KR20100043509A - 발광소자 테스트 핸들러 - Google Patents

Abstract

본 발명은 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자가 안착되는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송하는 픽커 및 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부; 상기 테스트유닛이 테스트될 발광소자를 테스트할 수 있는 위치에 상기 소켓이 위치되도록 상기 지지부재를 이동시키는 제1구동유닛; 상기 픽커가 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송할 수 있도록 상기 본체를 이동시키는 제2구동유닛; 및 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛에 의해 테스트될 수 있는 상태로 상기 소켓에 안착되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정하는 보정부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,

본 발명에 따르면 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄여 짧은 시간에 더 많은 발광소자들을 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.

발광소자, 테스트 핸들러, 테스터

Description

발광소자 테스트 핸들러{Luminous element Test Handler}

본 발명은 발광소자를 테스트하고, 테스트 결과 분석에 따라 정하여진 등급별로 발광소자를 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.

발광 다이오드(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(semiconductor laser) 등 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자(이하, '발광 소자'라 함)들은, 전자제품의 부하·운전 등의 상황을 나타내는 표시등, 숫자·문자표시기, 카메라의 자동초점용 광원, 광통신용 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.

이러한 발광소자는 여러 가지 테스트 과정을 거쳐 제조되는데, 상기 테스트 과정 중에서 사용되는 장비 중 하나가 발광소자 테스트 핸들러이다.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도이다.

도 1을 참조하면, 발광소자 테스트 핸들러(10)는 공급부(11), 이송부(12), 테스트부(13), 및 소팅부(14)를 포함한다.

상기 공급부(11)는 상기 이송부(12)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자들을 공급한다. 상기 공급부(11)에는 테스트될 발광소자들이 복수개 저장되어 있다.

상기 이송부(12)는 테스트될 발광소자들을 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(13)로 이송한다.

상기 테스트부(13)는 테스트될 발광소자를 수납하는 복수개의 소켓(131)과 상기 소켓(131)에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(132)을 포함한다.

상기 테스트유닛(132)은 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트유닛(132)은 별도의 테스터(T)에 연결되어, 발광소자에 대한 테스트 결과 정보를 상기 테스터(T)에 송신한다. 상기 테스터(T)는 상기 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(14)로 송신한다.

상기 소팅부(14)는 상기 테스터(T)로부터 등급 정보를 수신하고, 상기 등급 정보에 따라 발광소자를 등급별로 분류한다.

상술한 바와 같은 발광소자 테스트 핸들러를 이용함으로써, 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 된다.

상기 발광소자 테스트 핸들러를 이용한 테스트 과정에서 발광소자에 대한 테스트가 제대로 이루어지지 않는다면, 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 갖춘 성능과 다른 등급으로 분류될 수 있다.

이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키 는 결과를 초래할 수 있다.

따라서, 향상된 테스트 신뢰도를 구현할 수 있으면서도, 발광소자에 대한 제조단가를 더 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러의 개발이 필요하다.

본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자가 안착되는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 안착되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부; 상기 소켓에 안착되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송하는 픽커 및 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부; 상기 테스트유닛이 테스트될 발광소자를 테스트할 수 있는 위치에 상기 소켓이 위치되도록 상기 지지부재를 이동시키는 제1구동유닛; 상기 픽커가 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송할 수 있도록 상기 본체를 이동시키는 제2구동유닛; 및 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛에 의해 테스트될 수 있는 상태로 상기 소켓에 안착되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정 하는 보정부를 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.

본 발명은 테스트될 발광소자를 테스트될 수 있는 상태로 보정함으로써, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄여 짧은 시간에 더 많은 발광소자들을 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 효과를 도모할 수 있다.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도, 도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 이송부, 및 테스트부를 나타낸 사시도, 도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 보정부를 나타낸 사시도, 도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 보정부 및 감지유닛을 나타낸 사시도, 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도, 도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도, 도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도이다.

도 2 내지 도 6을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 공급부(2), 이송부(3), 보정부(4), 감지유닛(5), 테스트부(6), 소팅부(7), 제1구동 유닛(8), 및 제2구동유닛(9)을 포함한다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 공급부(2)는 상기 이송부(3)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자들을 공급한다. 상기 공급부(2)는 저장부(21), 운반부(22), 및 안착부(23)를 포함한다.

상기 저장부(21)에는 테스트될 발광소자가 복수개 저장될 수 있다. 상기 저장부(21)는 진동을 이용하여 이에 저장되어 있는 테스트될 발광소자들을 상기 운반부(22)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장부(21)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반부(22)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.

상기 운반부(22)는 상기 저장부(21)로부터 공급되는 테스트될 발광소자들을 상기 안착부(23)로 이송한다. 상기 운반부(22)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 운반부(22)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.

상기 안착부(23)에는 상기 운반부(22)로부터 이송되는 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착부(23)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈을 포함할 수 있다. 상기 안착부(23)는 상기 이송부(3)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 공급부(2)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착부(23)에 설치되어 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반부(22)는 상기 안착부(23)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반부(23)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자가 손상되거나 상기 이송부(3)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 이송부(3)는 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 이송부(3)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.

상기 이송부(3)는 상기 안착부(23)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(6)로 이송한다. 상기 이송부(3)는 픽커(31) 및 본체(32)를 포함할 수 있다.

상기 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 테스트부(6)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있다. 상기 픽커(31)는 발광소자에 직접 접촉되어서 발광소자를 흡착할 수 있다.

상기 픽커(31)는 상기 안착부(23) 및 상기 테스트부(6)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽커(31)들 중 어느 하나가 상기 안착부(23)에 위치되고, 상기 픽커(31)들 중 적어도 하나가 상기 테스트부(6)에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개의 픽커(31)가 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 안착부(23)에 위치한 상기 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 테스트부(6)에 위치한 상기 픽커(31)는 상기 테스트부(6)에 발광소자를 안착시킬 수 있다.

상기 본체(32)는, 상기 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송할 수 있도록, 상기 제2구동유닛(9)에 의해 이동될 수 있다. 상기 본체(32)는 상기 공급부(2) 및 상기 테스트부(6) 사이에 설치될 수 있다.

상기 본체(32)는 상기 제2구동유닛(9)에 의해 승하강될 수 있고, 상기 제2구동유닛(9)에 의해 회전축(32a)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 본체(32)에는 상기 픽커(31)가 복수개 설치될 수 있다. 따라서, 상기 픽커(31)들은 상기 본체(32)가 승하강됨에 따라 함께 승하강될 수 있고, 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 함께 회전될 수 있다.

상기 본체(32)에는 복수개의 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 상기 제2구동유닛(9)은 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 이격된 각도와 동일한 각도로 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다.

이에 따라, 상기 본체(32)가 회전축(32a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 픽커(31)들 중 어느 하나는 상기 안착부(23)에 위치되고, 상기 픽커(31)들 중 적어도 하나는 상기 테스트부(6)에 위치될 수 있다.

도 2 내지 도 5를 참고하면, 상기 보정부(4)는 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(6)에 안착되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정한다.

테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 극성에 맞게 접속되어야만 테스트가 이루어질 수 있는 경우, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하려면 테스트될 발광소자가 공급되는 시간이 증가하게 된다.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하는지 여부에 관계없이, 상기 보정부(4)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 보정할 수 있으므로, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄일 수 있다.

극성에 관계없이, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 픽커(31)에 흡착되어 있지 않은 경우에도, 상기 보정부(4)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 예컨대, 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)의 정위치에 흡착되지 못한 경우 또는 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 등에, 상기 보정부(4)는 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(6)에 정확하게 안착될 수 있으므로, 발광소자에 대한 테스트 신 뢰도를 향상시킬 수 있다.

상기 보정부(4)는 상기 공급부(2) 및 상기 테스트부(6) 사이에 설치된다. 상기 보정부(4)는 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 상기 공급부(2), 상기 보정부(4) 및 상기 테스트부(6)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 공급부(2)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하고 상기 테스트부(6)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 안착시키는 동안, 상기 보정부(4)는 그 위에 위치한 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 보정하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.

상기 보정부(4)는 안착유닛(41) 및 보정유닛(42)을 포함할 수 있다.

상기 안착유닛(41)에는 테스트될 발광소자가 수납된다. 상기 안착유닛(41)은 안착부재(411), 접촉부재(412) 및 이동유닛을 포함할 수 있다.

상기 안착부재(411)에는 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 보정부(4)는 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 상기 안착부재(411)가 위치되도록 설치될 수 있다.

상기 접촉부재(412)는 상기 안착부재(411)에 안착되어 있는 테스트될 발광소 자에 접촉된다. 상기 안착유닛(41)은 복수개의 접촉부재(412)를 포함할 수 있다.

상기 접촉부재(412)들은, 도 4에 도시된 바와 같이 테스트될 발광소자에 접촉되는 제1위치, 및 도 5에 도시된 바와 같이 테스트될 발광소자에 접촉되지 않는 제2위치 간에 이동될 수 있다.

상기 접촉부재(412)들은, 상기 픽커(31)가 상기 안착부재(411)에 테스트될 발광소자를 안착시키기 전에, 도 5에 도시된 바와 같이 상기 제2위치로 이동될 수 있다. 따라서, 상기 픽커(31)가 상기 안착부재(411)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 때, 상기 접촉부재(412)들이 방해되지 않도록 한다.

상기 접촉부재(412)들은, 상기 픽커(31)가 상기 안착부재(411)에 테스트될 발광소자를 안착시키면, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 제1위치로 이동될 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트될 발광소자는 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 상기 접촉부재(412)들에 의해 상기 픽커(31)의 정위치로 이동된다. 따라서, 테스트될 발광소자는 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 보정될 수 있다.

상기 접촉부재(412)들은 상기 이동유닛에 의해 각각의 회전축을 중심으로 회전되어서 상기 제1위치 및 상기 제2위치 간에 이동될 수 있다.

상기 접촉부재(412)는 그 회전축에서 돌출되는 돌출부재(미도시)를 포함하는 'ㄴ'형태로 형성될 수 있다. 상기 접촉부재(412)들은 각각의 돌출부재들이 서로 마주보도록 설치될 수 있다. 즉, 상기 접촉부재(412)들은 상기 돌출부재가 상기 안착부재(411)를 향하도록 설치될 수 있다.

상기 이동유닛은 상기 접촉부재(412)들을 상기 제1위치 및 상기 제2위치 간 에 이동시킬 수 있다.

상기 이동유닛은 상기 돌출부재들을 밀어서 상기 접촉부재(412)들을 각각의 회전축을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 접촉부재(412)들을 제2위치로 이동시킬 수 있다.

상기 이동유닛은 상기 접촉부재(412)들에 탄성력을 가하는 탄성부재(413)를 더 포함할 수 있다. 상기 탄성부재(413)는 상기 접촉부재(412)들에 각각 연결되고, 상기 접촉부재(412)들이 제1위치에 위치되도록 상기 접촉부재(412)들을 탄성적으로 밀 수 있다.

이에 따라, 상기 돌출부재를 밀던 힘이 제거되면, 상기 접촉부재(412)들은 상기 탄성부재에 의해 제1위치로 이동되면서 테스트될 발광소자를 탄성적으로 밀어서 이동시킬 수 있다. 따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 보정하는 과정에서 테스트될 발광소자에 과다한 힘이 가하여져, 테스트될 발광소자가 손상되는 것을 방지할 수 있다.

도 2 내지 도 6을 참고하면, 상기 보정유닛(42)은 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 상기 안착유닛(41)을 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 안착유닛(41)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자가 회전된다.

따라서, 상기 보정유닛(42)은 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 극성에 맞게 접속될 수 있도록 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 또한, 상기 보정유닛(42)은 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발 광소자의 상태를 보정할 수 있다.

상기 보정유닛(42)은 모터(미도시), 모터에 의해 회전되는 구동풀리(421), 상기 안착유닛(41)에 결합된 종동풀리(422), 및 상기 구동풀리(421)와 상기 종동풀리(422)를 연결하는 벨트(423)를 포함할 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리(421)를 회전시키면, 상기 벨트(423)가 이동되어 상기 종동풀리(422)를 회전시킴으로써, 상기 안착유닛(41)을 회전시킬 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 보정유닛(42)은 상기 픽커(31)를 회전시킴으로써 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 상기 보정유닛(42)은 상기 픽커(31)를 파지할 수 있는 파지부재, 상기 파지부재를 회전시키는 회전수단을 포함할 수 있다.

상기 감지유닛(5)은 상기 공급부(2) 및 상기 보정부(4) 사이에 설치되고, 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지한다. 상기 보정부(4)는 상기 감지유닛(5)이 획득한 정보를 이용하여 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 상기 감지유닛(5)은 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 촬영하는 비전카메라를 포함할 수 있다.

상기 감지유닛(5)은 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 각각 상기 공급부(2), 상기 감지유닛(5), 상기 보정부(4) 및 상기 테스트부(6)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 공급부(2)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착 하고 상기 테스트부(6)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 안착시키며, 상기 보정부(4)에 위치된 픽커(31)가 상기 보정부(4)에 테스트될 발광소자를 안착시켜 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 하는 동안, 상기 감지유닛(5)은 그 위에 위치한 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 감지하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.

여기서, 상기 이송부(3)는 상기 공급부(2), 상기 감지유닛(5), 상기 보정부(4) 및 상기 테스트부(6)에 동시에 위치되는 픽커(31)들 외에 더 많은 개수의 픽커(31)를 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 픽커(31)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 테스트될 발광소자들이 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송되도록 할 수 있다.

도 2 내지 도 8을 참고하면, 상기 테스트부(6)는 소켓(61), 지지부재(62), 테스트유닛(63)을 포함한다.

상기 소켓(61)에는 발광소자가 안착된다. 상기 소켓(61)에 안착되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(61)에 흡착될 수 있다.

상기 소켓(61)은 상기 지지부재(62)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 소켓(61)들은 각각 상기 이송부(3), 상기 테스트유닛(63), 및 상기 소팅부(7)에 동시 에 위치되도록 상기 지지부재(62)에 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 이송부(3)에 위치된 소켓(61)에는 상기 픽커(31)에 의해 테스트될 발광소자가 안착되고, 상기 테스트유닛(63)에 위치된 소켓(61)에 안착된 테스트될 발광소자는 상기 테스트유닛(63)에 의해 테스트되고, 상기 소팅부(7)에 위치된 소켓(61)에 안착된 테스트될 발광소자는 상기 소켓(61)에서 상기 소팅부(7)로 이송될 수 있다.

상기 지지부재(62)는 상기 테스트유닛(63)이 테스트될 발광소자를 테스트할 수 있는 위치에 상기 소켓(61)이 위치되도록, 상기 제1구동유닛(8)에 의해 이동될 수 있다.

상기 지지부재(62)는 상기 제1구동유닛(8)에 의해 회전축(62a)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 지지부재(62)에는 복수개의 상기 소켓(61)들이 회전축(62a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 지지부재(62)가 회전축(62a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(61)들은 각각 상기 이송부(3), 상기 테스트유닛(63), 및 상기 소팅부(7)에 동시에 위치될 수 있다.

상기 지지부재(62)에는 상기 이송부(3), 상기 테스트유닛(63), 및 상기 소팅부(7)에 동시에 위치되는 소켓(61)들 외에 더 많은 개수의 소켓(61)이 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1구동유닛(8)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(61)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되고 등급 별로 분류되도록 할 수 있다.

상기 테스트유닛(63)은 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트부(6)는 복수개의 테스트유닛(63)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(63)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(7)로 송신할 수 있다.

상기 테스트유닛(63)은 접속유닛(631) 및 측정유닛(632)을 포함한다.

상기 접속유닛(631)은 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트될 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(631)은 테스트될 발광소자에 접속되어, 테스트될 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(631)은 테스트될 발광소자를 발광시킬 수 있고, 이에 따라 상기 측정유닛(632)이 테스트될 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있도록 한다.

상기 접속유닛(631)은, 도 8에 도시된 바와 같이, 제1접속유닛(631a) 및 제2접속유닛(631b)을 포함할 수 있다. 상기 제1접속유닛(631a) 및 제2접속유닛(631b)은 서로 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있고, 서로 가까워지게 이동되면 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트될 발광소자에 접속될 수 있다.

상기 측정유닛(632)은 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트될 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(632)이 광특성 정보를 상기 테스터로 송신하면, 상기 테스터는 광특성을 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여할 수 있다.

도 2 내지 도 9를 참고하면, 상기 소팅부(7)는 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다.

상기 소팅부(7)는 상기 테스터로부터 테스트된 발광소자가 가지는 등급에 관한 정보를 수신하여, 이에 맞게 테스트된 발광소자를 분류할 수 있다.

상기 소팅부(7)는 수납유닛(71), 분류유닛(72), 및 이송유닛(73)을 포함할 수 있다.

상기 수납유닛(71)은 테스트된 발광소자들을 등급별로 수납한다. 상기 수납유닛(71)은 수납부재(711), 연결판(712), 및 연결부재(713)를 포함할 수 있다.

상기 수납부재(711)는 테스트된 발광소자들을 수납한다. 상기 수납유닛(71)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 수납부재(711)를 포함할 수 있다.

상기 연결판(712)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 관통공(712a)을 포함할 수 있다.

상기 연결부재(713)는 연결판(712)에 형성되어 있는 관통공(712a) 및 상기 수납부재(711)를 연결한다. 상기 연결부재(713)는 일측이 상기 연결판(712)에 결합되고, 타측이 상기 수납부재(711)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 연결판(712)에 형성되어 있는 관통공(712a) 및 상기 연결부재(713)의 내측을 지나 상기 수납부재(711)에 수납될 수 있다.

상기 분류유닛(72)은 이송유닛(73)으로부터 이송되어 오는 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부재(711)에 수납될 수 있도록, 해당 수납부 재(711)에 연결된 상기 관통공(712a)으로 테스트된 발광소자를 전달한다. 상기 분류유닛(72)은 연결판(712)에 형성되는 있는 복수개의 관통공(712a) 위에서 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다.

상기 이송유닛(73)은 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(72)으로 이송한다. 상기 이송유닛(73)은 분류유닛(72)에 연결된 이송부재(731) 및 상기 소켓(61)에 안착되어 있는 테스트된 발광소자를 상기 이송부재(731)로 공급하는 공급유닛(732)을 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 공급유닛(732)에 의해 상기 소켓(61)에서 상기 이송부재(731)를 지나 상기 분류유닛(72)으로 이송된다.

도 7을 참고하면, 상기 제1구동유닛(8)은 테스트유닛(63)이 테스트될 발광소자를 테스트할 수 있는 위치에 상기 소켓(61)이 위치되도록 상기 지지부재(62)를 이동시킨다.

상기 제1구동유닛(8)은 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동유닛(8)은 상기 지지부재(62)를 일정 각도로 회전시킴으로써, 상기 지지부재(62)에 설치되어 있는 상기 소켓(61)들이 각각 상기 이송부(3), 상기 테스트유닛(63), 및 상기 소팅부(7)에 동시에 위치되도록 한다.

상기 제1구동유닛(8)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(61)들은 상기 이송부(3), 상기 테스트유닛(63), 및 상기 소팅부(7)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

상기 제2구동유닛(9)은 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 소켓(61)으로 이송할 수 있도록 상기 본체(32)를 이동시킨다.

상기 제2구동유닛(9)은 승하강유닛(91) 및 회전유닛(92)을 포함할 수 있다.

상기 승하강유닛(91)은 본체(32)를 승하강시킨다. 이에 따라, 상기 본체(32)에 결합되어 있는 픽커(31)들이 함께 승하강될 수 있다.

상기 승하강유닛(91)이 상기 본체(32)를 하강시키면, 상기 공급부(2)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하고 상기 테스트부(6)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 안착시키며, 상기 보정부(4)에 위치된 픽커(31)가 상기 보정부(4)에 테스트될 발광소자를 안착시켜 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 할 수 있다.

상기 회전유닛(92)은 본체(32)를 회전시킨다. 상기 회전유닛(92)은 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 회전유닛(92)은 상기 본체(32)를 일정 각도로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들이 각각 상기 공급부(2), 상기 감지유닛(5), 상기 보정부(4), 및 상기 소켓(61)에 동시에 위치되도록 한다.

상기 회전유닛(92)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 공급부(2), 상기 감지유닛(5), 상기 보정부(4), 및 상기 테스트부(6)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도

도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 이송부, 및 테스트부를 나타낸 사시도

도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 보정부를 나타낸 사시도

도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 보정부 및 감지유닛을 나타낸 사시도

도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도

도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도

도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도

Claims (10)

1. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;

   발광소자가 안착되는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 안착되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부;

   상기 소켓에 안착되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부;

   테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송하는 픽커 및 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부;

   상기 테스트유닛이 테스트될 발광소자를 테스트할 수 있는 위치에, 상기 소켓이 위치되도록 상기 지지부재를 이동시키는 제1구동유닛;

   상기 픽커가 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 소켓으로 이송할 수 있도록 상기 본체를 이동시키는 제2구동유닛; 및

   상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛에 의해 테스트될 수 있는 상태로 상기 소켓에 안착되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정하는 보정부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
2. 제 1 항에 있어서,

   상기 공급부 및 상기 보정부 사이에 설치되고, 상기 픽커에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지하는 감지유닛을 더 포함하며;

   상기 보정부는 상기 감지유닛이 획득한 정보를 이용하여 테스트될 발광소자의 상태를 보정하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 보정부는 테스트될 발광소자가 수납되는 수납유닛, 및 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 상기 수납유닛을 회전시키는 보정유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
4. 제 3 항에 있어서, 상기 수납유닛은

   테스트될 발광소자가 안착되는 안착부재;

   상기 안착부재에 안착되어 있는 테스트될 발광소자에 접촉되는 복수개의 접촉부재; 및

   상기 접촉부재들이 테스트될 발광소자에 접촉되는 제1위치 및 상기 접촉부재들이 테스트될 발광소자에 접촉되지 않는 제2위치 간에 상기 접촉부재들을 이동시키는 이동유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
5. 제 4 항에 있어서, 상기 이동유닛은 상기 접촉부재들에 각각 연결되고, 상기 접촉부재들이 제1위치에 위치되도록 상기 접촉부재들에 탄성력을 가하는 탄성부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
6. 제 1 항에 있어서,

   상기 소켓들은 각각 상기 이송부, 상기 테스트유닛, 및 상기 소팅부에 동시에 위치되도록 상기 지지부재에 설치되고;

   상기 제1구동유닛은 상기 지지부재를 회전시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
7. 제 2 항에 있어서,

   상기 픽커들은 각각 상기 공급부, 상기 감지유닛, 상기 보정부 및 상기 소켓에 동시에 위치되도록 상기 본체에 설치되고;

   상기 제2구동유닛은 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛, 및 상기 본체를 회전시키는 회전유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
8. 제 7 항에 있어서,

   상기 보정부 및 상기 감지유닛은 상기 본체가 회전됨에 따라 상기 픽커들이 이동되는 경로의 아래에 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
9. 제 1 항에 있어서, 상기 보정부는 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 상기 픽커를 회전시키는 보정유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
10. 제 1 항에 있어서,

    상기 공급부는 테스트될 발광소자가 복수개 저장되는 저장부, 상기 픽커가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치되고 테스트될 발광소자가 안착되는 안착부, 및 테스트될 발광소자를 상기 저장부에서 상기 안착부로 이송하는 운반부를 포함하고;

    상기 발광소자 테스트 핸들러는 상기 안착부에 설치되고, 상기 안착부에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지하는 감지부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.

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