KR20150070010A - 기록 장치, 제어 방법 및 프로그램 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 기록 장치는, 기록 매체를 반송하는 반송 유닛과, 기록 유닛과, 상기 기록 매체를, 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 절단하는 절단 유닛과, 제어 유닛을 포함한다. 상기 제어는 테스트 동작을 실행한다. 상기 테스트 동작은, 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 지표의 기록 및 상기 기록 매체의 절단을 포함한다.

Description

기록 장치, 제어 방법 및 프로그램{PRINTING APPARATUS, CONTROL METHOD, AND PROGRAM}
본 발명은, 기록 장치, 제어 방법 및 프로그램에 관한 것이다.
롤지(roll paper)와 같은 기록 매체에 기록을 행할 경우, 기록 매체의 절단이 필요하다. 기록 매체를 절단하는 커터를 포함하는 기록 장치가 알려져 있다. 한편, 기록 매체의 절단 위치가 어긋나면, 작은 어긋남이라도 문제가 될 경우가 있다. 예를 들면, 도면의 경우와 같이 높은 정밀도가 요구되고, 복수의 기록 장치로 화상이 기록된 기록 매체를 제본하는 경우에 그러한 문제가 발생한다. 보다 구체적으로는, 각 페이지의 길이가 상이하면, 페이지의 선단을 정렬해도, 후단이 오정렬된다. 1대의 기록 장치로 1권분의 페이지를 모두 기록하면, 페이지가 서로 길이가 상이한 것을 억제할 수 있다. 그러나, 이 책은 다른 기록 장치에 의해 작성된 책과는 길이가 상이하다. 절단 위치의 어긋남은 기록 매체의 반송량의 오차 및 기록 장치에 대한 커터의 부착 오차 등의 요인에 의해 발생된다.
절단 위치의 어긋남을 해소하는 방법으로서, 일본 특허 출원 공개 제2002-254756호 공보에서는 기록 장치의 사용 조건에 따라서 기록 매체의 반송량을 보정하는 기술이 제안된다. 일본 특허 제4193026호 공보 및 일본 특허 출원 공개 제2003-231315호 공보에는 절단 위치 검증용의 패턴을 기록 매체에 기록해서 패턴 상에서 기록 매체를 절단하고, 그 절단 위치와 패턴에 기초하여, 반송량의 보정량을 설정하는 것이 제안된다.
일본 특허 출원 공개 제2002-254756호 공보에 개시된 기술은 기록 매체의 반송량의 오차를 저감하도록 설계되었지만, 기록 장치에 대한 커터의 부착 오차 등의 구조적 오차에 기인하는 절단 위치의 어긋남에 대해서는 고려하고 있지 않다. 일본 특허 제4193026호 공보 및 일본 특허 출원 공개 제2003-231315호 공보에 개시된 기술은, 패턴의 기록 후, 기록 매체를 미리 정해진 양만큼 반송하고 나서 기록 매체를 절단하도록 설계된다. 기록 매체의 반송량에도 오차가 생길 수 있다. 따라서, 패턴의 절단 위치의 어긋남이 구조적 오차 및 반송 오차 중 하나에 기인하는 것인지, 혹은 양쪽 모두에 기인하는 것인지를 결정할 수 없다. 반송 오차가 변동하기 때문에, 패턴의 절단 위치로부터 구한 보정량만큼 반송량을 보정하더라도, 절단 위치가 어긋날 경우가 있다.
본 발명은 절단 위치의 어긋남을 검증할 때에, 기록 매체의 반송량의 오차의 영향을 저감하는 기술을 제공한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 기록 매체를 반송하도록 구성된 반송 유닛과, 상기 기록 매체에 화상을 기록하도록 구성된 기록 유닛과, 상기 기록 매체를 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 절단하도록 구성된 절단 유닛과, 상기 반송 유닛, 상기 기록 유닛 및 상기 절단 유닛을 제어하도록 구성된 제어 유닛을 포함하고, 상기 제어 유닛은, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 상기 기록 유닛을 이용한 지표의 기록과, 상기 절단 유닛을 이용한 상기 기록 매체의 절단을 포함하는 테스트 동작을 실행하도록 구성된 기록 장치가 제공된다.
본 발명의 추가적인 특징은 (첨부 도면을 참조하여) 아래의 예시적인 실시 형태의 설명으로부터 명확해질 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 기록 장치의 개략도.
도 2는 도 1의 기록 장치의 제어 유닛의 구성을 도시하는 블록도.
도 3의 (a) 내지 (d)는 절단 위치의 어긋남 보정의 문제점의 설명도.
도 4의 (a) 및 (b)는 절단 위치의 어긋남의 계측 방법의 설명도.
도 5의 (a) 내지 (d)는 치수 관계의 설명도.
도 6은 도 2의 제어 유닛에 의해 실행되는 처리예를 나타내는 플로우차트.
도 7의 (a) 내지 (c)는 패턴을 기록했을 경우의 절단 위치의 어긋남의 계측 방법의 설명도.
도 8은 도 2의 제어 유닛에 의해 실행되는 처리예를 나타내는 플로우차트.
도 9의 (a) 내지 (d)는 절단 위치의 어긋남의 자동 계측 방법의 설명도.
도 10의 (a) 내지 (c)는 패턴의 기록예의 설명도.
도 11은 도 2의 제어 유닛에 의해 실행되는 처리예를 나타내는 플로우차트.
<제1 실시 형태>
도 1은 본 실시 형태에 따른 기록 장치(1)의 개략도이다. 본 실시 형태에서는, 시리얼 형태의 잉크제트 기록 장치에 본 발명을 적용했을 경우에 대해서 예시할 것이다. 그러나, 본 발명은 다른 형태의 기록 장치에도 적용가능하다.
또한, "기록"은, 문자, 도형 등의 유의한 정보를 형성하는 경우뿐만 아니라, 형성되는 정보가 유의한지, 혹은 무의한지, 또는, 형성되는 정보가 가시화되어 인간이 시각적으로 인식할 수 있는지 여부에 관계없이, 넓은 의미의 기록 매체 상에 화상, 모양, 패턴 등을 형성하는 경우, 또는 매체를 가공하는 경우 또한 포함한다. 또한, 본 실시 형태에서는 "기록 매체"는 시트 형상의 종이를 상정하지만, 천, 플라스틱 필름 등도 기록 매체로서 이용될 수 있다.
<장치의 구성>
기록 장치(1)는 반송 유닛(11)과, 기록 유닛(5)과, 검출 유닛(13)과, 절단 유닛(14)을 포함하고, 기록 매체 PM에 화상을 기록하는 장치이다. 본 실시 형태의 경우, 기록 매체 PM은 롤 형상으로 감겨진 롤지(10)이다. 그러나, 기록 매체 PM은 미리 정형 사이즈로 절단된 절단 용지이어도 된다. 반송 유닛(11)은 기록 매체 PM을 화상의 기록에 필요한 길이만큼 롤지(10)로부터 끌어낸다. 또한, 롤지(10)에는, 기록 매체 PM의 인출 및 권취를 보조하기 위해서 롤지를 회전시키는 구동 기구를 설치하여도 된다.
반송 유닛(11)은 기록 매체 PM을 반송할 수 있다. 본 실시 형태의 경우, 반송 유닛(11)은 한 벌의 반송 롤러(11a)를 포함한다. 반송 유닛(11)은 (도시되지 않은) 구동 기구를 포함하고, 한 벌의 반송 롤러(11a) 중 하나를 구동 롤러로서 회전 구동한다. 한 벌의 반송 롤러(11a) 중 다른 쪽은 구동 롤러에 압접되어서 종동 회전한다. 기록 매체 PM은 한 벌의 반송 롤러(11a)에 협지되어서 플래튼(4) 상에 반송된다. 반송 롤러(11a)의 구동 기구로서는, 예를 들면, 모터를 구동원으로서 가지는 기어 기구가 이용될 수 있다. (도시되지 않은) 센서(예를 들면, 인코더)는 반송 롤러(11a)의 회전량을 검출하여, 기록 매체 PM의 반송량을 제어한다.
이하의 설명에서, "상류 측" 및 "하류 측"이라는 용어는 반송 유닛(11)에 의한 기록 매체 PM의 반송 방향을 기준으로 사용된다. 기록 매체 PM의 반송 방향은 도 1의 화살표 X에 의해 나타나고, 부주사 방향이라고 불리는 경우가 있다. 화살표 Y는 기록 매체 PM의 반송 방향과 직교하는 방향을 나타낸다. 이 방향을 주주사 방향이라고 부르는 경우가 있다. 롤지(10) 및 한 벌의 반송 롤러(11a)는 그것들의 축 방향이 주주사 방향 Y와 평행이 되도록 배치된다.
기록 유닛(5)은 한 벌의 반송 롤러(11a)보다 하류 측에 배치되고, 한 벌의 반송 롤러(11a)에 의해 반송되는 기록 매체 PM에 화상을 기록할 수 있다. 기록 유닛(5)은, 본 실시 형태의 경우, 잉크를 토출하는 복수의 노즐을 포함하는 기록 헤드를 구성하고 있다.
기록 유닛(5)은 캐리지(12)에 탑재된다. 캐리지(12)에는 기록 유닛(5)에 잉크를 공급하는 탱크가 장착된다. (도시되지 않은) 구동 기구는 캐리지(12)를 Y 방향으로 왕복으로 이동시킬 수 있다. 캐리지(12)의 구동 기구로서는, 예를 들면, 모터를 구동원으로서 가지는 벨트 전동 기구를 이용할 수 있다. 캐리지(12)의 위치는 (도시되지 않은) 센서(예를 들면, 인코더)에 의해 검출되어, 캐리지(12)의 이동이 제어된다.
검출 유닛(13)은 기록 매체 PM에 기록된 화상, 기록 매체 PM의 에지, 기록 매체 PM의 두께 등을 검출가능하다. 검출 유닛(13)은 캐리지(12)에 탑재되고 있고, 캐리지(12)과 함께 Y 방향으로 이동한다. 검출 유닛(13)에 의해 얻어진 검출 결과는 캐리지(12)의 위치의 검출 결과와, 반송 유닛(11)에 의한 기록 매체 PM의 반송량을 이용하여, 기록 매체 PM 상의 위치와 관련되어질 수 있다.
검출 유닛(13)은, 예를 들면 발광 소자와 수광 소자를 포함하는 광 센서를 포함한다. 발광 소자는 플래튼(4)에 광을 조사한다. 수광 소자는 그 반사광을 수광한다. 검출 유닛(13)을 이용하여 기록 매체 PM의 선단 위치를 검출하는 경우에는, 예를 들면, 기록 매체 PM을 반송해서 검출 유닛(13)을 일단 통과시키고, 그 후에 상류 측으로 역반송한다. 플래튼(4)과 기록 매체 PM의 반사율의 차이에 의해, 기록 매체 PM의 선단이 검출 유닛(13)을 통과하면 수광 소자에 의해 수광되는 값이 변한다. 반송 롤러(11a)의 회전량의 검출 결과로부터, 기록 매체 PM의 선단의 위치를 검출할 수 있다. 마찬가지로, 기록 매체 PM에 기록된 화상의 위치도 수광 소자에 의해 얻어진 수광 결과의 변화점에서의 반송 롤러(11a)의 회전량의 검출 결과 및 캐리지(12)의 위치 검출 결과로부터 검출가능하다.
절단 유닛(14)은 기록 매체 PM을 Y 방향으로 절단가능하다. 절단 유닛(14)은 캐리지(12)에 탑재되고 있고, 캐리지(12)와 함께 Y 방향으로 이동한다. 본 실시 형태의 경우, 절단 유닛(14)은 유닛의 내부에 수용가능한 원형 블레이드(15)를 포함하고 있다. 절단 유닛(14)은 원형 블레이드(15)를 진퇴시키는 진퇴 기구를 내장하고 있다. 진퇴 기구는, 캐리지(12)를 이동시켜서 절단 유닛(14)이 돌기부(2)에 접촉하게 했을 경우에, 그 가압력을 이용해서 원형 블레이드(15)를 아래쪽으로 진출시킨다. 진퇴 기구는, 캐리지(12)를 이동시켜서 절단 유닛(14)이 돌기부(3)에 접촉하게 했을 경우에, 그 가압력을 이용해서 원형 블레이드(15)를 절단 유닛(14) 내부로 후퇴시킨다. 플래튼(4)에는 Y 방향으로 연장하는 편평 블레이드(16)가 마련되어져 있다.
기록 매체 PM을 절단하지 않을 경우, 원형 블레이드(15)는 절단 유닛(14) 내부로 후퇴하게 된다. 이에 의해, 기록 매체 PM이 원형 블레이드(15)에 의해 절단되지 않게 한다. 기록 매체 PM을 절단하는 경우, 원형 블레이드(15)를 아래쪽으로 진출시킨다. 기록 매체 PM은 원형 블레이드(15)와 편평 블레이드(16) 사이에 끼워진다. 캐리지(12)를 이동시키면, 원형 블레이드(15)가 회전하면서 기록 매체 PM을 절단한다.
<제어 유닛>
도 2를 참조해서 기록 장치(1)의 제어 유닛의 구성에 대해서 설명한다. 제어 유닛(20)는, 예를 들면 CPU이며, 기록 장치(1) 전체의 제어를 행한다. I/F(인터페이스) 유닛(24)에는 (도시되지 않은) 호스트 컴퓨터가 통신가능하게 접속된다. I/F 유닛(24)은, 예를 들면 센트로닉스 또는 USB 인터페이스이다. 호스트 컴퓨터가 커맨드 및 기록 데이터를 기록 장치(1)에 보내면, 기록 장치(1)는 그 커맨드에 따라서 동작하여 기록 매체 PM에 화상의 기록을 행한다. 또한, 기록 장치(1)가 호스트 컴퓨터에 커맨드 및 데이터를 보내서 그 상태를 호스트 컴퓨터에 통지하는 것도 가능하다. 이에 의해, 예를 들면, 유저에 각종의 통지를 보내는 것이 가능해진다.
화상 처리 유닛(21)은 I/F 유닛(24)으로부터 송신된 기록 데이터(다치 화상 데이터)에 관해서 Y 보정, 색 처리, 확대/축소 처리, 이치화 등을 행한다. 화상 처리 유닛(21)은, 예를 들면, 메모리 및 프로세서(예를 들면, ASIC, DSP 혹은 RISC칩 등)에 의해 구성된다. 화상 처리 유닛(21)은, 가격을 내리기 위해서, 호스트 측의 드라이버 또는 RIP(Raster Image Processor)를 이용하여 처리를 행하는 구성 및 기능을 가질 경우도 있다.
화상 처리 유닛(21)에서의 처리의 최종단에서 도트 패턴으로 전개된 기록 데이터는 메모리 유닛(26)에 일단 축적된다. 메모리 유닛(26)은, 예를 들면, 캐리지(12)가 주주사 방향으로 1회 주사를 행하여 기록하는 데에 필요한 1 이상의 밴드에 대응하는 메모리로부터 구성된다. 메모리 유닛(26)은 기록 시의 기록 화상에 관련되는 정보, 기록 매체 PM의 위치의 정보, 절단 위치의 보정값의 정보 등의 각종 정보의 기억에도 이용될 수 있다.
메모리 유닛(26)에 대한 기록 데이터의 기입/판독은 화상 처리 유닛(21)의 제어 하에 메모리 콘트롤러(25)에 의해 행하여지고, 메모리 유닛(26)에 대하여 어드레스 신호 및 기입/판독 타이밍 신호가 생성된다.
메모리 유닛(26)으로부터 판독된 기록 데이터는 헤드 콘트롤러(27)로부터의 판독 신호에 동기해서 헤드 콘트롤러(27)에 출력된다. 헤드 콘트롤러(27)는 (도시하지 않은) 리니어 스케일로부터의 신호에 기초하여, 기록 유닛(5)에서의 잉크 토출의 타이밍 신호 및 히트 펄스를 제어 유닛(20)의 제어 하에 생성한다. 기록 유닛(5)은 각 색 잉크에 대응하는 기록 헤드를 포함하고, 제어 유닛(20) 및 헤드 콘트롤러(27)의 제어 하에 히터 유닛의 가열 시에 잉크를 토출한다.
메커니즘 구동 유닛(23)은 캐리지(12) 및 반송 유닛(11)의 구동 메커니즘의 모터, 잉크 막힘을 회복하는 회복 유닛, 각종의 센서를 포함한다. 제어 유닛(20)은 센서로부터 검출 결과를 취득해서 모터의 구동을 제어한다.
조작 패널(22)은 (도시되지 않은) 스위치인 키 및 기록 장치(1)의 상태 및 메뉴의 표시를 행하는 표시 장치를 포함한다. 제어 유닛(20)에 의해, 표시 장치인 화면에 그림, 문자 등을 표시하고, 키 조작의 감시를 행하고, 유저로부터 각종 정보의 입력을 접수한다.
<절단 위치의 어긋남 보정>
<문제점>
절단 유닛(14)의 부착 오차 등의 구조적 오차 또는 반송 유닛(11)의 반송 오차에 의해, 절단 유닛(14)에 의한 기록 매체 PM의 절단 위치에 어긋남이 생길 경우가 있다. 절단 위치의 어긋남의 이들 오차 요인이 존재하기 때문에, 보정 정밀도를 향상시킬 수 없을 경우가 있다. 이 점에 대해서 이하에서 설명한다. 도 3의 (a) 내지 (d)는 절단 위치의 어긋남 보정의 문제점의 설명도이다.
도 3의 (a)를 참조하면, 파선(80)이 원래 절단되어야 할 기록 매체 상의 위치를 나타내고, 파선(81)이 상기 매체가 실제로 절단된 위치를 나타내고 있다. 도 3의 (a)는 용이한 이해를 위해 극단적으로 절단 위치가 어긋난 예를 나타낸다. 파선(80)과 파선(81) 간의 거리가 절단 위치의 어긋남량에 대응한다. 이것을 계측함으로써, 절단 위치의 어긋남을 보정하는 것이 가능해진다.
따라서, 절단 위치 조정용 패턴을 기록 매체 상에 기록하고, 패턴 상의 매체를 절단함으로써, 절단 위치의 어긋남량을 구하는 방법이 이용가능하다. 도 3의 (b) 내지 (d)는 이러한 방법의 일례를 나타낸다. 도 3의 (b) 내지 (d)는 각각 위에서 보았을 때의 기록 매체의 도면이다. 파선(84)은 절단 유닛의 실제의 절단 위치를 나타내고 있다.
우선, 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 캐리지(83)의 동작에 의해 직사각형 패턴(85, 86, 87) 3개가 기록된다. 그 후에, 기록 매체를 화살표(88)로 나타내는 반송량만큼 반송하여, 패턴(85, 86, 87)을 파선(84) 위에 위치시킨다. 화살표(88)로 나타내는 반송량은 제어 반송량이다. 반송 오차가 없고, 또한, 구조적 오차도 없으면, 패턴(86)의 중앙이 절단된다.
도 3의 (c) 및 (d)에 도시된 경우 중 하나에서는, 패턴(86)의 중앙이 절단되지 않아서, 절단 위치가 어긋나 있다. 도 3의 (c)에 도시된 경우에는, 절단 위치가 패턴 1개만큼 하류 측으로 어긋나 있다. 도 3의 (d)에 도시된 경우에는, 패턴 1개만큼 상류 측으로 어긋나 있다. 따라서, 이 어긋남량만큼 반송량을 보정함으로써 절단 위치의 어긋남을 보정하는 것이 가능하다. 그러나, 절단 위치의 어긋남의 요인은 불분명하다. 절단 유닛(14)의 부착 오차 등의 구조적 오차 및 반송 유닛(11)의 반송 오차 중 하나에 의해, 또는 양자 모두에 의해 어긋남이 발생되었는지의 여부가 불분명하다.
절단 유닛(14)의 부착 오차 등의 구조적 오차의 변동량은 비교적 적다. 이와 대조적으로, 반송 유닛(11)의 반송 오차의 변동량은 비교적 크다.
반송 오차의 요인은, 예를 들면, 이하의 것을 포함한다. 롤지에 역장력이 가해진 상태로, 모터를 100 펄스만큼 구동하면 기록 매체가 100㎜만큼 반송된다고 가정한다. 기록 매체가 완화되어서 역장력을 받지 않으면 부하가 감소된다. 이 상태에서, 모터를 100 펄스만큼 구동하면 기록 매체가 150㎜만큼 반송될 경우가 있다. 기록 매체의 종류, 사용 환경 등이 변화하면, 기록 매체의 미끄러짐량이 변한다. 이것이 이러한 오차를 발생시킬 수 있다.
또한, 롤지는, 감김량, 폭 등에 의해 중량이 크게 변한다. 잔량의 적은 롤지를 새로운 롤지로 교환하면 급격히 중량이 변화한다. 반송 롤러는 경년 열화에 의해 회전이 느려질 경우도 있다. 이와 같은 경우, 모터를 100 펄스만큼 구동할 때에 기록 매체가 50㎜만 반송되는 경우도 있다.
예를 들면, 1개의 롤지의 사용의 시작으로부터 사용의 끝까지의 절단 위치의 허용 오차가 상류 및 하류 측 각각에 1개의 패턴 내에 놓이는 경우를 가정한다. 도 3의 (c)에 도시된 경우가 오차 -1에 대응하고, 도 3의 (d)에 도시된 경우가 오차 +1에 대응하는 것으로 가정한다. 반송 특성에 따르면, 롤지의 사용의 시작에서 도 3의 (c)와 같이 오차가 -1이고, 사용의 끝에서 도 3의 (d)와 같이 오차가 +1이면, 허용 오차 범위 내의 반송을 실현할 수 있게 된다.
구조적 오차가 없다고 가정하고, 롤지의 사용의 시작의 상태에서 도 3의 (c)의 절단 위치의 어긋남을 보정하는 경우를 고려한다. 도 3의 (c)에 도시된 예에서는, 패턴 1개만큼 절단 위치가 하류 측으로 벗어나고 있으므로, 상류 측에 패턴 1개만큼 위치를 보정함으로써, 절단 위치의 어긋남이 일단은 보정된다. 그러나, 이 상태로 롤지를 다 쓰면, 하류 측으로 패턴 2개만큼 절단 위치가 어긋나게 된다. 그 결과, 절단 위치는 절단 위치의 허용 오차 범위를 일탈한다.
이러한 방식으로 패턴의 기록 후에 기록 매체를 반송하고, 절단하는 방법의 경우, 기록 매체의 반송 시에 반송 오차 또한 발생하므로, 절단 유닛의 부착 오차에만 기인하는 절단 위치의 어긋남을 보정할 수 없다. 화살표(88)로 나타내는 반송량에 화살표(90)로 나타내는 오차가 포함되는 경우, 단순 계산으로, 반송량을 두 배로 하면 오차도 두 배가 된다. 실제에 있어, 반송 오차는 실제로는 미소하지만, 높은 절단 위치의 정밀도의 요구는 충족시킬 수 없을 경우가 있다. 혹은, 절단 위치를 고정밀도로 유지하기 위해서는, 패턴의 기록과, 절단 위치의 보정을 빈번히 행해야 한다.
또한, 예를 들면, 기록 길이가 길어지면 반송 오차도 늘어나므로, 절단 위치의 어긋남이 커지게 된다. 예를 들면, 항상 1m만큼 기록을 행하는 경우, 1m에 맞도록 절단 위치의 어긋남을 보정하면 충분하다. 그러나, 1m와 100m 양자만큼의 기록이 혼재하여야 할 경우에는, 100m의 기록에 1m의 기록을 상정하여 설정된 보정량을 이용하는 것이 큰 절단 위치의 어긋남을 초래할 경우가 있다. 100m의 기록을 위해 패턴의 기록을 행해서 보정량을 산출하면 기록 매체를 낭비하게 된다.
<반송 오차와는 분리된 어긋남의 검증>
본 실시 형태에서는, 반송 오차와는 분리하여 절단 위치의 어긋남을 검증하는 방법을 제안한다. 즉, 본 실시 형태는 실질적으로는 구조적 오차만을 계측하도록 구성된다. 반송 오차의 해소에는 종래의 반송 오차의 보정 방법을 이용하면 된다. 명백하게, 반송 오차가 있으면 기록 매체 PM의 절단 위치는 어긋난다. 그러나, 동일한 방식으로 기록 내용도 벗어난다. 10㎜의 직선을 기록하도록 제어했는데도, 반송 오차에 의해 15㎜의 직선이 기록되는 경우를 가정하자. 이 경우, 기록 매체는 절단 위치가 동일한 방식으로 어긋난 절단 위치에서 절단된다. 그러나, 반송 오차가 보정되어서 직선이 10㎜의 길이로 기록되도록 하면, 기록 매체도 올바른 절단 위치에서 절단된다.
본 실시 형태는, 반송 오차는 반송 오차로서 보정하는 것을 전제로 하여, 절단 위치의 어긋남은, 반송 오차가 될 수 있는 한 포함되지 않는 방식으로 측량하고, 보정한다. 이에 의해, 반송 오차가 없으면 절단 위치를 올바르게 보정할 수 있다.
도 4의 (a) 및 (b)를 참조하여 본 실시 형태의 절단 위치의 어긋남의 계측 방법에 대해서 간단하게 설명한다. 제어 유닛(20)은 이하의 테스트 동작을 실행가능하다.
우선, 반송 유닛(11)은 기록 유닛(5)의 특정한 노즐에 의해 화상을 기록할 수 있고, 절단 유닛(14)에 의해 기록 매체 PM을 절단할 수 있는 위치에 기록 매체 PM을 반송한다. 캐리지(12)의 측방에 기록 매체 PM이 위치하고 있으면 충분하다.
도 4의 (a)에 도시한 바와 같이, 반송 유닛(11)이 기록 매체 PM의 반송을 정지한 상태로, 기록 유닛(5)은 지표(30)을 기록하고, 절단 유닛(14)은 기록 매체 PM의 절단을 행한다. 지표(30)은 여기에서는 Y 방향으로 연장되는 직선이다. 지표(30)의 기록은, 캐리지(12)를 Y 방향으로 이동시키면서 특정한 노즐로부터 잉크를 토출함으로써 행해진다. 기록 매체 PM의 절단은, 절단 유닛(14)의 원형 블레이드(15)를 진출시킨 상태로 캐리지(12)를 Y 방향으로 이동시킴으로써 행해진다. 절단편(31)은 불필요하다.
지표(30)의 기록과 기록 매체 PM의 절단은 동시에, 또는 순차적으로 행해도 된다. 이들 동작을 동시에 행할 경우, 예를 들면, 캐리지(12)의 1회의 주사 중에 지표(30)의 기록과 기록 매체 PM의 절단을 행한다. 이들 동작을 순차적으로 행할 경우, 예를 들면, 캐리지(12)의 1회의 주사 중에(예를 들면, 순방향 이동 중에) 지표(30)의 기록을 우선 행한 후, 다른 주사 중에(예를 들면, 역방향 이동 중에) 기록 매체 PM의 절단을 행한다.
유저가 거리 T를 조사하기 쉽게 하기 위해서, 기록 매체 PM을 반송해서 절단 위치(34)에서 절단 유닛(14)으로 절단한다. 이러한 동작에 의해, 도 4의 (b)에 도시한 바와 같이 절단편을 얻는다. 이 절단 동작의 이전에 유저 보조 정보를 기록 매체 PM에 기록해도 된다. 유저 보조 정보는, 유저가 길이를 조사해야 할 위치를 나타내는 정보 및 측량해야 할 길이의 설계값(T2=30㎜)을 나타내는 정보를 포함한다. 도 4의 (b)에 도시된 경우에는, 유저 보조 정보(33)가 예시된다. 여기에서는, 설계값(30㎜)이 측량해야 할 폭을 나타내는 화살표와 함께 기록된다. 유저 보조 정보는 도 4의 (a)의 절단 및 지표의 기록 전에, 또는, 지표의 기록과 동시에 기록하는 것도 가능하다.
이미 설명한 바와 같이, 지표(30)의 기록과 기록 매체 PM의 절단의 사이에 기록 매체 PM은 반송되지 않고 있다. 따라서, 기록 매체 PM의 절단 단부(32)의 위치와 지표(30)의 위치와 관련된 정보는 구조적 오차를 나타내는 정보이다. 보다 구체적으로는, 절단편의 절단 단부(32)로부터 지표(30)까지의 거리 T와, 지표(30)의 기록에 이용된 노즐로부터 절단 유닛(14)의 절단 위치까지의 설계 상의 거리의 차분은 구조적 오차를 나타낸다. 이와 같은 방식으로, 절단 위치의 어긋남을 검증할 때에, 기록 매체의 반송량의 오차의 영향을 저감할 수가 있다. 특히, 본 실시 형태에서는 반송 오차의 영향을 제거할 수 있다.
본 실시 형태의 절단 위치의 어긋남의 계측 방법 및 절단 위치의 어긋남의 보정 방법에 대해서, 도 5의 (a) 내지 (d)를 참조해서 기록 장치(1)의 설계 상의 치수 등을 예시하면서 더욱 구체적으로 설명한다.
도 5의 (a)는 절단 유닛(14)의 구조적 오차가 없는 설계대로의 이론적인 상태를 나타내고 있다. 이것은, 반송 오차가 없고, 절단 위치의 어긋남이 발생하지 않는 상태를 나타내고 있다. 도 5의 (a) 내지 (d)를 참조하면, 아래의 설명에서, 좌표 원점(8)을 기준 위치(0 위치)로 규정하고, 기준 위치에 대하여 상류 측 및 하류 측을 각각 "마이너스" 및 "플러스"로 규정한다.
앞서 설명한 바와 같이, 기록 유닛(5)은 잉크를 토출하는 복수의 노즐을 포함하고, 이 복수의 노즐은 Y 방향으로 배열된다. 그 최상류의 노즐(6)로부터 토출되는 잉크의 착탄 위치를 좌표 원점(8)이라고 한다. 좌표 원점(8)으로부터의 반송량에 기초하여, 기록 매체 PM의 반송 위치를 제어한다. 환언하면, 반송 롤러(11a)의 회전량을 검출하는 센서의 값은, 최상류의 노즐(6) 바로 아래에 기록 매체 PM의 선단이 위치하는 위치에서 0으로 초기화된다.
최상류의 노즐(6)로부터 최하류의 노즐(7)까지의 Y 방향의 거리(노즐 폭)를 N1이라고 한다. 노즐 어레이의 폭 N1은, 예를 들면, 25㎜(≒1인치)라고 한다. 좌표 원점(8)에 기록 매체 PM의 선단이 위치하고 있는 상태로, 기록 매체 PM을 Y 방향으로 25㎜ 반송하면, 노즐(7)의 바로 아래에 기록 매체 PM의 선단이 위치하게 된다.
또한, 이하의 설명에서는, 내용의 이해를 쉽게 하기 위해서, 상세한 조건에 대해서는 될 수 있는 한 설명을 간이하게 한다. 각종 수치는 일례이며, 좌표 원점(8)의 설정도 노즐(6)의 바로 아래에 한정되지 않고, 다른 위치이어도 된다.
기록 유닛(5)의 노즐 어레이는 1280개의 노즐을 포함한다. 최하류 노즐(7)로부터 절단 유닛(14)의 절단 위치(17)까지의 거리 T1은 10㎜이다. 원점(8)으로부터 절단 위치(17)까지의 거리 C1은 C1=T1+N1이며 35㎜이다. 바꿔 말하면, 원점(8)으로부터 절단 위치(17)까지의 설계 상의 거리 C1로서 35㎜의 설정값이 설정된다.
지표(30)의 기록에 이용하는 노즐은, 절단 위치(17)로부터 30㎜ 상류 측에 위치한 지표 위치(9)에 지표가 기록되도록, 미리 정해진 위치에 배치된 노즐이라고 가정한다. 거리 T2는 절단 위치(17)로부터 지표 위치(9)까지의 거리를 나타내고, 30㎜이다. 도 4의 (a) 및 (b)의 거리 T는 절단 위치의 어긋남이 없을 경우, T=T2가 된다. 거리 N2는 원점(8)으로부터 지표 위치(9)까지의 거리이며, 5㎜이다. 최상류 노즐(6)을 1번째의 노즐, 최하류 노즐(7)을 1280번째의 노즐이라고 가정한다. 노즐 어레이의 폭 N1(25㎜)은 1280 노즐에 상응하므로, 1 노즐당의 폭은 약 0.0196㎜이다. 지표 위치(9)에 지표를 기록하는 데에 이용하는 노즐은 257번째의 노즐이다(N2=257*0.0196=5.03이 되어, 약 5㎜이다). 본 실시 형태에서는, 이해를 쉽게 하기 위해서 최소 분해능은 1㎜로하여 이하에서 설명을 행한다.
또한, 노즐의 배치의 오차도 고려하는 경우, 거리 N2는 설계값이 아니라 실측값으로 해도 된다. 또한, 지표(30)의 기록에 이용하는 노즐은 원점(8)의 위치에 위치하는 최상류의 노즐(6)이나, 최하류의 노즐(7)이어도 된다. 지표(30)의 기록에 이용하는 노즐은 복수이어도 된다. 예를 들면, 257번째의 노즐의 전후의 노즐을 포함하는 256 내지 258번째의 노즐을 이용하여 지표(30)을 기록해도 된다. 이 경우, 지표(30)가 되는 직선의 폭(굵기)이 커지지만, 폭의 중앙을 지표(30)의 위치로 설정해도 된다. 또한, 지표(30)의 개수는 하나일 필요는 없고, 복수의 지표를 이용하여도 된다. 예를 들면, 최상류 노즐(6)과 최하류 노즐(7)로부터 잉크를 토출함으로써, 2개의 직선을 지표로서 기록해도 된다. 각 직선과 절단 단부(32) 간의 거리와, 지표의 기록에 이용된 노즐로부터 절단 유닛(14)의 절단 위치까지의 설계 상의 거리의 차분의 평균치를 구조적 오차로서 이용하는 것도 가능하다.
도 5의 (a)에서, 거리 P1은 기록 길이의 예를 나타내고 있다. 기록 길이 P1로 기록 매체 PM을 절단하기 위해서는, 기록 매체 PM의 선단이 원점(8)에 있는 위치, 즉 최상류 노즐(6)의 바로 아래로부터 거리 L1만큼 기록 매체 PM을 반송시킨다. L1=P1+C1이 된다. 즉, 기록 길이 P1에 거리 C1을 더해서 얻어지는 거리 L1만큼 기록 매체 PM을 반송하면, 기록 매체 PM의 절단 예정 위치와, 절단 위치(17)가 일치하게 된다.
도 5의 (b)는 구조적 오차에 의해 절단 위치의 어긋남이 생기는 예, 보다 구체적으로, 절단 유닛(14)의 부착 오차에 의해 절단 위치의 어긋남이 생기는 예를 나타내고 있다. 절단 유닛(14)의 절단 위치는, 설계 상의 절단 위치(17)(도 5의 (a))보다 하류 측에 오차 D1만큼 어긋난 위치(18)에 위치하게 된다. 도 5의 (a)에 도시된 경우와 마찬가지로, 원점(8)으로부터 반송량 L1만큼 기록 매체 PM을 반송하고, 절단했을 경우, 기록 길이는 P2가 된다. 즉, 기록 길이는 기록 길이 P1보다 오차 D1만큼 짧아진다.
도 5의 (b)에 도시된 예에서, 도 4의 (a) 및 (b)의 거리 T는 거리 T3에 상응한다. 거리 T는 본래는 거리 T2와 동일하게 되어야 하지만, 구조적 오차에 의해 T3이 된다.
오차 D1은 하기의 식으로 구해진다.
D1=T3-T2
이 값을 보정값으로 이용함으로써, 절단 위치의 어긋남을 보정할 수 있다. 보정 후의 절단 위치 C2는 논리적인 절단 위치인 C1에 D1을 더하여 얻어진 위치이므로, 하기 식이 성립한다.
C2=C1+D1=C1+T3-T2
제어를 위한 연산을 고려하면, 이전에 얻어진 보정값을 이용하는 경우, 그때에 사용한 절단 위치 C2' 및 그때의 보정값 D1'를 하기와 같이 규정해도 된다.
C2=C2'+D1=C1+D1'+D1
즉, 절단 위치 C1 대신에 절단 위치 C2'를 사용하고 있으므로 상기 등식이 성립한다. 보정값이 얻어지지 않을 때에 어떠한 보정값도 없이 C2'에서 동작이 행해지므로, C2'=C1+D1'가 성립한다.
도 5의 (c)는, 도 5의 (b)에 도시된 예에서 기록 매체 PM의 반송량을 보정하고, 적절한 절단 위치에서 기록 매체 PM을 절단하는 예를 나타내고 있다. 도 5의 (b)를 참조해서 설명한 바와 같이, 보정된 절단 위치 C2의 값을 산출할 수 있었다. 그 때문에, 기록 매체 PM의 선단이 최상류 노즐(6)의 바로 아래, 즉 원점(8)에 위치하는 위치로부터 L2만큼 기록 매체 PM을 반송함으로써, 올바른 기록 길이 P1만큼 기록 매체 PM을 절단하는 것이 가능하다. 즉, 기록 길이 P1에 보정된 절단 위치 C2를 더하여 얻어진 반송량만큼 기록 매체 PM을 반송함으로써, 올바른 절단 위치에 기록 매체 PM을 반송할 수 있다. L2=P1+C2가 된다. 또한, L2=P1+C1+D1이기 때문에, 도 5의 (a)에 도시된 경우와 비교하면, D1에 대응하는 여분의 양만큼 기록 매체 PM이 반송된다. 오차에 대응하는 여분만큼 기록 매체 PM을 반송함으로써, 절단 위치의 어긋남의 보정 시에 올바른 기록 길이만큼 기록 매체 PM을 절단하는 것이 가능해 진다.
도 5의 (d)는 기록 유닛(5)으로부터 착탄하는 위치가 어긋났을 경우를 나타낸다. 이것은 구조적 오차의 일례를 나타내고 있다. 기록 유닛(5)이 기울어져서 잉크가 상류에 착탄하는 경우는, 절단 유닛(14)의 부착 오차가 없는 경우에도 기록 화상에 대한 절단 위치가 어긋나게 된다. 기록 유닛(5)의 설치 위치가 도 5의 (d)의 우측으로 어긋나고, 착탄 위치가 상류 측에 어긋났을 경우도, 마찬가지가 적용된다.
이 경우에, 도 5의 (d)에 도시된 바와 같이 기록 유닛(5)이 기울었을 경우, 기록 매체 PM에 착탄하는 잉크의 폭은 노즐 어레이의 폭 N1보다 짧아져서 오차가 생긴다. 그 때문에, 최상류 노즐(6)로부터의 착탄 위치 및 최하류 노즐(7)로부터의 착탄 위치로부터 폭을 산출하여, 각 노즐의 위치를 산출하도록 하여도 된다. 그러나, 그 오차가 미소해서 무시할 수 있는 정도일 경우에는 이 동작은 행하지 않아도 된다. 본 실시 형태에서는, 이 오차를 무시할 수 있는 정도의 것으로 가정하여 설명을 행한다.
착탄 위치의 어긋남을 D1이라고 하면, 도 5의 (b) 및 (c)를 참조하여 설명한 경우와 마찬가지로, L2만큼 기록 매체 PM을 반송해서 절단함으로써 올바른 기록 길이 P1을 얻을 수 있다. 이 경우에, 경사를 고려하면 N2 또한 달라진다. 그 결과값을 N3이라고 했을 경우에는 오차 D1에 전술한 오차 D2를 더하기만 하면 된다.
즉, 하기의 식이 성립한다.
D1=T3-T2+N3-N2
이 경우에, N3을 산출하기 위해서는, 도 4의 (a) 및 (b)에 도시된 예에서, 지표(30) 외에, 최상류 노즐(6)을 이용해서 직선의 지표를 미리 기록해 놓고, 이 지표와 절단 단부(32) 간의 거리를 측량해서 이용해도 된다. 또한, 지표(30)를 기록하는 특정 노즐이 최상류 노즐(6)이면, N2=0, N3=0이 되어서 전술한 것과 동일한 등식을 이용할 수 있다. 또한, 미리 차분을 측정해서 이 길이를 기억하고 있어도 된다. 예를 들면, 최상류 노즐(6)과 최하류 노즐(7)의 위치를 미리 측정해 놓고, 각각의 노즐로부터 토출되는 잉크의 위치를 산출하도록 하여도 된다. 절단 위치가 하류 측으로 어긋난 경우를 예시하였지만, 상류 측으로 어긋난 절단 위치도 D1의 값의 부호를 마이너스로 변경하기만 하면 같은 방법에 의해 보정될 수 있다.
<처리예>
절단 위치의 어긋남에 대한 상기의 테스트 동작 및 보정값 설정에 관해서 제어 유닛(20)에 의해 행해지는 처리예를 도 6을 참조해서 설명한다. 아래에서는, 유저로부터의 지시에 응답하여 테스트 동작 및 보정값 설정을 실행하는 경우를 예시한다.
공정 S1에서 조작 패널(22)에서 실행 시작을 나타내는 키가 가압된 것을 검출하면, 절단 위치 보정 처리가 개시된다. 또한, 유저로부터의 지시의 접수는, 조작 패널(22) 이외에, PC 또는 휴대 단말기 등의 외부 단말기를 통해 메인터넌스 모드의 실행 시에 개시되도록 해도 된다. 또는, 예를 들면, 특수한 잡으로서 데이터를 접수할 때에, 본 동작을 다른 방식에 의해 시작해도 된다.
공정 S2에서는, 지표(30)의 기록과 매체의 절단이 가능한 미리 정해진 위치까지 기록 매체 PM을 반송 유닛(11)에 의해 반송한다. 통상적인 기록 동작에서는, 캐리지(12)를 이동시키면서 잉크를 기록 매체 PM에 토출하는 기록 동작과, 기록 매체 PM의 미리 정해진 양만큼의 반송을 되풀이하여 행함으로써, 용지 1매에 대응하는 화상 기록을 행한다. 화상 기록 완료 후에, 미리 정해진 양만큼의 기록 매체를 반송해서 절단한다. 테스트 동작에서는, 이러한 통상적인 기록 동작과 상이하게, 공정 S3에서 기록 매체 PM의 반송을 정지하고, 공정 S4의 처리가 완료할 때까지는 기록 매체 PM의 반송을 행하지 않는다.
공정 S4에서는, 절단 유닛(14)에 의해 기록 매체 PM을 절단하고, 지표(30)의 기록 매체 PM 상의 기록을 행한다. 도 5의 (a)를 참조해서 설명한 바와 같이, 절단 유닛(14)의 절단 위치(17)로부터 30㎜ 떨어진 위치에 257번째의 노즐에 의해 지표(30)의 기록을 행한다. 기록 매체 PM을 반송하지 않으므로, 캐리지(12)를 1회가 아니라 복수 회 주사해서 지표의 농도를 증가시키도 된다.
통상적인 기록 동작에서는, 화상의 기록의 완료 시에 기록 매체 PM을 다시 반송해서 절단하기 때문에, 기록과 절단을 동시에 행하기는 어렵다. 그러나, 테스트 동작에서는, 기록과 절단을 동시에 행해도 아무런 문제가 발생하지 않는다. 절단과 지표(30)의 기록을 동시에 행함으로써 스루풋을 향상시킬 수 있다.
본 실시 형태에서는 절단 유닛(14)이 캐리지(12)에 탑재되어 있는 구성을 예시하고 있지만, 절단 유닛(14)이 캐리지(12)에 탑재되지 않고 있는 구성도 이용가능하다. 즉, 지표(30)의 기록과 기록 매체 PM의 절단을, 기록 매체 PM의 반송을 수반하지 않고 행할 수 있다면, 임의의 방식으로 절단 유닛(14)을 배치할 수 있다.
공정 S5에서는 기록 매체 PM의 반송 정지를 해제하여 반송이 가능하게 한다. 공정 S6에서는 유저 보조 정보를 기록 매체 PM에 기록한다. 유저 보조 정보는 도 4의 (b)를 참조해서 설명한 바와 같다. 그 후에, 기록 매체 PM을 반송하여, 도 4의 (a)의 절단 위치(34)에 의해 예시한 위치에서 절단한다.
공정 S7에서는, 기록 매체 PM의 절단 단부(32)의 위치와 지표(30)의 위치에 관한 정보의 입력을 접수한다. 입력되는 정보는, 절단 단부(32)의 위치와 지표(30)의 위치 간의 거리에 관한 정보를 포함한다. 보다 구체적으로는, 유저가 자 등으로 실측한 거리 T를 직접 수치값으로서 입력한다. 예를 들면, 거리 T의 실측값이 31㎜이면, "31"을 입력한다. 혹은, 기록 유닛(5)과 절단 유닛(14)의 설계 상의 거리 T2와, 절단 단부(32)의 위치와 지표(30)의 위치 간의 거리의 차이에 관한 정보를 입력하는 것도 가능하다. 예를 들면, 유저가 실측한 거리 T와 거리 T2의 차분이 1㎜이면, "1"을 입력한다.
공정 S8에서는 보정값의 산출을 행한다. 전술한 공정 S7의 입력값이 31㎜이면, 이 값은 논리적인 값 30㎜보다 1㎜ 더 길기 때문에, 절단 위치가 하류 측으로 1㎜만큼 어긋나게 된다. 전술한 식, 즉, D1=T3-T2에 이들 값을 대입하면, D1=31-30=1㎜가 된다. 이 값, 1㎜가 절단 위치의 보정값이 된다. 이 값을 절단 위치 보정값으로서 메모리 유닛(26)에 보존한다. 오차 1㎜를 직접 유저가 입력한 경우에는 메모리 유닛(26)이 그 값을 1㎜를 직접 절단 위치 보정값으로서 보존한다.
공정 S9에서는, 절단 위치의 설정을 갱신한다. 원점(8)으로부터 절단 위치(17)까지의 설계 상의 거리 C1은, 도 5의 (b)에 도시된 예에서 설명한 대로, C2=C1+D1으로 갱신된다. 이 경우에, C2=35㎜+1㎜=36㎜가 된다. 갱신 후의 값은 메모리 유닛(26)에 보존한다. C2=36㎜라고 하는 것은, 원점(8)으로부터 절단 유닛(14)의 절단 위치까지의 거리가 36㎜인 것을 나타낸다. 이후의 반송 제어에서는, 갱신 후의 거리 C2를 사용한다. 이러한 동작에 의해, 통상적인 기록 동작에서의 기록 매체 PM의 절단 위치의 보정이 행하여지게 된다.
공정 S10에서는 하나의 단위에 대응하는 처리를 종료한다. 이상에 의해, 보정된 거리 C2의 값이 얻어지고, 반송 오차를 포함하지 않는 구조적 오차에 의한 절단 위치의 어긋남을 해소할 수 있다. 비록 상기한 보정 제어의 방식에서 C2의 값을 기억하도록 했지만, 보정값 D1을 기억해도 되고, 반송 제어 시에 C2의 값을 연산하도록 하여도 된다.
또한, 공정 S4에서 기록 매체 PM을 절단하는 위치는, 설계값인 C1에 근거해서 설정해도 되고, 또는, 현재의 거리 C2의 값에 근거해서 설정해도 된다. 유저 보조 정보로서, 도 4의 (b)에 도시한 바와 같이, 폭을 수치값으로 표시할 경우에는, C1 또는 C2를 기준으로 하여 설정된 값을 기록한다.
<제2 실시 형태>
제1 실시 형태에서는, 도 4의 (b)의 절단편의 거리 T를 실측하기 위해서 자 등의 계측기를 필요로 한다. 제2 실시 형태에서는, 절단 단부(32)에 대한 지표(30)의 위치를 실측하지 않아도, 그 위치 정보를 취득가능한 패턴(위치 취득 패턴이라고 부른다)을 기록 매체 PM에 기록하는 경우에 대해서 예시한다. 위치 취득 패턴의 기록 시에도 기록 매체 PM의 반송을 정지한다. 이에 의해, 거리 T의 계측에 관한 반송 오차를 제거할 수 있다.
도 7의 (a)는 위치 취득 패턴의 일례를 나타낸다. 제어 유닛(20)은 위치 취득 패턴의 패턴 기록 동작을 실행가능하다. 상술한 테스트 동작은, X 방향으로 위치 취득 패턴의 기록 영역 내에 절단 단부와 지표가 위치하는 위치에 반송 유닛(11)에 의해 기록 매체 PM을 반송한 후에 실행된다.
위치 취득 패턴을 기록하는 경우, 우선, 기록을 행할 위치에 기록 매체 PM을 반송한다. 그 후에, 반송 동작을 정지한다. 이 상태로, 캐리지(12)를 이동시키면서 기록 유닛(5)으로부터 잉크를 토출한다. 잉크를 토출하는 노즐은 캐리지(12)의 위치에 따라서 다른 것으로 바꾸어진다. 이러한 방식으로 위치 취득 패턴이 기록된다. 따라서, 위치 취득 패턴은 노즐 어레이의 폭 N1인 1인치(25㎜) 이하의 폭을 가진다. 또한, 이 위치 취득 패턴은 반송 오차는 포함하지 않는다.
위치 취득 패턴은 X 방향으로 캐리지(12)와 절단 유닛(14) 간의 거리보다 긴 영역에 형성된다. 본 실시 형태는, 최하류 노즐(7)로부터 절단 유닛(14)의 절단 위치(40)까지의 거리가 노즐 어레이의 폭 N1 이하일 경우를 상정하고 있다. 이에 의해, 위치 취득 패턴 내에서, 기록 매체 PM의 절단 및 지표의 기록을 행할 수 있게 된다.
본 실시 형태의 경우, 위치 취득 패턴은 X 방향에 대하여 경사진 방향으로 연장하는 계단 형상을 하고 있고, 각각 약 1㎜의 폭을 가지며, 약 1㎜의 단위로 배열되는, Y 방향으로 연장하는 직선군으로부터 구성된다. 예를 들면, 하류 측의 가장 아래의 좌측 위치의 직선(41)은 최하류 노즐(7)로부터 51개의 노즐을 사용해서 묘화된다. 최대 폭을 가지는 직선은 1280개의 노즐에 의해 분할하여 기록될 수 있다. 절단 위치 보정에 필요한 분해능이 0.1㎜이면, 각각 약 0.1㎜의 폭을 가지는 250개의 직선이 약 0.1㎜의 단위로 기록될 수도 있다. 0.1㎜ 폭의 직선을 기록하기 위해, 5개의 노즐을 사용해도 된다. "약 0.1㎜"의 단위는 다음과 같은 이유로 설정되었다. 각 노즐의 폭이 고정되어 있으므로, 그 폭에 따라서 소수점까지 미세하게 산출하는 것이 가능하다. 실제로는, 5개의 노즐을 사용하면 0.097㎜ 등의 값이 된다. 본 실시 형태에서는 설명을 간략하게 하기 위해서 1㎜ 단위로 설명을 행한다.
본 실시 형태의 경우, 위치 취득 패턴을 구성하는 직선 중에서, 절단 위치와 중첩하는 직선을 유저가 지정하는 방식을 채용한다. 따라서, 본 실시 형태에서는 각 직선을 특정하는 메커니즘이 필요하다. 본 실시 형태의 경우, 각 직선에 일련 번호(1 내지 25)를 할당하고, 직선의 상류 또는 하류 측에 기록된다. 이들 일련 번호는 기억 매체 PM의 반송을 정지한 상태로 기록된다. 이러한 이유로, 최상류 측에서는 직선보다 상류 측에서 일련 번호를 기록할 수 없다. 그 때문에, 20번째 내지 25번째의 직선의 하류 측에 일련 번호를 기록하고 있다.
위치 취득 패턴은 복수 회의 주사에 의해 각 직선의 농도를 짙게 해도 된다. 또한, 인접하는 직선의 색을 상이하게 해도 된다. 또한, 일련 번호의 기록에는 반송 오차가 포함되어도 된다. 따라서, 위치 취득 패턴의 기록 후에, 통상적인 기록 동작과 마찬가지로 기록 매체 PM의 반송을 수반하면서 일련 번호의 기록을 행해도 된다. 이 경우에는 모든 일련 번호를 대응하는 직선의 상류 측에 기록하는 것도 가능하다. 또한, 각 직선을 나타내는 기호는 일련 번호에 한정되지 않고, 각 직선을 구별할 수 있으면 다른 기호라도 된다.
도 7의 (b)는, 도 4의 (a)에 도시한 경우와 마찬가지로, 기록 매체 PM의 반송을 정지한 상태로, 지표(46)의 기록 및 기록 매체 PM의 절단을 행한 상태를 나타낸다. 도 4의 (a)에 도시한 상태와의 차이는, 위치 취득 패턴 기록 후에, 위치 취득 패턴 내에 절단 위치(40) 및 지표(46)의 위치가 놓이도록 기록 매체 PM의 반송을 행하고 있는 것이다.
본 실시 형태에서, 지표(46)는 최하류 노즐(7)에 의해 기록된다. 도 5의 (a)에 도시한 바와 같이, 구조적 오차가 없을 경우의 절단 유닛(14)의 절단 위치(17)와 최하류 노즐(7) 간의 거리의 설계값 T1은 10㎜이다. 도 7의 (b)의 경우에는, 지표(46)가 일련 번호 16에 대응하는 직선(44)과 중첩하고 있다. 구조적 오차가 없으면, 절단 위치(40)은 일련 번호 6에 대응하는 직선(43)과 중첩되어야 한다. 그러나, 절단 위치(40)은 일련 번호 5에 대응하는 직선(45)과 중첩한다. 따라서, 하류 측에 1㎜의 어긋남이 생기고 있다.
<처리예>
본 실시 형태에서의 절단 위치의 어긋남과 관련된 테스트 동작 및 보정값 설정에 관한 제어 유닛(20)에 의해 행해지는 처리예를 도 8을 참조해서 설명한다. 제1 실시 형태의 도 6에 도시된 예와의 주된 차이는, 도 6의 공정 S1과 S2의 사이에 공정 S20 내지 S24의 위치 취득 패턴의 기록 동작이 추가된다는 것이다.
공정 S21에서, 조작 패널(22)에서 실행 시작을 나타내는 키가 가압된 것을 검출하면, 절단 위치 보정 처리가 개시된다. 공정 S21에서는, 위치 취득 패턴을 기록하는 위치까지 기록 매체 PM을 반송 유닛(11)에 의해 반송한다. 기록 매체 PM의 위치는 도 7의 (a)에 도시된다.
공정 S22에서는 반송 유닛(11)의 반송 동작을 정지한다. 공정 S23에서는, 기록 매체 PM을 반송하지 않고, 캐리지(12)의 이동만으로 위치 취득 패턴을 기록 매체 PM에 기록한다. 도 7의 (a)는 위치 취득 패턴, 즉 계단형 패턴의 직선 및 각 직선에 대응한 일련 번호의 기록이 완료한 상태를 나타낸다. 기록 매체 PM을 반송하지 않으므로, 위치 취득 패턴에는 반송 오차는 포함되지 않게 된다.
공정 S24에서는 기록 매체 PM의 반송 정지를 해제하여, 반송을 가능하게 한다. 공정 S25에서는, 지표(46)의 기록과 기록 매체 PM의 절단을 행하기 위해서, 도 7의 (b)의 위치에 기록 매체 PM을 반송한다. 지표(46)가 대략 직선(44)의 위치에 위치하도록 반송량을 설정한다.
공정 S25 내지 S33의 처리는 도 6의 공정 S3 내지 S10의 처리와 마찬가지이다. 공정 S26에서는, 기록 매체의 반송을 정지하고, 공정 S27의 처리가 완료할 때까지는 기록 매체 PM의 반송 동작은 행하지 않는다. 공정 S27에서는, 절단 유닛(14)에 의한 기록 매체 PM의 절단과, 지표(46)의 기록을 행한다. 공정 S28에서는 기록 매체 PM의 반송 정지를 해제하여, 반송을 가능하게 한다. 공정 S29에서는 유저 보조 정보를 기록 매체 PM에 기록한다. 그 후, 기록 매체 PM을 반송하고, 절단한다.
공정 S30에서는, 기록 매체 PM의 절단 단부의 위치와 지표(46)의 위치에 관한 정보의 입력을 접수한다. 유저는 조작 패널을 이용하여 절단 위치(40) 및 지표(46)가 각각 중첩하는 위치 취득 패턴의 직선의 일련 번호를 입력한다. 도 7의 (b)의 경우에는, 절단 위치(40)와 중첩하는 직선의 일련 번호는 5이며, 지표(46)와 중첩하는 직선의 일련 번호는 16이다. 따라서 유저는 이들 수치를 입력한다.
공정 S31에서는 보정값을 산출한다. 공정 S30의 입력 결과로부터, 절단 단부로부터 지표(46)까지의 거리 T는 11㎜로 산출할 수 있다. 거리 T1은 10㎜이며, 본 실시예에서는 T1=T2이다. 따라서, 오차 D1은 D1=11-10=1㎜가 된다. 이 값 1㎜가 절단 위치의 보정값이 된다. 이 값을 절단 위치 보정값으로서 메모리 유닛(26)에 보존한다.
공정 S32에서는 절단 위치의 설정을 갱신한다. C2=C1+D1이 되므로, C2=35㎜+1㎜=36㎜가 된다. 갱신 후의 값인 36㎜를 메모리 유닛(26)에 보존하고, 처리를 종료한다(공정 S33).
전술한 바와 같이, 본 실시 형태에서는, 위치 취득 패턴을 기록함으로써 유저의 계측의 수고를 덜 수 있다. 위치 취득 패턴의 직선의 수가 증가하면 위치 취득 패턴이 기록 매체 PM의 폭(Y 방향의 폭)에 놓이지 않을 경우도 있다. 이와 같은 경우는, 설계 상의 절단 위치의 전후와, 설계 상의 지표 전후에만 위치 취득 패턴을 기록하도록 하여도 된다. 도 7의 (c)는 그러한 지표의 일례를 나타낸다.
여기에서는, 설계 상의 절단 위치인 좌측 하방으로부터 6번째의 직선의 전후의 3개의 직선과, 설계 상의 지표(46)의 기록 위치인 좌측 하방으로부터 16번째의 직선의 전후 3개의 직선에 의해 위치 취득 패턴이 구성된다. 위치 취득 패턴은 일렬로 기록되는 것이 아니라, 기록 매체 PM의 폭(Y 방향의 폭)의 중앙에 2열로 기록된다. 기록 매체 PM의 반송을 수반하지 않는 범위에서, 여러가지 형태의 위치 취득 패턴을 형성할 수 있다.
<제3 실시 형태>
제1 및 제2 실시 형태에서는, 기록 매체 PM의 절단 단부의 위치와 지표의 위치에 관한 정보를 유저가 입력한다. 그러나, 검출 유닛(13)을 이용하여 절단 단부 및 지표의 위치를 검출해도 된다. 도 9의 (a) 내지 (d)는 그 동작의 설명도이다.
도 9의 (a)는 지표(50)와 위치 취득 패턴(51)이 기록되고, 절단 위치(60)에서 기록 매체 PM이 절단된 상태를 나타낸다. 본 실시 형태의 경우, 유저가 위치 취득 패턴(51)을 식별할 필요가 없으므로, 유저의 가시성은 고려할 필요성이 없다. 따라서, 여기에서는 X 방향에 대하여 경사진 방향으로 연장하는 선형적인 패턴으로 기록된다. 지표(50)도 검출 유닛(13)에 의해 검출되기만 하면 되므로, 짧은 직선으로 기록된다. 여기에서는, 일례로서 최하류 노즐(7)로부터 상류에 1㎜의 굵기의 선을 길이 20㎜로 기록하고 있다. 이 선의 굵기를 1㎜로 하는 것은, 기록 매체 PM 상의 얼룩 등과 구별해서 오검출을 저감하는 것을 고려한 것이다. 지표(50)의 X 방향의 위치는 상류 측의 에지를 기준으로 해서 설정되고, 대응하는 노즐의 위치는 최하류 노즐(7)보다 1㎜ 상류에 위치하는 노즐에 대응한다.
위치 취득 패턴(51) 및 지표(50)의 기록, 절단 위치(60)에서의 기록 매체 PM의 절단의 방법은 제2 실시 형태와 마찬가지이다.
이하, 절단 단부(52)와 지표(50) 간의 거리의 검출 방법에 대해서 설명한다. 절단 유닛(14)이 절단 단부(52)를 검출한 후, 지표(50)가 검출될 때까지 기록 매체 PM을 반송하고, 그 반송량을 절단 단부(52)와 지표(50) 간의 거리로 간주하는 방법이 생각될 수 있다. 그러나, 이 방법으로는 반송 오차가 직접 포함된다.
일반적으로, 캐리지(12)에 관한 위치 검출 오차가 반송 오차에 비해서 변동이 작다. 예를 들면, 캐리지(12)에 부착된 센서(인코더)를 이용하여 기록 장치(1)의 본체에 마련한 스케일을 판독하는 방식의 경우에는, 위치 검출 오차가 반송 오차에 비해서 매우 작아진다. 따라서, 본 실시 형태에서는, 주로 캐리지(12)의 이동과 위치 취득 패턴(51)을 이용한다.
도 9의 (b)는 검출 유닛(13)에 의해 검출되는 지표(50)의 주변을 확대한 도면이다. 검출 유닛(13) 내의 발광 소자로부터 발광된 광이 기록 매체 PM에 맞닿는 부분을 센서 스폿(sensor spot)이라고 한다. 지표(50)의 기록과 절단 위치(60)에서의 절단이 완료한 후, 센서 스폿이 지표(50)의 상류 측에 위치하도록 기록 매체 PM을 하류로 반송한다. 또한, 센서 스폿이 지표(50)의 Y 방향 중앙에 오도록 캐리지(12)를 이동시킨다.
그 결과, 검출 유닛(13)의 판독 방향을 나타내는 화살표(53)의 시점의 위치에 센서 스폿이 오게 된다. 그 후, 기록 매체 PM을 상류 방향으로 반송하면서, 지표(50)의 X 방향의 위치의 검출을 행한다. 센서 스폿은 화살표(53)에 의해 도시한 바와 같이 기록 매체 PM 상을 이동하게 된다. 이때의 검출 유닛(13) 내의 수광 소자에 의해 수광된 광이 임계값 아래로 내려갔을 때의 반송량을 참조함으로써, 지표(50)의 X 방향 위치가 검출가능해 진다. 이것은, 지표(50)인 흑색 부분에 센서 스폿이 교차하면 반사광은 적어지기 때문이다.
지표(50)의 위치는, 이미 설명한 바와 같이, 상류 측의 에지를 기준으로 설정되고, 최하류 노즐(7)로부터 1㎜ 상류에 위치하는 위치인 51번째의 노즐 위치에 대응한다. 이하의 설명은, 지표(50)의 위치가 지표(50)의 상류 측의 에지의 위치에 대응하는 최하류 노즐(7)로부터 상류에 위치하는 51번째 노즐과 일치한다는 가정에 기초한다. 지표(50)의 위치를 검출하면, 지표(50)를 기록한 위치보다 1㎜ 하류의 위치에 센서 스폿이 오도록 기록 매체 PM을 하류 측에 전달한다. 이 상태에서, 센서 스폿이 파선(54)에 의해 나타낸 시점의 위치에 위치하게 된다.
계속해서, Y 방향으로 센서 스폿이 동작하도록 캐리지(12)를 이동시키고, 위치 취득 패턴(51)의 위치(패턴(51)과 파선(54)의 교점의 위치)를 검출한다. 전술한 바와 같이, 위치 검출은 수광 소자에 의해서 얻어진 수광 결과의 변화 시점의 캐리지(12)의 위치에 따라 변한다.
도 9의 (c)는 검출 유닛(13)에 의해 절단 단부(52)의 위치를 판독하는 부분을 확대한 도면이다. 절단 단부(52)의 위치는 어느 정도 예측이 가능하다. 도 9의 (c)에서 위치 취득 패턴(51) 부근의 선단을 판독하는 위치보다 다소 좌측에 위치하는 위치에 캐리지(12)를 미리 이동시킨다.
센서 스폿은 도 7의 (c)의 화살표(55)의 시점인 기록 매체 PM 상의 위치에 위치하는 상태로 된다. 그런 다음, 기록 매체 PM을 이 위치로부터 상류로 반송하고, 검출 유닛(13)에 의해 절단 단부(52)의 위치를 검출한다. 화살표(55)에 의해 나타낸 바와 같이, 센서 스폿의 위치는 기록 매체 PM 상을 이동하게 된다. 위치 검출은, 전술한 바와 같이, 수광 소자에 의해 얻어진 수광 결과의 변화 시점의 반송량에 따라 변한다.
절단 단부(52)의 위치를 검출하면, 그 위치보다 1㎜ 하류에 위치하는 위치에 센서(13)의 스폿이 오도록 기록 매체 PM을 하류 측에 전달한다. 이 상태로, 센서 스폿이 파선(56)의 시점에 위치한다. 계속해서 Y 방향으로 센서 스폿이 동작하도록 캐리지(12)를 이동시켜서 위치 취득 패턴(51)의 위치(패턴(51)과 파선(56)의 교점의 위치)를 검출한다. 위치 검출은, 전술한 바와 마찬가지로, 수광 소자에 의해 얻어진 수광 결과의 변화 시점의 캐리지(12)의 위치에 따라 변한다.
도 9의 (d)는 절단 단부(52)로부터 지표(50)까지의 거리를 구하는 방법을 나타내는 도면이다. 도 9의 (b) 및 (c)에 도시한 방식으로 검출한 위치로부터, 절단 단부(52)로부터 1㎜ 상류에 위치하는 위치 및 지표(50)로부터 1㎜ 상류에 위치하는 위치(즉, 최하류 노즐로부터 1㎜ 상류에 위치하는 헤드의 위치)까지의 Y 방향의 거리(57)를 구할 수 있다.
X 방향에 대한 위치 취득 패턴(51)의 각도를 45°라고 하면, Y 방향의 거리(57)와 X 방향의 거리(58)는 동일하다. 거리(58)는 거리(59)로부터 1㎜ 상류에 위치하며, 길이는 동일하다.
따라서, 거리(57)는 절단 단부(52)로부터 지표(50)까지의 거리(59)와 동일하다. 도 5의 (a)에 도시한 T1은 10㎜이며 T1의 1㎜ 상류에 위치하는 위치를 검출한다. 따라서, T2=11㎜이다. T2와 거리(57)의 차이가 오차 D1이고, 1㎜이다. 이 값은 절단 위치에 대한 보정값으로서 보존된다.
전술한 바와 같이, 본 실시 형태에서는, 위치 취득 패턴(51)을 이용하여, Y 방향의 거리를 X 방향의 거리로 변환하고 있다. 예를 들면, 캐리지(12)의 위치 검출을 행하는 인코더와, 반송 롤러(11a)의 회전량을 검출하는 인코더의 해상도가 다를 경우에는, 이 위치 취득 패턴(51)의 각도를 바꿈으로써 분해능을 용이하게 개선할 수 있다. 즉, 각도를 45°로 설정한 경우에는, 캐리지 방향의 대응하는 거리와, 반송 방향의 대응하는 거리의 비는 1:1로 되어, 즉, 거리가 서로 동일하게 되지만, 각도를 60°로 설정한 경우에는, 이 비는 1:2로 되어, 즉, 해상도가 2배가 될 수 있다.
본 실시 형태에서는, 도 9의 (b) 및 (c)에 도시한 바와 같이, Y 방향의 거리를 계측할 때에, 계측 대상의 위치로부터 1㎜ 상류에 센서 스폿을 이동시키고 있다. 이 1㎜의 반송에는 반송 오차가 포함될 수 있다. 단, 반송량은 양쪽 경우에 모두 같기 때문에, 변동 요인이 없으면 동일한 양의 오차가 발생하고, 오차가 있더라도 서로 상쇄된다. 변동 요인은, 기록 매체 PM의 종류, 무게 및 경년 열화도의 변화를 포함하는데, 이들은 일련의 동작으로 간주되므로, 큰 변화를 일으키는 요인은 포함하지 않는다. 또한, 일련의 짧은 시간에는 큰 환경의 변화가 드물다. 그 때문에, 대부분의 경우에는, 반송 오차가 발생하더라도, 오차의 양은 동일하다고 할 수 있다. 즉, 거리(59, 58)는 서로 동일하여야 한다. 반송 오차가 발생하더라도, 오차가 동일하면 동일하게 적용한다. 상이한 반송 오차가 발생하는 경우에도, 각각의 반송량을 1㎜로 설정하기 때문에, 반송 오차는 미소 급송 동작에 머물게 된다. 즉, 이 오차는 무시할 수 있다.
따라서, 절단 위치의 어긋남을 검증할 때에, 기록 매체의 반송량의 오차의 영향을 여전히 저감할 수 있다. 또한, 예를 들면, 센서 스폿 지름과 같이 검출 유닛(13)의 센서의 구성에 따라서는, 1㎜의 반송을 행하지 않고 위치 취득 패턴(51)의 검출이 가능하다. 이 경우, 반송 오차의 영향을 제거할 수 있다. 예를 들면, 검출 유닛(13) 내에 복수의 센서를 마련한다. 그 중의 1개의 센서가 절단 단부(52)를 검출하고, 절단 단부(52)로부터 상류 측에 위치한 다른 센서가 위치 취득 패턴(51)을 검출한다.
또한, 반송량을 1㎜보다 작은 값으로 설정함으로써 반송 오차의 영향을 적게 하는 것도 가능해진다. 상술한 바와 같이, 패턴(51)의 반송 방향의 검출 위치로부터 1㎜ 상류로 반송량이 설정되지만, 반송량은 다른 값을 가질 수도 있다.
<제4 실시 형태>
제2 및 제3 실시 형태에서 설명한 위치 취득 패턴은 기록 유닛(5)과 절단 유닛(14)의 X 방향의 거리보다도 긴 영역에서 기록할 필요가 있다. 기록 유닛(5)과 절단 유닛(14) 간의 거리가 노즐 어레이의 폭 N1을 초과할 경우, 기록 매체 PM을 반송할 필요가 있다. 즉, 위치 취득 패턴을 복수의 처리로 분할해서 기록하고, 각 처리 시에 기록 매체 PM을 반송할 필요가 있다. 이 경우에, 반송 오차가 문제가 된다. 따라서, 각 처리 시의 패턴의 기록 영역이 X 방향으로 서로 중첩되도록 기록 매체 PM을 반송하여, 반송 오차를 구별한다.
도 10의 (a) 내지 (c)는 본 실시 형태에서 위치 취득 패턴이 기록되는 방법을 각각 나타내는 도면이다. 여기에서는, 제2 실시 형태의 경우와 마찬가지로, 위치 취득 패턴이 계단 형상 패턴으로 형성되는 경우를 상정한다. 그러나, 제3 실시 형태의 경우와 같이, 위치 취득 패턴은 직선 형상이어도 된다. 또한, 패턴은 유저에 의해 측량되어도 되고, 검출 유닛(13)에 의해 자동 측량해도 된다.
도 10의 (a)는 위치 취득 패턴의 일부로서의 제1 패턴을 형성한 상태를 나타낸다. 제1 패턴은 일련 번호 1 내지 19가 할당된 직선으로 구성된다. 제1 패턴은 기록 매체 PM을 반송하지 않고, 캐리지(12)의 이동만으로 기록된다.
다음으로, 기록 매체 PM을 미리 정해진 양만큼 반송하여, 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이 위치 취득 패턴의 나머지 부분으로서 제2 패턴을 형성한다. 제2 패턴은 일련 번호에서 20 내지 34가 할당된 직선에 의해 구성된다. 일련 번호 20이 할당된 직선(61)만이 파선으로 나타나 있고, Y 방향으로 연장하고 있다. 제2 패턴도 기록 매체 PM을 반송하지 않고, 캐리지(12)의 이동만으로 기록된다.
도 10의 (b)에 도시한 바와 같이, 제2 패턴의 하류 측의 일부는, 제1 패턴의 상류 측의 일부와 X 방향으로 중첩되고 있다. 이러한 동작은, 제1 패턴 형성 후, 제2 패턴이 형성되는 위치에 기록 매체 PM이 반송되는 반송량을, 제1 패턴의 기록 영역과 제2 패턴의 기록 영역이 X 방향으로 중첩되도록 설정함으로써 실현된다.
이에 의해, 반송 오차를 구별할 수 있게 된다. 반송 오차가 없으면, X 방향에 있어서, 제2 패턴의 일련 번호 20이 할당된 직선(61)의 위치가, 제1 패턴의 일련 번호 16이 할당된 직선의 위치와 같다고 가정한다. 도 10의 (b)에 도시된 경우에서는, 직선(61)로 나타낸 바와 같이, 제2 패턴의 일련 번호 20이 할당된 직선의 위치는, 제1 패턴의 일련 번호 16이 할당된 직선이 아닌, 일련 번호 15가 할당된 직선의 위치와 일치한다. 즉, 한 스텝(1㎜)에 대응하는 반송 오차가 있다는 것이 알려진다. 유저가 이 오차에 관한 정보를 입력하면, 제어 유닛(20)은 반송 오차를 연산할 수 있다.
본 실시 형태에서, 가시성을 향상시키기 위해, 직선(61)만이 다른 직선으로 기록된다. 이상과 같이, 제2 패턴은 제1 패턴과는 적어도 형상 또는 색이 다른 부분을 포함해도 된다. 특히, X 방향으로 다른 패턴과 중첩되는 상이한 부분을 이용하여, 유리한 효과를 생성한다. 직선(61)에 의해 표시된 바와 같이, 직선을 연장시키거나, 실선에서 파선으로 변경하는 대신, 직선의 폭을 변경해도 된다. 또는, 직선을 적색 등으로 기록해도 된다.
도 10의 (c)는 지표(60)를 기록하고, 기록 매체 PM을 절단한 상태를 나타낸다. 위치 취득 패턴의 기록 완료 후에는, 도 10의 (c)에 도시한 바와 같이, 그 기록 영역 내에 절단 단부(62)와 지표(60)가 위치하도록 기록 매체 PM을 반송한다. 예를 들면, 지표(60)는 위치 취득 패턴의 직선의 수를 최소화하도록, 절단 위치와 노즐의 위치 간의 거리가 가장 좁아지는 최하류 노즐(7)에 의해 기록된다. 위치 취득 패턴의 직선의 수를 고려할 필요가 없으면, 어떤 위치의 노즐이라도 이용될 수 있다.
절단 위치는 일련 번호 5가 할당된 직선과 중첩하고, 지표(60)는 일련 번호 32가 할당된 직선과 중첩한다. 유저는 이들 2개의 위치에 관한 2개의 정보와, 반송 오차에 관한 정보를 포함하는 합계 3개의 정보를 조작 패널(22)을 이용해서 입력한다. 반송 오차에 관한 정보는 일련 번호 20이 할당된 직선(61)과 중첩하는 제1 패턴의 직선의 일련 번호(15)에 의해 지정된다. 따라서, 예를 들면, 유저는 (5, 32, 15) 등의 형태의 3개의 정보를 입력한다.
제어 유닛(20)은, 3개의 값을 취득하면, 절단 단부(62)로부터 지표(60)까지의 거리 T를 연산한다. 반송 오차가 없을 경우에는, 제1 패턴과 제2 패턴은 직선 4개만큼 중첩된다. 이러한 경우, 반송 오차는 직선 1개에 대응한다. 따라서, 거리 T=32-5-5=22㎜가 된다. 거리 T를 설계값과 비교함으로써 반송 오차를 포함하지 않는 구조적 오차만으로부터 얻어지는 보정값 D1을 얻을 수 있게 된다. 또한, 도 10의 (a) 내지 (c)를 참조하면, 위치 취득 패턴을 2개의 처리로 분할해서 기록하였다. 동일한 기술적인 개념에 근거하여, 위치 취득 패턴은 3 이상의 단계로 분할하여 기록해도 된다.
<처리예>
본 실시 형태에서 절단 위치의 어긋남과 관련된 테스트 동작 및 보정값 설정에 관하여 제어 유닛(20)에 의해 행해지는 처리예를 도 11을 참조해서 설명한다. 제2 실시 형태의 도 8에 도시된 예와의 주된 차이는, 도 8의 공정 S22 내지 S24의 위치 취득 패턴의 기록에 있다. 본 실시 형태에서는 하나의 기록 동작에 의해서는 위치 취득 패턴 내에 절단 위치와 지표의 위치가 들어가지 않으므로, 패턴의 일부를 서로 중첩시키면서 기록을 복수 회 행한다. 그 때문에, 공정 S22로부터 공정 S24까지의 처리 대신에 공정 S42로부터 공정 S46까지의 처리를 행한다.
공정 S40에서, 조작 패널(22)에서 실행 시작을 나타내는 키가 가압된 것을 검출하면, 절단 위치 보정 처리가 개시된다. 공정 S41에서는, 위치 취득 패턴의 제1 패턴이 기록되는 위치까지 기록 매체 PM을 반송 유닛(11)에 의해 반송한다. 도 10의 (a)는 기록 매체 PM의 위치를 나타낸다. 공정 S42에서는 반송 유닛(11)의 반송 동작을 정지한다. 공정 S43에서는, 제1 패턴을 기록 매체 PM을 반송하지 않고, 캐리지(12)의 이동만으로 기록한다. 도 10의 (a)는 제1 패턴, 즉 계단형 패턴의 내의 직선 및 그 각각의 직선에 대응하는 일련 번호의 기록이 완료된 상태를 나타낸다. 기록 매체 PM을 반송하지 않으므로, 위치 취득 패턴에는 반송 오차가 포함되지 않게 된다.
공정 S44에서는 기록 매체 PM의 반송 정지를 해제하여, 반송을 가능하게 한다. 공정 S45에서는 위치 취득 패턴을 구성한 모든 패턴이 기록되었는지 여부를 판정한다. 공정 S45에서 '예'인 경우에는, 처리는 공정 S47로 진행된다. 공정 S45에서 '아니오'인 경우에는, 처리는 공정 S46으로 진행된다.
공정 S46에서는 다음 패턴을 기록하는 위치까지 기록 매체 PM을 반송 유닛(11)에 의해 반송한다. 도 10의 (b)는 제1 패턴의 기록 직후에 제2 패턴이 기록될 기록 매체 PM의 위치를 나타낸다.
위치 취득 패턴의 기록이 모두 완료하면, 공정 S47에서 지표(60)의 기록과 기록 매체 PM의 절단을 행하기 위해서, 도 10의 (c)의 위치에 기록 매체 PM을 반송한다. 이후의 처리는 도 8에서의 공정 S26 이후의 처리와 마찬가지이므로, 그 처리의 설명은 생략한다.
(기타의 실시 형태)
본 발명의 실시 형태는, 하나 이상의 상기 실시 형태의 기능을 수행하기 위하여 기억 매체(보다 완전하게는 '비일시적 컴퓨터 판독가능 기억 매체'라고도 함)에 기록된 컴퓨터 실행가능 명령어(예를 들면, 하나 이상의 프로그램)를 판독하여 실행하고/실행하거나, 하나 이상의 상기 실시 형태의 기능을 수행하기 위한 하나 이상의 회로(예를 들면, ASIC(application specific integrated circuit))를 포함하는 시스템 또는 장치의 컴퓨터에 의해서, 그리고, 예를 들면, 하나 이상의 상기 실시 형태의 기능을 수행하기 위하여 기억 매체로부터 컴퓨터 실행가능 명령어를 판독하여 실행하고/실행하거나, 하나 이상의 상기 실시 형태의 기능을 수행하기 위하여 하나 이상의 회로를 제어함으로써 시스템 또는 장치의 컴퓨터에 의해 수행되는 방법에 의해서도 구현될 수 있다. 상기 컴퓨터는 하나 이상의 프로세서(예를 들면, CPU(central processing unit), MPU(micro processing unit)를 포함할 수 있을 것이며, 컴퓨터 실행가능 명령어를 판독하여 실행하기 위한 개별 컴퓨터 또는 개별 프로세서의 네트워크를 포함할 수도 있을 것이다. 컴퓨터 실행가능 명령어는, 예를 들면 네트워크 또는 기억 매체로부터 컴퓨터에 제공될 수도 있을 것이다. 기억 매체는, 예를 들면 하나 이상의 하드 디스크, RAM(random-access memory), ROM(read only memory), 분산 컴퓨팅 시스템의 저장소, 광 디스크(예를 들면, CD(compact disk), DVD(digital versatile disc) 또는 BDTM(Blue-ray Disc)), 플래시 메모리 디바이스, 메모리 카드 등을 포함할 수도 있을 것이다.
(기타의 실시예)
본 발명은, 상기의 실시형태의 1개 이상의 기능을 실현하는 프로그램을, 네트워크 또는 기억 매체를 개입하여 시스템 혹은 장치에 공급하고, 그 시스템 혹은 장치의 컴퓨터에 있어서 1개 이상의 프로세서가 프로그램을 읽어 실행하는 처리에서도 실현가능하다.
또한, 1개 이상의 기능을 실현하는 회로(예를 들어, ASIC)에 의해서도 실행가능하다.
본 발명이 예시적인 실시 형태를 참조하여 설명되었지만, 본 발명이 개시된 예시적인 실시 형태에 한정되지 않음을 이해하여야 할 것이다. 아래의 특허청구범위의 범위는 모든 변경과, 등가 구조 및 기능을 포함하도록 가장 넓은 해석과 일치하여야 할 것이다.

Claims (17)

  1. 기록 매체(printing medium)를 반송하도록 구성된 반송 유닛과,
    상기 기록 매체에 화상을 기록하도록 구성된 기록 유닛과,
    상기 기록 매체를, 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 절단하도록 구성된 절단 유닛과,
    상기 반송 유닛, 상기 기록 유닛 및 상기 절단 유닛을 제어하도록 구성된 제어 유닛을 포함하고,
    상기 제어 유닛은 테스트 동작을 실행하도록 구성되고,
    상기 테스트 동작은, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 상기 기록 유닛을 이용한 지표의 기록 및 상기 절단 유닛을 이용한 상기 기록 매체의 절단을 포함하는 기록 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제어 유닛은, 상기 반송 유닛을 이용하여 상기 기록 매체를 반송하고, 상기 기록 유닛을 이용하여 상기 기록 매체에 화상을 기록하고, 상기 절단 유닛을 이용하여 상기 기록 매체를 절단하는 것을 포함하는 기록 동작을 실행하도록 구성되고,
    상기 기록 동작에서의 상기 기록 매체의 절단 위치가, 상기 테스트 동작에서의 상기 기록 매체의 절단 단부의 위치 및 상기 지표의 위치에 관한 정보에 기초하여 보정되는 기록 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제어 유닛은 유저에 의한 상기 정보의 입력을 접수하는 기록 장치.
  4. 제2항에 있어서, 상기 절단 단부의 위치 및 상기 지표의 위치를 검출하도록 구성된 검출 유닛을 더 포함하고,
    상기 제어 유닛은, 상기 정보로서 상기 검출 유닛에 의해 얻어진 검출 결과에 기초하여, 상기 기록 동작에서의 상기 기록 매체의 절단 위치를 보정하는 기록 장치.
  5. 제2항에 있어서, 상기 정보는, 상기 절단 단부의 위치와 상기 지표의 위치 간의 거리에 관한 정보, 및, 상기 기록 유닛과 상기 절단 유닛 간의 설계 상의 거리와, 상기 절단 단부의 위치와 상기 지표의 위치 간의 거리의 차이에 관한 정보 중 하나를 포함하는 기록 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 지표는 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 연장하는 직선을 포함하는 기록 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제어 유닛은, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 상기 기록 유닛을 이용하여 상기 기록 매체에 패턴을 기록하는 패턴 기록 동작을 실행하도록 구성되고,
    상기 패턴은, 상기 기록 매체의 반송 방향으로 상기 기록 유닛과 상기 절단 유닛 간의 거리보다 긴 영역에 형성되고,
    상기 테스트 동작은, 상기 기록 매체의 반송 방향으로 상기 패턴의 기록 영역 내에 상기 절단 단부 및 상기 지표가 위치하도록, 상기 반송 유닛이 상기 기록 매체를 반송한 후에 실행되는 기록 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제어 유닛은, 상기 기록 유닛을 이용하여 상기 기록 매체에 패턴을 기록하는 패턴 기록 동작을 실행하도록 구성되고,
    상기 패턴은, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로 기록되는 제1 패턴과, 상기 제1 패턴의 형성 후, 상기 기록 매체가 미리 정해진 양만큼 반송되어서 정지한 상태로 기록되는 제2 패턴을 포함하고,
    상기 미리 정해진 양은, 상기 기록 매체의 반송 방향으로 상기 제1 패턴의 기록 영역과 상기 제2 패턴의 기록 영역이 중첩하도록 설정되고,
    상기 패턴은, 상기 기록 매체의 반송 방향으로 상기 기록 유닛과 상기 절단 유닛 간의 거리보다 긴 영역에 형성되고,
    상기 테스트 동작은, 상기 기록 매체의 반송 방향으로 상기 패턴의 기록 영역 내에 상기 절단 단부 및 상기 지표가 위치하도록, 상기 반송 유닛이 상기 기록 매체를 반송한 후에 실행되는 기록 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제2 패턴은 상기 제1 패턴과는 형상 또는 색 중 하나 이상이 상이한 부분을 포함하는 기록 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 테스트 동작에서, 상기 지표의 기록 또는 상기 기록 매체의 절단 중 하나가 먼저 행해지는 기록 장치.
  11. 제1항에 있어서, 상기 테스트 동작에서, 상기 지표의 기록 및 상기 기록 매체의 절단이 동시에 행해지는 기록 장치.
  12. 제7항에 있어서, 상기 기록 유닛이 탑재되고, 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 이동하도록 구성된 캐리지를 더 포함하고,
    상기 기록 유닛은 상기 기록 매체의 반송 방향으로 배열된 복수의 노즐을 포함하고,
    상기 패턴은 상기 캐리지의 위치에 따라 잉크를 토출하는 상기 노즐을 바꿈으로써 기록되는 기록 장치.
  13. 제8항에 있어서, 상기 기록 유닛이 탑재되고, 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 이동하도록 구성된 캐리지를 더 포함하고,
    상기 기록 유닛은 상기 기록 매체의 반송 방향으로 배열된 복수의 노즐을 포함하고,
    상기 패턴은 상기 캐리지의 위치에 따라 잉크를 토출하는 상기 노즐을 바꿈으로써 기록되는 기록 장치.
  14. 제12항에 있어서, 상기 패턴은 상기 기록 매체의 반송 방향에 대하여 경사진 방향으로 연장하는 직선 형상 패턴 또는 계단 형상 패턴 중 하나를 가지는 기록 장치.
  15. 제13항에 있어서, 상기 패턴은 상기 기록 매체의 반송 방향에 대하여 경사진 방향으로 연장하는 직선 형상 패턴 또는 계단 형상 패턴 중 하나를 가지는 기록 장치.
  16. 기록 매체를 반송하도록 구성된 반송 유닛과, 상기 기록 매체에 화상을 기록하도록 구성된 기록 유닛과, 상기 기록 매체를 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 절단하도록 구성된 절단 유닛을 포함하는 기록 장치의 제어 방법이며,
    상기 반송 유닛을 이용하여 상기 기록 매체를 반송하는 단계와,
    상기 기록 매체를 반송하는 단계 후에, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 상기 기록 유닛을 이용한 지표의 기록 및 상기 절단 유닛을 이용한 상기 기록 매체의 절단을 행하는 단계를 포함하는, 제어 방법.
  17. 기억 매체에 기억된 프로그램이며,
    기록 매체를 반송하도록 구성된 반송 유닛과, 상기 기록 매체에 화상을 기록하도록 구성된 기록 유닛과, 상기 기록 매체를 상기 기록 매체의 반송 방향과 직교하는 방향으로 절단하도록 구성된 절단 유닛을 포함하는 기록 장치가,
    상기 반송 유닛을 이용하여 상기 기록 매체를 반송하는 단계와,
    상기 기록 매체를 반송하는 단계 후에, 상기 반송 유닛에 의한 상기 기록 매체의 반송이 정지된 상태로, 상기 기록 유닛을 이용한 지표의 기록 및 상기 절단 유닛을 이용한 상기 기록 매체의 절단을 행하는 단계를 행하게 하는, 기억 매체에 기억된 프로그램.
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