法及应用

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020036933A (ko) * 2000-11-11 2002-05-17 정광춘 유기표면처리제로 코팅된 열전도성 페이스트용질화알루미늄 및 질화알루미늄의 코팅방법
JP2009221039A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd 無機窒化物粒子およびこれを混合した樹脂組成物
JP2011236376A (ja) 2010-05-13 2011-11-24 Hitachi Chem Co Ltd 高熱伝導性複合粒子及びそれを用いた放熱材料
WO2016084873A1 (ja) * 2014-11-27 2016-06-02 富士フイルム株式会社 表面修飾無機物、表面修飾無機物の製造方法、および無機物表面を有機物で修飾する方法、ならびに放熱材料、熱伝導材料、および潤滑剤
KR20170008212A (ko) * 2014-05-09 2017-01-23 제이엔씨 주식회사 방열 부재용 조성물, 방열 부재 및 전자 기기
US20170190885A1 (en) * 2015-12-30 2017-07-06 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Modified nitride particles, oligomer functionalized nitride particles, polymer based composites and methods of forming thereof

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2802719B2 (ja) 1994-04-08 1998-09-24 富士写真フイルム株式会社 光学異方性シートおよびそれを用いた液晶表示素子
JP2696480B2 (ja) 1994-05-11 1998-01-14 富士写真フイルム株式会社 新規なトリフェニレン誘導体およびそれを含む光学異方性材料
DE19532408A1 (de) 1995-09-01 1997-03-06 Basf Ag Polymerisierbare flüssigkristalline Verbindungen
JPH11323162A (ja) 1998-03-19 1999-11-26 Hitachi Ltd 絶縁組成物
JP4118691B2 (ja) 2001-05-18 2008-07-16 株式会社日立製作所 熱硬化性樹脂硬化物
JP4344591B2 (ja) 2003-11-25 2009-10-14 富士フイルム株式会社 位相差板、トリフェニレン化合物および液晶表示装置
JP4738034B2 (ja) 2004-08-12 2011-08-03 富士フイルム株式会社 液晶性化合物、組成物および薄膜
JP5209181B2 (ja) 2005-03-15 2013-06-12 富士フイルム株式会社 化合物、組成物、位相差板、楕円偏光板および液晶表示装置
JP4866638B2 (ja) 2005-03-24 2012-02-01 富士フイルム株式会社 位相差板
JP2008013759A (ja) 2006-06-07 2008-01-24 Sumitomo Chemical Co Ltd エポキシ樹脂組成物及びエポキシ樹脂硬化物
JP5380058B2 (ja) 2008-11-28 2014-01-08 富士フイルム株式会社 インプリント材料及びインプリント方法
JP5620129B2 (ja) 2009-03-19 2014-11-05 富士フイルム株式会社 光学フィルム、位相差板、楕円偏光板、液晶表示装置、及び化合物
US8288466B2 (en) * 2009-05-13 2012-10-16 E I Du Pont De Nemours And Company Composite of a polymer and surface modified hexagonal boron nitride particles
US8258346B2 (en) * 2009-05-13 2012-09-04 E I Du Pont De Nemours And Company Surface modified hexagonal boron nitride particles
JP5479175B2 (ja) 2009-12-07 2014-04-23 富士フイルム株式会社 アリザリン誘導体化合物の製造方法、新規アリザリン誘導体化合物、表面修飾方法、光電変換膜、光電変換素子、及び電子写真感光体
JP2012067225A (ja) 2010-09-24 2012-04-05 Hitachi Chemical Co Ltd 樹脂シート硬化物の製造方法、樹脂シート硬化物、樹脂付金属箔、金属基板、led基板、及びパワーモジュール
JP6102082B2 (ja) 2012-04-26 2017-03-29 日立化成株式会社 エポキシ樹脂組成物、半硬化エポキシ樹脂組成物、硬化エポキシ樹脂組成物、樹脂シート、プリプレグ、積層板、金属基板、及びプリント配線板
JP2015052710A (ja) 2013-09-06 2015-03-19 富士フイルム株式会社 偏光板およびその製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020036933A (ko) * 2000-11-11 2002-05-17 정광춘 유기표면처리제로 코팅된 열전도성 페이스트용질화알루미늄 및 질화알루미늄의 코팅방법
JP2009221039A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd 無機窒化物粒子およびこれを混合した樹脂組成物
JP2011236376A (ja) 2010-05-13 2011-11-24 Hitachi Chem Co Ltd 高熱伝導性複合粒子及びそれを用いた放熱材料
KR20170008212A (ko) * 2014-05-09 2017-01-23 제이엔씨 주식회사 방열 부재용 조성물, 방열 부재 및 전자 기기
WO2016084873A1 (ja) * 2014-11-27 2016-06-02 富士フイルム株式会社 表面修飾無機物、表面修飾無機物の製造方法、および無機物表面を有機物で修飾する方法、ならびに放熱材料、熱伝導材料、および潤滑剤
US20170190885A1 (en) * 2015-12-30 2017-07-06 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Modified nitride particles, oligomer functionalized nitride particles, polymer based composites and methods of forming thereof

Also Published As

Publication number Publication date
CN110799455B (zh) 2023-04-18
EP3653572A1 (en) 2020-05-20
US20200180957A1 (en) 2020-06-11
JP6847219B2 (ja) 2021-03-24
EP3653572A4 (en) 2020-06-17
CN110799455A (zh) 2020-02-14
JPWO2019013261A1 (ja) 2020-06-18
WO2019013261A1 (ja) 2019-01-17
KR102293461B1 (ko) 2021-08-25
EP3653572B1 (en) 2020-12-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102293461B1 (ko) 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스
KR102252723B1 (ko) 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스
KR102338611B1 (ko) 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스
KR102361265B1 (ko) 표면 수식 무기 질화물, 조성물, 열전도 재료, 열전도층 부착 디바이스
WO2017203965A1 (ja) 表面修飾無機窒化物、組成物、熱伝導材料、熱伝導層付きデバイス、表面修飾無機窒化物の製造方法
WO2017131005A1 (ja) 表面修飾無機物およびその製造方法、樹脂組成物、熱伝導材料、ならびにデバイス
KR20190101444A (ko) 경화성 조성물, 열전도 재료, 열전도층 포함 디바이스
JP7191988B2 (ja) 熱伝導材料形成用組成物、熱伝導材料
JP7183307B2 (ja) 熱伝導材料形成用組成物、熱伝導材料、熱伝導シート、熱伝導層付きデバイス
JP7182692B2 (ja) 組成物、熱伝導材料
JP7064408B2 (ja) 組成物、熱伝導シート、熱伝導層付きデバイス
WO2020067364A1 (ja) 熱伝導材料形成用組成物、熱伝導材料、熱伝導シート、熱伝導層付きデバイス、膜

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant