KR101206765B1 - 발광소자 테스트 핸들러 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부; 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함하는 수납부; 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 구분하여 수납하기 위한 작업의 정확성을 향상시킬 수 있고, 이에 따라 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

Description

발광소자 테스트 핸들러{Luminous element Test Handler}
본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.
발광소자(Luminous element)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자로, 엘이디(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(Semiconductor laser) 등을 말하며, 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프, 숫자표시 장치나 계산기의 카드 판독기, 백라이트 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.
이러한 발광소자는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 발광소자가 가지는 성능을 테스트하는 공정, 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정 등이 포함된다.
상술한 바와 같은 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 된다. 이러한 공정들이 제대로 이루어지지 않는다면, 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 실제로 가지는 성능과 다른 등급으로 구분되어 출하될 수 있다. 이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키는 결과를 초래할 수 있다.
따라서, 발광소자가 갖는 성능에 따라 등급별로 정확하게 분류할 수 있고, 이에 따라 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있는 장치의 개발이 필요하다.
본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자가 갖는 성능에 따라 등급별로 정확하게 분류함으로써 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부; 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부; 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구를 포함하고, 상기 분류부로부터 이송되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위한 수납부; 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함할 수 있다. 상기 수납부는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.
본 발명은 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 구분하여 수납하기 위한 작업의 정확성을 향상시킬 수 있고, 이에 따라 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도
도 2는 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 사시도
도 3은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 분해 사시도
도 4는 본 발명에 따른 식별부를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 5는 본 발명의 변형된 실시예에 따른 수납부의 개략적인 분해 사시도
도 6은 본 발명의 변형된 실시예에 따른 식별부를 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 7은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 평면도
도 8은 도 7의 A 부분에 대한 확대도
도 9는 본 발명에 따른 수납부와 분류부의 개략적인 사시도
도 10은 도 9에서 수납유닛이 개방된 상태를 나타낸 개략적인 사시도
도 11은 본 발명에 따른 분류기구의 개략적인 저면 사시도
도 12는 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 평면도
도 13 및 도 14는 본 발명에 따른 분류기구가 발광소자를 분류하는 상태를 개략적으로 나타낸 작동상태도
도 15는 본 발명에 따른 공급부, 픽커부, 테스트부, 및 이송부의 개략적인 사시도
도 16은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 로딩위치, 테스트위치, 및 언로딩위치에 대한 개념도
도 17은 본 발명에 따른 접속유닛의 개략적인 사시도
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납부(1), 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 분류부(3), 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(4), 테스트될 발광소자를 이송하는 픽커부(5), 테스트될 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어지는 테스트부(6), 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(6)에서 상기 분류부(3)로 이송하는 이송부(7)를 포함한다.
상기 공급부(4)가 테스트될 발광소자를 공급하면, 상기 픽커부(5)가 상기 공급부(4)에서 상기 테스트부(6)로 테스트될 발광소자를 이송한다. 상기 테스트부(6)에서 테스트될 발광소자에 대한 테스트가 완료되면, 상기 이송부(7)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(6)에서 상기 분류부(3)로 이송한다. 상기 이송부(7)에 의해 이송된 테스트된 발광소자는, 상기 분류부(3)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류되고, 이에 따라 상기 수납부(1)에 등급별로 구분되어 수납된다.
이하에서는 상기 수납부(1), 상기 분류부(3), 상기 공급부(4), 상기 픽커부(5), 상기 테스트부(6), 및 상기 이송부(7)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 수납부(1)는 상기 분류부(3, 도 1에 도시됨)로부터 이송되는 발광소자를 수납한다. 상기 수납부(1)는 상기 분류부(3)에 의해 분류되는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납할 수 있다. 상기 수납부(1)는 상기 분류부(3) 아래에 위치되게 설치될 수 있다.
상기 수납부(1)는 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구(11, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 상기 수납부(1)는 상기 수납기구(11)를 복수개 포함한다. 상기 수납부(1)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하거나 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 수납기구(11)를 포함할 수 있다. 상기 분류부(3)는 상기 수납기구(11)들 중에서 테스트된 발광소자가 테스트 결과에 따른 등급에 해당하는 수납기구(11)에 수납되도록 분류할 수 있다. 상기 수납기구(11)는 전체적으로 일측이 개방된 직방체 형태로 형성될 수 있다. 테스트된 발광소자는 개방된 일측을 통해 상기 수납기구(11)에 수납될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(11)는 전체적으로 일측이 개방된 원통 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 수납기구(11)들은 상기 분류부(3) 아래에 위치되게 설치될 수 있다.
도 1 내지 도 3을 참고하면, 상기 수납부(1)는 상기 수납기구(11)가 복수개 설치되는 수납유닛(12) 및 상기 수납유닛(12)이 복수개 설치되는 수납본체(13)를 포함한다.
상기 수납유닛(12)은 상기 수납본체(13)에 설치된다. 상기 수납유닛(12)은 상기 수납본체(13)에 탈착 가능하게 결합된다. 상기 수납유닛(12)은 상기 수납기구(11)가 설치되기 위한 수납프레임(121)을 포함한다. 상기 수납프레임(121)에는 상기 수납기구(11)가 삽입되기 위한 삽입공(1211)이 복수개 형성된다. 상기 수납기구(11)는 상기 삽입공(1211)에 삽입됨으로써 상기 수납유닛(12)에 설치될 수 있다. 상기 수납기구(11)는 상기 삽입공(1211)으로부터 이탈됨으로써 상기 수납유닛(12)으로부터 분리될 수 있다. 상기 삽입공(1211)은 상기 수납기구(11)에 대응되는 형태로 형성될 수 있다. 상기 수납유닛(12)에 설치될 수 있는 수납기구(11)의 개수와 상기 삽입공(221)의 개수는 대략 일치할 수 있다.
도 1 내지 도 3을 참고하면, 상기 수납본체(13)에는 상기 수납유닛(12)이 복수개 설치된다. 상기 수납유닛(12)들은 서로 독립적으로 탈착 가능하게 상기 수납본체(13)에 결합된다. 상기 수납본체(13)는 전체적으로 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 복수개의 수납유닛(12)이 탈착 가능하게 결합될 수 있는 형태이면 사각 판형 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)가 결합되는 지지프레임(14)을 포함한다. 상기 지지프레임(14)에는 상기 수납본체(13)가 이동 가능하게 결합된다. 상기 수납본체(13)가 이동함에 따라, 상기 수납유닛(12)은 개폐(開閉)될 수 있다. 즉, 상기 수납본체(13)는 상기 수납유닛(12)이 개방(開放)된 상태 또는 폐쇄(閉鎖)된 상태로 되도록 이동할 수 있다. 개방된 상태라 함은, 도 2에 점선으로 도시된 바와 같이 상기 수납기구(11)가 상기 수납유닛(12)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납유닛(12)에 설치될 수 있는 상태이다. 상기 수납유닛(12)이 개방된 상태에서, 테스트된 발광소자로 채워진 수납기구(11)가 상기 수납유닛(12)으로부터 꺼내어진 후에 비어있는 수납기구(11)로 교체될 수 있다. 폐쇄된 상태라 함은, 도 2에 실선으로 도시된 바와 같이 상기 수납기구(11)가 상기 수납유닛(12)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납유닛(12)에 설치될 수 없는 상태이다. 상기 수납유닛(12)이 폐쇄된 상태일 때, 상기 수납기구(11)에는 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 지지프레임(14)에는 LM 레일이 결합될 수 있다. 상기 수납본체(13)에는 상기 LM 레일에 이동 가능하게 결합되는 LM 블럭이 결합될 수 있다.
여기서, 상기 수납부(1)는 테스트 결과에 따라 서로 다른 등급에 해당하는 발광소자들을 구분하여 수납하기 위한 수납기구(11)들을 포함한다. 예컨대, 상기 수납부(1)는 발광소자들을 테스트 결과에 따라 256개의 등급으로 구분하여 수납할 수 있는 수납기구(11)들을 포함할 수 있다. 상기 수납기구(11)들 각각이 수납하는 발광소자의 등급은 사용자에 의해 설정될 수 있다. 이러한 수납기구(11)들 중에서 테스트된 발광소자들로 채워진 수납기구(11)들이 발생하면 해당 수납기구(11)들을 비어있는 수납기구(11)들로 교체하는 작업이 수행되어야 하는데, 이 과정에서 상기 수납기구(11)들이 섞일 수 있다. 예컨대, 제1등급의 발광소자를 수납하기 위한 수납기구(11)와 제5등급의 발광소자를 수납하기 위한 수납기구(11)를 교체하는 경우, 해당 수납기구(11)들을 교체하는 과정에서 해당 수납기구(11)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치될 수 있다. 또한, 상기 수납유닛(12)들을 교체하는 경우, 상기 수납본체(13)로부터 상기 수납유닛(12)들을 분리하고 상기 수납본체(13)에 상기 수납유닛(12)들을 다시 설치하는 과정에서 상기 수납유닛(12)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납기구(11)들에는 설정된 등급이 아닌 다른 등급에 해당하는 발광소자가 수납될 수 있다. 따라서, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성이 저하됨으로써, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도가 저하될 수 있다.
이를 방지하기 위해, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부(2, 도 3에 도시됨)를 포함할 수 있다.
상기 식별부(2)는 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치가 구별되도록 함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납유닛(12)들을 교체하는 과정에서 상기 수납유닛(12)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치되는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.
상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치가 구별되도록 함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시킬 수도 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납기구(11)들을 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치되는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.
이하에서는 상기 식별부(2)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 우선, 상기 식별부(2)가 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치를 구별시킴으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시키는 실시예에 관해 살펴보면, 다음과 같다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)에 형성된 제1삽입홈(21) 및 상기 수납본체(13)에 형성된 제1삽입부재(22)를 포함한다.
상기 제1삽입홈(21)에는 상기 제1삽입부재(22)가 삽입될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)에 상기 제1삽입부재(22)가 삽입됨에 따라, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)을 상기 수납본체(13)에 결합시킬 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)은 상기 수납유닛(12)의 일면에 형성될 수 있다. 상기 수납유닛(12)의 일면은 상기 수납유닛(12)이 상기 수납본체(13)에 결합됨에 따라 상기 수납본체(13)에 접촉되는 면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1삽입홈(21)은 상기 수납유닛(12)의 밑면에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)은 상기 제1삽입부재(22)에 대응되는 형태로 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)은 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 제1삽입부재(22)가 삽입될 수 있는 형태이면 장방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
상기 수납유닛(12)들 각각에는 상기 제1삽입홈(21)이 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납유닛(12)들이 상기 수납본체(13)에 설치되는 위치가 구별될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)은, 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(21b)과 다른 위치에 형성될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)은 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)을 기준으로 위쪽에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입홈(21b)은 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)을 기준으로 아래쪽에 형성될 수 있다. 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)은 서로 동일한 크기로 형성되고, 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)과 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)은 서로 동일한 위치이다.
따라서, 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)은 서로 위치가 뒤바뀌어서는 상기 수납본체(13)에 정상적으로 설치될 수 없다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 식별부(2)가 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치를 구별시킴으로써, 상기 수납유닛(12)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)이 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)으로부터 이격된 거리, 및 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(21b)이 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)으로부터 이격된 거리를 서로 다르게 구현함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)이 설치되는 위치를 구별시킬 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납본체(13)에는 3개 이상의 수납유닛(12)들이 설치될 수도 있고, 상기 제1삽입홈(21)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 제1삽입부재(22)는 상기 제1삽입홈(21)에 삽입될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)가 상기 제1삽입홈(21)에 삽입됨에 따라, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)을 상기 수납본체(13)에 결합시킬 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)는 상기 수납본체(13)의 일면에 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)의 일면은, 상기 수납유닛(12)이 상기 수납본체(13)에 결합됨에 따라 상기 수납유닛(12)에 접촉되는 면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1삽입부재(22)는 상기 수납본체(13)의 윗면에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)는 상기 제1삽입홈(21)에 대응되는 형태로 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 제1삽입홈(21)에 삽입될 수 있는 형태이면 장방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 제1삽입부재(22)는 상기 제1삽입홈(21)과 대략 일치하는 크기로 형성될 수 있다.
상기 수납본체(13)에는 상기 제1삽입부재(22)가 복수개 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)들은 서로 소정 거리 이격되게 상기 수납본체(13)에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)들은 상기 수납유닛(12)들에 형성된 제1삽입홈(21)들 각각에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 수납본체(13)에는 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)에 대응되는 위치에 제1삽입부재(22a)가 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)에는 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입홈(21b)에 대응되는 위치에 제1삽입부재(22b)가 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제1삽입부재(22)들은 상기 수납본체(13)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)에 형성된 제2삽입홈(23) 및 상기 수납본체(13)에 형성된 제2삽입부재(24)를 포함한다.
상기 제2삽입홈(23)에는 상기 제2삽입부재(24)가 삽입될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)에 상기 제2삽입부재(24)가 삽입됨에 따라, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)을 상기 수납본체(13)에 결합시킬 수 있다. 상기 수납유닛(12)은 상기 제1삽입홈(21)에 상기 제1삽입부재(22)가 삽입되고, 상기 제2삽입홈(23)에 상기 제2삽입부재(24)가 삽입됨으로써, 상기 수납본체(13)에 더 견고하게 결합될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)은 상기 수납유닛(12)에서 상기 제1삽입홈(21)이 형성된 일면에 형성될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제2삽입홈(23)은 상기 수납유닛(12)의 밑면에 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)은 상기 제2삽입부재(24)에 대응되는 형태로 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)은 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 제2삽입부재(24)가 삽입될 수 있는 형태이면 장방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
상기 수납유닛(12)들 각각에는 상기 제2삽입홈(23)이 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)들은 상기 수납유닛(12)들마다 상기 제2삽입홈(23)들을 기준으로 서로 다른 위치에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납유닛(12)들이 상기 수납본체(13)에 설치되는 위치가 구별될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23a)은, 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)과 동일한 위치에 형성될 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23a)은 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)은 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)에 형성될 수 있다. 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)은 서로 동일한 크기로 형성되고, 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)과 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)은 서로 동일한 위치이다. 이 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)은 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23a)을 기준으로 위쪽에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입홈(21b)은 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)을 기준으로 아래쪽에 형성될 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 식별부(2)가 상기 수납유닛(12)들을 상기 수납본체(13)에 더 견고하게 결합시킬 수 있을 뿐만 아니라, 상기 식별부(2)가 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치를 더 명확하게 구별시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 더 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 더 향상시킬 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입홈(21a)이 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23b)으로부터 이격된 거리, 및 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입홈(21b)이 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)으로부터 이격된 거리를 서로 다르게 구현함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)이 설치되는 위치를 구별시킬 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납본체(13)에는 3개 이상의 수납유닛(12)들이 설치될 수도 있고, 상기 제2삽입홈(23)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23a)은 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)으로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성될 수도 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)은 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)으로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성될 수도 있다. 상기 제2삽입홈들(23a, 23b)은 상기 수납유닛들(12a, 12b)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈들(21a, 21b)은 상기 수납유닛들(12a, 12b)마다 상기 제2삽입홈들(23a, 23b)들을 기준으로 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 제2삽입부재(24)는 상기 제2삽입홈(23)에 삽입될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)가 상기 제2삽입홈(23)에 삽입됨에 따라, 상기 식별부(2)는 상기 수납유닛(12)을 상기 수납본체(13)에 결합시킬 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)는 상기 수납유닛(12)에서 상기 제1삽입부재(22)가 형성된 일면에 형성될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제2삽입부재(24)는 상기 수납본체(13)의 윗면에 형성될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)는 상기 제2삽입홈(23)에 대응되는 형태로 형성될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 제2삽입홈(23)에 삽입될 수 있는 형태이면 장방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 제2삽입부재(24)는 상기 제2삽입홈(23)과 대략 일치하는 크기로 형성될 수 있다.
상기 수납본체(13)에는 상기 제2삽입부재(24)가 복수개 형성될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)들은 서로 소정 거리 이격되게 상기 수납본체(13)에 형성될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)들은 상기 수납유닛(12)들에 형성된 제2삽입홈(23)들 각각에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 수납본체(13)에는 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입홈(23a)에 대응되는 위치에 제2삽입부재(24a)가 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)에는 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입홈(23b)에 대응되는 위치에 제2삽입부재(24b)가 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제2삽입부재(24)들은 상기 수납본체(13)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 본 발명의 변형된 실시예에 따른 식별부(2)는 상기 제1삽입홈(21)이 상기 수납본체(13)에 형성되고, 상기 제1삽입부재(22)가 상기 수납유닛(12)에 형성될 수 있다.
상기 수납유닛(12)의 일면에는 상기 제1삽입부재(22)가 형성될 수 있다. 상기 수납유닛(12)의 일면은 상기 수납유닛(12)이 상기 수납본체(13)에 결합됨에 따라 상기 수납본체(13)에 접촉되는 면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1삽입부재(22)는 상기 수납유닛(12)의 밑면에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납유닛(12)들이 상기 수납본체(13)에 설치되는 위치가 구별될 수 있다.
예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)는, 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(22b)와 다른 위치에 형성될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)는 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)을 기준으로 위쪽에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입부재(22b)는 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)을 기준으로 아래쪽에 형성될 수 있다.
따라서, 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)은 서로 위치가 뒤바뀌어서는 상기 수납본체(13)에 정상적으로 설치될 수 없다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 식별부(2)가 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치를 구별시킴으로써, 상기 수납유닛(12)들의 위치가 서로 뒤바뀌어 설치되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)가 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)으로부터 이격된 거리, 및 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(22b)가 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)으로부터 이격된 거리를 서로 다르게 구현함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)이 설치되는 위치를 구별시킬 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납본체(13)에는 3개 이상의 수납유닛(12)들이 설치될 수도 있고, 상기 제1삽입부재(22)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 상기 수납본체(13)에는 상기 제1삽입홈(21)이 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)은 상기 수납본체(13)의 일면에 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)의 일면은, 상기 수납유닛(12)이 상기 수납본체(13)에 결합됨에 따라 상기 수납유닛(12)에 접촉되는 면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1삽입홈(21)은 상기 수납본체(13)의 윗면에 형성될 수 있다.
상기 수납본체(13)에는 상기 제1삽입홈(21)이 복수개 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)들은 서로 소정 거리 이격되게 상기 수납본체(13)에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입홈(21)들은 상기 수납유닛(12)들에 형성된 제1삽입부재(22)들 각각에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 수납본체(13)에는 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)에 대응되는 위치에 제1삽입홈(21a)이 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)에는 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입부재(22b)에 대응되는 위치에 제1삽입홈(21b)이 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제1삽입홈(21)들은 상기 수납본체(13)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 본 발명의 변형된 실시예에 따른 식별부(2)는 상기 제2삽입홈(23)이 상기 수납본체(13)에 형성되고, 상기 제2삽입부재(24)가 상기 수납유닛(12)에 형성될 수 있다.
상기 수납유닛(12)의 일면에는 상기 제2삽입부재(24)가 형성될 수 있다. 상기 수납유닛(12)의 일면은 상기 제1삽입부재(22)가 형성된 면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제2삽입부재(24)는 상기 수납유닛(12)의 밑면에 형성될 수 있다. 상기 수납유닛(12)들 각각에는 상기 제2삽입부재(24)가 형성될 수 있다. 상기 제2삽입부재(24)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재(22)들은 상기 수납유닛(12)들마다 상기 제2삽입부재(24)를 기준으로 서로 다른 위치에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 수납유닛(12)들이 상기 수납본체(13)에 설치되는 위치가 구별될 수 있다.
예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24a)는, 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)와 동일한 위치에 형성될 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24a)는 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)는 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)에 형성될 수 있다. 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)은 서로 동일한 크기로 형성되고, 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)과 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)은 서로 동일한 위치이다. 이 경우, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)는 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24a)를 기준으로 위쪽에 형성될 수 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입부재(22b)는 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)를 기준으로 아래쪽에 형성될 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 식별부(2)가 상기 수납유닛(12)들을 상기 수납본체(13)에 더 견고하게 결합시킬 수 있을 뿐만 아니라, 상기 식별부(2)가 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납유닛(12)들이 설치되는 위치를 더 명확하게 구별시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 더 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 더 향상시킬 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제1삽입부재(22a)가 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24b)로부터 이격된 거리, 및 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제1삽입부재(22b)가 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)들로부터 이격된 거리를 서로 다르게 구현함으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 제1수납유닛(12a)과 상기 제2수납유닛(12b)이 설치되는 위치를 구별시킬 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납본체(13)에는 3개 이상의 수납유닛(12)들이 설치될 수도 있고, 상기 제2삽입부재(24)들은 상기 수납유닛(12)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24a)는 상기 제1수납유닛(12a)의 중앙선(B)으로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성될 수도 있다. 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)는 상기 제2수납유닛(12b)의 중앙선(C)으로부터 소정 거리 이격된 위치에 형성될 수도 있다. 상기 제2삽입부재들(24a, 24b)은 상기 수납유닛들(12a, 12b)들마다 서로 동일한 위치에 형성될 수 있다. 상기 제1삽입부재들(22a, 22b)은 상기 수납유닛들(12a, 12b)마다 상기 제2삽입부재들(24a, 24b)들을 기준으로 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 상기 수납본체(13)에는 상기 제2삽입홈(23)이 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)은 상기 수납본체(13)의 일면에 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)의 일면은 상기 제1삽입홈(21)이 형성된 면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제2삽입홈(23)은 상기 수납본체(13)의 윗면에 형성될 수 있다.
상기 수납본체(13)에는 상기 제2삽입홈(23)이 복수개 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)들은 서로 소정 거리 이격되게 상기 수납본체(13)에 형성될 수 있다. 상기 제2삽입홈(23)들은 상기 수납유닛(12)들에 형성된 제2삽입부재(24)들 각각에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. 예컨대, 상기 수납부(1)가 제1수납유닛(12a)과 제2수납유닛(12b)을 포함하는 경우, 상기 수납본체(13)에는 상기 제1수납유닛(12a)에 형성된 제2삽입부재(24a)에 대응되는 위치에 제2삽입홈(23a)이 형성될 수 있다. 상기 수납본체(13)에는 상기 제2수납유닛(12b)에 형성된 제2삽입부재(24b)에 대응되는 위치에 제2삽입홈(23b)이 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납부(1)는 상기 수납본체(13)를 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 제2삽입홈(23)들은 상기 수납본체(13)들마다 서로 다른 위치에 형성될 수 있다.
이하에서는 상기 식별부(2)가 상기 수납유닛(12)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시킴으로써, 상기 수납본체(13)에 대해 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치를 구별시키는 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 식별부(2, 도 8에 도시됨)는 상기 수납기구(11)들이 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납기구(11)들 각각에 형성된 제1식별부재(25)를 포함한다. 상기 수납유닛(12)들에는 각각 상기 수납기구(11)가 행방향(Y축 방향)과 열방향(X축 방향)으로 복수개가 설치된다. 동일한 행을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 동일한 색채를 갖는 제1식별부재(25)들이 형성된다. 서로 다른 행을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 서로 다른 색채를 갖는 제1식별부재(25)들이 형성된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제1식별부재(25)들이 갖는 색채를 이용하여 상기 수납기구(11)들이 정상적인 위치에 설치되었는지 여부를 구별시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제1식별부재(25)들이 갖는 색채에 의해 상기 수납기구(11)들이 정상적인 위치에 설치되도록 함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
예컨대, 도 8에 도시된 바와 같이 제1행을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 빨간색을 갖는 제1식별부재(25a)들이 형성될 수 있다. 제2행을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 주황색을 갖는 제1식별부재(25b)들이 형성될 수 있다. 제3행을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 노란색을 갖는 제1식별부재(25c)들이 형성될 수 있다. 따라서, 발광소자로 채워진 수납기구(11)가 발생한 경우, 해당 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)들에 형성된 제1식별부재들(25a, 25b, 25c)을 이용하여 해당 수납기구(11)의 위치를 구별하여 설치할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)의 위치가 뒤바뀌는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제1식별부재(25)들이 갖는 색채를 이용하여 상기 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11) 중 일부가 설치되지 않은 것을 구별시킬 수 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 제1식별부재(25)는 상기 수납기구(11)의 입구(111, 도 7에 도시됨)가 갖는 변들(111a, 111b, 111c, 111d, 도 7에 도시됨) 중에서 상기 열방향(X축 방향)으로 형성된 변(便)에 형성될 수 있다. 상기 입구(111)는 상기 수납기구(11)로 발광소자가 유입되는 통로이다. 상기 수납기구(11)가 직방체 형태로 형성되는 경우, 상기 제1식별부재(25)는 상기 입구(111)가 갖는 변들(111a, 111b, 111c, 111d) 중에서 상기 열방향(X축 방향)으로 형성된 변들(111a, 111b) 중에서 적어도 하나에 형성될 수 있다. 따라서, 상기 수납기구(11)들이 상기 수납유닛(12)에 상기 행방향(Y축 방향)과 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되면, 상기 수납기구(11)들 각각에 형성된 제1식별부재(25)들은 동일한 색채들끼리 상기 열방향(X축 방향)으로 직선을 이룰 수 있다. 이에 따라, 정상적인 설치위치를 벗어나서 설치된 수납기구(11)가 발생하면, 해당 수납기구(11)가 설치된 행에는 상기 제1식별부재(25)들이 갖는 색채들이 동일한 색채를 이루며 상기 열방향(X축 방향)으로 직선을 이루지 못하게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 정상적인 설치위치를 벗어나서 설치된 수납기구(11)를 용이하게 구별시킬 수 있다. 상기 제1식별부재(25)는 전체적으로 사각 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 타원 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 수납기구(11)들에는 하나의 수납유닛(12)을 하나의 단위로 하여 상기 행방향(Y축 방향)으로 설치되는 위치가 구별되도록, 상기 제1식별부재(25)들이 형성될 수도 있다. 예컨대, 하나의 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11)들이 4개의 행을 이루며 설치되는 경우, 상기 식별부(2)는 4개의 서로 다른 색채를 갖는 제1식별부재(25)들을 포함할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(11)들에는 상기 수납본체(13)에 설치되는 수납유닛(12)들을 하나의 단위로 하여 상기 행방향(Y축 방향)으로 설치되는 위치가 구별되도록, 상기 제1식별부재(25)들이 형성될 수도 있다. 예컨대, 하나의 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11)들이 4개의 행을 이루며 설치되고, 상기 수납본체(13)에 2개의 수납유닛(12)이 상기 행방향(Y축 방향)으로 설치되는 경우, 상기 식별부(2)는 8개의 서로 다른 색채를 갖는 제1식별부재(25)들을 포함할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 식별부(2)는 상기 제1식별부재(25)들 각각에 대응되는 색채를 갖는 복수개의 제1기준부재(26)를 포함한다.
상기 제1기준부재(26)들은 상기 수납유닛(12)들 각각이 갖는 수납프레임(121)들에 형성된다. 상기 수납프레임(121)들에는 각각 상기 행방향(Y축 방향)으로 서로 다른 색채를 갖는 제1기준부재(26)들이 형성된다. 상기 수납기구(11)들이 상기 행방향(Y축 방향)과 상기 열방향(X축 방향)으로 상기 수납유닛(12)에 설치됨에 따라 상기 제1식별부재(25)들이 갖는 색채들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 소정의 배열을 이루게 되는데, 상기 제1기준부재(26)들은 상기 제1식별부재(25)들이 상기 행방향(Y축 방향)으로 이루는 배열에 대응되게 상기 수납프레임(121)에 형성된다.
예컨대, 도 8에 도시된 바와 같이 빨간색을 갖는 제1식별부재(25a)들이 제1행을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제1행에 대응되는 위치에 빨간색을 갖는 제1기준부재(26a)가 형성될 수 있다. 주황색을 갖는 제1식별부재(25a)들이 제2행을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제2행에 대응되는 위치에 주황색을 갖는 제1기준부재(26b)가 형성될 수 있다. 노란색을 갖는 제1식별부재(25a)들이 제3행을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제3행에 대응되는 위치에 노란색을 갖는 제1기준부재(26c)가 형성될 수 있다. 따라서, 발광소자로 채워진 수납기구(11)가 발생한 경우, 해당 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 제1식별부재들(25a, 25b, 25c)과 상기 제1기준부재들(26a, 26b, 26c)을 이용하여 해당 수납기구(11)의 위치를 구별하여 설치할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)의 위치가 뒤바뀌는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 상기 제1기준부재(26)는 전체적으로 사각 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 타원 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 식별부(2)는 상기 수납기구(11)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납기구(11)들 각각에 형성된 제2식별부재(27)를 포함한다. 상기 수납유닛(12)들에는 각각 상기 수납기구(11)가 행방향(Y축 방향)과 열방향(X축 방향)으로 복수개가 설치된다. 동일한 열을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 동일한 색채를 갖는 제2식별부재(27)들이 형성된다. 서로 다른 열을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 서로 다른 색채를 갖는 제2식별부재(27)들이 형성된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제2식별부재(27)들이 갖는 색채를 이용하여 상기 수납기구(11)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 정상적인 위치에 설치되었는지 여부를 구별시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제2식별부재(27)들이 갖는 색채에 의해 상기 수납기구(11)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 정상적인 위치에 설치되도록 함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
예컨대, 도 8에 도시된 바와 같이 제1열을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 파란색을 갖는 제2식별부재(27a)들이 형성될 수 있다. 제2열을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 청록색을 갖는 제2식별부재(27b)들이 형성될 수 있다. 제3열을 이루며 설치되기 위한 수납기구(11)들에는 각각 녹색을 갖는 제2식별부재(27c)들이 형성될 수 있다. 따라서, 발광소자로 채워진 수납기구(11)가 발생한 경우, 해당 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)들에 형성된 제2식별부재들(27a, 27b, 27c)을 이용하여 해당 수납기구(11)의 위치를 구별하여 설치할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)의 위치가 뒤바뀌는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 제2식별부재(27)들이 갖는 색채를 이용하여 상기 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11) 중 일부가 설치되지 않은 것을 구별시킬 수 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 제2식별부재(27)는 상기 수납기구(11)의 입구(111, 도 7에 도시됨)가 갖는 변들(111a, 111b, 111c, 111d, 도 7에 도시됨) 중에서 상기 행방향(Y축 방향)으로 형성된 변(便)에 형성될 수 있다. 상기 수납기구(11)가 직방체 형태로 형성되는 경우, 상기 제2식별부재(27)는 상기 입구(111)가 갖는 변들(111a, 111b, 111c, 111d) 중에서 상기 행방향(Y축 방향)으로 형성된 변들(111c, 111d) 중에서 적어도 하나에 형성될 수 있다. 따라서, 상기 수납기구(11)들이 상기 수납유닛(12)에 상기 행방향(Y축 방향)과 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되면, 상기 수납기구(11)들 각각에 형성된 제2식별부재(27)들은 동일한 색채들끼리 상기 행방향(Y축 방향)으로 직선을 이룰 수 있다. 이에 따라, 정상적인 설치위치를 벗어나서 설치된 수납기구(11)가 발생하면, 해당 수납기구(11)가 설치된 열에는 상기 제2식별부재(27)들이 갖는 색채들이 동일한 색채를 이루며 상기 행방향(Y축 방향)으로 직선을 이루지 못하게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 정상적인 설치위치를 벗어나서 설치된 수납기구(11)를 용이하게 구별시킬 수 있다. 상기 제2식별부재(27)는 전체적으로 사각 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 타원 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 수납기구(11)들에는 하나의 수납유닛(12)을 하나의 단위로 하여 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되는 위치가 구별되도록, 상기 제2식별부재(27)들이 형성될 수도 있다. 예컨대, 하나의 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11)들이 16개의 열을 이루며 설치되는 경우, 상기 식별부(2)는 16개의 서로 다른 색채를 갖는 제2식별부재(27)들을 포함할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(11)들에는 상기 수납본체(13)에 설치되는 수납유닛(12)들을 하나의 단위로 하여 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되는 위치가 구별되도록, 상기 제2식별부재(27)들이 형성될 수도 있다. 예컨대, 하나의 수납유닛(12)에 상기 수납기구(11)들이 16개의 열을 이루며 설치되고, 상기 수납본체(13)에 2개의 수납유닛(12)이 상기 열방향(X축 방향)으로 설치되는 경우, 상기 식별부(2)는 32개의 서로 다른 색채를 갖는 제2식별부재(27)들을 포함할 수 있다. 상기 수납본체(13)에 2개의 수납유닛(12)이 상기 행방향(Y축 방향)으로 설치되는 경우에는, 상기 식별부(2)는 16개의 서로 다른 색채를 갖는 제2식별부재(27)들을 포함할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 식별부(2)는 상기 제2식별부재(27)들 각각에 대응되는 색채를 갖는 복수개의 제2기준부재(28)를 포함한다.
상기 제2기준부재(28)들은 상기 수납유닛(12)들 각각이 갖는 수납프레임(121)들에 형성된다. 상기 수납프레임(121)들에는 각각 상기 열방향(X축 방향)으로 서로 다른 색채를 갖는 제2기준부재(28)들이 형성된다. 상기 수납기구(11)들이 상기 행방향(Y축 방향)과 상기 열방향(X축 방향)으로 상기 수납유닛(12)에 설치됨에 따라 상기 제2식별부재(27)들이 갖는 색채들이 상기 열방향(X축 방향)으로 소정의 배열을 이루게 되는데, 상기 제2기준부재(28)들은 상기 제2식별부재(27)들이 상기 열방향(X축 방향)으로 이루는 배열에 대응되게 상기 수납프레임(121)에 형성된다.
예컨대, 도 8에 도시된 바와 같이 파란색을 갖는 제2식별부재(27a)들이 제1열을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제1열에 대응되는 위치에 파란색을 갖는 제2기준부재(28a)가 형성될 수 있다. 청록색을 갖는 제2식별부재(27a)들이 제2열을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제2열에 대응되는 위치에 청록색을 갖는 제2기준부재(28b)가 형성될 수 있다. 녹색을 갖는 제2식별부재(27a)들이 제3열을 이루며 배열되는 경우, 상기 수납프레임(121)에는 상기 제3열에 대응되는 위치에 녹색을 갖는 제2기준부재(28c)가 형성될 수 있다. 따라서, 발광소자로 채워진 수납기구(11)가 발생한 경우, 해당 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 제2식별부재들(27a, 27b, 27c)과 상기 제2기준부재들(28a, 28b, 28c)을 이용하여 해당 수납기구(11)의 위치를 구별하여 설치할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 수납기구(11)를 교체하는 과정에서 상기 수납기구(11)의 위치가 뒤바뀌는 것을 방지함으로써, 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있고, 발광소자가 갖는 성능에 대해 신뢰도를 향상시킬 수 있다. 상기 제2기준부재(28)는 전체적으로 사각 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 타원 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 제2식별부재(27)들과 상기 제1식별부재(25)들은 서로 다른 색채를 갖도록 형성될 수 있다. 상기 제2식별부재(27)들은 난색(暖色) 계통에 속하는 색채들로 형성될 수 있고, 상기 제1식별부재(25)들은 한색(寒色) 계통에 속하는 색채들로 형성될 수 있다. 상기 제2식별부재(27)들이 한색 계통에 속하는 색채들로 형성될 수도 있고, 상기 제1식별부재(25)들이 난색 계통에 속하는 색채들로 형성될 수도 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제2식별부재(27)들과 상기 제1식별부재(25)들 모두 난색 또는 한색 계통에 속하는 색채들로 형성될 수도 있다. 상기 제2식별부재(27)들과 상기 제1식별부재(25)들은 서로 공통되는 색채들을 포함하도록 형성될 수도 있다.
도 1, 도 2, 도 9 및 도 10을 참고하면, 상기 분류부(3)는 테스트된 발광소자가 상기 수납기구(11)들 중 어느 하나에 수납되도록 분류한다. 상기 분류부(3)는 테스트된 발광소자의 테스트 결과에 따른 등급 정보를 제공받을 수 있다. 상기 분류부(3)는 제공된 등급 정보에 기초하여 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 테스트된 발광소자의 테스트 결과에 따른 등급 정보는 테스터(미도시)로부터 제공될 수 있다. 상술한 바와 같이, 상기 수납유닛(12)은 개폐될 수 있다. 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 수납유닛(12)은 상기 분류부(3)로부터 이송되는 발광소자가 상기 수납기구(11, 도 2에 도시됨)들에 수납될 수 있도록 폐쇄될 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이, 상기 수납유닛(12)은 상기 수납기구(11)가 상기 수납유닛(12)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납기구(11)가 상기 수납유닛(12)에 설치될 수 있도록 개방될 수 있다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 분류부(3)는 분류기구(31)를 포함한다. 상기 분류기구(31)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동한다. 상기 분류기구(31)는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구(311, 도 11에 도시됨) 및 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구(312, 도 11에 도시됨)를 포함한다. 상기 분류기구(31)는 상기 반입구(311) 및 상기 반출구(312) 각각에 연통되게 연결되는 이동로(미도시)를 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반입구(311)를 통해 상기 분류기구(31)로 진입할 수 있고, 상기 이동로를 거쳐 상기 반출구(312)를 통해 상기 분류기구(31)로부터 반출될 수 있다.
상기 분류기구(31)는 상기 반출구(312)가 향하는 방향이 변경되도록 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 분류부(3)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따른 등급으로 분류할 수 있다. 상기 분류기구(31)는 상기 반입구(311)를 중심으로 피벗(pivot) 이동함으로써, 상기 반출구(312)가 향하는 방향을 변경할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 분류기구(31)는 X축 방향으로 회전 이동하고, Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구(312)가 향하는 방향을 변경할 수 있다. 상기 분류기구(31)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 상기 반출구(312)가 향하는 방향을 변경할 수도 있다. 상기 분류기구(31)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 회전 이동함으로써, 상기 반출구(312)가 향하는 방향을 변경할 수도 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 분류부(3)는 전달기구(32, 도 12에 도시됨)를 포함한다. 상기 전달기구(32)는 상기 분류기구(31)와 상기 수납부(1) 사이에 위치되게 설치된다.
상기 전달기구(32)는 테스트된 발광소자가 통과되기 위한 전달공(321, 도 12에 도시됨)을 포함한다. 상기 분류기구(31)는 상기 반출구(312, 도 11에 도시됨)가 상기 전달공(321)들 중 어느 하나를 향하도록 이동할 수 있다. 상기 반출구(312)로부터 반출된 발광소자는 상기 전달공(321)들 중 어느 하나를 통해 상기 전달기구(32)를 통과한 후, 상기 수납기구(11, 도 10에 도시됨)들 중 어느 하나에 수납될 수 있다.
상기 전달기구(32)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하는 개수의 전달공(321)을 포함할 수 있다. 상기 분류부(3)는 상기 반출구(312)가 테스트된 발광소자의 등급과 일치하는 전달공(321)을 향하도록 상기 분류기구(31)를 이동시킴으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 상기 전달기구(32)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 전달공(321)을 포함할 수도 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 전달기구(32)는 테스트된 발광소자가 통과되기 위한 복수개의 제1전달공(321a, 도 12에 도시됨) 및 테스트된 발광소자가 통과되기 위한 복수개의 제2전달공(321b, 도 12에 도시됨)을 포함할 수 있다. 상기 제1전달공(321a)은 제1원주(32a)를 따라 형성될 수 있다. 상기 제2전달공(321b)은 제2원주(32b)를 따라 형성될 수 있다. 상기 제2원주(32b)는 상기 제1원주(32a)보다 큰 직경을 가질 수 있다. 상기 제1원주(32a) 및 상기 제2원주(32b)는 동일한 정점을 중심으로 하는 원주(圓周)이다. 상기 제1원주(32a) 및 상기 제2원주(32b)의 중심은 상기 전달기구(32)의 중심과 대략 일치할 수 있다. 상기 제1원주(32a) 및 상기 제2원주(32b)의 중심은 상기 반입구(311, 도 11에 도시됨)와 동일한 수직선 상에 위치할 수 있다.
상기 제1원주(32a) 보다 큰 직경을 갖는 상기 제2원주(32b)에는, 상기 제1전달공(321a)의 개수와 대략 일치하거나 더 많은 개수의 제2전달공(321b)이 형성될 수 있다. 상기 제1전달공(321a)들은 상기 제1원주(32a)를 따라 서로 동일한 간격으로 이격되어 형성될 수 있다. 상기 제2전달공(321b)들은 상기 제2원주(32b)를 따라 서로 동일한 간격으로 이격되어 형성될 수 있다.
상기 전달기구(32)에는 상기 전달공(321)이 서로 다른 직경을 갖는 원주들을 따라 각각 복수개가 형성될 수 있다. 즉, 상기 전달공(321)은 L개(L은 1보다 큰 정수)의 원주 각각을 따라 복수개가 형성될 수 있다. 다른 원주에 비해 큰 직경을 갖는 원주에는, 그보다 작은 직경을 갖는 원주를 따라 형성된 전달공(321)의 개수와 대략 일치하거나 더 많은 개수의 전달공(321)이 형성될 수 있다. 상기 원주들은 동일한 정점을 중심으로 하는 원주(圓周)이다. 상기 원주들의 중심은 상기 전달기구(32)의 중심과 대략 일치할 수 있다. 상기 원주들의 중심은 상기 반입구(311)와 동일한 수직선 상에 위치할 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 전달기구(32)에는 상기 전달공(321)들이 X축 방향과 Y축 방향으로 서로 이격되어 격자 형태를 이루며 형성될 수도 있다. 상기 전달공(321)은 전체적으로 원 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 사각 형태 등 다각형 형태로 형성될 수도 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 전달기구(32)는 상기 분류기구(31)가 이동하기 위한 전달홈(322, 도 14에 도시됨)을 포함한다. 이에 따라, 상기 분류기구(31) 및 상기 전달기구(32)는 상기 반출구(312) 및 상기 전달공(321)이 서로 근접하게 위치되도록 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자가 상기 반출구(312)에서 상기 전달공(321)으로 정확하게 이동하도록 구현될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자가 상기 반출구(312)에서 상기 전달공(321)으로 이동하는 거리 및 시간을 줄일 수 있다. 상기 전달기구(32)는 전체적으로 반구 형태로 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 전달기구(32)는 전체적으로 반원통 형성될 수도 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 분류부(3)는 회전부재(33) 및 프레임(34)을 포함한다.
상기 회전부재(33)는 상기 프레임(34)에 회전 가능하게 결합될 수 있다. 상기 회전부재(33)에는 상기 분류기구(31)가 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 회전부재(33)가 회전하면, 도 13에 도시된 바와 같이 상기 분류기구(31)도 함께 회전할 수 있다. 상기 회전부재(33)에는 상기 분류기구(31)가 회전 가능하게 결합될 수 있다. 상기 분류기구(31)는, 도 14에 도시된 바와 같이, 상기 회전부재(33)에 대해 수직한 방향으로 회전할 수 있게 상기 회전부재(33)에 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(31)는 상기 반입구(311)를 중심으로 피벗(pivot) 이동할 수 있다. 도 13은 상기 회전부재(33)가 회전함에 따라 상기 분류기구(31)가 회전하는 작동관계를 나타낸 평면도이고, 도 14는 상기 분류기구(31)가 상기 회전부재(33)에 대해 수직한 방향으로 회전하는 작동관계를 나타낸 도 13의 D-D 단면도이다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 회전부재(33)는 상기 분류기구(31)가 회전 가능하게 결합되기 위한 결합부재(331, 도 14에 도시됨)를 포함한다. 상기 결합부재(331)는 상기 회전부재(33)에서 상기 분류기구(31)를 향하는 방향으로 돌출되게 형성될 수 있다. 상기 결합부재(331)에는 상기 분류기구(31)가 상기 회전부재(33)에 대해 수직한 방향으로 회전될 수 있게 결합된다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 회전부재(33)는 상기 반입구(311)에 연통되게 연결되는 연결구(332)를 포함한다. 테스트된 발광소자는 상기 연결구(332)를 지나 상기 반입구(311)로 반입될 수 있다. 상기 회전부재(33)는 상기 연결구(332)를 중심으로 회전할 수 있다. 상기 분류기구(31)가 피벗(pivot) 이동하거나 X축 방향 및 Y축 방향으로 직선 이동 또는 회전 이동하는데 방해되지 않도록, 상기 연결구(332)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결구(332)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다. 상기 회전부재(33)는 전체적으로 원반 형태로 형성될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 프레임(34)에는 상기 회전부재(33)가 회전 가능하게 결합된다. 상기 전달기구(32)는 상기 분류기구(31) 아래에 위치되게 상기 프레임(34)에 결합될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 분류부(3)는 제1구동기구(35) 및 제2구동기구(36)를 포함한다.
상기 제1구동기구(35)는 상기 분류기구(31)를 이동시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(35)는 상기 회전부재(33)를 상기 연결구(332)를 중심으로 회전시킴으로써 상기 분류기구(31)를 이동시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(35)는 상기 프레임(34) 및 상기 회전부재(33)에 각각 결합될 수 있다.
상기 제1구동기구(35)는 모터와, 상기 모터에 의해 제공되는 회전력을 상기 회전부재(33)에 전달하기 위한 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 프레임(34)에 결합될 수 있고, 상기 연결수단은 일측이 상기 모터에 결합되고 타측이 상기 회전부재(33)에 결합될 수 있다. 상기 연결수단은 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다.
상기 제2구동기구(36)는 상기 분류기구(31)를 이동시킬 수 있다. 상기 제2구동기구(36)는 상기 분류기구(31)를 상기 회전부재(33)에 대해 수직한 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 제2구동기구(36)는 상기 회전부재(33) 및 상기 분류기구(31)에 각각 결합될 수 있다. 상기 회전부재(33)가 상기 제1구동기구(35)에 의해 회전되면, 상기 회전부재(33)에 결합된 상기 제2구동기구(36)도 함께 회전할 수 있다.
상기 제2구동기구(36)는 모터와, 상기 모터에 의해 제공되는 회전력을 상기 분류기구(31)에 전달하기 위한 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전부재(33)에 결합될 수 있고, 상기 연결수단은 일측이 상기 모터에 결합되고 타측이 상기 분류기구(31)에 결합될 수 있다. 상기 연결수단은 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 상기 분류기구(31)가 상기 회전부재(33)에 대해 수직한 방향으로 회전되기 위한 회전축에 결합되는 샤프트를 더 포함할 수 있고, 상기 샤프트에는 체인, 벨트 등이 결합될 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1구동기구(35)는 상기 분류기구(31)를 X축 방향으로 회전 이동시키고, 상기 제2구동기구(36)는 상기 분류기구(31)를 Y축 방향으로 직선 이동시킬 수도 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(31)는 X축 방향으로 회전 이동하고, Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1구동기구(35)는 상기 분류기구(31)를 X축 방향으로 직선 이동시키고, 상기 제2구동기구(36)는 상기 분류기구(31)를 Y축 방향으로 직선 이동시킬 수도 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(31)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 직선 이동함으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1구동기구(35)는 상기 분류기구(31)를 X축 방향으로 회전 이동시키고, 상기 제2구동기구(36)는 상기 분류기구(31)를 Y축 방향으로 회전 이동시킬 수도 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(31)는 X축 방향 및 Y축 방향으로 회전 이동함으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 분류부(3)는 연결유닛(37, 도 9에 도시됨)을 포함한다. 상기 연결유닛(37)은 상기 전달기구(32) 및 상기 수납부(1) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 연결유닛(37)은 연결기구(371) 및 연결부재(372)를 포함한다.
상기 연결기구(371)는 일측이 상기 수납기구(11)에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(372)에 결합된다. 상기 연결기구(371)는 타측이 상기 전달공(321)에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(32)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(31), 상기 전달기구(32) 및 상기 연결기구(371)를 지나 상기 수납기구(11)에 수납될 수 있다. 상기 연결유닛(37)은 복수개의 연결기구(371)를 포함할 수 있다. 상기 연결유닛(37)은 상기 수납기구(11)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 연결기구(371)를 포함할 수 있다. 상기 연결기구(371)들은 각각 상기 수납기구(11)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(372)에 결합된다. 상기 연결기구(371)들은 각각 상기 전달공(321)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(32)에 결합된다.
상기 연결기구(371)로 인해 상기 분류기구(31)와 상기 수납부(1)는 서로 소정 거리로 이격된 위치에 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류기구(31)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 거리를 줄이면서도, 상기 수납기구(11)들이 서로 충분한 거리로 이격되도록 구현될 수 있다. 상기 연결기구(371)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결기구(371)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 14를 참고하면, 상기 연결부재(372)는 상기 연결기구(371)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(372)는 상기 수납기구(11) 위에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(372)는 발광소자가 통과할 수 있는 복수개의 연결공(3721)을 포함한다. 상기 연결기구(371)는 타측이 상기 연결공(3721)에 연통되게 상기 연결부재(372)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(31), 상기 전달기구(32) 및 상기 연결기구(371)를 지나 상기 연결공(3721)을 통과하여 상기 수납기구(11)에 수납될 수 있다. 상기 연결부재(372)는 상기 연결기구(371)와 대략 일치하는 개수의 연결공(3721)을 포함할 수 있다. 도 8에는 일부의 연결기구(371)만 도시되어 있으나, 상기 연결기구(371)가 도시되지 않은 연결공(3721)들 각각에도 도 1에 도시된 바와 같이 상기 연결기구(371)들이 연결될 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 공급부(4)는 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(4)는 상기 픽커부(5)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치에 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(4)는 저장기구(41), 운반기구(42), 및 안착기구(43)를 포함한다.
상기 저장기구(41)는 테스트될 발광소자를 복수개 저장할 수 있다. 상기 저장기구(41)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 상기 운반기구(42)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장기구(41)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반기구(42)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.
도 16을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)에 있어서, 상기 수납유닛(12)은 상기 저장기구(41)가 위치된 방향 쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 상기 저장기구(41)가 도 14를 기준으로 위쪽에 위치되게 설치된 경우, 상기 수납유닛(12)은 도 16을 기준으로 위쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 따라서, 작업자가 상기 저장기구(41)에 테스트될 발광소자를 추가로 저장시키기 위한 작업공간과, 상기 수납기구(11)를 상기 수납유닛(12)으로부터 꺼내거나 상기 수납기구(11)를 상기 수납유닛(12)에 설치하기 위한 작업공간을 일치시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)를 여러 대 설치할 때, 충분한 작업공간이 확보될 수 있도록 하면서 동일한 설치공간에 더 많은 대수를 설치할 수 있도록 설치공간을 효율적으로 활용하여 설치할 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 운반기구(42)는 상기 저장기구(41)로부터 공급된 테스트될 발광소자들을 상기 안착기구(43)로 이송한다. 상기 운반기구(42)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 운반기구(42)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 안착기구(43)에는 상기 운반기구(42)로부터 이송된 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착기구(43)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 안착기구(43)는 상기 픽커부(5)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 공급부(4)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착기구(43)에 설치되고, 상기 안착기구(43)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(43)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반기구(42)는 상기 안착기구(43)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(43)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반기구(42)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 픽커부(5)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(43)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 픽커부(5)는 안착기구(43)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(43)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 픽커부(5)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 공급부(4)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수도 있다. 상기 공급부(4)는 상기 픽커부(5)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(4)로 보울 피더(bowl feeder)가 사용될 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 픽커부(5)는 테스트될 발광소자를 상기 공급부(4)에서 상기 테스트부(6)로 이송한다. 상기 픽커부(5)는 상기 안착기구(43)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(6)로 이송할 수 있다. 상기 픽커부(5)는 상기 공급부(4) 및 상기 테스트부(6) 사이에 설치될 수 있다.
상기 픽커부(5)는 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커(51) 및 상기 픽커(51)를 이동시키기 위한 이동기구(52)를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(5)는 복수개의 픽커(51)를 포함할 수도 있다. 상기 이동기구(52)는 상기 픽커(51)가 상기 공급부(4)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(51)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(52)는 상기 픽커(51)가 상기 테스트부(6)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(51)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(52)는 상기 픽커(51)를 승하강시킬 수 있다.
도 1, 도 15 및 도 16을 참고하면, 상기 테스트부(6)에서는 테스트할 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어진다. 상기 테스트부(6)는 소켓(61), 지지부재(62), 및 회전유닛(63)을 포함한다. 상기 테스트부(6)에는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(64)이 설치된다. 상기 테스트부(6)는 상기 픽커부(5) 옆에 위치되게 설치될 수 있다.
상기 소켓(61)에는 발광소자가 안착될 수 있다. 상기 소켓(61)에 안착되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(61)에 흡착될 수 있다. 상기 소켓(61)은 상기 지지부재(62)에 복수개가 설치될 수 있다.
도 16을 참고하면, 상기 소켓(61)들은 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(5a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(6a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(7a)에 순차적으로 위치될 수 있다. 상기 로딩위치(5a)는 상기 픽커부(5, 도 15에 도시됨)가 상기 소켓(61)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(6a)는 상기 테스트유닛(64, 도 15에 도시됨)이 발광소자를 테스트할 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(6a)에는 상기 테스트유닛(64)이 설치된다. 상기 언로딩위치(7a)는 상기 이송부(7, 도 15에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(61)에서 상기 분류부(3, 도 1에 도시됨)로 이송할 수 있는 위치이다. 상기 언로딩위치(7a)에는 상기 이송부(7)가 설치된다.
상기 소켓(61)들은 각각 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(5a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(6a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(7a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(62)에 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 로딩위치(5a)에서는 상기 픽커부(5, 도 15에 도시됨)가 상기 소켓(61)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 공정이 수행되고, 상기 테스트위치(6a)에서는 상기 테스트유닛(64, 도 15에 도시됨)이 상기 소켓(61)에 안착된 발광소자를 테스트하는 공정이 수행되며, 상기 언로딩위치(7a)에서는 상기 이송부(7, 도 15에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(61)에서 상기 분류부(3, 도 1에 도시됨)로 이송하는 공정이 수행된다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 지지부재(62)에는 상기 소켓(61)이 복수개 설치될 수 있다. 상기 지지부재(62)는 상기 로딩위치(5a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 언로딩위치(7a)에 상기 소켓(61)들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전유닛(63, 도 15에 도시됨)에 의해 회전될 수 있다. 상기 지지부재(62)는 상기 회전유닛(63)에 의해 회전축(62a, 도 16에 도시됨)을 중심으로 회전될 수 있다.
상기 지지부재(62)에는 상기 소켓(61)들이 회전축(62a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(62)가 회전축(62a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(61)들은 각각 상기 로딩위치(5a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 언로딩위치(7a)에 동시에 위치될 수 있다.
상기 지지부재(62)에는 상기 로딩위치(5a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 언로딩위치(7a)에 동시에 위치되는 소켓(61)들 외에 더 많은 개수의 소켓(61)이 설치될 수도 있다. 이에 따라, 상기 회전유닛(63)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(61)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되도록 할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 회전유닛(63)은 테스트될 발광소자가 상기 소켓(61)에 로딩되는 로딩위치(5a), 상기 소켓(61)에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치(6a), 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓(61)으로부터 언로딩되는 언로딩위치(7a)에 상기 소켓(61)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(62)를 회전시킨다. 상기 회전유닛(63)은 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 회전유닛(63)이 상기 지지부재(62)를 회전축(62a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(61)들은 상기 로딩위치(5a), 상기 테스트위치(6a), 및 상기 언로딩위치(7a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.
상기 회전유닛(63)은 상기 지지부재(62)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 지지부재(62)의 회전축(62a)에 직접 결합되어 상기 지지부재(62)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 지지부재(62)의 회전축(62a)이 소정 거리로 이격되어 설치되는 경우, 상기 회전유닛(63)은 상기 지지부재(62)의 회전축(62a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 테스트유닛(64)은 상기 테스트위치(6a)에 위치된 발광소자를 테스트할 수 있다. 발광소자는 상기 소켓(61)에 안착된 상태로 상기 테스트위치(6a)에 위치될 수 있다. 상기 테스트부(6)에는 복수개의 테스트유닛(64)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(64)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(3)에 제공할 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 테스트유닛(64)은 접속유닛(641, 도 17에 도시됨) 및 측정유닛(642, 도 15에 도시됨)을 포함한다.
상기 접속유닛(641)은 상기 소켓(61)에 안착된 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(641)은 발광소자에 접속되어 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(641)은 발광소자를 발광시킬 수 있다. 상기 측정유닛(642)은 발광소자가 방출한 광으로부터 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다.
상기 접속유닛(641)은 제1접속부재(641a, 도 17에 도시됨) 및 제2접속부재(641b, 도 17에 도시됨)를 포함할 수 있다. 상기 제1접속부재(641a) 및 제2접속부재(641b)는 서로 가까워지거나 멀어지게 이동될 수 있다. 상기 제1접속부재(641a) 및 제2접속부재(641b)가 서로 가까워지게 이동되면 상기 테스트위치(6a)에 위치된 발광소자에 접속될 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 측정유닛(642)은 상기 테스트위치(6a)에 위치된 발광소자가 갖는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(642)이 광특성 정보를 상기 테스터에 제공하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(3)에 제공할 수 있다.
상기 측정유닛(642)은 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(642)으로 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등이 이용될 수 있으며, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 해당하는 여러 종류의 장치가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 측정유닛(642)으로 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치가 이용될 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 테스트부(6)에는 복수개의 테스트유닛(64)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(64)들은 각각 접속유닛(641) 및 측정유닛(642)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(64)들은 각각 발광소자를 테스트할 수 있다. 상기 소켓(61)들은 발광소자가 테스트되는 복수개의 테스트위치(6a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(62)에 설치될 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 이송부(7)는 테스트된 발광소자를 상기 언로딩위치(7a)에 위치된 소켓(61)에서 상기 분류부(3)로 이송할 수 있다. 발광소자는 상기 픽커부(5)에 의해 상기 공급부(4)에서 픽업되어 상기 로딩위치(5a)에 위치된 소켓(61)에 안착된다. 발광소자는 상기 테스트위치(6a)로 이동되어 테스트된 후에, 상기 언로딩위치(7a)로 이동되어 상기 이송부(7)에 의해 상기 소켓(61)에서 상기 분류부(3, 도 1에 도시됨)로 이송될 수 있다. 상기 분류부(3)로 이송된 발광소자는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류되고, 상기 수납부(1, 도 1에 도시됨)에 등급별로 구분되어 수납될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류부(3), 상기 수납부(1) 및 상기 이송부(7)를 각각 복수개 포함할 수 있다.
도 1, 도 15 내지 도 17을 참고하면, 상기 이송부(7)는 이송유닛(71, 도 15에 도시됨) 및 전달부재(72, 도 15에 도시됨)를 포함할 수 있다.
상기 이송유닛(71)은 테스트된 발광소자를 상기 소켓(61)에서 상기 분류부(3)로 이송할 수 있다. 상기 이송유닛(71)에는 유체를 분사하는 유체분사장치(미도시)가 설치될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체분사장치로부터 제공되는 분사력에 의해 상기 언로딩위치(7a)에 위치된 소켓(61)에서 상기 분류부(3)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(71)에는 유체를 흡입하는 유체흡입장치(미도시)가 설치될 수도 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체흡입장치로부터 제공되는 흡인력에 의해 상기 언로딩위치(7a)에 위치된 소켓(61)에서 상기 분류부(3)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(71)에는 상기 유체분사장치 및 상기 유체흡입장치가 모두 설치될 수도 있다.
상기 전달부재(72)는 일측이 상기 이송유닛(71)에 결합되고, 타측이 상기 분류기구(31, 도 11에 도시됨)에 결합된다. 상기 전달부재(72)는 상기 반입구(311, 도 11에 도시됨)에 연통되게 연결되도록 상기 분류기구(31)에 결합될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 전달부재(72)를 지나 상기 분류부(3, 도 1에 도시됨)로 이송될 수 있다. 상기 분류기구(31)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는데 방해되지 않도록 상기 전달부재(72)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 전달부재(72)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
100 : 발광소자 테스트 핸들러 1 : 수납부 2 : 식별부 3 : 분류부
4 : 공급부 5 : 픽커부 6 : 테스트부 7 : 이송부 11 : 수납기구
12 : 수납유닛 13 : 수납본체 14 : 지지프레임 21 : 제1삽입홈
22 : 제1삽입부재 23 : 제2삽입홈 24 : 제2삽입부재 25 : 제1식별부재
26 : 제1기준부재 27 : 제2식별부재 28 : 제2기준부재

Claims (12)

  1. 삭제
  2. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
    테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
    테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부;
    테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구를 포함하고, 상기 분류부로부터 이송되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위한 수납부; 및
    테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함하고,
    상기 수납부는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함하고;
    상기 식별부는 상기 수납유닛들 각각에 형성된 복수개의 제1삽입홈, 및 상기 수납본체에 형성되고 상기 제1삽입홈들에 삽입되기 위한 복수개의 제1삽입부재를 포함하고;
    상기 제1삽입홈들은 상기 수납유닛들이 상기 수납본체에 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납유닛들마다 서로 다른 위치에 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 식별부는 상기 수납유닛들 각각에 형성된 복수개의 제2삽입홈, 및 상기 수납본체에 형성되고 상기 제2삽입홈들에 삽입되기 위한 복수개의 제2삽입부재를 포함하고;
    상기 제2삽입홈들은 상기 수납유닛들마다 서로 동일한 위치에 형성되고;
    상기 제1삽입홈들은 상기 수납유닛들마다 상기 제2삽입홈들을 기준으로 서로 다른 위치에 형성된 것을 특징으로 발광소자 테스트 핸들러.
  4. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
    테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
    테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부;
    테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구를 포함하고, 상기 분류부로부터 이송되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위한 수납부; 및
    테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함하고,
    상기 수납부는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함하고;
    상기 식별부는 상기 수납유닛들 각각에 형성된 복수개의 제1삽입부재, 및 상기 수납본체에 형성되고 상기 제1삽입부재들이 삽입되기 위한 복수개의 제1삽입홈을 포함하고;
    상기 제1삽입부재들은 상기 수납유닛들이 상기 수납본체에 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납유닛들마다 서로 다른 위치에 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 식별부는 상기 수납유닛들 각각에 형성된 복수개의 제2삽입부재, 및 상기 수납본체에 형성되고 상기 제2삽입부재들이 삽입되기 위한 복수개의 제2삽입홈을 포함하고;
    상기 제2삽입부재들은 상기 수납유닛들마다 서로 동일한 위치에 형성되고;
    상기 제1삽입부재들은 상기 수납유닛들마다 상기 제2삽입부재들을 기준으로 서로 다른 위치에 형성된 것을 특징으로 발광소자 테스트 핸들러.
  6. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
    테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
    테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부;
    테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구를 포함하고, 상기 분류부로부터 이송되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위한 수납부; 및
    테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함하고,
    상기 수납부는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함하고;
    상기 수납유닛들에는 각각 상기 수납기구가 행방향 및 열방향으로 각각 복수개가 설치되고;
    상기 식별부는 상기 행방향으로 상기 수납기구들이 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납기구들 각각에 형성된 제1식별부재를 포함하되, 동일한 행을 이루며 설치되기 위한 수납기구들에는 동일한 색채를 갖는 제1식별부재들이 형성되고, 서로 다른 행을 이루며 설치되기 위한 수납기구들에는 서로 다른 색채를 갖는 제1식별부재들이 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 식별부는 상기 제1식별부재들 각각에 대응되는 색채를 갖는 복수개의 제1기준부재를 포함하고;
    상기 수납유닛들은 각각 상기 수납기구들이 삽입되기 위한 삽입공이 복수개 형성된 수납프레임을 포함하고;
    상기 수납프레임들에는 각각 상기 행방향으로 서로 다른 색채를 갖는 제1기준부재들이 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  8. 삭제
  9. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
    테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
    테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 분류부;
    테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구를 포함하고, 상기 분류부로부터 이송되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위한 수납부; 및
    테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 분류부로 이송하는 이송부를 포함하고,
    상기 수납부는 테스트된 발광소자를 등급별로 구분하여 수납하기 위해 상기 수납기구가 복수개 설치되는 수납유닛, 상기 수납유닛이 복수개 설치되는 수납본체, 및 상기 수납본체에 대해 상기 수납기구들이 설치되는 위치를 구별시키기 위한 식별부를 포함하고;
    상기 수납유닛들에는 각각 상기 수납기구가 행방향 및 열방향으로 각각 복수개가 설치되고;
    상기 식별부는 상기 열방향으로 상기 수납기구들이 설치되는 위치가 구별되도록 상기 수납기구들 각각에 형성된 제2식별부재를 포함하되, 동일한 열을 이루며 설치되기 위한 수납기구들에는 동일한 색채를 갖는 제2식별부재들이 형성되고, 서로 다른 열을 이루며 설치되기 위한 수납기구들에는 서로 다른 색채를 갖는 제2식별부재들이 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 식별부는 상기 제2식별부재들 각각에 대응되는 색채를 갖는 복수개의 제2기준부재를 포함하고;
    상기 수납유닛들은 각각 상기 수납기구들이 삽입되기 위한 삽입공이 복수개 형성된 수납프레임을 포함하고;
    상기 수납프레임들에는 각각 상기 열방향으로 서로 다른 색채를 갖는 제2기준부재들이 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
  11. 삭제
  12. 제2항, 제4항, 제6항 및 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스트부는
    발광소자가 안착되는 소켓;
    상기 소켓이 복수개 설치되는 지지기구; 및
    테스트될 발광소자가 상기 소켓에 로딩되는 로딩위치, 상기 소켓에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓으로부터 언로딩되는 언로딩위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지기구를 회전시키는 회전유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100825792B1 (ko) * 2006-11-10 2008-04-29 삼성전자주식회사 다기능을 갖는 반도체 소자 검사용 핸들러 시스템
KR100969975B1 (ko) * 2010-04-05 2010-07-15 (주)큐엠씨 엘이디 칩 분류장치 및 그 보정유닛

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100825792B1 (ko) * 2006-11-10 2008-04-29 삼성전자주식회사 다기능을 갖는 반도체 소자 검사용 핸들러 시스템
KR100969975B1 (ko) * 2010-04-05 2010-07-15 (주)큐엠씨 엘이디 칩 분류장치 및 그 보정유닛

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018044043A1 (ko) * 2016-09-02 2018-03-08 (주)제이티 플립소자 핸들러

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