KR100898281B1 - 테스트 핸들러 및 이를 이용한 테스트 트레이 이송 방법 - Google Patents

테스트 핸들러 및 이를 이용한 테스트 트레이 이송 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 테스트 핸들러 및 이를 이용한 테스트 트레이 이송 방법을 제공한다. 본 발명의 실시예에 따른 테스트 핸들러는, 테스트 트레이가 수평으로 이동되면서, 이에 실장된 전자부품들이 테스트 받도록 수평으로 배치된 일련의 챔버군들을 적어도 하나 이상 구비하는 테스트부와, 적어도 하나의 제1 고객 트레이로부터 테스트할 복수의 전자부품들을 공급받는 테스트 트레이가 배치되는 로딩부와, 상기 테스트 완료되어 수납된 전자부품들을 적어도 하나의 제2 고객 트레이로 공급하는 테스트 트레이가 배치되는 언로딩부와, 상기 로딩부 및 언로딩부와 각각 이격 배치된 것으로, 상기 로딩부에서 이송된 테스트 트레이를 상기 테스트부로 공급하고, 상기 언로딩부로 이송되는 테스트 트레이를 상기 테스트부로부터 공급받는 출입부와, 상기 로딩부, 출입부 및 언로딩부 사이에서 상기 테스트 트레이들이 서로 다른 높이의 복수 층에서 이송되도록 하는 적어도 하나의 트레이 이송 부재를 구비한다.

Description

테스트 핸들러 및 이를 이용한 테스트 트레이 이송 방법{A test handler and a method for transferring a test tray thereof}
도 1은 종래의 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 순서를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 핸들러의 대략적인 구조를 도시한 평면도이다.
도 3은 도2에서 테스트 트레이의 배치 상태를 주로 도시한 사시도이다.
도 4는 도2의 테스트 핸들러에서 로딩부와, 언로딩부와, 출입부의 배치 상태를 도시한 사시도이다.
도 5는 도 2의 테스트 핸들러에서의 테스트 트레이 이송 방법을 도시한 흐름도이다
도 6은 도 5의 테스트 트레이 이송 방법의 개념을 도시한 개념도이다.
도 7은 도 5의 테스트 트레이 이송 방법의 각 단계를 개략 도시한 사시도이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 테스트 핸들러 105: 테스트 트레이
110: 로딩부 111: 로딩 영역
113: 로딩부의 반입 영역 115: 로딩부의 반출 영역
120: 언로딩부 121: 언로딩 영역
123: 언로딩부의 반출 영역 125: 언로딩부의 반입 영역
130: 출입부 135: 트레이 반전수단
140: 테스트부 151: 제1 트레이 이송 부재
152: 제2 트레이 이송 부재 153: 제3 트레이 이송 부재
161: 제1 고객 트레이 162: 제2 고객 트레이
170: 전자부품 유무 감지 센서
본 발명은 테스트 핸들러 및 이를 이용한 테스트 트레이 이송 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 테스트 트레이를 보다 효율적으로 이송시킬 수 있는 구조를 가진 테스트 핸들러 및 상기 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법에 관한 것이다.
일반적으로 메모리, 비메모리 반도체 소자 등의 전자부품들은 생산 후 여러 가지 테스트를 거친 후에 출하된다.
상기 전자부품들은 테스트 핸들러에 의하여 공급되어서 별도의 테스트 장비에 의하여 테스트 된다. 이 경우, 상기 테스트 핸들러는 상기 전자부품 등을 일종의 지그인 테스트 트레이에 담아 상기 테스트 장치에 공급하고, 그 결과에 따라서 전자부품을 분류하는 기능을 한다.
즉, 상기 테스트 핸들러는 테스트할 전자부품을 테스트 트레이에 수납하고, 상기 테스트 트레이 소켓에 수납된 전자부품들을 테스트 장치로 제공한다. 또한, 상기 테스트 핸들러는, 상기 테스트 트레이로부터 테스트 완료된 전자부품을 픽업하여 고객 트레이에 공급한다.
도 1은 한국등록번호 10-0401014호에 개시된 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 순서를 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 트레이(10)에 디바이스가 가득 차면(①) 테스트 트레이(10)는 제 1 트레이 반전수단에 의해 수직하게 세워져(②) 속 챔버(soak chamber)로 공급된다(③). 속 챔버에서 소정의 테스트 온도 조건으로 가열 또는 냉각된 테스트 트레이(10)는 최종적으로 상하의 2열 수직 배치로 정렬되어 테스트 챔버(test chamber)로 공급된다(④,④'). 테스트 챔버에서는 공급된 테스트 트레이(10)에 있는 128개의 전자부품들과 테스트 헤드를 접속시켜 테스트가 이루어지도록 하며(⑤,⑤') 테스트가 완료된 테스트 트레이(10)는 다시 1열로 정렬되어 디속 챔버(desoak chamber)로 공급된다(⑥,⑥').
디속 챔버를 거치면서 상온에 가깝게 환원된 테스트 트레이(10)는 제 2트레이 반전수단에 의해 다시 수평하게 뉘어져서(⑦) 언로딩부측 트레이 정렬스테이션으로 복귀한다(⑧).
이 후, 제 1 및 제 2 단축 로봇이 작동하여 트레이 정렬스테이션에 위치된 테스트 트레이(10)상의 디바이스들을 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 소터 테이블로 이재시킨다. 디바이스의 이재가 완료되면, 빈 테스트 트레이(10)는 하강 한 후, 소터 테이블의 하단부를 통과하여 로딩부측 트레이 정렬스테이션으로 복귀한다(⑨,⑩).
그런데, 상기와 같은 테스트 트레이를 이동시키기 위해서는, 테스트 트레이를 반전시키는 트레이 반전수단 및 상기 트레이 반전수단을 선회 구동하는 선회수단이 적어도 두 개가 필요하게 된다. 즉, 수평 방향으로 뉘어진 테스트 트레이를 수직으로 세워지도록 반전시키는 제 1 트레이 반전수단과, 수직 방향으로 세워진 테스트 트레이를 수평으로 누워지도록 반전시키는 제 2 트레이 반전수단이 별도로 필요하고, 상기 제 1 트레이 반전수단 및 제 2 트레이 반전수단을 각각 선회 구동하는 제 1 선회수단 및 제 2 선회수단이 필요하다. 따라서 상기 제 1, 2 트레이 반전수단은 테스트 트레이를 지지시킬 수 있을 정도로 소정 이상의 큰 사이즈를 필요로 한다. 특히 상기 트레이 반전 수단이 작동하는 영역에서는 별도의 다른 구성요소가 설치될 수 없으므로 테스트 핸들러의 구성요소를 효율적으로 배치하기 어렵다.
또한, 트레이 반전수단이 두 개 이상 필요하게 됨으로써, 테스트 핸들러의 전체 무게 및 사이즈가 커지게 되며, 그 제조 비용이 증가하게 된다.
본 발명은 상기 문제점을 포함한 여러 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 테스트 트레이를 반전시키는 트레이 반전수단의 수를 최소한으로 할 수 있는 구조를 가진 테스트 핸들러 및 상기 테스트 핸들러의 트레이 이송 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은, 테스트 핸들러의 무게를 가볍게 하고, 사이즈를 감소시킬 수 있는 구조를 가진 테스트 핸들러 및 상기 테스트 핸들러의 트레이 이송 방법을 제공하는 것이다.
따라서 본 발명의 실시예에 따른 테스트 핸들러는, 테스트 트레이에 실장된 전자부품들을 테스트하기 위한 복수의 챔버들을 구비하는 테스트부와, 제1 고객 트레이로부터 테스트할 복수의 전자부품들을 공급받는 테스트 트레이가 배치되는 로딩부와, 상기 테스트 완료되어 수납된 전자부품들을 적어도 하나의 제2 고객 트레이로 공급하는 테스트 트레이가 배치되는 언로딩부와, 상기 로딩부 및 언로딩부와 각각 이격 배치된 것으로, 상기 로딩부에서 이송된 테스트 트레이를 상기 테스트부로 공급하고, 상기 언로딩부로 이송되는 테스트 트레이를 상기 테스트부로부터 공급받는 출입부와, 상기 로딩부, 출입부 및 언로딩부 사이에서 상기 테스트 트레이들이 서로 다른 높이의 복수 층에서 이송되도록 하는 트레이 이송 부재를 구비한다.
한편, 본 발명의 다른 측면에서의 바람직한 실시예에 따른 테스트 트레이 이송 방법은 상기와 같은 구조를 가진 테스트 핸들러를 이용한 테스트 트레이 이송 방법으로서: 상기 로딩부에서 적어도 하나의 고객 트레이로부터 테스트 트레이로 전자부품을 공급하는 단계와; 상기 전자부품이 수납된 테스트 트레이를 출입부로 이송하는 단계와; 상기 테스트 트레이를 출입부에서 테스트부로 이송하는 단계와; 상기 테스트부에서 테스트 완료된 전자부품을 실장한 테스트 트레이를 테스트부로 부터 출입부로 이송하는 단계와; 상기 테스트 트레이를 상기 출입부에서 상기 언로딩부로 이송하는 단계와; 상기 언로딩부에서 상기 테스트 트레이에 수납된 전자부품들을 적어도 하나의 고객 트레이로 공급하는 단계와; 상기 언로딩부에 배치된 빈 테스트 트레이를 상기 로딩부로 이송하는 단계;를 포함한다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 이용하여 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 핸들러의 대략적인 구조를 도시한 평면도이고, 도 3은 도2에서 테스트 트레이의 배치 상태를 주로 도시한 사시도이다. 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 핸들러(100)는 테스트부(140)와, 로딩부(110)와, 언로딩부(120)와, 출입부(130)와, 적어도 하나의 트레이 이송 부재(151, 152, 153)를 구비한다.
테스트부(140)에서 테스트 트레이(105)에 실장된 전자부품들이 외부 또는 내부 테스트 장비에 의하여 테스트된다. 이 경우, 상기 테스트부(140)는 통상 테스트 핸들러(100)의 후방부에 나란히 배치된 다수개로 분할된 밀폐 챔버들(141, 142, 143)을 구비하여, 상기 테스트 트레이(105)들이 밀폐 챔버들을 순차적으로 이송되면서 전자부품 성능을 테스트받을 수 있다.
이 경우 상기 테스트부(140)에는, 테스트 온도 조건으로 온도 및 습도를 조절하는 속 챔버(soak chamber)(141)와, 외부/내부 테스트 장비(T)와 결합할 수 있도록 설치되어 여기에서 테스트를 행하는 테스트 챔버(142)와, 테스트 후의 테스트 트레이(105)를 통상의 온도 및 습도 조건이 되도록 하는 디속 챔버(desoak chamber)(143)가 설치될 수 있다. 또한, 테스트부에서는 상기 출입부(130)로부터 상기 속 챔버(141)로 테스트 트레이(105)들을 이송시키는 제1 테스트 이송부와, 상기 디속 챔버(143)로부터 출입부(130)로 테스트 트레이(105)들을 이송시키는 제2 테스트 이송부가 설치될 수 있다.
또한, 상기 테스트부(140)에 배치된 속 챔버(141), 테스트 챔버(142), 및 디속 챔버(143)는 일열 또는 복수열로 나란히 좌측에서 우측으로, 또는 그 반대로 설치될 수 있다.
로딩부(110)는 로딩 영역(111)을 구비한다. 상기 로딩 영역(111)에서 전자부품의 로딩 작업이 이루어진다. 이에 따라서 복수의 전자부품들은 제1 고객 트레이(161)로부터 상기 로딩 영역(111)에 배치된 테스트 트레이로 공급된다. 이 경우, 상기 제1 고객 트레이(161)는 상기 테스트 트레이(105)와 이격 배치된 트레이 스택커에 적층되어 있을 수 있으며, 상기 전자부품들은 전자부품 픽커(166)에 의하여 고객 트레이로부터 테스트 트레이(105)로 이동, 수납될 수 있다.
언로딩부(120)는 언로딩 영역(121)를 구비한다. 상기 언로딩 영역(121)에서 상기 전자부품들의 언로딩 작업이 이루어진다. 이에 따라서 테스트 완료된 복수의 전자부품들은 상기 언로딩 영역(121)에 배치된 테스트 트레이(161)로부터 적어도 하나의 제2 고객 트레이(162)로 공급된다. 상기 제2 고객 트레이(162)는, 양품의 전자부품을 수납하는 양품 트레이와, 전자부품들이 테스트 결과에 따라서 분류되어 수납되도록 복수 개의 소팅 트레이(sorting tray)들로 이루어질 수 있다.
상기 테스트 핸들러는 전자부품 픽커(166)들을 더 구비할 수 있다. 상기 전 자부품 픽커들은 상기 제1 고객 트레이(161)에 실장된 전자부품들을 픽업하여 로딩부(110)의 테스트 트레이에 이송하거나, 언로딩부(130)의 테스트 트레이에 실장된 전자부품들을 픽업하여 제2 고객 트레이(162)로 이송하는 기능을 한다.
출입부(130)는 상기 로딩부(110) 및 언로딩부(120)에 각각 이격 배치된다. 상기 출입부(130)는 상기 로딩부(110)와 테스트부(130) 사이의 출입문 역할 및 상기 언로딩부(120)와 테스트부(130) 사이의 출입문 역할을 한다.
트레이 이송 부재들(151, 152, 153)은 복수 층으로 이루어진 것으로, 상기 로딩부(110), 출입부(130), 및 언로딩부(120) 사이로 상기 테스트 트레이(105)를 이송 가이드한다.
상기 트레이 이송 부재들(151, 152, 153)은 제1 트레이 이송 부재(151)와, 제2 트레이 이송 부재(152)와, 제3 트레이 이송 부재(153)를 구비할 수 있다.
제1 트레이 이송 부재(151)는 상기 로딩부(110)와 출입부(130) 사이를 연결하여서, 테스트 트레이(105)가 상기 로딩부(110)으로부터 출입부(130)로 이송되도록 가이드 한다.
제2 트레이 이송 부재(152)는 상기 출입부(130)와 언로딩부(120) 사이를 연결하여서, 상기 테스트 트레이(105)가 상기 테스트부(140)로부터 언로딩부(120)로 이송되도록 가이드 한다.
제3 트레이 이송 부재(153)은 적어도 상기 언로딩부(120)와 로딩부(110) 사이를 연결하며, 상기 테스트 트레이(105)가 상기 언로딩부(120)으로부터 로딩부(110)으로 이송되도록 가이드 한다.
상기 트레이 이송 부재들(151, 152, 153)은 상기 테스트 트레이(105)를 이동시키는 로봇일수도 있고, 이와 다른 이동 기구일 수 있다. 즉, 상기 트레이 이송 부재가, 테스트 트레이(105)가 이송되는 것을 가이드 하는 트레이 이송 레일과, 상기 트레이 이송 레일을 따라서 테스트 트레이(105)를 이송하는 트레이 이송 구동 부재를 구비할 수 있다. 또한, 상기 트레이 이송 부재가 리니어 모션 가이드로 이루어질 수도 있으며, 이와 다른 이동 기구일 수도 있다.
본 발명에 의하면, 테스트 트레이(105)가 로딩부(110)에서 테스트부(140)로 바로 이송되거나, 테스트부(140)에서 언로딩부(120)로 바로 이송되지 않고, 로딩부(110)와 언로딩부(120)와 일정 간격 이격되어 배치된 출입부(130)에서 상기 테스트 트레이(105)가 테스트부(140)을 출입하게 된다.
따라서, 로딩부(110) 및 언로딩부(120)에는, 상기 테스트 트레이(105)를 테스트부(140)로 이송하기 위한 별도의 장치가 불필요하게 되어서, 테스트 핸들러(100)의 전체 사이즈가 감소하게 되고, 그 무게 또한 감소하게 된다.
또한, 상기 로딩부(110)에서 제1 고객 트레이(161)에 수납된 전자부품들이 이송되어 테스트 트레이(105)에 수납되는 로딩 작업이 행해지고, 상기 언로딩부(120)에서 테스트 트레이(105)에 수납된 전자부품들이 이송되어 제2 고객 트레이(162)에 수납되는 언로딩 작업이 행해진다. 즉, 로딩 작업과 언로딩 작업이 별도의 위치에서 행해짐으로써, 상기 로딩 작업 및 언로딩 작업이 신속하게 이루어질 수 있다.
이 경우, 상기 출입부(130)는 상기 로딩부(110)와 언로딩부(120) 사이에 배 치되는 것이 바람직한데, 이는 출입부(130)와 로딩부(110) 사이의 거리와, 출입부(130)와 언로딩부(120) 사이의 거리를 가능한 한 가깝게 함으로써, 트레이 이송 부재들로 테스트 트레이를 이송하는 시간을 감축시킬 수 있기 때문이다. 이는 결과적으로 테스트용 핸들러에서 전체적인 인덱스 타임(index time)을 감축시킬 수 있다.
또한, 테스트 트레이(105)가 속 챔버(141)로 이송된 출입부에는, 디속 챔버(143)에서 이송된 테스트 트레이(105)가 배치되도록 할 수 있다. 또한, 상기 테스트 트레이(105)가 언로딩부로 이송된 출입부에는, 로딩부로부터의 테스트 트레이가 배치되도록 할 수 있다. 즉, 출입부에서 상기 테스트 트레이가 테스트부로 공급되는 작업과, 테스트부에서 테스트 트레이가 다시 출입부로 공급되는 작업이 교번하여 연속적으로 이루어질 수 있기 때문에, 테스트용 핸들러의 트레이 이송 속도가 증가하게 된다.
한편, 출입부(130)에는 트레이 반전수단(135)이 배치되어 있을 수 있다. 상기 트레이 반전수단(135)은 수평방향으로 누워져 있는 테스트 트레이(105)를 수직 방향으로 세워지도록 할 수도 있고, 이와 반대로 수직방향으로 세워져 있는 테스트 트레이(105)를 수평 방향으로 누워지도록 방향 전환시킬 수 있다. 이 경우, 테스트 트레이(105)는 로딩부(110)와, 출입부(130)와, 언로딩부(120) 사이를 이동하거나, 로딩, 언로딩 작업 중에는 수평으로 누워지고, 테스트부(140)에서는 테스트 트레이(105)가 수직으로 세워져 이송되거나 테스트 받을 수 있다.
테스트 트레이(105)가 상기 출입부(130)를 통해서만 테스트부(140)로 출입하 므로, 로딩부(110) 및 언로딩부(120)에서는 상기 트레이 반전수단(135)이 설치되어 있을 필요가 없다.
도 4는 도2의 테스트 핸들러에서 로딩부와, 언로딩부와, 출입부의 배치 상태를 도시한 사시도이다. 도 2와 함께 도 3, 4를 참조하면, 상기 제1 트레이 이송 부재(151) 및 제2 트레이 이송 부재(152)는 상기 제3 트레이 이송 부재(153)보다 하측에 배치될 수 있다. 이 경우, 상기 로딩부(110)는, 상기 제1 트레이 이송 부재(151)와 연결된 반출 영역(115)과, 상기 제3 트레이 이송 부재(153)와 연결된 반입 영역(113)을 구비할 수 있다. 또한 상기 언로딩부(120)는, 상기 제2 트레이 이송 부재(152)와 연결된 반입 영역(125)과, 상기 제3 트레이 이송 부재(153)와 연결된 반출 영역(123)을 구비할 수 있다.
이로써, 트레이 반전수단(135)이 상기 테스트 트레이(105)를 안착하는 위치 하측에서 선회 가능하도록 배치될 수 있고, 상기 테스트 트레이(105)의 이동은 상기 트레이 반전수단(135)의 작동에 방해가 되지 않도록 상기 트레이 반전수단(135)의 작동 구간 상측에 배치될 수 있다.
또한, 상기 로딩 영역(111)은 상기 로딩부의 반입 영역(113) 상측에 배치되고, 상기 언로딩 영역(121)은 상기 언로딩부의 반출 영역(123) 상측에 배치되는 것이 바람직하다. 이는 전자부품 픽커(166)가 통상 상기 테스트 트레이(105) 상측에 배치되어서 작동하기 때문이다. 즉, 상기 테스트 트레이(105)를 이동시키는 트레이 이송 부재들(151, 152, 153)이 상기 전자부품 픽커(166)가 동작하는 것에 방해가 되지 않도록, 상기 로딩 영역(111) 및 언로딩 영역(121)이 상기 트레이 이송 부 재들(151, 152, 153) 상측에 배치되는 것이 바람직하기 때문이다.
이 경우, 도시되지는 않으나 상기 로딩부(110)에는, 상기 로딩 영역(111)과, 로딩부의 반입 영역(113)과, 로딩부의 반출 영역(115) 사이로 테스트 트레이(105)를 승, 하강하는 승하강 장치가 더 배치될 수 있다. 이와 함께, 상기 언로딩부(120)에도, 상기 언로딩 영역(121)과, 언로딩부의 반출 영역(123)과, 언로딩부의 반입 영역(125) 사이로 테스트 트레이(105)를 승, 하강하는 승하강 장치를 더 구비할 수 있다.
상기 로딩부측 승하강 장치는 로딩부의 반입 영역(113)에 배치된 테스트 트레이(105)를 로딩 영역(111)으로 상승시키고, 상기 로딩 영역(111)에서 로딩 작업을 마친 테스트 트레이(105)를 로딩부의 반출 영역(115)으로 하강시킨다.
상기 언로딩부측 승하강 장치는 출입부(130)로부터 이송된 테스트 트레이(105)를 언로딩부의 반입 영역(125)에서 언로딩 영역(121)으로 상승시킨다. 또한, 상기 언로딩측 승하강 장치는 상기 언로딩 영역(121)에서 언로딩 작업을 마친 테스트 트레이(105)를 언로딩부의 반출 영역(123)으로 하강시킨다. 상기 언로딩부의 반출 영역(123)에 배치된 테스트 트레이는 후에 상기 제3 트레이 이송 부재(153)를 통하여 로딩부의 반입영역(113)으로 이송되고, 상기 로딩부측 승하강 장치에 의하여 테스트 트레이는 상기 로딩부의 반입영역(113)에서 로딩영역(111)으로 상승된다.
한편, 상기 제3 트레이 이송 부재(153) 상에는 전자부품 유무 감지 센서(170)가 더 배치될 수 있다. 상기 전자부품 유무 감지 센서(170)는 상기 제3 트 레이 이송 부재(153)를 따라 이송되는 테스트 트레이(105)에 전자부품이 잔류 수납되어 있는지 여부를 검사하여서, 상기 전자부품들이 상기 테스트 트레이(105)로부터 모두 제거되었는지 여부를 판단하여 상기 로딩부 작업 시에 전자부품간에 충돌이 발생하는 등의 오류가 발생하는 것을 방지한다.
상기 전자부품 유무 감지 센서(170)는, 상기 테스트 트레이(105) 이동 경로의 상측 또는 하측에 배치된 발광 센서부와, 상기 제3 트레이 이송 부재(153)를 기준으로 발광 센서부와 반대편에 배치된 수광 센서부를 구비할 수 있으며, 발광 센서부로부터의 빛이 수광 센서부에 수광되는지 여부 및 수광 정도에 따라서, 전자부품이 테스트 트레이(105)에 잔존하는지 여부를 확인할 수 있다.
도 5는 상기와 같은 구조를 가진 테스트 핸들러(100)를 이용한 테스트 트레이 이송 방법을 도시한 흐름도이다.
도 2 및 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 테스트 트레이 이송 방법은, 상기 제1 고객 트레이(161)로부터 상기 로딩부(110)에 배치된 테스트 트레이(105)로 전자부품을 공급하는 단계(S1)와, 상기 전자부품이 수납된 테스트 트레이(105)를 제1 트레이 이송 부재(151)에 의하여 출입부(130)로 이송하는 단계(S2)와, 상기 테스트 트레이(105)를 출입부(130)에서 테스트부(140)로 이송하는 단계(S3)와, 테스트 완료된 테스트 트레이(105)를 테스트부(140)로부터 출입부(130)로 이송하는 단계(S4)와, 상기 제2 트레이 이송 부재(152)에 의하여, 상기 테스트 트레이(105)를 상기 언로딩부(120)로 이송하는 단계(S5)와, 상기 언로딩부(120)에 배치된 테스트 트레이(105)에 수납된 전자부품들을 제2 고객 트레 이(162)로 공급하는 단계(S6)와, 상기 테스트 트레이(105)를 상기 제3 트레이 이송 부재(153)를 통하여 상기 로딩부(110)로 이송하는 단계(S7)를 구비한다.
도 6은 도 5의 테스트 트레이 이송 방법의 각 단계를 개략 도시한 개념도이고, 도 7은 테스트 트레이 이송 방법의 각 단계를 도시한 사시도이다. 도 6 및 도 7과 함께 도 2 내지 도 5를 참조하여 각 단계를 보다 상세히 설명하면, 먼저 로딩부(110)에서 상기 제1 고객 트레이(161)로부터 테스트 트레이(105)로 전자부품을 공급하는 단계(S1)를 거친다. 이 경우, 상기 제1 고객 트레이(161)는, 상기 로딩부(110)와 이격을 가지고 배치된 트레이 스택커(tray stacker)에 수납되고, 전자부품 픽커(166)가 상기 제1 고객 트레이(161)에 수납된 전자부품들을 픽업하여서 테스트 트레이(105)로 이송시킬 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 즉, 제1 고객 트레이(161)가 상기 로딩부(110) 하측에 배치될 수도 있고, 이와 더 다른 위치에 배치될 수도 있다.
상기 로딩 작업은 로딩부(110)의 로딩 영역(111)에서 이루어질 수 있다.
그 후에 전자부품이 수납된 테스트 트레이(105)는 제1 트레이 이송 부재(151)를 통하여 출입부(130)로 안내된다(S2).
이 경우, 상기 제1 트레이 이송 부재(151)는 상기 로딩부의 반출 영역(115)과 출입부(130) 사이를 연결한다. 따라서, 상기 (S2)단계는, 상기 로딩 영역(111)에서 반출 영역(115)으로 상기 테스트 트레이(105)를 하강시키는 단계(S21) 및 상기 반출 영역(115)에서 출입부(130)로 테스트 트레이(105)를 이송하는 단계(S22)를 더 포함할 수 있다. 상기 (S1) 및 (S2) 단계에서는 테스트 트레이(105)가 수평방 향으로 누워져 있을 수 있다.
상기 출입부(130)에 테스트 트레이(105)가 이송되어 도착하게 되면, 상기 출입부(130)에서 상기 테스트부(140)로 테스트 트레이(105)를 이송하게 된다(S3). 이 경우 트레이 반전수단(135)을 통하여 수평으로 누워져 있는 테스트 트레이(105)를 수직으로 세워서(S31) 테스트부(140)로 이송될 수 있다(S32).
상기 테스트부로 이송된 테스트 트레이(105)는 일렬로 이송되어서 속 챔버(141)까지 이송된다. 이 경우, 속 챔버(141)는 상하에 배치되고, 상기 테스트 트레이는 상, 하 속 챔버(141)에 번갈아가며 유입될 수 있다. 그 후에, 상하에 배치된 테스트 트레이(105)가 각각 상, 하에 배치된 테스트 챔버(142)와, 디속 챔버(143)를 경유하여 테스트 받을 수 있다.
이 경우, 속 챔버는, 상기 테스트 전의 테스트 트레이의 주위 환경을 테스트 챔버의 주위환경과 유사 또는 동일하게 하는 기능을 한다. 또한, 상기 디속 챔버는, 테스트 후의 테스트 트레이(105)를 통상의 온도 및 습도 조건이 되도록 한다.
그 후에 테스트부(140)에서 테스트 완료된 테스트 트레이(105)를 테스트부(140)로부터 출입부(130)로 이송하는 단계(S4)를 거친다. 상기 단계에서 테스트부에서 수직으로 세워져 출입부(130) 입구로 이송(S41)된 테스트 트레이(105)를 상기 트레이 반전수단(135)으로 수평으로 누워지도록 할 수 있다(S42).
이 경우, 상기 테스트 트레이(105)를 출입부에서 테스트부로 이송하는 단계(S3)와, 상기 테스트부에서 테스트 완료된 테스트 트레이를 테스트부로부터 출입부로 이송하는 단계(S4)는 교번하여 행해지는 것이 바람직하다. 즉, 상기 테스트 될 전자부품을 실장한 테스트 트레이(105)를 트레이 반전수단으로 수직 방향으로 세워지게 한다. 그 후에 상기 테스트 트레이(105)는 테스트부로 이송된다.
이와 함께, 트레이 반전수단은 상기 상태에서 상기 테스트부로부터 테스트 트레이를 공급받아, 상기 테스트 트레이를 선회하여 수평으로 누워지게 한다. 상기 수평으로 누워진 테스트 트레이는 출입부로부터 언로딩 영역으로 이송된다.
트레이 반전수단이 상기 단계를 반복함으로써, 테스트부(140)로부터 언로딩 영역(120)으로 테스트 트레이(105)를 이송시키는 작업과, 로딩 영역(110)으로부터 출입부(130)를 경유하여 테스트부(140)로 테스트 트레이(105)를 이송시키는 작업을 연속적으로 행할 수 있다. 이에 따라서 상기 테스트 트레이의 순환 이송 시간을 단축시킬 수 있다.
그 후에, 상기 테스트 트레이(105)를 상기 제2 트레이 이송 부재(152)에 의하여 상기 언로딩부(120)로 이송하는 단계(S5)를 거치게 된다. 상기 (S5)단계는, 상기 테스트 트레이(105)를 상기 제2 트레이 이송 부재(152)를 통하여 상기 언로딩부의 반입 영역(125)에 위치시키는 단계(S51)과, 상기 언로딩부의 반입 영역(125)에 배치된 테스트 트레이(105)를 상승시켜서 언로딩 영역(121)에 위치하는 단계(S52)를 거친다.
그 후에 상기 언로딩부(120)에서 상기 테스트 트레이(105)에 수납된 전자부품들을 상기 제2 고객 트레이(162)로 공급하는 단계(S6)를 거친다. 상기 단계는 상기 언로딩 영역(121)에서 전자부품 픽커(166) 등의 장치로 상기 테스트 결과에 따라서 상기 전자부품들을 제2 고객 트레이(162)로 이동(S62)시킴으로써 이루어진 다.
그 후에 상기 언로딩부(120)에 배치된 테스트 트레이(105)를 상기 제3 트레이 이송 부재(153)를 통하여 상기 로딩부로 이송하는 단계(S7)를 거치게 된다. 즉, 상기 언로딩 영역(121)에서 언로딩부 작업을 완료하면, 상기 테스트 트레이(105)는 비게 되고, 이렇게 빈 테스트 트레이(105)는 다시 로딩부(110)으로 이송되어서 상기 로딩 작업 시의 테스트 트레이가 된다.
이 경우, 상기 언로딩 영역(121)에 위치한 빈 테스트 트레이(105)를 언로딩부의 반출 영역(123)으로 하강시키는 단계(S71)와, 상기 언로딩부의 반출 영역(123)으로부터 상기 로딩부의 반입 영역(113)으로 제3 트레이 이송 부재(153)를 통하여 테스트 트레이(105)를 이동시키는 단계(S72)와, 상기 로딩부의 반입 영역(113)으로부터 로딩부용 테스트 트레이(105)를 로딩 영역(111)으로 상승하는 단계(S73)를 거칠 수 있다.
이 경우, 상기 제3 트레이 이송 부재(153)의 상기 테스트 트레이(105) 이송 경로 상에 전자부품 유무 감지 센서(170)를 구비하여서, 상기 테스트 트레이(105)가 비었는지 여부를 검사할 수 있다.
상기 단계들은 반복적으로 이루어져서, 전자부품의 로딩, 테스트, 언로딩 작업이 연속적으로 이루어질 수 있다. 이에 작업시간이 많이 소요되는 전자부품의 로딩 작업과, 언로딩 작업을 별도의 위치에서 동시에 행할 수 있도록 함으로써 전체적인 작업 속도가 증가한다.
이와 더불어 상기 테스트 트레이(105)를 테스트부(140)로 이송하거나, 테스 트부(140)로부터 이송을 하나의 출입부(130)에서 행함으로써, 상기 로딩부(110) 및 언로딩부(120)에서 공간 활용을 효율적으로 할 수 있으며, 전체 테스트 핸들러(100)의 사이즈가 감소한다.
본 발명에 의하면, 테스트 트레이를 반전시키는 트레이 반전수단이 출입부에서만 위치하므로, 테스트 핸들러의 무게가 감소하고, 제조 비용이 감소하며, 로딩부 및 언로딩부에 별도의 구성요소가 배치될 수 있어서 테스트 핸들러의 사이즈가 감소하게 된다.
또한, 작업시간이 많이 소요되는 전자부품의 로딩 작업과, 언로딩 작업을 별도의 위치에서 동시에 행할 수 있도록 함으로써 전체적인 작업 속도가 증가한다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.

Claims (15)

  1. 삭제
  2. 테스트 트레이에 수납된 전자부품들이 테스트되는 테스트 챔버를 포함하는 복수의 챔버들이 좌우 방향으로 나란히 배치되어서, 상기 테스트 트레이가 좌우 방향으로 이동되면서 상기 테스트 챔버를 경유하도록 하는 테스트부;
    적어도 하나의 제1 고객 트레이로부터 테스트할 복수의 전자부품들을 공급받는 테스트 트레이가 배치되는 로딩부;
    상기 테스트 완료되어 수납된 전자부품들을 적어도 하나의 제2 고객 트레이로 공급하는 테스트 트레이가 배치되는 언로딩부;
    상기 로딩부 및 언로딩부와 각각 이격 배치된 것으로, 상기 로딩부에서 이송된 테스트 트레이를 상기 테스트부로 공급하고, 상기 언로딩부로 이송되는 테스트 트레이를 상기 테스트부로부터 공급받는 출입부; 및
    상기 로딩부, 출입부 및 언로딩부 사이에서 상기 테스트 트레이들이 서로 다른 높이의 복수 층에서 이송되도록 하는 트레이 이송 부재들;을 구비하고,
    상기 트레이 이송 부재들은:
    상기 테스트 트레이가 상기 로딩부로부터 상기 출입부로 이송되도록 가이드하는 제1 트레이 이송 부재와;
    상기 테스트부에서 출입부로 반송된 테스트 트레이가 상기 언로딩부로 이송되도록 가이드 하는 제2 트레이 이송 부재와;
    상기 전자부품들이 언로딩 완료된 테스트 트레이가 상기 언로딩부로부터 로딩부로 이송되도록 가이드하는 제3 트레이 이송 부재;
    를 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 로딩부는: 상기 전자부품들의 로딩 작업이 이루어지는 로딩 영역과; 상기 로딩 영역과 다른 층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재를 통하여 반입(搬入)되는 반입 영역과; 상기 반입 영역 하층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제1 트레이 이송 부재를 통하여 반출(搬出)되는 반출 영역;을 구비하고,
    상기 언로딩부는: 상기 전자부품들의 언로딩 작업이 이루어지는 언로딩 영역과; 상기 언로딩 영역과 다른 층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재를 통하여 반출(搬出)되는 반출 영역과; 상기 반출 영역 하단에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제2 트레이 이송 부재에 의하여 반입(搬入)되는 반입 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 로딩 영역 및 언로딩 영역은 각각 상기 로딩부의 반입 영역 및 상기 언로딩부의 반출 영역보다 상측에 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  5. 제2항에 있어서
    상기 출입부는 상기 로딩부와 언로딩부 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  6. 제2항에 있어서
    상기 트레이 이송 부재들은, 상기 테스트 트레이가 수평 방향으로 누워져서 이송되도록 배치되고,
    상기 출입부는, 상기 테스트 트레이를 적어도 수평 방향과 수직 방향 사이를 선회시킬 수 있는 트레이 반전수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 로딩부는 상측으로부터 하측으로 순서대로: 상기 전자부품들의 로딩 작업이 이루어지는 로딩 영역과; 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재에 의하여 반입되는 반입 영역과; 상기 테스트 트레이가 제1 트레이 이송 부재에 의하여 반출되는 반출 영역;을 구비하고,
    상기 언로딩부는 상측으로부터 하측으로 순서대로: 상기 전자부품들의 언로딩 작업이 이루어지는 언로딩 영역과; 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재에 의하여 반출되는 반출 영역과; 상기 테스트 트레이가 제2 트레이 이송 부재에 의하여 반입되는 반입 영역;을 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 로딩부에는, 상기 로딩 영역과, 로딩부의 반입 영역과, 로딩부의 반출 영역 사이로 테스트 트레이를 승, 하강하는 로딩부측 승하강 장치가 더 배치되고,
    상기 언로딩부에는, 상기 언로딩 영역과, 언로딩부의 반입 영역과, 언로딩부의 반출 영역 사이로 테스트 트레이를 승, 하강하는 언로딩부측 승하강 장치를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  9. 제2항에 있어서
    상기 제3 트레이 이송 부재 상에는, 상기 제3 트레이 이송 부재를 따라 이송되는 테스트 트레이에 전자부품이 잔류 수납되어 있는지 여부를 검사하는 전자부품 유무 감지 센서를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러.
  10. 테스트 트레이에 수납된 전자부품들이 테스트 되는 테스트 챔버를 포함하는 복수의 챔버들이 나란히 배치되는 테스트부;
    테스트될 복수의 전자부품들이 빈 테스트 트레이에 수납되는 로딩부;
    상기 테스트 완료된 전자부품들이 상기 테스트 트레이로부터 고객 트레이로 이송되는 언로딩부; 및
    상기 로딩부 및 언로딩부와 각각 이격 배치되며, 상기 테스트부에 인접 배치된 출입부;를 구비하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법으로서,
    상기 로딩부에 배치되어 있는 테스트 트레이에 테스트될 전자부품들을 수납시키는 단계;
    상기 전자부품이 수납된 테스트 트레이를 제1층 높이로 상기 출입부로 이송시키는 단계;
    상기 테스트 트레이를 출입부에서 상기 테스트부로 이송시키는 단계;
    상기 테스트부에서 상기 테스트 트레이를 이동시키면서 상기 테스트 챔버를 경유하도록 하는 단계;
    상기 테스트된 전자부품을 수납한 테스트 트레이를, 상기 테스트부에서 상기 출입부로 이송시키는 단계;
    상기 테스트된 전자부품을 수납한 테스트 트레이를, 상기 제1층과 높이가 다른 제2층 높이로 상기 출입부에서 상기 언로딩부로 이송시키는 단계:
    상기 언로딩부에 배치된 테스트 트레이에 수납된 전자부품들을 고객 트레이로 이송시키는 단계; 및
    상기 빈 테스트 트레이를, 상기 제1층 및 제2층과 높이가 다른 제3층에서 상기 언로딩부에서 상기 로딩부로 이송하는 단계;
    를 포함하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 로딩부는: 상기 전자부품들의 로딩 작업이 이루어지는 로딩 영역과; 상기 로딩 영역 하층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재를 통하여 반입되는 반입 영역과; 상기 반입 영역 하층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제1 트레이 이송 부재를 통하여 반출되는 반출 영역;을 구비하고,
    상기 테스트 트레이를 출입부로 이송하는 단계는:
    상기 로딩 영역에 배치된 테스트 트레이를 로딩부의 반출 영역으로 하강하는 단계와;
    상기 로딩부의 반출 영역으로부터 상기 테스트 트레이를 상기 제1 트레이 이송 부재에 의하여 상기 출입부로 이송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
  12. 제11항에 있어서
    상기 언로딩부는: 상기 전자부품들의 언로딩 작업이 이루어지는 언로딩 영역과; 상기 언로딩 영역의 하층에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제3 트레이 이송 부재를 통하여 반출되는 반출 영역과; 상기 반출 영역 하단에 형성된 것으로 상기 테스트 트레이가 제2 트레이 이송 부재에 의하여 반입되는 반입 영역을 구비하고,
    상기 테스트 트레이를 상기 출입부에서 상기 언로딩부로 이송하는 단계는:
    상기 출입부로부터 상기 테스트 트레이를 제2 트레이 이송 부재에 의하여 상기 언로딩부의 반입 영역으로 이송하는 단계와;
    상기 언로딩부의 반입 영역에 배치된 테스트 트레이를 언로딩 영역으로 상승하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
  13. 제12항에 있어서
    상기 언로딩부에 배치된 테스트 트레이를 상기 로딩부로 이송하는 단계는:
    상기 언로딩 작업 완료된 테스트 트레이를 상기 언로딩 영역에서 언로딩부의 반출 영역으로 하강하는 단계;
    상기 언로딩부의 반출 영역으로부터 테스트 트레이를 제3 트레이 이송 부재에 의하여 상기 로딩부의 반입 영역으로 이송하는 단계; 및
    상기 로딩부의 반입 영역에 있는 테스트 트레이를 상기 로딩 영역으로 상승하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
  14. 제10항에 있어서
    상기 제1, 2, 3 트레이 이송 부재들에 의하여 상기 전자부품을 이송하는 단계들은, 상기 테스트 트레이를 수평 방향으로 누워지도록 하여 이송하고,
    상기 테스트부에서는 상기 테스트 트레이를 수직방향으로 세워지도록 하여 이송하며,
    상기 테스트 트레이를 출입부에서 테스트부로 이송하는 단계 및 상기 테스트 트레이를 테스트부로부터 출입부로 이송하는 단계는 각각, 상기 출입부에서 상기 테스트 트레이를 수평 방향 또는 수직 방향으로 선회하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 테스트부에서 테스트 트레이를 출입부로 이송하는 단계와, 상기 테스트 트레이를 출입부에서 테스트부로 이송하는 단계는 교번하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 테스트 트레이 이송 방법.
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