TWI419625B - 發光元件分類裝置以及發光元件檢測分選機 - Google Patents

Description

發光元件分類裝置以及發光元件檢測分選機

本發明係關於一種根據檢測結果將發光元件按等級進行分類的發光元件檢測分選機。

發光元件(Luminous element)係為利用將電轉換為光的半導體元件，包含有發光二極體(Light-emitting Diode：LED)、半導體雷射器(Semiconductor laser)等，其廣泛應用於汽車儀錶類的顯示元件、光通信用光源等各種電子儀器之顯示用燈、數位顯示裝置、電腦之卡讀取器、背光源等各種領域之中。此種發光元件透過各種工序製造而成，這些工序包含有檢測發光元件所具備性能之工序、根據檢測結果按等級進行分類之工序等。

通過上述工序排除不能夠正常工作的發光元件之同時，將正常工作的發光元件根據其性能按等級進行分類而出廠，如果這些工序不能正常實現，則即便是正常工作的發光元件，也可能被廢棄或者分類為與發光元件實際具備的性能不同的等級而出廠。由此產生的損失等會提高發光元件之製造成本，降低對發光元件具備的性能之信賴度，有可能導致減弱產品競爭力的結果。因此，需要開發出一種如下的裝置，既能夠提高對於發光元件具備的性能的信賴度，又能夠在短時間內將更多的發光元件按等級分類而降低發光元件的製造單價。

因此，鑒於上述問題，本發明之目的在於提供一種能夠提高對於發光元件具備的性能之信賴度、且能夠在短時間內將更多的發光元件按等級進行分類的發光元件分類裝置以及包含有此分類裝置的發光元件檢測分選機。

為達上述目的，本發明涉及的發光元件分類裝置包含有一收納單元及一分類單元，其中收納單元包含有：一第一收納機構，其具有有用於收納檢測後的發光元件之多個第一收納部件；一第二收納機構，具有用於收納檢測後的發光元件之多個第二收納部件；以及一收納本體，可開閉地配設有第一收納機構及第二收納機構；以及一分類單元，其根據檢測後的發光元件所具備的等級進行分類，使得檢測後的發光元件收納至多個第一收納部件及多個第二收納部件中的任意一個。本發明之發光元件檢測分選機包含有：一供給部，係供給待檢測之發光元件；一檢測部，具有用於檢測發光元件之檢測單元，此檢測部包含有：一插座，用於放置發光元件；一支撐部件，其具有多個上述插座；以及一第一驅動單元，用以旋轉此支撐部件，使得多個插座依次位於檢測發光元件之檢測位置、對檢測後的發光元件進行分類的分類位置及放置待檢測的發光元件之安放位置；一拾取部，設置於供給部與檢測部之間，將待檢測之發光元件自供給部輸送至位於安放位置的插座；一發光元件分類裝置，用於將檢測後的發光元件按等級進行分類；以及一移送部，將檢測後的發光元件自位於分類位置的插座輸送至發光元件分類裝置。

本發明能夠提高對發光元件具備的性能之信賴度，在短時間能夠將更多的發光元件按等級進行分類，從而得到減少發光元件製造單價之效果。

以下，將參閱附圖詳細說明本發明之發光元件分類裝置的較佳實施例。

請參閱「第1圖」及「第2圖」，本發明之發光元件分類裝置10包含有一收納單元1及一分類單元2。

請參閱「第1圖」至「第3圖」，經檢測的發光元件按等級分類後，可以收納至收納單元1之中。收納單元1可包含有一第一收納部件11、一第二收納部件12、一第一收納機構13、一第二收納機構14以及一收納本體15。

檢測後的發光元件(未圖示)可收鈉至第一收納部件11中。第一收納部件11可以形成為一側敞開的圓筒形狀，發光元件可通過敞開之一側收鈉至第一收納部件11之中。第一收納部件11只要是能夠收納檢測後的發光元件的形狀，則除了圓筒形狀之外也可以形成為一側敞開的長方形等其他形狀。

在第二收納部件12中可以收納檢測後的發光元件(未圖示)。第二收納部件12可以形成為一側敞開的圓筒形狀，發光元件可以通過敞開的一側收鈉至第二收納部件12之中。第二收納部件12為能夠收納檢測後的發光元件之形狀，除了圓筒形狀之外還可以形成為一側敞開的長方形等其他形狀。

第一收納機構13之中可具有多個第一收納部件11。第一收納機構13可包含有一第一收納架131，這些第一收納部件11可裝卸自如地設置於第一收納架131上。第一收納架131可包含有複數個第一插入孔1311，這些第一收納部件11可分別插入至複數個第一插入孔1311之中。第一收納機構13中的第一收納部件11之數目，可與形成於第一收納架131上的第一插入孔1311之數目大致相同。

第一收納機構13可開閉地配設於收納本體15之上。即，第一收納機構13可成為開放狀態或者關閉狀態。開放狀態係指能夠將第一收納部件11自第一收納機構13取出或者能夠設置於第一收納機構13中的狀態；關閉狀態係指不能夠將第一收納部件11自第一收納機構13取出或者不能夠設置於第一收納機構13中的狀態。當第一收納機構13為開放狀態時，在第一收納部件11中不能夠收納發光元件；當第一收納機構13為關閉狀態時，可以在第一收納部件11收納發光元件。

請參閱「第1圖」至「第4圖」，在第二收納機構14中可具有多個第二收納部件12。第二收納機構14可包含有一第二收納架141，第二收納部件12可裝卸自如地設置於第二收納架141之上。第二收納架141可包含有複數個第二插入孔1411，多個第二收納部件12可分別插入至這些第二插入孔1411之中。第二收納機構14中的第二收納部件12之數目，可與形成於第二收納架141上的第二插入孔1411之數目大致相同。

第二收納機構14可開閉地設置於收納本體15之上。即，第二收納機構14可以成為開放狀態或者關閉狀態。開放狀態係指能夠將第二收納部件12自第二收納機構14取出或者能夠設置於第二收納機構14中的狀態；關閉狀態係指不能夠將第二收納部件12自第二收納機構14取出或者不能夠設置於第二收納機構14中之狀態。當第二收納機構14為開放狀態時，在第二收納部件12不可以收納發光元件；當第二收納機構14為關閉狀態時，可以在上述第二收納部件12中收納發光元件。

第二收納機構14可以設置成相對於第一收納機構13獨立進行開閉。即，在第一收納機構13為關閉狀態下，僅第二收納機構14進行開閉而成為開放狀態或關閉狀態。因此，在第二收納機構14成為開放狀態使得在多個第二收納部件12中無法收納發光元件的情況下，第一收納機構13可以保持能夠在多個第一收納部件11中收納發光元件的關閉狀態

因此，在第二收納機構14處於開放狀態期間，檢測後的發光元件能夠繼續收鈉至多個第一收納部件11中，因此，本發明的發光元件分類裝置10在短時間內能夠將更多的發光元件按等級進行分類。例如，在多個第二收納部件12中的某一個裝滿發光元件而需要替換時，在為了替換第二收納部件12而開放第二收納機構14期間，檢測後的發光元件也可以繼續收鈉至這些第一收納部件11中。

第二收納部件12中可收納屬於第二設定等級的發光元件，在第一收納部件11中可以收納屬於第一設定等級的發光元件。可以由使用者設定屬於第一設定等級以及第二設定等級的等級，也可以根據發光元件之種類、製造廠家、最終產品等來設定。

第一設定等級可以包含第二設定等級。即，屬於第二設定等級的發光元件可選擇性地收鈉至第二收納部件12或第一收納部件11之中。由此，在第二收納機構14處於開放狀態期間，屬於第二設定等級的發光元件可以繼續收鈉至第一收納部件11中。

第一設定等級以及第二設定等級可以分別包含有相互共同的等級以及相互不同的等級。即，第一設定等級及第二設定等級相互共同包含的等級之發光元件，可以選擇性地收鈉至第二收納部件12或者第一收納部件11之中。據此，在第二收納機構14處於開放狀態期間，第一設定等級及第二設定等級相互共同包含的等級之發光元件可以繼續收鈉至多個第一收納部件11之中。

第二設定等級可以包含相比較於第一設定等級更多數目之發光元件所屬的等級。例如，在整個等級中分類到第一等級及第三等級的發光元件之數目較多的情況下，第二設定等級可以包含第一等級及第三等級。第一設定等級也可以包含第一等級和第三等級，據此，在第二收納機構14處於開放狀態期間，屬於第一等級及第三等級的發光元件可以繼續收鈉至多個第一收納部件11之中。可以由使用者設定屬於第二設定等級的等級，也可以根據發光元件之種類、製造廠家、最終產品等設定。

因此，使能夠相對較快地裝滿第一收納部件11或者第二收納部件12的發光元件之等級共同屬於第二設定等級及第一設定等級，從而在裝滿發光元件而替換第二收納部件12期間，使得屬於相應等級的發光元件能夠繼續收鈉至多個第一收納部件11中。

在第一收納機構13中可以設置多個第一收納部件11，以便將發光元件分類為N(N為大於1的整數)個等級進行收納，在第二收納機構14中可以設置多個第二收納部件12，以便將發光元件分類為M(M為小於N的整數)個等級進行收納。即，多個第二收納部件12以少於第一收納部件11的數目設置於第二收納機構14之中。例如，第一收納機構13中可以設置多個第一收納部件11，以便將發光元件分類為256個等級進行收納；第二收納機構14中可以設置多個第二收納部件12，以便將發光元件分類為小於256個的等級進行收納。由此，能夠減小第二收納機構14的尺寸，並且能夠減小第二收納機構14為了開放關閉而移動的距離，能夠減少第二收納機構14進行開放關閉所需的時間。

收納單元1可以實現成將屬於相同等級的發光元件分開收納到兩個以上的第二收納部件12中。據此，將能夠相對較快地裝滿到一個第二收納部件12中的發光元件的等級分開收納到兩個以上的第二收納部件12，由此能夠減少為了替換裝滿發光元件的第二收納部件12而開放或關閉上述第二收納機構14的次數。可以由使用者來設定分別對應多個第二收納部件12以及多個第一收納部件11的等級、屬於相同等級的第二收納部件12的數目等，或者也可以根據發光元件之種類、製造廠家、最終產品等來設定。

請參閱「第1圖」至「第4圖」，可以在收納本體15上可移動地結合第一收納機構13。在收納本體15可以設置LM軌道，在第一收納機構13上可以結合可移動地結合在LM軌道上的LM塊。

可以在收納本體15上可移動地設置第二收納機構14。在收納本體15上可以設置LM軌道，可以在第二收納機構13上結合可移動地結合於LM軌道上的LM塊。第二收納機構14可移動地結合在第一收納機構13上。第二收納機構14可以透過第一收納機構13可開閉地設置於收納本體15之上。

第二收納機構14可以設置成多個第二收納機構12位於第一收納機構13為開放而移動的方向(箭頭B方向)側。在此情況下，第一收納機構13可以設置成對於第二收納機構13可從動地開閉。如果向第二收納機構14朝著為開放而移動的方向(B箭頭朝向)移動規定距離以上，則第一收納機構13同時移動而實現開放。在第一收納機構13開放的狀態下，如果第二收納機構14朝著為關閉而移動(B箭頭的相反方向)移動，則第一收納機構13透過第二收納機構14推動而移動，從而實現關閉。第一收納機構13透過與第二收納機構14之卡合而移動，從而實現開放。為此，第二收納機構14可包含有卡合構件(未圖示)，此卡合構件向第一收納機構13所處之方向突出形成，第一收納機構13可以包含有能夠卡合至卡合構件上之卡合部(未圖示)。

請參閱「第1圖」至「第5圖」，本發明的變化實施例之收納單元1可以設置成第二收納機構14位於第一收納機構13之旁邊。第二收納機構14及第二收納機構13可以設置成能夠相互獨立地開閉。第二收納機構14可以設置成相對於第一收納機構13能夠獨立地開閉，第一收納機構13可以設置成相對於第二收納機構14能夠獨立地開閉。在「第5圖」中未說明的附圖標記為接合板272及接合孔2721，對此下面詳細說明。

請參閱「第1圖」至「第7圖」，分類單元2可以將檢測後的發光元件分類成能夠收納至多個第一收納部件11及多個第二收納部件12中的任意一個。分類單元2根據檢測結果並按照檢測後的發光元件所具備的等級，可以將檢測後的發光元件分類成能夠收納至多個第一收納部件11及多個第二收納部件12中的任意一個。分類單元2可以接收與檢測後的發光元件之檢測結果對應的等級資訊，可以根據所接收的等級資訊將檢測後的發光元件按等級進行分類。可以由檢測單元(未圖示)提供與檢測後的發光元件的檢測結果對應的等級資訊。

分類單元2可以根據收納單元1的狀態將檢測後的發光元件選擇性地分類至多個第一收納部件11及多個第二收納部件12中的任意一個。詳細過程如下。

在第二收納機構14開放的情況下，分類單元2可以將檢測後的發光元件分類成能夠收納至多個第一收納部件11中的任意一個。在此情況下，第一收納機構13可以為關閉狀態。因此，在第二收納機構14處於開放狀態期間，分類單元2也能夠繼續對檢測後的發光元件進行分類，所以，本發明之發光元件分類裝置10能夠在短時間內將更多的發光元件按等級進行分類。

在發光元件是同時屬於第一設定等級及第二設定等級這兩者的發光元件、且第一收納機構13及第二收納機構14均為關閉之狀態下，分類單元2可以將發光元件分類成收鈉至多個第二收納部件中的某一個。即，在多個第一收納部件11以及多個第二收納部件12都可以收納發光元件之狀態下，分類單元2可以將發光元件分類成優選收納至第二收納部件12。

在多個第二收納部件12中的、與檢測後發光元件的等級對應之第二收納部件12被發光元件裝滿的情況下，分類單元2可以將檢測後的發光元件分類成收納至多個第一收納部件11中的某一個。因此，能夠使處於不能夠再收納發光元件狀態的第二收納部件12在被替換之前不收納發光元件。

雖然未圖示，但本發明之發光元件分類裝置10可以包含有一控制部。控制部能夠確認第一收納機構13及第二收納機構14是開放狀態或關閉狀態，基於此，能夠控制分類單元2。此控制部可以確認待分類的發光元件之等級，由此，能夠控制分類單元2。控制部能夠確認多個第一收納部件11以及多個第二收納部件12的各個是否處於被發光元件裝滿之狀態，基於此，能夠控制分類單元2。

請參閱「第1圖」至「第7圖」，分類單元2可包含有一分類機構21。分類機構21可以包含有用於搬入檢測後發光元件的搬入口211及用於搬出檢測後發光元件的搬出口212。雖然未圖示，但分類機構21可以包含有與搬入口211以及搬出口212分別連通地接合的移動通路。檢測後的發光元件可通過搬入口211進入至分類機構21，並且經由移動通路並通過搬出口212自分類機構21搬出。

分類機構21能夠以搬入口211為中心旋轉移動。隨著分類機構21以搬入口211為中心旋轉移動，搬出口212之朝向有可能改變，檢測後的發光元件可以朝向搬出口212搬運出。因此，分類單元2可將檢測後的發光元件分類成與檢測結果相對應之等級。雖然未圖示，但可以在分類機構21向X軸方向以及Y軸方向移動的過程中，分類單元2對檢測後的發光元件進行分類。

比較分類機構21在以搬入口211為中心旋轉移動的過程中對檢測後的發光元件進行分類之情況，與分類機構21在向X軸方向以及Y軸方向移動之過程中對檢測後的發光元件進行分類之情況可知，可以得到如下之作用效果。

在分類機構21向X軸方向以及Y軸方向移動的過程中分類檢測後發光元件之情況下，隨著分類機構21之移動，用於檢測後發光元件進入分類機構21的搬入口211之位置也移動。因此，隨著分類機構21移動，檢測後的發光元件為進入搬入口211而移動的距離也會不相同，根據不同情況，檢測後的發光元件為了進入分類機構21而有可能移動相對較遠之距離，由此，進入分類機構21需要花費相對較長之時間。

在分類機構21以搬入口211為中心旋轉移動之過程中對檢測後發光元件進行分類的情況下，即使分類機構21為分類檢測後發光元件而移動，搬入口211之位置也可在X軸方向或者Y軸方向上無變化地保持。據此，即使分類機構21為了分類檢測後發光元件而移動，也能夠將檢測後發光元件為進入分類機構21而移動的距離保持為一定，因此，檢測後的發光元件為了進入分類機構21而移動最短距離，進入分類機構21時花費最短時間。因此，本發明之發光元件分類裝置10能夠在短時間內將更多的發光元件按等級進行分類。

在分類機構21中形成的移動通路之形狀為，自搬入口211朝向搬出口212之方向的尺寸逐漸變小。據此，能夠加寬用於將檢測後發光元件搬入分類機構21之通路面積，並且，能夠縮小用於將檢測後發光元件自分類機構21搬出之通路面積。因此，能夠減少檢測後發光元件因卡住等而無法搬入至分類機構21等誤動作發生的可能性，檢測後的發光元件能夠根據檢測結果按等級被正確地分類。分類機構21可形成為整體上中空之圓筒形狀，以便使檢測後的發光元件通過。分類機構21可以形成為直徑自搬入口211朝向搬出口212之方向逐漸變小。分類機構21也可以形成為整體上中空的四邊形等多邊形形狀。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，分類單元2可以包含有一傳送構件22。傳送構件22可設置為位於分類機構21及收納單元1之間。傳送構件22可包含有使得檢測後之發光元件通過傳送孔221。分類機構21可以反入口211為中心旋轉移動，使得搬出口212朝向多個傳送孔221中的某一個。自搬出口212搬出之發光元件可藉由這些傳送孔221中的某一個而通過傳送構件22，並且可收鈉至第一收納部件11以及第二收納部件12中的某一個之中。

傳送構件22可包含有與待分類檢測後發光元件之等級數目大致相同數目的傳送孔221。發光元件分類裝置10使得搬出口212朝向與檢測後發光元件之等級相一致的傳送孔221，從而，能夠將檢測後的發光元件按等級進行分類。傳送構件22可包含有相比較於待分類的檢測後發光元件之等級數目更多的數目之傳送孔221。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，傳送構件22可包含有多個第一傳送孔221a以及多個第二傳送孔221b，其中，第一傳送孔221a沿著第一圓周22a形成且用於使得檢測後的發光元件通過，第二傳送孔221b沿著第二圓周22b形成且用於使檢測後的發光元件通過。第二圓周22b可以形成為其尺寸相比較於第一圓周22a之尺寸更大。第一圓周22a及第二圓周22b係為以相同的頂點為中心之圓周，第一圓周22a及第二圓周22b之中心可與傳送構件22的中心大致一致。第一圓周22a及第二圓周22b的中心可以位於與搬入口211相同之垂直線上。

可以在以大於第一圓周22a的尺寸形成的第二圓周22b上，形成與第一傳送孔221a之數目大致相同或更多數目之第二傳送孔221b。第一傳送孔221a可沿著第一圓周22a以相同的間隔隔開而形成，第二傳送孔221b可以沿著第二圓周22b以相同的間隔隔開而形成。

可以在傳送構件22上沿著具有相互不同尺寸的圓周分別形成多個傳送孔221。即，傳送孔221可以沿著L個(L為大於1的整數)圓周分別形成多個。在以比其他圓周更大尺寸形成的圓周上，可以形成與沿著比它更小之圓周形成的傳送孔221的數目大致相同或更多的數目之傳送孔221。多個此圓周是以相同之頂點為中心之圓周，多個圓周的中心可以與傳送構件22之中心大致相一致。這些圓周之中心可位於與搬入口221相同之垂直線上。雖然未圖示，但多個傳送孔221可以格子形狀形成於傳送構件22之上。傳送孔221整體上可以形成為圓形，但不限定於此，也可以形成為四邊形等多邊形形狀。

傳送構件22可包含有用於使得分類機構21旋轉移動的傳送槽222(顯示於「第9圖」中)。據此，分類機構21及傳送構件22可設置成搬出口212及上述傳送孔221相互接近。因此，能夠使得通過搬出口212搬出的檢測後發光元件正確地移動至傳送孔221，並且，能夠減少檢測後發光元件自搬出口212向傳送孔221移動的距離及時間。傳送構件22可整體上形成為半球形狀。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，分類單元2可包含有旋轉部件23以及框架24。

旋轉部件23可旋轉地結合於上述框架24之上。在旋轉部件23上可以結合分類機構21。據此，如果旋轉部件23旋轉，則如「第8圖」所示分類機構21也同時旋轉。可在旋轉部件23上可旋轉地結合分類機構21。如「第9圖」所示，分類機構21可以按與旋轉部件23垂直的方向旋轉之方式結合於旋轉部件23上。據此，分類機構21可以搬入口211為中心旋轉移動。「第8圖」係為分類機構21隨旋轉部件23之旋轉而旋轉的動作關係之俯視圖，「第9圖」係為分類機構21按與旋轉部件23相垂直之方向旋轉的動作關係，沿「第8圖」的A-A線的剖面圖。

請參閱「第9圖」，旋轉部件23可包含有使得分類機構21可旋轉地結合的結合部件231。結合部件231可在旋轉部件23上朝向分類機構21之方向突出形成。在結合部件231之上，按可以沿與旋轉部件23相垂直的方向旋轉之方式結合分類機構21。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，旋轉部件23可包含有與搬入口211相連通連接的連接介面232。檢測後的發光元件可以經過連接介面232搬入至搬入口211。旋轉部件23可以連接介面232為中心旋轉。為了不妨礙分類機構21進行旋轉移動或向X軸方向以及Y軸方向移動，可利用軟管作為連接介面232，可以利用橡膠軟管、塑膠軟管或者金屬軟管等。旋轉部件23可以整體上形成為圓盤板形狀。

在框架24上可旋轉地結合有旋轉部件23。傳送構件22可以按位於分類機構21下方之方式結合於框架24之上。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，分類單元2可包含有一第一驅動機構25以及一第二驅動機構26。

第一驅動機構25可使得旋轉部件23以連接介面232為中心旋轉。第一驅動機構25可分別與框架24及旋轉部件23相結合。第一驅動機構25可包含有馬達及用於將馬達提供之旋轉力傳輸給旋轉部件23之連結機構。馬達可以結合於框架24之上，連結機構的一側與馬達相結合、另一側與旋轉部件相結合。連結機構可以包含有鏈條、皮帶等。

第二驅動機構26可以使得分類機構21按相對於旋轉部件23垂直之方向旋轉。第二驅動機構26可以分別與旋轉部件23以及分類機構21相結合。如果旋轉部件23透過第一驅動機構25旋轉，則與旋轉部件23相結合的第二驅動機構26也同時旋轉。第二驅動機構26可包含有馬達及用於將馬達提供的旋轉力傳輸給分類機構21之連結機構。馬達可以與上述旋轉部件23相結合，此連結機構之一側可以與上述馬達相結合、另一側與分類機構21相結合。連結機構可以包含有鏈條、皮帶等。連結機構還可以包含有用於使分類機構21按相對於旋轉部件23垂直的方向旋轉的、結合在旋轉軸上之軸，在上述軸上可以結合有鏈條、皮帶等。

請參閱「第1圖」至「第9圖」，發光元件分類裝置10可包含有一連接單元27。連接單元27可設置成位於傳送構件22及收納單元1之間。連接單元27可包含有一連接部件271以及一連接板272。

連接部件271之一側可與第一收納部件11或第二收納部件12相連通地連接，另一側可與多個傳送孔221中的某一個連通地連接。連接部件271的一側可與連接板272相結合，另一側可與傳送構件22相結合。檢測後的發光元件可經過分類機構21、傳送構件22、連接部件271後收鈉至第一收納部件11或第二收納部件12。連接單元27可包含有多個連接部件271，可包含有與多個第一收納部件11及多個第二收納部件12相加之數目大致相同數目的連接部件271。

由於連接部件271之存在，分類機構21及收納單元1可設置於相互隔開規定距離之位置上。因此，可減小分類機構21為了將檢測後的發光元件按等級進行分類而旋轉移動之距離，同時，可以實現成多個第一收納部件11相互隔開充分之距離，並且還可以實現成多個第二收納部件12相互隔開充分之距離。可以利用軟管作為連接部件271，可以橡膠軟管、塑膠軟管或者金屬軟管等。

連接板272設置成位於連接部件271的下方且位於第一收納部件11以及第二收納部件12之上方。連接板272可以包含有發光元件能夠通過的多個連接孔2721。連接部件271可按其另一側連通至連接孔2721的方式結合於連接板272之上。檢測後的發光元件可經過分類機構21、傳送構件22、連接部件271並通過連接孔2721後，收鈉至第一收納部件11或者第二收納部件12。上述連接板272可包含有與連接部件271大致相同數目之連接孔2721。在「第5圖」之中雖然僅表示出一部分連接部件271，但如「第10圖」所示，連接部件271也可以分別連接至未圖示的多個連接孔2721之上。

下面，請參閱附圖詳細說明本發明的發光元件檢測分選機的較佳實施例。

「第10圖」係為本發明之發光元件檢測分選機之立體圖；「第11圖」係為本發明之發光元件檢測分選機中的供給部、拾取部、檢測部以及移送部之立體圖；「第12圖」係為本發明的發光元件檢測分選機中的安放位置、檢測位置以及分類位置之示意圖；「第13圖」係為本發明之發光元件檢測分選機中的接觸單元之立體圖。

請參閱「第1圖」至「第10圖」，本發明之發光元件檢測分選機100可包含有一發光元件分類裝置10、一供給部3、一拾取部4、一檢測部5以及一移送部6。

發光元件分類裝置10可設置成位於檢測部5之下方。本發明的發光元件檢測分選機100可包含有至少一個以上的發光元件分類裝置10。由於發光元件分類裝置10如以上所述，因此省略對其詳細說明。

請參閱「第1圖」至「第12圖」，供給部3將待檢測的發光元件供給至拾取部4能夠拾取待檢測發光元件(未圖示)的位置。供給部3可包含有一儲存機構31、一搬運機構32以及一安放機構33。

在儲存機構31中可以儲存多個待檢測的發光元件。儲存機構31利用振動能夠將儲存於儲存機構中的待檢測的發光元件依次供給至搬運機構32。儲存機構31可包含有一螺線形槽(未圖示)，以便將待檢測的發光元件輸送至搬運機構32。

請參閱「第1圖」至「第12圖」，在本發明之發光元件檢測分選機100之中，第一收納機構13及第二收納機構14可設置成能夠向儲存機構31所在之方向開閉。在儲存機構31以「第12圖」為基準設置於上方的情況下，第一收納機構13及第二收納機構14可以設置成以「第12圖」為基準能夠向上方開閉。因此，能夠使得用於作業者將待檢測的發光元件追加儲存至儲存機構31的作業空間，與用於將第一收納部件11及第二收納部件12自第一收納機構13及第二收納機構14取出或者設置於第一收納機構13及第二收納機構14中的作業空間相一致。另外，在設置本發明的多個發光元件檢測分選機100時，能夠以可確保充分的作業空間且在相同的設置空間內可設置更多數目之方式，有效地利用設置空間進行設置作業。

搬運機構32將由儲存機構31供給的待檢測的發光元件輸送至安放機構33。搬運機構32可利用振動輸送待檢測的發光元件。雖然未圖示，搬運機構32可包含有輸送待檢測的發光元件之皮帶、連接在皮帶兩端之驅動輪及從動輪、以及旋轉驅動輪之馬達。在此情況下，隨著馬達旋轉驅動輪，皮帶也隨之移動，從而可以運送安放於皮帶上的待檢測之發光元件。

在安放機構33上放置自搬運機構32移送來的待檢測之發光元件。安放機構33可以包含有放置待檢測發光元件之槽。安放機構33可設置於拾取部4能夠拾取待檢測發光元件之位置上。

雖然未圖示，但供給部3還可包含有一探測部。探測部設置於安放機構33之上，探測待檢測的發光元件是否位於安放機構33上。可以利用光感測器作為此探測部。

如果根據由探測部獲得之資訊，確認在安放機構33上沒有待檢測的發光元件，則搬運機構32可向上述安放機構33輸送待檢測的發光元件。因此，可以防止不管安放機構33上存在待檢測的發光元件，搬運機構32還輸送其他待檢測之發光元件，從而使得發光元件因碰撞而受到損傷或者拾取部4無法拾取發光元件等所產生的錯誤。

如果根據由探測部獲得之資訊，確認在安放機構33之上存在待檢測的發光元件，則拾取部4可以自安放機構33拾取待檢測之發光元件。因此，可以防止即便在安放機構33上不存在待檢測的發光元件，拾取部也動作，導致因未拾取到發光元件等所產生之錯誤。

供給部3可以供給多個待檢測之發光元件。供給部3可以供給與拾取部4一次能夠拾取的發光元件之數目相同數目的發光元件。可以使用振動送料器(bowl feeder)作為供給部3。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，拾取部4將待檢測的發光元件自供給部3輸送至檢測部5。拾取部4可拾取位於安放機構33上的待檢測之發光元件並輸送至檢測部5。拾取部4可設置於供給部3與檢測部5之間。拾取部4可包含有直接與發光元件接觸而吸附發光元件的拾取器41以及用於移動拾取器41的移動機構42。拾取部4可包含有多個拾取器41。

移動機構42可移動拾取器41以使得拾取器41位於在供給部3中能夠拾取待檢測發光元件之位置，並且，可以移動拾取器41以使得拾取器41位於能夠將待檢測發光元件放置於檢測部5之位置。移動機構42可使得拾取器41升降。由此，拾取部4可以將待檢測的發光元件自供給部3輸送至檢測部5。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，檢測部5包含有一插座51、一支撐部件52以及一第一驅動單元53。在檢測部5具有檢測發光元件之檢測單元54。檢測部5可設置為位於拾取部4之旁邊。

發光元件可以放置於插座51之上。安裝至插座51上之發光元件可以透過吸附裝置(未圖示)吸附至插座51上。在支撐部件52上可以設置多個插座51。

這些插座51可依次位於放置待檢測的發光元件之一安放位置4a、檢測發光元件的一檢測位置5a以及對檢測後的發光元件進行分類的一分類位置6a。安放位置4a為拾取部4可將待檢測之發光元件放置於插座51的位置。檢測位置5a為檢測單元54能夠檢測發光元件之位置，為設置檢測單元54之位置。分類位置6a為移送部6能夠將檢測後的發光元件自插座51輸送至發光元件分類裝置10之位置，為設置移送部6之位置。

多個插座51可以按同時位於安裝待檢測的發光元件之安放位置4a、檢測發光元件之檢測位置5a以及對檢測後的發光元件進行分類之分類位置6a的方式，分別設置於支撐部件52之上。據此，待檢測的發光元件可以透過拾取部4放置於位於安放位置4a之插座51上；透過檢測單元54可以檢測安裝於位於檢測位置5a的插座51之上的待檢測之發光元件；收納於位於分類位置6a的插座51中之檢測後的發光元件，可以透過移送部6自插座51輸送至發光元件分類裝置10。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，在支撐部件52上可以設置多個插座51。支撐部件52可透過第一驅動單元53而旋轉，使得多個插座51依次位於安放位置4a、檢測位置5a以及分類位置6a。支撐部件52可以透過第一驅動單元53以旋轉軸52a為中心旋轉。

在支撐部件52之上，可以旋轉軸52a為中心按相同的角度隔開設置多個插座51。因此，如果支撐部件52以旋轉軸52a為中心旋轉一定角度，則多個插座51可同時分別位於安放位置4a、檢測位置5a以及分類位置6a。

除了同時位於安放位置4a、檢測位置5a以及分類位置6a的插座51之外，還可在支撐部件52上設置更多數目的插座51。據此，可以減小第一驅動單元53使得支撐部件52以旋轉軸52a為中心旋轉的角度，減小使得多個插座53移動至下一個位置所需的時間，因此，可以在短時間內檢測更多的發光元件並按等級進行分類。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，第一驅動單元53旋轉支撐部件52使得多個插座51依次位於安放位置4a、檢測位置5a以及分類位置6a。第一驅動單元53可以使得支撐部件52以旋轉軸52a為中心旋轉。第一驅動單元53使得支撐部件52以旋轉軸52a為中心旋轉，從而使得這些插座51可依次位於安放位置4a、檢測位置5a以及分類位置6a而迴圈。

第一驅動單元53可以包含有用於旋轉支撐部件52的馬達。此馬達可直接與支撐部件52的旋轉軸52a相結合而旋轉支撐部件52。在馬達與支撐部件52的旋轉軸52a相隔開規定距離的情況下，第一驅動單元53可包含有與支撐部件52之旋轉軸52a相結合之軸、連接軸及馬達的連接機構。此連接機構可以包含有滑輪、皮帶等。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，檢測單元54可以檢測放置於位於檢測位置5a的插座51上之發光元件。在檢測部5可設置多個檢測單元54。檢測單元54可以與分析發光元件之檢測結果資訊的檢測器(未圖示)相連接。檢測器分析檢測結果資訊並按照發光元件所具備之性能賦予等級之後，可以將等級資訊提供給發光元件分類裝置10。檢測單元54可包含有一接觸單元541以及一測量單元542。

接觸單元541與放置於插座51上的發光元件相接觸。接觸單元541與發光元件相接觸，由此能夠檢測發光元件所具備之電特性。接觸單元541能夠使得發光元件發光，據此，使得測量單元542能夠測量發光元件所具備之光特性。

接觸單元541可包含有一第一接觸部件541a以及一第二接觸部件541b。第一接觸部件541a及第二接觸部件541b可移動為相互接近或相互遠離，如果移動為相互接近，則能夠與放置於位於檢測位置5a的插座51上之發光元件相接觸。

測量單元542可測量放置於插座51上的發光元件所具備之光特性。如果測量單元542向檢測器提供光特性資訊，則檢測器分析光側性資訊並賦予與發光元件所具備的性能相當的等級之後，可以將等級資訊提供給發光元件分類裝置10。

測量單元542可測量包含有亮度、波長等在內的發光元件之光特性。測量單元542可利用亮度測量用集光器、波長測量用集光器等，可利用與想要測量的發光元件之光特性相應的多種裝置。例如，可利用測量發光元件的光強度、光速、光照強度、光譜分佈、色溫度等的裝置作為測量單元542。

在檢測部5可設置多個檢測單元54。這些檢測單元54可分別包含有一接觸單元541以及一測量單元542，可以分別檢測發光元件。多個插座51可以按發光元件可同時位於進行檢測的多個檢測位置5a之方式設置於支撐部件52上。

請參閱「第1圖」至「第13圖」，移送部6可將檢測後的發光元件自位於分類位置6a的插座51輸送至發光元件分類裝置10。發光元件透過拾取部4在供給部3被拾取並放置於位於安放位置4a的插座51之上，並且移動至檢測位置5a被檢測之後，移動至分類位置6a並透過移送部6自插座51輸送至發光元件分類裝置10。輸送至發光元件分類裝置10的發光元件可根據檢測結果按等級分類。發光元件檢測分選機100可包含有多個發光元件分類裝置10及移送部6。移送部6可包含有移送單元61及傳輸機構62。

移送單元61可將檢測後的發光元件自插座51移送至分類單元2。在移送單元61可以設置流體噴射裝置(未圖示)。檢測後的發光元件透過由流體噴射裝置提供之噴射力，自位於分類位置6a的插座51移送至分類單元2。在移送單元61還可以設置流體吸入裝置(未圖示)。檢測後的發光元件可透過由流體吸入裝置提供的吸力，自位於分類位置6a的插座51移動至分類單元2。在移送單元61還可同時設置流體噴射裝置及流體吸入裝置。

傳輸機構62的一側可與移送單元61相結合、另一側與分類單元2相結合。傳輸機構62可與搬入口211或連接介面23相連通地結合。檢測後的發光元件可經過傳輸機構62輸送至分類單元2。可利用軟管作為傳輸機構62，以便不妨礙分類單元2為了將檢測後的發光元件按等級進行分類而移動，可以利用橡膠軟管、塑膠軟管或者金屬軟管等。

本發明所屬技術領域的技術人員應該理解的是，以上本發明之說明不限定於上述的實施例以及附圖，在不超出本發明的技術思想的範圍內可以進行各種置換、變形以及修改。

1．．．收納單元

2．．．分類單元

3．．．供給部

4．．．拾取部

4a．．．安放位置

5．．．檢測部

5a．．．檢測位置

6．．．移送部

6a．．．分類位置

10．．．發光元件分類裝置

11．．．第一收納部件

12．．．第二收納部件

13．．．第一收納機構

14．．．第二收納機構

15．．．收納本體

21．．．分類機構

22．．．傳送構件

22a．．．第一圓周

22b．．．第二圓周

23．．．連接介面

24．．．框架

25．．．第一驅動機構

26．．．第二驅動機構

27．．．連接單元

31．．．儲存機構

32．．．搬運機構

33．．．安放機構

41．．．拾取器

42．．．移動機構

51．．．插座

52．．．支撐部件

52a．．．旋轉軸

53．．．第一驅動單元

54．．．檢測單元

61．．．移送單元

62．．．傳輸機構

100．．．發光元件檢測分選機

131．．．第一收納架

141．．．第二收納架

211．．．搬入口

212．．．搬出口

221．．．傳送孔

221a．．．第一傳送孔

221b．．．第二傳送孔

231．．．結合部件

232．．．連接介面

271．．．連接部件

272．．．連接板

541．．．接觸單元

541a．．．第一接觸部件

541b．．．第二接觸部件

542．．．測量單元

1311．．．第一插入孔

1411．．．第二插入孔

2721．．．接合孔

第1圖係為包含本發明之發光元件分類裝置的發光元件檢測分選機之概略結構之立體圖；

第2圖係為本發明的發光元件分類裝置之概略結構之立體圖；

第3圖係為本發明之收納單元之概略結構之立體圖；

第4圖係為第3圖中之第二收納機構獨立開放狀態之概略立體圖；

第5圖係為本發明的變換實施例之收納單元之概略結構之立體圖；

第6圖係為本發明之分類機構的概略結構之仰視立體圖；

第7圖係為本發明的一傳送構件之概略結構之俯視圖；

第8圖及第9圖係為概略表示本發明的分類機構旋轉(pivot)移動狀態之工作狀態圖；

第10圖係為概略表示本發明的發光元件檢測分選機之立體圖；

第11圖係為概略表示本發明的發光元件檢測分選機中之供給部、拾取部、檢測部以及移送部之立體圖；

第12圖係為本發明的發光元件檢測分選機中之安放位置、檢測位置以及分類位置之示意圖；以及

第13圖係為概略表示本發明的發光元件檢測分選機中之接觸單元之立體圖。

1．．．收納單元

2．．．分類單元

10．．．發光元件分類裝置

13．．．第一收納機構

14．．．第二收納機構

21．．．分類機構

22．．．傳送構件

23．．．連接介面

24．．．框架

25．．．第一驅動機構

26．．．第二驅動機構

27．．．連接單元

232．．．連接介面

271．．．連接部件

272．．．連接板

2721．．．接合孔

Claims (12)

1. 一種發光元件分類裝置，係包含有一收納單元及一分類單元，其中該收納單元包含有：一第一收納機構，係配設有用於收納檢測後之發光元件的複數個第一收納部件；一第二收納機構，係配設有用於收納檢測後之發光元件的複數個第二收納部件；以及一收納本體，係可開閉地配設有該第一收納機構及該第二收納機構；其中該分類單元，根據檢測後之發光元件所具備的等級進行分類，使得檢測後之發光元件收納至該等第一收納部件及該等第二收納部件中的任意一個，該第二收納機構配設為該等第二收納部件位於該第一收納機構為了開放而移動的方向一側，該第一收納機構配設為對於該第二收納機構可從動地開閉。
2. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，其中該分類單元對檢測後之發光元件進行分類，使得在該第二收納機構開放之情況下，將檢測後之發光元件收納至該等第一收納部件中的任意一個。
3. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，在該等第一收納部件中收納屬於第一設定等級之發光元件；在該等第二收納部件中收納屬於第二設定等級之發光元件；在發光元件具備同時屬於該第一設定等級及該第二設定等級的等級且該第一收納機構及該第二收納機構均關閉之情況下，該分類單元進行使得該發光元件收鈉至該等第二收納部件中的任意一個之分類。
4. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，在該等第二收納部件中的、與檢測後的發光元件之等級相對應的第二收納部件處於被發光元件裝滿狀態之情況下，該分類單元進行使得檢測後之發光元件收鈉至該等第一收納部件中的任意一個之分類。
5. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，該分類單元包含有一分類機構，該分類機構具有用於搬入檢測後之發光元件的搬入口及用於搬出檢測後之發光元件的搬出口，該分類機構以該搬入口為中心進行旋轉移動。
6. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，該分類單元包含有一分類機構以及一傳送構件，其中該分 類機構具有用於搬入檢測後之發光元件的搬入口及用於搬出檢測後之發光元件的搬出口，該傳送構件設置在該分類機構與該收納單元之間；該傳送構件包含有複數個傳送孔，該傳送孔用於使得自該搬出口搬運出之發光元件通過，以便該發光元件收鈉至該等第一收納部件及該等第二收納部件中的任意一個；該分類機構進行旋轉移動，使得該搬出口朝向該等傳送孔中的任意一個。
7. 如請求項第6項所述之發光元件分類裝置，更包含有複數個連接部件，該等連接部份之一側與該第一收納部件或該第二收納部件相連通地連接，該等連接部份之另一側與該等傳送孔中的任意一個相連通地連接。
8. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，在該等第一收納部件中收納屬於第一設定等級的發光元件，在該等第二收納部件中收納屬於第二設定等級的發光元件，該第一設定等級包含有該第二設定等級。
9. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，在該等第一收納部件中收納屬於該第一設定等級之發光元件， 在該等第二收納部件中收納屬於該第二設定等級之發光元件，該第一設定等級及該第二設定等級分別包含相互共同之等級以及相互不同之等級。
10. 如請求項第1項所述之發光元件分類裝置，在該第一收納機構設置有該等第一收納部件，使發光元件可分類成N個等級被收納，其中N為大於1之整數，在該第二收納機構設置有該等第二收納部件，使發光元件可分類成M個等級被收納，其中M為小於N之整數。
11. 一種發光元件檢測分選機，係包含有：一供給部，係供給待檢測之發光元件；一檢測部，係配設有一用於檢測發光元件之檢測單元，該檢測部包含有：複數個插座，係用於放置發光元件；一支撐部件，係配設有該等插座；以及一第一驅動單元，用於旋轉該支撐部件，使得該等插座依次位於檢測發光元件的一檢測位置、對檢測後的發光元件進行分類之一分類位置以及放置待檢測之發光元件之一安放位置；一拾取部，係配設於該供給部與該檢測部之間，將待檢測之發光元件自該供給部輸送至位於該安放位置之插座；一如請求項第1項至第10項中任一項所述之發光元件分類裝置，用於將檢測後之發光元件按等級進行分類；以及 一移送部，係用於將檢測後之發光元件自位於該分類位置的插座輸送至該發光元件分類裝置。
12. 如請求項第11項所述之發光元件檢測分選機，其中該供給部包含有一儲存待檢測之發光元件之儲存機構；該第一收納機構以及該第二收納機構配設為可以向該儲存機構所在之方向一側進行開閉。