KR100984513B1 - 발광소자 테스트 핸들러 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커 및 어느 하나의 픽커가 상기 공급부 위에 위치되고 적어도 두 개의 픽커가 각각 상기 소켓 위에 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부; 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 발광소자가 분류되는 분류위치, 및 발광소자가 수납되는 수납위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및 발광소자가 픽업되는 픽업위치와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛 및 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛을 가지는 제2구동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 발광소자가 테스트되는 동안에도 새로운 테스트될 발광소자를 계속하여 이송할 수 있으므로 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.
발광소자, 테스트 핸들러, 테스터

Description

발광소자 테스트 핸들러{Luminous element Test Handler}
본 발명은 발광소자를 테스트하고, 테스트 결과 분석에 따라 정하여진 등급별로 발광소자를 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.
발광 다이오드(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(semiconductor laser) 등 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자(이하, '발광 소자'라 함)들은, 전자제품의 부하·운전 등의 상황을 나타내는 표시등, 숫자·문자표시기, 카메라의 자동초점용 광원, 광통신용 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.
이러한 발광소자는 여러 가지 테스트 과정을 거쳐 제조되는데, 상기 테스트 과정 중에서 사용되는 장비 중 하나가 발광소자 테스트 핸들러이다.
도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도이다.
도 1을 참조하면, 발광소자 테스트 핸들러(10)는 공급부(11), 이송부(12), 테스트부(13), 및 소팅부(14)를 포함한다.
상기 공급부(11)는 상기 이송부(12)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자들을 공급한다. 상기 공급부(11)에는 테스트될 발광소자들이 복수개 저장되어 있다.
상기 이송부(12)는 테스트될 발광소자들을 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(13)로 이송한다.
상기 테스트부(13)는 테스트될 발광소자를 수납하는 복수개의 소켓(131)과 상기 소켓(131)에 수납된 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(132)을 포함한다.
상기 테스트유닛(132)은 발광소자에 접속되어 발광소자를 발광시킴으로써 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트유닛(132)은 별도의 분석장비에 연결되어, 발광소자에 대한 테스트 결과 정보를 상기 분석장비에 송신한다. 상기 분석장비는 상기 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(14)로 송신한다.
상기 소팅부(14)는 상기 분석장비로부터 등급 정보를 수신하고, 상기 등급 정보에 따라 발광소자를 등급별로 분류한다.
상술한 바와 같은 발광소자 테스트 핸들러를 이용함으로써, 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 된다.
상기 발광소자 테스트 핸들러를 이용한 테스트 과정에서 발광소자에 대한 테스트가 제대로 이루어지지 않는다면, 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 갖춘 성능과 다른 등급으로 분류될 수 있다.
이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키는 결과를 초래할 수 있다.
따라서, 향상된 테스트 신뢰도를 구현할 수 있으면서도, 발광소자에 대한 제조단가를 더 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러의 개발이 필요하다.
본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자에 대한 테스트 신뢰도 또한 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 수납되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부; 상기 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커 및 어느 하나의 픽커가 상기 공급부 위에 위치되고 적어도 두 개의 픽커가 각각 상기 소켓 위에 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부; 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 발광소자가 분류되는 분류위치, 및 발광소자가 수납되는 수납위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및 발광소자가 픽업되는 픽업위치와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛 및 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛을 가지는 제2 구동유닛을 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.
본 발명은 발광소자가 테스트되는 동안에도 새로운 테스트될 발광소자를 계속하여 이송할 수 있도록 구현함으로써 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도, 도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 이송부, 및 테스트부를 나타낸 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 보정위치, 수납위치, 테스트위치, 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도, 도 5 내지 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 이송부 및 조절유닛의 작동상태를 나타낸 사시도, 도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 이송부 및 보정부를 나타낸 사시도, 도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도, 도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도, 도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도이다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 공 급부(2), 이송부(3), 조절유닛(4), 보정부(5, 도 8에 도시됨), 테스트부(6), 소팅부(7), 제1구동유닛(8), 및 제2구동유닛(9)을 포함한다.
상기 공급부(2)는 상기 이송부(3)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(2)는 저장부(21), 운반부(22), 및 안착부(23)를 포함한다.
상기 저장부(21)에는 테스트될 발광소자가 복수개 저장될 수 있다. 상기 저장부(21)는 진동을 이용하여 이에 저장되어 있는 테스트될 발광소자들을 상기 운반부(22)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장부(21)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반부(22)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.
상기 운반부(22)는 상기 저장부(21)로부터 공급되는 테스트될 발광소자들을 상기 안착부(23)로 이송한다. 상기 운반부(22)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 운반부(22)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.
상기 안착부(23)에는 상기 운반부(22)로부터 이송되는 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착부(23)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈을 포함할 수 있다. 상기 안착부(23)는 상기 이송부(3)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 공급부(2)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착부(23)에 설치되어 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반부(22)는 상기 안착부(23)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반부(23)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 이송부(3)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 이송부(3)는 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 이송부(3)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
상기 공급부(2)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(2)는 상기 이송부(3)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다.
도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 이송부(3)는 상기 안착부(23)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(6)로 이송한다. 상기 이송부(3)는 상기 공급부(2) 및 상기 테스트부(6) 사이에 설치될 수 있다.
상기 이송부(3)는 픽커(31), 본체(32), 및 탄성부재(33)를 포함할 수 있다.
상기 픽커(31)는 발광소자에 직접 접촉되어 발광소자를 흡착할 수 있다. 상기 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업하고, 픽업한 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시킨다. 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 때 상기 픽커(31)는 픽업위치(2a)에 위치되고, 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시킬 때 상기 픽커(31)는 수납위치(3a)에 위치된다.
상기 픽커(31)는 픽업위치(2a) 및 수납위치(3a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)는 상기 테스트부(6)에 발광소자를 수납시킬 수 있다.
상기 픽커(31)가 상기 픽업위치(2a)에서 발광소자를 픽업하는데 걸리는 시간보다 상기 테스트부(6)가 발광소자를 테스트하는데 더 오랜 시간이 걸린다. 따라서, 상기 픽커(31)가 상기 픽업위치(2a)에서 픽업하는 발광소자의 개수와 상기 수납위치(3a)에서 상기 테스트부(6)에 수납시키는 발광소자의 개수가 동일하면, 다음과 같은 문제가 있다.
상기 테스트부(6)에서 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)는 상기 테스트부(6)에 새로운 발광소자를 수납시킬 수 없다. 상기 테스트부(6)는 발광소자가 수납되는 소켓(61)을 복수개 포함하는데, 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 새로운 소켓(61)이 상기 수납위치(3a)에 위치될 수 없기 때문이다.
상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)가 상기 테스트부(6)에 새로운 발광소자를 수납시킬 수 없으므로, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 또한 상기 안착부(23)에서 새로운 발광소자를 픽업할 수 없다. 이에 따라, 상기 공급부(2) 또한 새로운 테스트될 발광소자를 공급할 수 없다.
따라서, 상기 테스트부(6)에서 발광소자에 대한 테스트가 완료될 때까지 상기 공급부(2) 및 이송부(3)가 대기해야 하며, 이로 인한 시간 손실이 전체 작업시간을 증대시키는 문제가 있다.
상술한 바와 같은 문제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)에서 상기 픽커(31)는 상기 픽업위치(2a)에서 보다 상기 수납위치(3a)에 서 더 많은 개수의 픽커(31)가 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.
이에 따라, 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치될 때까지, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되면서 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업한 후에 상기 수납위치(3a)로 순차적으로 이동될 수 있다. 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되면, 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들이 상기 소켓(61)들에 발광소자들을 한꺼번에 수납시킬 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(6)에서 발광소자가 테스트되는 동안에도 상기 공급부(2) 및 상기 이송부(3)가 계속하여 작업할 수 있으므로, 시간 손실을 없앨 수 있고 전체 작업시간을 줄일 수 있다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)에서 상기 픽커(31)는 다음과 같 이 크게 세가지 실시예로 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.
제1실시예로, 상기 픽커(31)는 어느 하나가 상기 공급부(2) 위에 위치되고, 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 테스트부(6) 위에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽커(31)가 상기 공급부(2) 위에 위치될 때 상기 픽커(31)는 픽업위치(2a)에 위치되는 것이고, 상기 픽커(31)가 상기 테스트부(6) 위에 위치될 때 상기 픽커(31)는 수납위치(3a)에 위치되는 것이다.
상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 하나씩 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 적어도 두 개의 픽커(31)는 적어도 두 개의 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시킬 수 있다.
제2실시예로, 상기 픽커(31)는 N(N은 1보다 큰 정수)개의 픽커(31)가 각각 상기 픽업위치(2a)에 위치되고, 2N개의 픽커가 각각 상기 수납위치(3a)에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치된 N개의 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 N개의 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 2N개의 픽커(31)는 2N개의 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시킬 수 있다.
제3실시예로, 상기 픽커(31)는 N개의 픽커가 각각 상기 픽업위치(2a)에 위치되고, M(M은 N보다 큰 정수)개의 픽커(31)가 각각 상기 수납위치(3a)에 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치된 N개의 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 N개의 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 M개의 픽커(31)는 M개의 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시킬 수 있다. M은 N의 배수일 수 있다.
상기 픽커(31)들은 상기 본체(32)에 개별적으로 승하강 가능하게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 본체(32)가 승하강될 때, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)는 함께 승하강될 수도 있고, 개별적으로 승하강될 수도 있다.
상기 본체(32)가 승하강될 때, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들은 승하강되고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 조절유닛(4)에 의해 선택적으로 승하강될 수 있다.
상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치될 때까지, 상기 본체(32)가 승하강되더라도 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 승하강되지 않는다. 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되면, 상기 본체(32)가 승하강됨에 따라 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들 및 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 동시에 승하강될 수 있다.
상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 조절유닛(4)에 의해 선택적으로 승하강되고, 상기 본체(32)가 승하강될 때 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커가 함께 승하강될 수 있다.
상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치될 때까지, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들만 상기 조절유닛(3)에 의해 승하강될 수 있다. 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되면, 상기 본체(32)가 승하강됨에 따라 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들 및 상기 픽 업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 동시에 승하강될 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트부(6)에서 발광소자가 테스트되는 동안에도 상기 공급부(2) 및 상기 이송부(3)가 계속하여 작업할 수 있으므로, 시간 손실을 없앨 수 있고 전체 작업시간을 줄일 수 있다.
상기 본체(32)는, 상기 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송할 수 있도록, 상기 제2구동유닛(9)에 의해 이동될 수 있다. 상기 본체(32)는 상기 제2구동유닛(9)에 의해 승하강될 수 있고, 상기 제2구동유닛(9)에 의해 회전축(32a)을 중심으로 회전될 수 있다.
상기 본체(32)에는 복수개의 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 상기 제2구동유닛(9)은 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 이격된 각도와 동일한 각도로 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.
상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31) 및 상기 본체(32) 사이에 개재된다. 상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31)들이 상기 본체(32)에서 탄성적으로 승하강되도록 한다. 상기 이송부(3)는 상기 픽커(31)와 동일한 개수의 탄성부재를 포함할 수 있다.
도 2 내지 도 7을 참고하면, 상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 선택적으로 승하강되도록 조절한다.
상기 조절유닛(4)은 본체(32)가 승하강될 때 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 선택적으로 승하강되도록 한다.
상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치될 때까지, 상기 본체(32)가 승하강되더라도 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되지 않도록 한다. 상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되면, 상기 본체(32)가 승하강됨에 따라 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들이 승하강되도록 할 수 있다.
따라서, 상기 조절유닛(4)은 상기 테스트부(6)에서 발광소자가 테스트되는 동안에도 상기 공급부(2) 및 상기 이송부(3)가 계속하여 작업할 수 있도록 한다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치되는 실시예에 따라 다음과 같은 조절유닛(4)을 포함할 수 있다.
상술한 제1실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 위치되는 적어도 두 개의 픽커(31) 중 적어도 하나의 픽커(31)에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 적어도 두 개의 픽커(31)에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되도록 조절할 수 있다.
상술한 제2실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 위치되는 2N개의 픽커(31) 중 적어도 하나의 픽커(31)에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽 커(31)들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 2N개의 픽커(31)에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되도록 조절할 수 있다.
상술한 제3실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 조절유닛(4)은 상기 수납위치(3a)에 위치되는 M개의 픽커(31) 중 적어도 하나의 픽커(31)에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 M개의 픽커(31)에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되도록 조절할 수 있다.
상기 조절유닛(4)은 조절부재(41) 및 이동유닛(42)을 포함할 수 있다.
상기 조절부재(41)는 제1위치 및 제2위치 간에 이동될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이 상기 조절부재(41)가 제1위치에 위치될 때, 상기 조절부재(41)는 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되는 것을 저지할 수 있다. 도 5 및 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 조절부재(41)가 상기 제2위치에 위치될 때, 상기 조절부재(41)는 상기 수납위치(41)에 위치되는 픽커(31)들이 승하강되도록 할 수 있다.
상기 조절부재(41)는 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 삽입되는 삽입홈(411)을 포함할 수 있다. 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 삽입홈(411)에 삽입되어 상기 조절부재(41)에 지지됨으로써 하강되지 않을 수 있다. 상기 조절부재(41)는 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)와 동일한 개수의 삽입홈(411)을 포함할 수 있다.
상기 이동유닛(42)은 상기 조절부재(41)를 상기 제1위치 및 상기 제2위치 간에 이동시킬 수 있다. 상기 이동유닛(42)은 상기 삽입홈(411)에 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 삽입되도록 상기 조절부재(41)를 상기 제2위치에서 상기 제1위치로 이동시킬 수 있다. 상기 이동유닛(42)은 공압실린더 또는 유압실린더를 포함할 수 있다.
상기 이동유닛(42)의 작동관계를 살펴보면, 다음과 같다.
상기 이동유닛(42)은 상기 본체(32)가 회전되는 동안에는 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 조절부재(41)를 상기 제2위치에 위치시킨다.
상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되지 않은 상태에서 상기 본체(32)가 회전을 멈추면, 상기 이동유닛(42)은 상기 조절부재(41)를 상기 제2위치에서 상기 제1위치로 이동시킨다. 이 때, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들 중 적어도 하나의 픽커(31)에는 테스트될 발광소자가 흡착되어 있지 않다.
상기 조절부재(41)가 상기 제1위치로 이동되면, 도 6에 도시된 바와 같이 상기 삽입홈(411)에 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 삽입되고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 본체(32) 및 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 하강되더라도 상기 조절부재(41)에 지지되어 하강되지 않는다.
상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 발광소자를 픽업하면, 상기 이동유닛(42)은 도 5에 도시된 바와 같이 상기 조절부재(41)를 상기 제1위치에서 상기 제2위치로 이동시킨다. 이에 따라, 상기 본체(32)가 회전되어도 상기 픽커(31) 및 상기 조절부재(41)가 서로 충돌하지 않도록 한다.
상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치된 상태에서 상기 본체(32)가 회전을 멈추면, 상기 이동유닛(42)은 도 7에 도시된 바와 같이 상기 조절부재(41)를 그대로 상기 제2위치에 위치시킨다. 이 때, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들에는 모두 테스트될 발광소자가 흡착되어 있다.
상기 조절부재(41)가 그대로 상기 제2위치에 위치된 상태에서, 상기 본체(32)가 승하강되면 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들이 함께 승하강될 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 테스트부(6)에 발광소자를 수납시킬 수 있다.
상술한 과정들을 반복적으로 수행하면서, 상기 이동유닛(42)은 상기 이송부(2)가 테스트될 발광소자들을 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송하도록 한다.
도시되지는 않았지만, 상기 조절유닛(4)은 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 선택적으로 승하강되도록 조절할 수 있다. 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들은 상기 조절유닛(4)에 의해 선택적으로 승하강되고, 상기 본체(32)가 승하강될 때 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커가 함께 승하강될 수 있다.
상기 수납위치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치될 때까지 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들만 상기 조절유닛(3)에 의해 승하강되고, 상기 수납위 치(3a)에 새로운 소켓(61)들이 위치되면 상기 본체(32)가 승하강됨에 따라 그 동안 발광소자를 픽업하여 상기 수납위치(3a)로 이동된 픽커(31)들 및 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31)들이 동시에 승하강될 수 있다.
도 2 내지 도 8을 참고하면, 상기 보정부(5)는 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(6)에 수납되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정한다.
테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 극성에 맞게 접속되어야만 테스트가 이루어질 수 있는 경우, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하려면 테스트될 발광소자가 공급되는 시간이 증가하게 된다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하는지 여부에 관계없이, 상기 보정부(5)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 보정할 수 있으므로, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄일 수 있다.
극성에 관계없이, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 픽커(31)에 흡착되어 있지 않은 경우에도, 상기 보정부(5)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 예컨대, 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)의 정위치에 흡착되지 못한 경우 또는 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 등에, 상기 보정부(5)는 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.
따라서, 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 테스트부(6)에 정확하게 수납될 수 있으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
상기 보정부(5)는 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a) 사이에 위치하는 보정위치(5a)에 설치될 수 있다. 상기 보정부(5)는 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a), 상기 보정위치(5a) 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.
상기 보정부(5)는 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하는 동안, 상기 보정위치(5a)에 위치한 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.
따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 보정하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.
상기 보정부(5)는 보정유닛(51) 및 감지유닛(52)을 포함할 수 있다.
상기 보정유닛(51)에는 테스트될 발광소자가 수납된다. 상기 보정유닛(51)은 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 이에 테스트될 발광소자가 수납된 상태에서 회전될 수 있다.
따라서, 상기 보정유닛(51)은 테스트될 발광소자가 상기 테스트부(6)에서 극성에 맞게 접속될 수 있도록 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 또한, 상기 보정유닛(51)은 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.
상기 보정유닛(51)은 모터(미도시), 모터에 의해 회전되는 구동풀리(511), 상기 보정유닛(51)에 결합된 종동풀리(512), 및 상기 구동풀리(511)와 상기 종동풀리(512)를 연결하는 벨트(513)에 의해 회전될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리(511)를 회전시키면, 상기 벨트(513)가 이동되어 상기 종동풀리(512)를 회전시킴으로써, 상기 보정유닛(51)을 회전시킬 수 있다.
상기 감지유닛(52)은 상기 보정유닛(51) 및 상기 픽업위치(2a) 사이에 설치되고, 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지한다. 상기 보정유닛(51)은 상기 감지유닛(52)이 획득한 정보를 이용하여 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 상기 감지유닛(52)은 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 촬영하는 비전카메라를 포함할 수 있다.
상기 감지유닛(52)은 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 각각 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(52)의 위, 상기 보정유닛(51)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.
이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(6)에 수납시키며, 상기 보정유닛(51)이 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있 는 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 하는 동안, 상기 감지유닛(52)은 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있는 테스트될 발광소자의 상태를 감지할 수 있다.
따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 감지하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.
여기서, 상기 이송부(3)는 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(52)의 위, 상기 보정유닛(51)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 각각 위치되는 픽커(31)들 외에 더 많은 개수의 픽커(31)를 포함할 수 있다.
이에 따라, 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 픽커(31)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 테스트될 발광소자들이 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송되도록 할 수 있다.
도 2 내지 도 10을 참고하면, 상기 테스트부(6)는 소켓(61), 지지부재(62), 및 테스트유닛(63)을 포함한다.
상기 소켓(61)에는 발광소자가 수납된다. 상기 소켓(61)에 수납되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(61)에 흡착될 수 있다.
상기 소켓(61)은 상기 지지부재(62)에 복수개가 설치될 수 있다. 상기 소켓(61)들은 각각 수납위치(3a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(6a), 및 발광소자가 분류되는 분류위치(7a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(62)에 설치될 수 있다. 상기 테스트위치(6a)는 상기 테스트유닛(63)이 상기 소켓(61)에 수납 되어 있는 발광소자를 테스트하는 위치이고, 상기 분류위치(7a)는 상기 소팅부(7)가 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 발광소자를 분류하는 위치이다.
이에 따라, 상기 수납위치(3a)에 위치된 소켓(61)에는 상기 픽커(31)에 의해 테스트될 발광소자가 수납되고, 상기 테스트위치(6a)에 위치된 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자는 상기 테스트유닛(63)에 의해 테스트되며, 상기 분류위치(7a)에 위치된 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자는 상기 소켓(61)에서 상기 소팅부(7)로 이송될 수 있다.
상기 지지부재(62)는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 상기 소켓(61)들이 순차적으로 위치되도록 상기 제1구동유닛(8)에 의채 회전될 수 있다.
상기 지지부재(62)는 상기 제1구동유닛(8)에 의해 회전축(62a)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 지지부재(62)에는 복수개의 상기 소켓(61)들이 회전축(62a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다.
이에 따라, 상기 지지부재(62)가 회전축(62a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(61)들은 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 동시에 위치될 수 있다.
상기 지지부재(62)에는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 동시에 위치되는 소켓(61)들 외에 더 많은 개수의 소켓(61)이 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1구동유닛(8)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(61)들을 다음 위치로 이 동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되고 등급별로 분류되도록 할 수 있다.
상기 테스트유닛(63)은 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트부(6)는 복수개의 테스트유닛(63)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(63)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(7)로 송신할 수 있다.
상기 테스트유닛(63)은 접속유닛(631) 및 측정유닛(632)을 포함한다.
상기 접속유닛(631)은 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(631)은 테스트될 발광소자에 접속되어, 테스트될 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(631)은 테스트될 발광소자를 발광시킬 수 있고, 이에 따라 상기 측정유닛(632)이 테스트될 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있도록 한다.
상기 접속유닛(631)은, 도 10에 도시된 바와 같이, 제1접속유닛(631a) 및 제2접속유닛(631b)을 포함할 수 있다. 상기 제1접속유닛(631a) 및 제2접속유닛(631b)은 서로 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있고, 서로 가까워지게 이동되면 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 발광소자에 접속될 수 있다.
상기 측정유닛(632)은 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트될 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(632)이 광특성 정보를 상기 테스터로 송신하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해 당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(7)로 송신할 수 있다.
도 2 내지 도 11을 참고하면, 상기 소팅부(7)는 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다.
상기 소팅부(7)는 상기 테스터로부터 테스트된 발광소자가 가지는 등급에 관한 정보를 수신하여, 이에 맞게 테스트된 발광소자를 분류할 수 있다.
상기 소팅부(7)는 수납유닛(71), 분류유닛(72), 및 이송유닛(73)을 포함할 수 있다.
상기 수납유닛(71)은 테스트된 발광소자들을 등급별로 수납한다. 상기 수납유닛(71)은 수납부재(711), 연결판(712), 및 연결부재(713)를 포함할 수 있다.
상기 수납부재(711)는 테스트된 발광소자들을 수납한다. 상기 수납유닛(71)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 수납부재(711)를 포함할 수 있다.
상기 연결판(712)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 관통공(712a)을 포함할 수 있다.
상기 연결부재(713)는 연결판(712)에 형성되어 있는 관통공(712a) 및 상기 수납부재(711)를 연결한다. 상기 연결부재(713)는 일측이 상기 연결판(712)에 결합되고, 타측이 상기 수납부재(711)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 연결판(712)에 형성되어 있는 관통공(712a) 및 상기 연결부재(713)의 내측을 지나 상기 수납부재(711)에 수납될 수 있다.
상기 분류유닛(72)은 이송유닛(73)으로부터 이송되어 오는 테스트된 발광소 자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부재(711)에 수납될 수 있도록, 해당 수납부재(711)에 연결된 상기 관통공(712a)으로 테스트된 발광소자를 전달한다. 상기 분류유닛(72)은 연결판(712)에 형성되는 있는 복수개의 관통공(712a) 위에서 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다.
상기 이송유닛(73)은 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(72)으로 이송한다. 상기 이송유닛(73)은 분류유닛(72)에 연결된 이송부재(731) 및 상기 소켓(61)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 상기 이송부재(731)로 공급하는 공급유닛(732)을 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 공급유닛(732)에 의해 상기 소켓(61)에서 상기 이송부재(731)를 지나 상기 분류유닛(72)으로 이송된다.
도 2 내지 도 11을 참고하면, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 상기 소켓(61)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(62)를 회전시킨다.
상기 제1구동유닛(8)은 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동유닛(8)은 상기 지지부재(62)를 일정 각도로 회전시킴으로써, 상기 지지부재(62)에 설치되어 있는 상기 소켓(61)들이 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 동시에 위치되도록 한다.
상기 제1구동유닛(8)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(61)들은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 분류위치(7a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치되는 실시예에 따라 다음과 같은 제1구동유닛(8)을 포함할 수 있다.
상술한 제1실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 소켓(61)들이 적어도 두 개씩 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(62)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 수납위치(3a)에 적어도 두 개씩 새로운 소켓(61)들을 위치시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
상술한 제2실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 소켓(61)들이 2N개씩 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(62)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 수납위치(3a)에 2N개씩 새로운 소켓(61)들을 위치시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 2N개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
상술한 제3실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 소켓(61)들이 M개씩 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(62)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(8)은 상기 수납위치(3a)에 M개씩 새로운 소켓(61)들을 위치시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 M개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 제2구동유닛(9)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트유닛(63)이 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 충분한 시간동안 발광소자를 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.
상기 제2구동유닛(9)은 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(6)로 이송할 수 있도록 상기 본체(32)를 이동시킨다.
상기 제2구동유닛(9)은 승하강유닛(91) 및 회전유닛(92)을 포함할 수 있다.
상기 승하강유닛(91)은 본체(32)를 승하강시킨다. 이에 따라, 상기 본체(32)에 결합되어 있는 픽커(31)들이 함께 승하강될 수 있다.
상기 승하강유닛(91)이 상기 본체(32)를 하강시키면, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 보정위치(5a)에 위치된 픽커(31)는 상기 보정유닛(51)에 테스트될 발광소자를 수납시켜 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 하며, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)는 상기 조절유닛(4)에 의해 선택적으로 하강되면서 상기 소켓(61)에 테스트될 발광소자를 수납시킬 수 있다.
상기 회전유닛(92)은 상기 픽업위치(2a), 상기 보정위치(5a), 및 상기 수납 위치(3a)에 상기 픽커(31)들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킨다. 상기 회전유닛(92)은 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킬 수 있다.
상기 회전유닛(92)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a), 상기 보정위치(5a), 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치되는 실시예에 따라 다음과 같은 회전유닛(92)을 포함할 수 있다.
상술한 제1실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽커(31)들이 하나씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽업위치(2a)에 하나씩 새로운 픽커(31)를 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)를 하나씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 적어도 두 개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(92)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
상술한 제2실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽커(31)들이 N개씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽업위치(2a)에 N개씩 새로운 픽커(31)들을 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)들을 N개씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 2N개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(92)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
상술한 제3실시예에 따라 상기 픽커(31)가 상기 본체(32)에 설치된 경우, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽커(31)들이 N개씩 상기 픽업위치(2a)에 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 즉, 상기 회전유닛(92)은 상기 픽업위치(2a)에 N개씩 새로운 픽커(31)들을 위치시키고, 발광소자를 픽업한 픽커(31)들을 N개씩 상기 수납위치(3a)로 이동시킬 수 있다.
이에 따라, 발광소자가 흡착되어 있는 M개의 픽커(31)가 상기 수납위치(3a)에 위치될 때까지 상기 회전유닛(92)이 상기 본체(32)를 회전시키는 동안, 상기 테스트유닛(63)은 발광소자를 테스트할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 상기 테스트유닛(63)이 정확한 테스트 결과를 얻을 수 있는 충분한 시간동안 발광소자를 테스트할 수 있도록 함으로써 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도
도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도
도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 이송부, 및 테스트부를 나타낸 사시도
도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 보정위치, 수납위치, 테스트위치, 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도
도 5 내지 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 이송부 및 조절유닛의 작동상태를 나타낸 사시도
도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 이송부 및 보정부를 나타낸 사시도
도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도
도 10은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도
도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도

Claims (15)

  1. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 수납되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부;
    상기 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부;
    발광소자를 흡착할 수 있는 픽커 및 어느 하나의 픽커가 상기 공급부 위에 위치되고 적어도 두 개의 픽커가 각각 상기 소켓 위에 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부;
    발광소자가 테스트되는 테스트위치, 발광소자가 분류되는 분류위치, 및 발광소자가 수납되는 수납위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및
    발광소자가 픽업되는 픽업위치와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛 및 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛을 가지는 제2구동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 픽커들은 상기 본체에 개별적으로 승하강 가능하게 설치되고,
    상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 선택적으로 승하강되도록 조절하는 조절 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  3. 제2항에 있어서, 상기 조절유닛은
    제1위치에 위치될 때 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되는 것을 저지하는 조절부재, 및
    상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되도록 하는 제2위치 및 상기 제1위치 간에 상기 조절부재를 이동시키는 이동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 조절부재에는 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 삽입되는 삽입홈이 형성되어 있고,
    상기 이동유닛은 상기 삽입홈에 상기 픽커들이 삽입되도록 상기 조절부재를 상기 제2위치에서 상기 제1위치로 이동시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 회전유닛은 상기 픽커들이 하나씩 상기 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키고,
    상기 제1구동유닛은 상기 소켓들이 적어도 두 개씩 상기 수납위치에 순차적 으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 조절유닛은 상기 수납위치에 위치되는 적어도 두 개의 픽커 중 적어도 하나의 픽커에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치에 위치되는 적어도 두 개의 픽커에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되도록 조절하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  7. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 수납되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부;
    상기 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부;
    발광소자를 흡착할 수 있는 픽커 및 N(N은 1보다 큰 정수)개의 픽커가 각각 상기 공급부 위에 위치되고 2N개의 픽커가 각각 상기 소켓 위에 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부;
    발광소자가 테스트되는 테스트위치, 발광소자가 분류되는 분류위치, 및 발광소자가 수납되는 수납위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재 를 회전시키는 제1구동유닛; 및
    발광소자가 픽업되는 픽업위치와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛 및 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛을 가지는 제2구동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 픽커들은 상기 본체에 개별적으로 승하강 가능하게 설치되고,
    상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 선택적으로 승하강되도록 조절하는 조절유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 조절유닛은 상기 수납위치에 위치되는 2N개의 픽커 중 적어도 하나의 픽커에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치에 위치되는 2N개의 픽커에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되도록 조절하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 회전유닛은 상기 픽커들이 N개씩 상기 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키고;
    상기 제1구동유닛은 상기 소켓들이 2N개씩 상기 수납위치에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  11. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재, 상기 소켓에 수납되어 있는 테스트될 발광소자를 테스트하는 테스트유닛을 포함하는 테스트부;
    상기 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부;
    발광소자를 흡착할 수 있는 픽커 및 N(N은 1보다 큰 정수)개의 픽커가 각각 상기 공급부 위에 위치되고 M(M은 N보다 큰 정수)개의 픽커가 각각 상기 소켓 위에 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하는 이송부;
    발광소자가 테스트되는 테스트위치, 발광소자가 분류되는 분류위치, 및 발광소자가 수납되는 수납위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및
    발광소자가 픽업되는 픽업위치와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛 및 상기 본체를 승하강시키는 승하강유닛을 가지는 제2구동유닛을 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 픽커들은 상기 본체에 개별적으로 승하강 가능하게 설치되고,
    상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 선택적으로 승하강되도록 조절하는 조절유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 조절유닛은 상기 수납위치에 위치되는 M개의 픽커 중 적어도 하나의 픽커에 발광소자가 흡착되어 있지 않으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되는 것을 저지하고, 상기 수납위치에 위치되는 M개의 픽커에 모두 발광소자가 흡착되어 있으면 상기 수납위치에 위치되는 픽커들이 승하강되도록 조절하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 회전유닛은 상기 픽커들이 N개씩 상기 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키고;
    상기 제1구동유닛은 상기 소켓들이 M개씩 상기 수납위치에 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  15. 제1항, 제7항, 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 픽커들은 상기 본체에 개별적으로 승하강 가능하게 설치되고,
    상기 픽업위치에 위치되는 픽커들이 선택적으로 승하강되도록 조절하는 조절유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
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