KR101305078B1

KR101305078B1 - 발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러

Info

Publication number: KR101305078B1
Application number: KR1020120065201A
Authority: KR
Inventors: 장태훈; 정시환
Original assignee: 미래산업 주식회사
Priority date: 2012-06-18
Filing date: 2012-06-18
Publication date: 2013-09-11

Abstract

본 발명은 발광소자를 수납하기 위한 수납부재, 상기 수납부재에 수납된 발광소자를 흡착하기 위한 흡기유닛, 상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재, 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛, 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 수납부재에 결합되는 접속부재, 및 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 전기적으로 연결되도록 상기 접속부재에 접속되기 위한 접속유닛을 포함하는 발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 발광소자가 이송되는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있고, 이에 따라 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축할 수 있다.

Description

발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러{Apparatus for Testing Luminous element and Luminous element Test Handler having the same}

본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.

발광소자(Luminous element)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자로, 엘이디(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(Semiconductor laser) 등을 말하며, 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프, 숫자표시 장치나 계산기의 카드 판독기, 백라이트 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다. 이러한 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 장치가 발광소자 테스트 핸들러이다.

도 1은 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 부분 사시도이다.

도 1을 참고하면, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(11), 테스트될 발광소자가 테스트되는 테스트부(12), 테스트될 발광소자를 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(12)로 이송하는 픽커부(13), 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(12)에서 분류부(미도시)로 이송하는 이송부(14)를 포함한다. 상기 분류부는 상기 이송부(14)로부터 이송되는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 수납한다.

상기 테스트부(12)는 발광소자를 수납하기 위한 복수개의 수납부(121)를 포함한다. 상기 픽커부(13)가 상기 공급부(11)에서 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 수납부(121)에 수납시키면, 상기 테스트부(12)는 테스트될 발광소자가 테스트유닛(20)에 위치되도록 상기 수납부(121)들을 회전시킨다. 상기 테스트유닛(20)이 발광소자에 대한 테스트를 완료하면, 상기 테스트부(12)는 테스트된 발광소자가 상기 이송부(14)에 위치되도록 상기 수납부(121)들을 회전시킨다. 상기 수납부(121)는 발광소자가 수납되는 수납홈(122)을 포함한다. 발광소자가 상기 수납홈(122)에 수납되면, 상기 수납부(121)는 발광소자의 측벽들을 지지한다.

이러한 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 다음과 같은 문제가 있다.

첫째, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 상기 수납부(121)가 발광소자의 측벽들만을 지지하므로, 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자가 상기 수납부(121)로부터 쉽게 이탈되는 문제가 있다. 따라서, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 발광소자에 대한 손실이 발생하는 문제가 있다.

둘째, 상술한 바와 같이 발광소자가 손실되는 것을 방지하기 위해 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 속도를 줄이는 방안이 있다. 그러나, 상기 테스트부(12)가 상기 수납부(121)들을 회전시키는 속도를 줄이면, 상기 수납부(121)들이 상기 픽커부(13), 상기 테스트유닛(20) 및 상기 이송부(14)로 이동하는데 걸리는 시간이 증가하게 된다. 이에 따라, 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러(10)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간이 증가하는 문제가 있다.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 진동, 흔들림 등으로 인해 발광소자가 손실되는 것을 방지할 수 있는 발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하기 위한 것이다.

본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있는 발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하기 위한 것이다.

상술한 바와 같은 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트장치는 발광소자를 수납하기 위한 수납부재; 상기 수납부재에 수납된 발광소자를 흡착하기 위한 흡기유닛; 상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재; 상기 수납부재에 발광소자가 로딩되는 로딩위치, 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 상기 수납부재로부터 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치에 상기 수납부재들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛; 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 수납부재에 수납된 발광소자의 아래에 위치되게 상기 수납부재에 결합되는 접속부재; 및 상기 테스트위치에 위치되게 설치되고, 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 전기적으로 연결되도록 상기 접속부재에 접속되기 위한 접속유닛을 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 상기 공급부로부터 이격되게 설치되고, 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 발광소자 테스트장치; 발광소자를 이송하기 위해 상기 공급부와 상기 발광소자 테스트장치 사이에 위치되게 설치되는 픽커부; 및 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부를 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.

본 발명은 발광소자가 이송되는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지함으로써, 안정성을 향상시킬 수 있다.

본 발명은 발광소자를 이동시키는 속도를 증가시키더라도 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있으므로, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축할 수 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 부분 사시도
도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치를 포함하는 테스트 핸들러의 개략적인 블록도
도 3은 본 발명에 따른 수납부재의 개략적인 사시도
도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 수납부재를 도 3의 I-I 선을 기준으로 나타낸 개략적인 단면도
도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 사시도
도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 평면도
도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도
도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 평면도
도 10은 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치를 포함하는 테스트 핸들러의 개략적인 블록도, 도 3은 본 발명에 따른 수납부재의 개략적인 사시도, 도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 수납부재를 도 3의 I-I 선을 기준으로 나타낸 개략적인 단면도, 도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 사시도, 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치의 개략적인 평면도이다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자 테스트 핸들러(100, 도 2에 도시됨)에 설치된다. 우선, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)가 설치되는 발광소자 테스트 핸들러(100)에 관해 살펴보면, 다음과 같다.

상기 발광소자 테스트 핸들러(100)는 공급부(200, 도 2에 도시됨), 픽커부(300, 도 2에 도시됨), 및 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1) 및 분류부(400, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 테스트될 발광소자(L, 도 4에 도시됨)는 상기 픽커부(300)에 의해 상기 공급부(200)에서 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)로 이송된다. 그 후, 테스트될 발광소자(L)는 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(400)에 의해 발광소자(L)를 테스트하는 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨) 쪽으로 이동한다. 상기 테스트유닛(20)이 발광소자(L)에 대한 테스트를 완료하면, 테스트된 발광소자(L)는 상기 분류부(400)로 이송된 후에 상기 분류부(400)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)를 수납하기 위한 수납부재(2), 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착하기 위한 흡기유닛(3), 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속되도록 상기 수납부재(2)에 결합되는 접속부재(4), 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결되도록 상기 접속부재(4)에 접속되기 위한 접속유닛(5), 상기 수납부재(2)가 복수개 결합되는 회전부재(6), 및 상기 회전부재(6)를 회전시키는 구동유닛(7)을 포함한다.

상기 흡기유닛(3)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착함으로써, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 수납된 상태로 유지시키기 위한 힘을 강화할 수 있다.

이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 회전부재(6)가 회전됨에 따라 상기 수납부재(2)들이 이동하는 과정, 발광소자(L)가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 구동유닛(7)이 상기 회전부재(6)를 회전시키는 속도를 증가시키더라도, 상기 흡기유닛(3)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착하므로 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다.

상기 접속유닛(5)은 상기 접속부재(4)에 접속됨으로써, 상기 접속부재(4)를 통해 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 접속유닛(5)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결되는 과정에서 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전달되는 진동, 흔들림 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지함으로써, 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.

이하에서는 상기 수납부재(2), 상기 흡기유닛(3), 상기 접속부재(4), 상기 접속유닛(5), 상기 회전부재(6), 및 상기 구동유닛(7)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 수납부재(2)는 발광소자(L, 도 4에 도시됨)를 수납한다. 발광소자는 엘이디(LED, Light-emitting Diode)일 수 있다. 상기 수납부재(2)에는 상기 흡기유닛(3)이 연결된다. 상기 흡기유닛(3)은 흡입력을 발생시킴으로써, 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 흡착시킬 수 있다. 상기 수납부재(2)는 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 발광소자(L)를 수납할 수 있는 형태이면 원반 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.

상기 수납부재(2)는 발광소자(L)를 수납하기 위한 수납홈(21, 도 4에 도시됨)을 포함한다. 상기 수납부재(2)는 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)를 지지한다. 상기 수납홈(21)은 발광소자(L)와 대략 일치하는 크기 및 형태를 갖도록 형성된다. 예컨대, 상기 수납홈(21)은 사각판형으로 형성될 수 있다. 도 3에는 상기 수납부재(2)에 돌기가 형성됨으로써 상기 수납홈(21)을 형성하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 수납홈(21)은 상기 수납부재(2)에 홈을 가공함으로써 형성될 수도 있다.

상기 수납홈(21)은 상측방향(A 화살표 방향, 도 4에 도시됨)을 향할수록 크기가 커지도록 형성된다. 상기 상측방향(A 화살표 방향)은 상기 수납부재(2)에서 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)을 향하는 방향이다. 상기 테스트유닛(20)은 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)의 위에 위치되어 발광소자(L)가 방출한 광을 수광하고, 수광된 광을 이용하여 발광소자(L)를 테스트할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)가 방출한 광이 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)으로 전달되는 양을 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 상기 수납부재(2)에서 상기 수납홈(21)이 형성된 부분은, 발광소자(L)가 갖는 방사각에 대응되는 각도로 경사지게 형성될 수 있다. 예컨대, 발광소자(L)가 160°의 방사각을 갖는 엘이디인 경우, 상기 수납부재(2)에서 상기 수납홈(21)이 형성된 부분은, 10°이하의 각도(2a, 도 4에 도시됨)를 갖도록 경사지게 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)가 광을 방출하면, 발광소자(L)로부터 방출된 광은 상기 수납부재(2)에 가려지지 않는다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)로부터 방출된 광이 상기 수납부재(2)에 의해 손실되는 것을 방지함으로써, 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

상기 수납부재(2)는 상기 흡기유닛(3)에 연결되는 흡기공(22, 도 4에 도시됨)을 포함한다.

상기 흡기공(22)은 상기 수납홈(21)에 연결되게 형성된다. 상기 흡기공(22)은 상기 수납부재(2)를 관통하여 형성된다. 상기 흡기유닛(3)으로부터 제공되는 흡입력은 상기 흡기공(22)을 통해 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)에 전달된다. 이에 따라, 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)는 상기 수납부재(2)에 흡착될 수 있다. 상기 흡기공(22)은 상기 수납부재(2)의 밑면(2b, 도 4에 도시됨)을 관통하여 형성된다. 상기 흡기공(22)은 타원형의 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 흡기유닛(3)으로부터 제공되는 흡입력을 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)에 전달할 수 있는 형태이면 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 도 3에는 상기 수납부재(2)가 하나의 흡기공(22)을 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 수납부재(2)는 2개 이상의 흡기공(22)을 포함할 수도 있다.

상기 수납부재(2)는 상기 접속부재(4)가 결합되는 결합공(23, 도 4에 도시됨)을 포함한다.

상기 결합공(23)은 상기 수납홈(21)에 연결되게 형성된다. 상기 접속부재(4)는 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 접속되도록 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)의 아래에 위치되게 상기 수납부재(2)에 결합된다. 이에 따라, 상기 결합공(23)에 삽입되어 결합된 접속부재(4)는, 상기 수납홈(21)에 발광소자(L)가 수납되면 해당 발광소자(L)가 갖는 단자(L1, 도 4에 도시됨)에 접속된다. 상기 단자(L1)는 발광소자(L)의 밑면에 형성되어 있다. 상기 결합공(23)은 상기 흡기공(22)으로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성된다. 상기 결합공(23)은 상기 수납부재(2)의 밑면(2b)을 관통하여 형성된다. 상기 결합공(23)은 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 접속부재(4)가 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L) 및 상기 접속유닛(5)에 접속 가능하도록 결합될 수 있는 형태이면 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 결합공(23)은 상기 접속부재(4)와 대략 일치하는 크기 및 형태를 갖도록 형성될 수 있다.

상기 수납부재(2)는 상기 결합공(23)을 복수개 포함할 수도 있다. 상기 결합공(23)은 발광소자(L)가 갖는 단자(L1)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 접속부재(4)는 발광소자(L)가 갖는 단자(L1)에 대응되는 위치에 위치되게 상기 수납부재(2)에 결합된다. 발광소자(L)가 2개의 단자들(L1, L2)(도 4에 도시됨)을 갖는 것인 경우, 상기 수납부재(2)는 2개의 결합공들(23, 23')(도 4에 도시됨)을 포함할 수 있다. 상기 결합공들(23, 23')은 발광소자(L)가 갖는 단자들(L1, L2) 각각에 대응되는 위치에 형성된다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 수납부재(2)는 4개의 접속부재(4)들이 결합되도록 4개의 결합공(23)들을 포함할 수도 있다. 이 경우, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)가 갖는 2개의 단자들(L1, L2) 각각에 2개씩의 접속부재(4)들이 접속되도록 함으로써, 발광소자(L)를 테스트한 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 흡기유닛(3, 도 4에 도시됨)은 흡입력을 발생시킴으로써, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착한다. 상기 흡기유닛(3)은 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착함으로써, 발광소자(L)를 상기 수납부재(2)에 수납된 상태로 유지시키기 위한 힘을 강화할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지함으로써, 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)가 상기 흡기유닛(3)으로부터 제공된 흡입력에 의해 상기 수납부재(2)에 견고하게 수납된 상태로 유지되므로, 상기 구동유닛(7)이 상기 회전부재(6)를 회전시키는 속도를 증가시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자(L)를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축하는데 기여할 수 있다.

상기 흡기유닛(3)은 상기 흡기공(22, 도 4에 도시됨)에 연결되게 상기 수납부재(2)에 결합된다. 상기 흡기공(22)이 상기 결합공(23)과 상기 결합공(23)에 결합된 접속부재(4)로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성되므로, 상기 흡기유닛(3)은 상기 접속유닛(5)이 상기 접속부재(4)에 접속되는 동안에도 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착하는 상태로 유지될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 접속유닛(5)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결되는 과정에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지함으로써, 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 접속부재(4, 도 4에 도시됨)는 상기 수납부재(2)에 결합된다. 상기 접속부재(4)는 상기 수납부재(2)에 발광소자(L, 도 4에 도시됨)가 수납되면, 해당 발광소자(L)의 단자(L1, 도 4에 도시됨)에 접속되도록 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)의 아래에 위치되게 상기 수납부재(2)에 결합된다. 상기 접속부재(4)는 일단이 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L)에 접속되고, 타단이 상기 접속유닛(5, 도 2에 도시됨)에 접속되도록 상기 결합공(23, 도 4에 도시됨)에 삽입되어 상기 수납부재(2)에 결합된다. 상기 접속부재(4)는 상기 결합공(23)과 대략 일치하는 형태 및 크기를 갖도록 형성될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 접속부재(4)를 복수개 포함할 수도 있다. 발광소자(L)가 2개의 단자들(L1, L2)(도 4에 도시됨)을 갖는 것인 경우, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 2개의 접속부재들(4, 4')(도 4에 도시됨)을 포함할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 4개의 접속부재(4)을 포함할 수도 있다. 이 경우, 발광소자(L)가 갖는 2개의 단자들(L1, L2) 각각에 상기 접속부재(4)들이 2개씩 접속될 수 있다. 도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 3개, 5개 이상의 접속부재(4)를 포함할 수도 있다. 상기 수납부재(2)는 상기 접속부재(4)와 대략 일치하는 개수의 결합공(23)을 포함할 수 있다.

도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 접속유닛(5, 도 6에 도시됨)은 상기 수납부재(2)에 결합된 접속부재(4)에 접속된다. 상기 접속유닛(5)은 상기 접속부재(4)에 접속됨으로써, 상기 수납홈(21)에 수납된 발광소자(L, 도 4에 도시됨)에 전기적으로 연결된다. 이에 따라, 상기 접속유닛(5)은 발광소자(L)에 대한 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(5)은 발광소자(L)를 발광시킬 수도 있다. 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)은 발광소자(L)가 방출한 광으로부터 발광소자(L)에 대한 광특성을 측정할 수 있다. 상기 접속유닛(5)은 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)에 위치되게 설치된다. 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)는 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 테스트할 수 있는 위치이다. 상기 접속유닛(5)은 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)에서 상기 수납부재(2) 아래에 위치되게 설치될 수 있다.

상기 접속유닛(5)은 상기 접속부재(4)에 접속되기 위한 접속핀(51), 및 상기 접속핀(51)을 승강(昇降)시키는 승강기구(52, 도 6에 도시됨)를 포함한다.

상기 접속핀(51)은 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)에 위치된 발광소자(L)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)에 발광소자(L)가 위치되면, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 접속핀(51)은 상기 승강기구(52, 도 6에 도시됨)에 의해 상승됨으로써 상기 접속부재(4)에 접속된다. 이에 따라, 상기 접속핀(51)은 상기 접속부재(4)를 통해 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결된다. 이 경우, 상기 흡기유닛(3)은 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)를 흡착한 상태로 유지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 접속핀(51)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결되는 과정에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자(L)가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지함으로써, 발광소자(L)에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.

상기 접속핀(51)이 상기 접속부재(4)에 접속되면, 상기 접속유닛(5)은 상기 접속핀(51)과 상기 접속부재(4)를 통해 발광소자(L)에 전기적 신호를 인가함으로써 발광소자(L)에 대한 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속핀(51)이 상기 접속부재(4)에 접속되면, 상기 접속유닛(5)은 상기 접속핀(51)과 상기 접속부재(4)를 통해 발광소자(L)에 전원을 공급함으로써 발광소자(L)를 발광시킬 수 있다.

상기 접속유닛(5)은 상기 접속핀(51)을 복수개 포함할 수도 있다. 발광소자(L)가 2개의 단자들(L1, L2)(도 4에 도시됨)을 갖는 것인 경우, 상기 접속유닛(5)은 2개의 접속핀들(51, 51')(도 4에 도시됨)을 포함할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)가 4개의 접속부재(4)을 포함하는 경우, 상기 접속유닛(5)은 4개의 접속핀(51)을 포함할 수 있다. 이 경우, 발광소자(L)가 갖는 2개의 단자들(L1, L2) 각각에 2개씩의 접속핀(51)들이 전기적으로 연결될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 접속유닛(5)은 3개, 5개 이상의 접속핀(51)을 포함할 수도 있다. 상기 접속유닛(5)은 상기 접속부재(4)와 대략 일치하는 개수의 접속핀(51)을 포함할 수 있다.

도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 승강기구(52, 도 6에 도시됨)는 상기 접속핀(51)을 승강시킨다. 상기 접속핀(51)은 상기 승강기구(52)에 결합된다. 상기 승강기구(52)는 본체(1a, 도 6에 도시됨)에 결합된다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 승강기구(52)는 상기 접속핀(51)를 상승시킴으로써, 상기 접속핀(51)을 상기 접속부재(4)에 접속시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 접속핀(51)은 상기 접속부재(4)를 통해 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자(L)에 전기적으로 연결된다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 승강기구(52)는 상기 접속핀(51)을 하강시킴으로써, 상기 접속핀(51)을 상기 접속부재(4)로부터 이격시킬 수 있다. 상기 승강기구(52)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 리니어모터(Linear Motor) 방식 등을 이용하여 상기 접속핀(51)을 승강시킬 수 있다.

도 6 및 도 7을 참고하면, 상기 회전부재(6)는 상기 수납부재(2)를 지지한다. 상기 회전부재(6)에는 상기 수납부재(2)가 결합된다. 상기 회전부재(6)는 상기 본체(1a, 도 6에 도시됨)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 회전부재(6)는 일부가 상기 본체(1a) 내부에 위치되게 결합될 수 있다. 상기 회전부재(6)는 로딩위치(LP, 도 7에 도시됨), 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨), 및 언로딩위치(ULP, 도 7에 도시됨)에 상기 수납부재(2)가 순차적으로 위치되도록 상기 구동유닛(7)에 의해 회전된다. 상기 로딩위치(LP)는 테스트될 발광소자가 상기 수납부재(2)에 로딩되는 공정이 이루어지는 위치이다. 상기 언로딩위치(ULP)는 테스트된 발광소자가 상기 수납부재(2)로부터 언로딩되는 공정이 이루어지는 위치이다. 상기 회전부재(6)는 상기 구동유닛(7)에 의해 회전축(7a)을 중심으로 회전된다.

상기 회전부재(6)에는 상기 수납부재(2)가 복수개 결합된다. 상기 수납부재(2)들은 각각 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치되도록 상기 회전부재(6)에 설치된다. 이에 따라, 상기 로딩위치(LP)에서는 상기 수납부재(2)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 공정이 수행되고, 상기 테스트위치(TP)에서는 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자를 테스트하는 공정이 수행되며, 상기 언로딩위치(ULP)에서는 상기 수납부재(2)으로부터 테스트된 발광소자를 언로딩하는 공정이 수행된다. 상기 회전부재(6)에 상기 수납부재(2)가 복수개 결합되는 경우, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 흡기유닛(3) 및 상기 접속부재(4)를 각각 복수개 포함할 수 있다. 이 경우, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 수납부재(2)의 개수와 대략 일치하는 개수의 흡기유닛(3)을 포함할 수 있다. 도시되지 않았지만, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 하나의 흡기유닛(3)을 상기 수납부재(2)들에 연결하기 위한 튜브들을 포함할 수도 있다.

상기 회전부재(6)에는 상기 수납부재(2)들이 회전축(7a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 회전부재(6)가 회전축(7a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 수납부재(2)들은 각각 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치될 수 있다. 상기 회전부재(6)에는 상기 로딩위치(LP), 상기 테스트위치(TP), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치되는 수납부재(2)들 외에 더 많은 개수의 수납부재(2)가 설치될 수도 있다. 이에 따라, 상기 수납부재(2)들을 다음 위치로 이동시키기 위해 상기 구동유닛(7)이 상기 회전부재(6)를 회전축(7a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄임으로써, 상기 수납부재(2)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되도록 할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 등급별로 분류되도록 할 수 있다.

상기 회전부재(6)는 원반 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 수납부재(2)가 복수개 결합될 수 있는 형태이면 사각판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 회전부재(6)는 상기 접속핀(51)이 상기 수납부재(2)에 결합된 접속부재(4)에 접속될 수 있도록 상기 접속핀(51)을 통과시키기 위한 통과공을 포함할 수도 있다. 상기 통과공은 상기 접속부재(4)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 상기 회전부재(6)는 상기 수납부재(2)의 개수와 대략 일치하는 개수의 통과공을 포함할 수 있다.

도 6 및 도 7을 참고하면, 상기 구동유닛(7)은 상기 회전부재(6)를 회전시킨다. 상기 구동유닛(7)은 상기 회전부재(6)를 상기 회전축(7a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 구동유닛(7)이 상기 회전부재(6)를 상기 회전축(7a)을 중심으로 회전시킴에 따라, 상기 수납부재(2)들은 상기 로딩위치(LP, 도 7에 도시됨), 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨), 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 7에 도시됨)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

상기 구동유닛(7)은 상기 회전부재(6)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전축(7a)에 직접 결합되어 상기 회전부재(6)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 회전축(7a)이 소정 거리로 이격되게 설치되는 경우, 상기 구동유닛(7)은 상기 회전축(7a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.

도 2, 도 6 및 도 7을 참고하면, 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨)은 상기 테스트위치(TP, 도 7에 도시됨)에 위치되게 설치된다. 상기 테스트유닛(20)은 상기 본체(1a, 도 6에 도시됨)에 결합될 수 있다. 발광소자는 수납부재(2)에 수납된 상태로 상기 테스트위치(TP)에 위치된다. 도시되지 않았지만, 상기 테스트유닛(20)은 상기 테스트위치(TP)에 위치되게 설치되는 측정기구 및 발광소자에 대한 테스트 결과를 분석하는 테스터를 포함할 수 있다.

상기 측정기구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자가 갖는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정기구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자의 위에 위치되도록 상기 본체(1a)에 설치될 수 있다. 상기 측정기구는 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정기구는 적분구(Integrating Sphere)를 포함할 수 있다. 상기 적분구는 상기 테스트위치(TP)에 위치된 발광소자의 위에 위치되도록 상기 본체(1a)에 설치될 수 있다. 상기 측정기구는 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등과 같이 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 대응되는 여러 종류의 장치를 포함할 수도 있다. 예컨대, 상기 측정기구는 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치를 포함할 수 있다. 상기 측정기구는 측정한 광특성 정보를 상기 테스터에 제공한다. 상기 측정기구는 무선 통신과 유선 통신 중에서 적어도 하나를 이용하여 상기 광특성 정보를 상기 테스터에 제공할 수 있다.

상기 테스터는 발광소자에 대한 테스트 결과를 분석하여 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 등급 정보를 상기 분류부(400, 도 2에 도시됨)에 제공할 수 있다. 상기 테스터는 상기 등급 정보를 상기 픽커부(300, 도 2에 도시됨)에도 제공할 수 있다. 상기 테스터는 무선 통신과 유선 통신 중에서 적어도 하나를 이용하여 상기 등급 정보를 상기 분류부(400)와 상기 픽커부(300)에 제공할 수 있다.

도시되지 않았지만, 상기 본체(1a)에는 복수개의 테스트유닛(20)이 설치될 수도 있다. 상기 테스트유닛(20)들은 각각 개별적으로 발광소자를 테스트할 수 있다. 상기 수납부재(2)들은 발광소자가 테스트되는 복수개의 테스트위치(TP)에 동시에 위치될 수 있는 개수로 상기 회전부재(6)에 설치될 수 있다.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도, 도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 평면도, 도 10은 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도이다.

도 2, 도 8 및 도 9를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(200, 도 9에 도시됨), 발광소자를 이송하기 위한 픽커부(300, 도 8에 도시됨), 상기 공급부(200)로부터 이격되게 설치되는 발광소자 테스트장치(1), 및 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부(400, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 다음과 같이 동작한다.

우선, 상기 공급부(200)가 테스트될 발광소자를 상기 픽커부(300)에 공급한다. 다음, 상기 픽커부(300)는 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업한 후에 상기 발광소자 테스트장치(1)에 로딩한다. 다음, 상기 발광소자 테스트장치(1)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트유닛(20, 도 2에 도시됨) 쪽으로 이송한다. 다음, 상기 테스트유닛(20)이 발광소자에 대한 테스트를 완료하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 언로딩한 후에 상기 분류부(400)로 이송한다. 다음, 상기 분류부(400)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다.

여기서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 흡기유닛(3, 도 2에 도시됨)이 상기 수납부재(2, 도 2에 도시됨)에 수납된 발광소자를 흡착함으로써, 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자가 상기 수납부재(2)에 수납된 상태로 유지시키기 위한 힘을 강화할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 상기 회전부재(6, 도 8에 도시됨)가 회전됨에 따라 상기 수납부재(2)들이 이동하는 과정, 발광소자가 테스트되는 과정 등에서 발생하는 진동, 흔들림 등에 의해 발광소자가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트장치(1)는 발광소자에 대한 손실이 발생하는 것을 방지할 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 구동유닛(7, 도 8에 도시됨)이 상기 회전부재(6)를 회전시키는 속도를 증가시키더라도, 상기 흡기유닛(3)이 상기 수납부재(2)에 수납된 발광소자를 흡착하므로 발광소자가 상기 수납부재(2)로부터 이탈되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 구동유닛(7)이 상기 회전부재(6)를 회전시키는 속도를 증가시킬 수 있으므로, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는데 걸리는 시간을 단축할 수 있다.

이하에서는 상기 공급부(200), 상기 픽커부(300) 및 상기 분류부(400)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다. 상기 발광소자 테스트장치(1)는 상술한 바와 같으므로, 구체적인 설명은 생략한다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 공급부(200, 도 9에 도시됨)는 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(200)는 테스트될 발광소자를 픽업위치(PP, 도 9에 도시됨)로 이송함으로써, 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 픽업위치(PP)는 상기 픽커부(300)가 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치이다. 상기 공급부(200)는 복수개의 발광소자를 저장하기 위한 보울 피더(Bowl Feeder)를 포함할 수 있다. 상기 공급부(200)는 상기 픽업위치(PP)에 복수개의 테스트될 발광소자가 위치되도록 테스트될 발광소자를 공급할 수도 있다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 공급부(200)와 상기 발광소자 테스트장치(1) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 픽커부(300)는 테스트될 발광소자를 상기 공급부(200)에서 상기 테스트부(400)로 이송한다. 상기 픽커부(300)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(400)에서 상기 분류부(400)로 이송한다. 상기 픽커부(300)는 발광소자를 흡착하기 위한 복수개의 픽커(310) 및 상기 픽커(310)들을 이동시키는 이동기구(320)를 포함한다.

상기 픽커(310)들은 흡입력을 이용하여 발광소자를 흡착한다. 도시되지 않았지만, 상기 픽커부(300)는 기체 등을 흡입하여 흡입력을 발생시키는 흡입장치를 포함할 수 있다. 상기 흡입장치는 상기 픽커(310)들에 연결된다. 상기 흡입장치는 흡입력을 발생시킴으로써, 상기 픽커(310)에 발광소자를 흡착시킬 수 있다. 상기 흡입장치가 흡입력을 소멸시키면, 발광소자는 상기 픽커(310)로부터 이격될 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 흡입장치를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 흡입장치를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(300)는 하나의 흡입장치를 상기 픽커(310)들에 연결하는 튜브들을 포함할 수도 있다.

도시되지 않았지만, 상기 픽커부(300)는 기체 등을 분사하여 분사력을 발생시키는 분사장치를 포함할 수도 있다. 상기 분사장치는 상기 픽커(310)들에 연결된다. 상기 분사장치는 분사력을 발생시킴으로써, 상기 픽커(310)로부터 발광소자를 이격시킬 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 분사장치를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 분사장치를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(300)는 하나의 분사장치를 상기 픽커(310)들에 연결하는 튜브들을 포함할 수도 있다.

상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 공급부(200) 및 상기 발광소자 테스트장치(1)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 이동시킨다. 즉, 상기 픽커(310)들은 상기 공급부(200) 및 상기 발광소자 테스트장치(1)에 순차적으로 위치되면서 순환된다. 상기 이동기구(320)는 회전축(320a, 도 9에 도시됨)을 중심으로 상기 픽커(310)들을 회전시킴으로써, 상기 픽커(310)들이 상기 공급부(200) 및 상기 발광소자 테스트장치(1)에 순차적으로 위치되도록 순환 이동시킬 수 있다.

상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들을 이동시키기 위한 구동력을 발생시키는 모터(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전축(320a)에 직접 결합되어 상기 픽커(310)들을 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 회전축(320a)이 소정 거리로 이격되게 설치되는 경우, 상기 이동기구(320)는 상기 회전축(320a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.

상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 픽업위치(PP, 도 9에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 픽업위치(PP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업하는 작업을 수행한다.

상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 로딩위치(LP, 도 9에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 로딩위치(LP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 발광소자 테스트장치(1)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 작업을 수행한다. 이 경우, 상기 픽커(310)는 테스트될 발광소자를 상기 수납부재(2, 도 8에 도시됨)에 형성된 수납홈(21, 도 4에 도시됨)에 수납시킴으로써, 테스트될 발광소자를 로딩하는 작업을 수행할 수 있다. 상기 로딩위치(LP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 픽업위치(PP)를 거친 것이다.

상기 이동기구(320)는 상기 픽커(310)들이 상기 언로딩위치(ULP, 도 9에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 픽커(310)들을 회전시킨다. 상기 언로딩위치(ULP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 테스트된 발광소자를 언로딩하는 작업을 수행한다. 이 경우, 상기 픽커(310)는 테스트된 발광소자를 상기 수납부재(2)에 형성된 수납홈(21, 도 4에 도시됨)으로부터 이격시킴으로써, 테스트된 발광소자를 언로딩하는 작업을 수행할 수 있다. 상기 흡기유닛(3, 도 2에 도시됨)은 상기 수납부재(2)가 상기 언로딩위치(ULP)에 위치되면, 흡입력을 소멸시킬 수 있다. 상기 언로딩위치(ULP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 로딩위치(LP)를 거친 것이다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들이 설치되는 설치부재(330)를 포함한다. 상기 설치부재(330)에는 상기 픽커(310)들이 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 이동기구(320)는 상기 설치부재(330)에 결합된다. 상기 이동기구(320)는 상기 설치부재(330)를 상기 회전축(320a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(310)들을 회전시킬 수 있다. 상기 설치부재(330)에는 상기 픽커(310)들이 상기 회전축(320a)을 중심으로 서로 동일한 각도로 이격되게 설치될 수 있다. 상기 설치부재(330)는 원반형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 복수개의 픽커(310)들이 설치될 수 있는 형태이면 사각판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 픽커부(300)는 상기 픽커(310)들 중에서 일부의 픽커(310)들을 함께 승강시키기 위한 승강유닛(340, 도 8에 도시됨)을 더 포함한다.

상기 승강유닛(340)은 상기 픽커(310)들 중에서 상기 픽업위치(PP, 도 9에 도시됨), 상기 로딩위치(LP, 도 9에 도시됨) 및 상기 언로딩위치(ULP, 도 9에 도시됨)에 위치된 픽커(310)들을 함께 승강시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(PP)에 위치된 픽커(310)는 상기 공급부(200)로부터 테스트될 발광소자를 픽업하고, 상기 로딩위치(LP)에 위치된 픽커(310)는 상기 발광소자 테스트장치(1)에 테스트될 발광소자를 로딩하며, 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)는 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 테스트된 발광소자를 언로딩할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 복수개의 승강유닛(340)을 구비하는 것에 비교할 때, 장비를 간결하게 구성할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 승강유닛(340)이 상기 픽커(310)들 전부가 승강되도록 상기 설치부재(330)를 승강시키는 것에 비교할 때, 상기 승강유닛(340)이 승강시켜야 하는 구성요소의 개수를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 승강유닛(340)에 가해지는 부하를 줄일 수 있다.

상기 승강유닛(340)은 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들을 함께 누르기 위한 승강부재(341, 도 8에 도시됨), 및 상기 승강부재(341)를 승강시키기 위한 승강수단(342, 도 8에 도시됨)를 포함할 수 있다.

상기 승강부재(341)는 상기 승강수단(342)에 의해 승강된다. 상기 승강부재(341)는 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들 위에 위치되게 설치된다. 이에 따라, 상기 승강부재(341)는 상기 승강수단(342)에 의해 하강되면, 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들을 함께 누름으로써 해당 픽커(310)들을 하강시킬 수 있다. 상기 승강부재(341)가 상기 승강수단(342)에 의해 상승되면, 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들은 상승된다.

상기 승강부재(341)는 상기 설치부재(330)가 회전하더라도 회전하지 않도록 설치된다. 이에 따라, 상기 승강부재(341)는 상기 설치부재(330)가 회전함에 따라 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 순차적으로 위치되는 픽커(310)들을 함께 승강시킬 수 있다. 상기 픽커부(300)는 상기 승강부재(341)가 결합되는 고정프레임(350, 도 8에 도시됨)을 포함한다. 상기 고정프레임(350)은 상기 승강부재(341)가 상기 픽업위치(PP), 상기 로딩위치(LP) 및 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 픽커(310)들 위에 위치되도록 상기 승강부재(341)를 지지한다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 승강수단(342, 도 8에 도시됨)은 상기 승강부재(341, 도 8에 도시됨)를 승강시킨다. 상기 승강수단(342)은 상기 고정프레임(350, 도 8에 도시됨)에 결합될 수 있다. 상기 승강수단(342)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 승강부재(341)를 승강시킬 수 있다. 상기 승강부재(341)는 상기 승강수단(342)에 결합된다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 분류부(400, 도 10에 도시됨)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 분류부(400)는 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 언로딩된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 분류부(400)는 상기 발광소자 테스트장치(1)의 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 분류부(400)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치될 수도 있다.

상기 분류부(400)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 분류기구(410, 도 10에 도시됨) 및 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 복수개의 수납기구(420, 도 10에 도시됨)를 포함한다.

상기 분류기구(410)는 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 언로딩된 발광소자를 상기 수납기구(420)들 쪽으로 전달한다. 상기 분류기구(410)는 상기 수납기구(420)들 중에서 발광소자가 갖는 등급에 해당하는 수납기구(420)로 테스트된 발광소자가 이송되도록 이동한다. 상기 분류기구(410)는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구 및 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 포함한다. 상기 분류기구(410)는 상기 반입구 및 상기 반출구 각각에 연통되게 연결되는 이동로(미도시)를 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반입구를 통해 상기 분류기구(410) 내부로 진입한 후, 상기 이동로를 통과하여 상기 반출구를 통해 상기 분류기구(410)로부터 반출된다.

상기 분류기구(410)는 상기 반출구가 향하는 방향이 변경되도록 이동한다. 상기 분류기구(410)는 상기 반출구가 상기 수납기구(420)들 중에서 발광소자가 갖는 등급에 해당하는 수납기구(420) 쪽을 향하도록 이동한다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구가 향하는 방향으로 반출됨으로써, 그 등급에 해당하는 수납기구(420)에 수납된다. 이에 따라, 상기 분류부(400)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류할 수 있다. 상기 분류기구(410)는 X축 방향(도 10에 도시됨) 및 Y축 방향(도 10에 도시됨)으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경한다. 도시되지 않았지만, 상기 분류기구(410)는 상기 반입구를 중심으로 피벗(pivot) 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다. 상기 분류기구(410)는 X축 방향으로 회전 이동하고, Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다. 상기 분류기구(410)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 회전 이동함으로써, 상기 반출구가 향하는 방향을 변경할 수도 있다.

도시되지 않았지만, 상기 분류부(400)는 상기 반출구가 향하는 방향이 변경되도록 상기 제1분류기구(410)를 이동시키는 구동수단을 포함할 수 있다. 상기 구동수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 제1분류기구(410)를 이동시킬 수 있다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 수납기구(420, 도 10에 도시됨)들은 상기 분류기구(410, 도 10에 도시됨)로부터 이송되는 발광소자를 수납한다. 상기 수납기구(420)들은 상기 분류기구(410)에 의해 등급별로 분류되는 발광소자를 구분하여 수납한다. 상기 수납기구(420)들은 상기 분류기구(410)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 수납기구(420)는 일측이 개방된 원통 형태로 형성된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(410)로부터 반출된 후, 상기 수납기구(420)의 개방된 일측을 통해 상기 수납기구(420) 내부에 수납될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(420)는 일측이 개방된 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.

상기 분류부(400, 도 10에 도시됨)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하거나 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 수납기구(420)를 포함할 수 있다. 상기 수납기구(420)들은 서로 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다.

도 10을 참고하면, 상기 분류부(400)는 상기 분류기구(410)와 상기 수납기구(420)들 사이에 위치되게 설치되는 복수개의 연결기구(430)를 포함할 수 있다.

상기 연결기구(430)들은 일측이 상기 분류기구(410) 쪽을 향하고, 타측이 상기 수납기구(420)들 쪽을 향하도록 설치된다. 상기 연결기구(430)는 타측이 상기 수납기구(420)들 각각에 일대일로 대응되도록 설치된다. 상기 연결기구(430)들은 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 분류기구(410)는 상기 반출구가 상기 연결기구(430)들 중에서 어느 하나를 향하도록 이동한다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구를 통해 상기 분류기구(410)로부터 반출된 후에, 그 등급에 해당하는 연결기구(430)를 통과하여 상기 수납기구(420)에 수납된다. 상기 분류부(400)는 상기 수납기구(420)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 연결기구(430)를 포함할 수 있다.

상기 연결기구(430)들로 인해 상기 분류기구(410)와 상기 수납기구(420)들은 서로 소정 거리로 이격된 위치에 설치될 수 있다. 상기 연결기구(430)들은 상기 분류기구(410)에서 상기 수납기구(420)가 설치된 방향을 향할수록 서로 간의 간격이 벌어지도록 형성된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류기구(410)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 거리를 줄이면서도, 상기 수납기구(420)들이 서로 충분한 거리로 이격되도록 구현될 수 있다. 상기 연결기구(430)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결기구(430)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.

도시되지 않았지만, 상기 분류부(400)는 상기 분류기구(410)와 상기 수납기구(420)를 각각 복수개 포함할 수도 있다. 상기 분류부(400)는 상기 연결기구(430)를 복수개 포함할 수도 있다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 상기 분류부(400, 도 10에 도시됨)로 이송하기 위한 이송부(500, 도 8에 도시됨)를 더 포함한다. 상기 이송부(500)는 상기 발광소자 테스트장치(1)로부터 이격된 위치에서 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 이송부(500)는 일측이 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치되고, 타측이 상기 분류부(400)에 연결되게 설치된다.

테스트된 발광소자는 상기 픽커부(300)에 의해 상기 발광소자 테스트장치(1)에서 픽업되어 상기 이송부(500)의 위에 위치되게 이송된 후, 상기 픽커부(300)로부터 이격된다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 상기 이송부(500) 쪽으로 낙하하여 상기 이송부(500) 내부로 삽입된 후에, 상기 분류부(400)로 이동한다. 상기 분류부(400)는 상기 이송부(500)로부터 이송되는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.

첫째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)와 구조적으로 간섭되지 않게 설치되므로, 상기 이송부(500)와 상기 발광소자 테스트장치(1)에 대한 설치작업의 용이성을 향상시킬 수 있다.

둘째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)에 설치되지 않으므로, 상기 발광소자 테스트장치(1)에 상기 테스트유닛(20)을 설치하기 위해 부여되는 설치면적을 증대시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 테스트유닛(20)을 상기 발광소자 테스트장치(1)에 설치하는 작업에 대한 용이성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)에 설치되지 않으므로, 상기 발광소자 테스트장치(1)에 설치되는 구성요소의 개수를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 발광소자 테스트장치(1)에 많은 구성요소가 설치됨에 따라 장비가 복잡하게 구성되는 것을 방지함으로써, 장비를 간결하게 구성할 수 있다.

셋째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(500)가 상기 픽커부(300)로부터 테스트된 발광소자를 이송받으므로, 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)에 위치된 발광소자에 근접하게 위치되도록 설치될 필요가 없다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 발광소자 테스트장치(1)가 회전함에 따라 진동, 흔들림 등이 발생하더라도, 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)에 위치된 발광소자와 충돌하지 않도록 구현된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자가 상기 이송부(500)에 충돌함에 따라 발광소자가 손상 내지 손실되는 것을 방지할 수 있다.

넷째, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 발광소자 테스트장치(1)가 회전함에 따라 진동, 흔들림 등이 발생하더라도, 상기 이송부(500)가 상기 발광소자 테스트장치(1)와 충돌하지 않도록 구현된다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 이송부(500)와 상기 발광소자 테스트장치(1)가 충돌함에 따라 상기 이송부(500)와 상기 발광소자 테스트장치(1)가 파손 내지 손상되는 것을 방지할 수 있다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 이송부(500, 도 8에 도시됨)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되게 설치되는 이송본체(510, 도 8에 도시됨) 및 상기 이송본체(510)와 상기 분류부(400)를 연결하는 연결부(520, 도 8에 도시됨)를 포함한다.

상기 이송본체(510)는 상기 픽커부(300)로부터 이송되는 발광소자가 상기 연결부(520)로 이송되도록 전달한다. 상기 이송본체(510)는 상기 픽커(310, 도 8에 도시됨)들이 회전되는 경로의 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽커부(300)가 발광소자를 이송하기 위해 상기 픽커(310)들을 회전시키는 과정에서, 상기 픽커(310)들은 상기 이송본체(510)의 위에 순차적으로 위치된다. 따라서, 상기 픽커(310)들은 상기 발광소자 테스트장치(1, 도 8에 도시됨)로부터 테스트된 발광소자를 픽업한 후에, 상기 이송본체(510)의 위에 순차적으로 위치되도록 회전됨으로써 테스트된 발광소자를 상기 이송본체(510)로 이송할 수 있다.

이 경우, 상기 이동기구(320, 도 8에 도시됨)는 상기 픽커(310, 도 8에 도시됨)들이 이격위치(SP, 도 9에 도시됨)에 순차적으로 위치되도록 상기 설치부재(330)를 회전시킨다. 상기 이격위치(SP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 이송본체(510)의 위에 위치된다. 이에 따라, 상기 이격위치(SP)에 위치된 픽커(310)가 테스트된 발광소자를 이격시키면, 테스트된 발광소자는 상기 이송본체(510) 내부에 삽입된다. 그리고, 테스트된 발광소자는 상기 이송본체(510) 및 상기 연결부(520)를 통과하여 상기 분류부(400, 도 10에 도시됨)로 이송됨으로써, 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다. 상기 이격위치(SP)에 위치되는 픽커(310)는, 상기 언로딩위치(ULP)를 거친 것이다. 상기 이동유닛(320)은 상기 이격위치(SP)에 위치된 픽커(310)를 다시 상기 픽업위치(PP, 도 9에 도시됨)로 이동시킨다.

상기 이송본체(510)는 상기 테스트부(400)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 이에 따라, 상기 이송본체(510)는 상기 테스트부(400)에 대해 구조적으로 간섭되지 않게 설치된다. 상기 이송본체(510)는 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 원통 형태, 원반 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 이송부(500)는 상기 이송본체(510)를 지지하기 위한 지지부재(530, 도 8에 도시됨)를 포함한다. 상기 이송본체(510)는 상기 픽커부(300)의 아래에 위치되도록 상기 지지부재(530)에 결합된다.

도 2, 도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 연결부(520, 도 8에 도시됨)는 일측이 상기 이송본체(510)에 결합된다. 상기 연결부(520)는 타측이 상기 분류기구(410, 도 10에 도시됨)에 결합된다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 상기 픽커부(300)로부터 이격됨에 따라 낙하한 후, 상기 이송본체(510)와 상기 연결부(520)를 통과하여 상기 분류부(400)로 이동한다. 상기 연결부(520)는 발광소자가 이동하는 통로로써 기능할 수 있도록 호스 형태로 형성될 수 있다. 상기 연결부(520)는 상기 분류기구(410)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 동작하는데 방해되지 않도록 유연성을 갖는 재질로 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 연결부(520)는 고무호스, 플라스틱호스 등일 수 있다.

도시되지 않았지만, 상기 이송부(500)는 상기 이송본체(510)와 상기 연결부(520)를 각각 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 이송본체(510)들은 상기 픽커(310, 도 8에 도시됨)들이 회전되는 경로의 아래에서 서로 소정 거리 이격되게 위치되게 설치될 수 있다. 상기 연결부(520)들은 서로 다른 분류기구(410, 도 10에 도시됨)에 연결되게 설치될 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

1 : 발광소자 테스트장치 2 : 수납부재 3 : 흡기유닛 4 : 접속부재
5 : 접속유닛 6 : 회전부재 7 : 구동유닛 L : 발광소자
20 : 테스트유닛 100 : 발광소자 테스트 핸들러 200 : 공급부
300 : 픽커부 400 : 분류부 500 : 이송부

Claims

발광소자를 수납하기 위한 수납부재;
상기 수납부재에 수납된 발광소자를 흡착하기 위한 흡기유닛;
상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재;
상기 수납부재에 발광소자가 로딩되는 로딩위치, 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 상기 수납부재로부터 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치에 상기 수납부재가 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛;
상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 수납부재에 수납된 발광소자의 아래에 위치되게 상기 수납부재에 결합되는 접속부재; 및
상기 테스트위치에 위치되게 설치되고, 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 전기적으로 연결되도록 상기 접속부재에 접속되기 위한 접속유닛을 포함하고,
상기 수납부재는 발광소자를 수납하기 위한 수납홈, 상기 수납홈에 연결되게 형성되고, 상기 흡기유닛으로부터 제공되는 흡입력을 상기 수납홈에 수납된 발광소자에 전달하기 위한 흡기공, 및 상기 수납홈에 연결되게 형성되고, 상기 접속부재가 상기 수납홈에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 접속부재가 결합되는 결합공을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 흡기공과 상기 결합공은 상기 수납부재의 밑면을 관통하여 형성되고,
상기 접속부재는 일단이 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되고, 타단이 상기 접속유닛에 접속되도록 상기 결합공에 삽입되어 상기 수납부재에 결합되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.
발광소자를 수납하기 위한 수납부재;
상기 수납부재에 수납된 발광소자를 흡착하기 위한 흡기유닛;
상기 수납부재가 복수개 결합되는 회전부재;
상기 수납부재에 발광소자가 로딩되는 로딩위치, 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 상기 수납부재로부터 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치에 상기 수납부재가 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 구동유닛;
상기 수납부재에 수납된 발광소자에 접속되도록 상기 수납부재에 수납된 발광소자의 아래에 위치되게 상기 수납부재에 결합되는 접속부재; 및
상기 테스트위치에 위치되게 설치되고, 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 전기적으로 연결되도록 상기 접속부재에 접속되기 위한 접속유닛을 포함하고,
상기 접속유닛은 상기 접속부재에 접속되기 위한 접속핀, 및 상기 접속핀이 상기 접속부재를 통해 상기 수납부재에 수납된 발광소자에 전기적으로 연결되도록 상기 접속핀을 승강(昇降)시키는 승강기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트장치.
테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
상기 공급부로부터 이격되게 설치되고, 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 제1항, 제3항 및 제4항 중 어느 하나의 발광소자 테스트장치;
발광소자를 이송하기 위해 상기 공급부와 상기 발광소자 테스트장치 사이에 위치되게 설치되는 픽커부; 및
테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
제5항에 있어서,
상기 발광소자 테스트장치로부터 이격된 위치에서 상기 픽커부의 아래에 위치되게 설치되는 이송부를 포함하고;
상기 이송부는 상기 픽커부로부터 이격되는 테스트된 발광소자를 상기 분류부로 이송하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
제6항에 있어서,
상기 픽커부는 발광소자를 흡착하기 위한 복수개의 픽커, 및 상기 픽커들을 상기 공급부, 상기 발광소자 테스트장치 및 상기 이송부에 순차적으로 위치시키는 이동기구를 포함하고;
상기 이송부는 상기 픽커들 중에서 어느 하나로부터 이격되는 발광소자가 삽입되도록 상기 픽커들이 회전되는 경로의 아래에 위치되게 설치되는 이송본체, 및 일측이 상기 이송본체에 결합되고 타측이 상기 분류부에 결합되는 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
제5항에 있어서, 상기 픽커부는
발광소자를 흡착하기 위한 복수개 픽커;
상기 픽커들이 설치되는 설치부재;
상기 공급부로부터 테스트될 발광소자를 픽업하기 위한 픽업위치, 상기 로딩위치, 및 상기 언로딩위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 설치부재를 회전시키는 이동기구; 및
상기 픽커들 중에서 상기 픽업위치, 상기 로딩위치 및 상기 언로딩위치에 위치된 픽커들을 함께 승강시키기 위한 승강유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.