KR101020702B1 - 발광소자 테스트 핸들러 - Google Patents

Abstract

본 발명은 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 복수개 설치되는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부; 상기 지지부재에 결합되고, 상기 테스트위치들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치들, 상기 테스트위치들, 및 상기 수납위치 각각에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및 상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,

본 발명에 따르면, 하나의 발광소자 테스트 핸들러를 이용하여 발광소자의 여러 광특성을 측정할 수 있고, 발광소자들이 동시에 발광되더라도 광간섭이 발생되지 않을만큼 충분한 거리로 이격된 상태로 테스트되도록 하여 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

발광소자, 테스트 핸들러, 테스터

Description

발광소자 테스트 핸들러{Luminous element Test Handler}

본 발명은 발광소자를 테스트하고, 테스트 결과에 따라 등급별로 발광소자를 분류하는 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.

발광 다이오드(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(semiconductor laser) 등 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자(이하, '발광 소자'라 함)들은, 전자제품의 부하·운전 등의 상황을 나타내는 표시등, 숫자·문자표시기, 카메라의 자동초점용 광원, 광통신용 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.

이러한 발광소자는 여러 가지 테스트 과정을 거쳐 제조되는데, 상기 테스트 과정 중에서 사용되는 장비 중 하나가 발광소자 테스트 핸들러이다.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도이다.

도 1을 참조하면, 발광소자 테스트 핸들러(10)는 공급부(11), 픽커부(12), 테스트부(13), 및 소팅부(14)를 포함한다.

상기 공급부(11)는 상기 픽커부(12)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자들을 공급한다. 상기 공급부(11)에는 테스트될 발광소자들이 복수개 저장되어 있다.

상기 픽커부(12)는 테스트될 발광소자들을 상기 공급부(11)에서 상기 테스트부(13)로 이송한다.

상기 테스트부(13)는 테스트될 발광소자를 수납하는 복수개의 소켓(131)과 상기 소켓(131)에 수납된 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(132)을 포함한다.

상기 테스트유닛(132)은 발광소자에 접속되어 발광소자를 발광시킴으로써 발광소자를 테스트한다. 상기 테스트유닛(132)은 별도의 분석장비에 연결되어, 발광소자에 대한 테스트 결과 정보를 상기 분석장비에 송신한다. 상기 분석장비는 상기 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(14)로 송신한다.

상기 소팅부(14)는 상기 분석장비로부터 등급 정보를 수신하고, 상기 등급 정보에 따라 발광소자를 등급별로 분류한다.

상술한 바와 같은 발광소자 테스트 핸들러를 이용함으로써, 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 된다.

상기 발광소자 테스트 핸들러를 이용한 테스트 과정에서 발광소자에 대한 테스트가 제대로 이루어지지 않는다면, 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 갖춘 성능과 다른 등급으로 분류될 수 있다.

이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키는 결과를 초래할 수 있다.

따라서, 향상된 테스트 신뢰도를 구현할 수 있으면서도, 발광소자에 대한 제조단가를 더 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러의 개발이 필요하다.

본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 테스트하고 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.

상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 복수개 설치되는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부; 상기 지지부재에 결합되고, 상기 테스트위치들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치들, 상기 테스트위치들, 및 상기 수납위치 각각에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및 상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공 급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 발광소자의 제1광특성을 측정하는 제1측정유닛을 포함하는 제1테스트유닛 및 발광소자의 제2광특성을 측정하는 제2측정유닛을 포함하는 제2테스트유닛이 설치되는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부; 상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 및 상기 지지부재에 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부; 발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 발광소자의 서로 다른 광특성을 측정하는 측정유닛을 각각 포함하는 복수개의 테스트유닛이 설치되는 테스트부; 상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부; 상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 및 상기 지지부재에 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함할 수 있다.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.

본 발명은 하나의 발광소자 테스트 핸들러를 이용하여 발광소자의 여러 광특성을 측정할 수 있고, 발광소자들이 동시에 발광되더라도 광간섭이 발생되지 않을 만큼 충분한 거리로 이격된 상태로 테스트되도록 하여 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있는 효과를 얻을 수 있다.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도, 도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 픽커부, 및 테스트부를 나타낸 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치들, 버퍼위치들 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도, 도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도, 도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치들, 버퍼위치들 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도, 도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도, 도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛을 나타낸 사시도이다.

도 2 및 도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 공급부(2), 픽커부(3), 테스트부(4), 소팅부(5), 제1구동유닛(6), 및 제2구동유닛(7)을 포함한다.

상기 공급부(2)는 상기 픽커부(3)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치로 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(2)는 저장부(21), 운반부(22), 및 안착부(23)를 포함한다.

상기 저장부(21)에는 테스트될 발광소자가 복수개 저장될 수 있다. 상기 저장부(21)는 진동을 이용하여 이에 저장되어 있는 테스트될 발광소자들을 상기 운반부(22)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장부(21)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반부(22)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.

상기 운반부(22)는 상기 저장부(21)로부터 공급되는 테스트될 발광소자들을 상기 안착부(23)로 이송한다. 상기 운반부(22)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 운반부(22)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.

상기 안착부(23)에는 상기 운반부(22)로부터 이송되는 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착부(23)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈을 포함할 수 있다. 상기 안착부(23)는 상기 픽커부(3)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 공급부(2)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착부(23)에 설치되고, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반부(22)는 상기 안착부(23)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반부(23)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 픽커부(3)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.

상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 픽커부(3)는 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 상기 안착부(23)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 픽커부(3)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.

상기 공급부(2)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(2)는 상기 픽커부(3)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다.

도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 픽커부(3)는 상기 안착부(23)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(4)로 이송한다. 상기 픽커부(3)는 상기 공급부(2) 및 상기 테스트부(4) 사이에 설치될 수 있다.

상기 픽커부(3)는 픽커(31), 본체(32), 및 탄성부재(33)를 포함할 수 있다.

상기 픽커(31)는 발광소자에 직접 접촉되어 발광소자를 흡착할 수 있다. 상기 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업하고, 픽업한 테스트 될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킨다. 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 때 상기 픽커(31)는 픽업위치(2a)에 위치되고, 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시킬 때 상기 픽커(31)는 수납위치(3a)에 위치된다. 상기 픽커(31)가 픽업위치(2a)에 위치될 때, 상기 픽커(31)는 공급부(2) 위에 위치될 수 있다.

상기 픽커(31)는 픽업위치(2a) 및 수납위치(3a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)는 상기 안착부(23)에서 발광소자를 픽업할 수 있고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)는 상기 테스트부(4)에 발광소자를 수납시킬 수 있다.

상기 픽커는, 상기 픽업위치(2a)에 적어도 하나의 픽커(31)가 위치되고, 상기 수납위치(3a)에 적어도 하나의 픽커(31)가 위치되도록 상기 본체(32)에 복수개가 설치될 수 있다.

상기 픽커(31)들은 상기 본체(32)에 개별적으로 승하강 가능하게 설치될 수 있다. 상기 픽커(31)들은 상기 제2구동유닛(7)에 의해 승하강될 수 있다. 이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치되는 픽커(31) 및 상기 수납위치(3a)에 위치되는 픽커(31)는 함께 승하강될 수도 있고, 개별적으로 승하강될 수도 있다.

상기 본체(32)는, 상기 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송할 수 있도록, 상기 제2구동유닛(7)에 의해 이동될 수 있다. 상기 본체(32)는 상기 제2구동유닛(7)에 의해 회전축(32a)을 중심으로 회전될 수 있다.

상기 본체(32)에는 복수개의 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)은 상기 픽커(31)들이 회전축(32a)을 중심으로 이격된 각도와 동일한 각도로 상기 본체(32)를 회전시킬 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31) 및 상기 본체(32) 사이에 개재된다. 상기 탄성부재(33)는 상기 픽커(31)들이 상기 본체(32)에서 탄성적으로 승하강되도록 한다. 상기 픽커부(3)는 상기 픽커(31)와 동일한 개수의 탄성부재를 포함할 수 있다.

도 2 내지 도 6을 참고하면, 상기 테스트부(4)는 소켓(41) 및 지지부재(42)를 포함한다. 상기 테스트부(4)에는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(43)이 설치된다.

상기 테스트유닛(43)은 접속유닛(431) 및 측정유닛(432)을 포함한다.

상기 접속유닛(431)은 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(431)은 발광소자에 접속되어, 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(431)은 발광소자를 발광시킬 수 있고, 이에 따라 상기 측정유닛(432)이 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있도록 한다. 상기 접속유닛(431)은 발광소자가 가지는 전기적 특성에 대한 테스트 정보를 테스터로 송신할 수 있다.

상기 접속유닛(431)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1접속유닛(431a) 및 제2접속유닛(431b)을 포함할 수 있다. 상기 제1접속유닛(431a) 및 제2접속유닛(431b)은 서로 가까워지거나 멀어지도록 이동될 수 있고, 서로 가까워지게 이동되면 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자에 접속될 수 있다.

상기 측정유닛(432)은 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(432)이 광특성 정보를 상기 테스터로 송신하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(5)로 송신할 수 있다.

상기 측정유닛(432)은 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(432)으로 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등이 이용될 수 있으며, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 따라 다른 여러 종류의 장치가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 측정유닛(432)으로 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치가 이용될 수 있다.

상기 테스트부(4)에는 복수개의 테스트유닛(43)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(43)들은 각각 접속유닛(431) 및 측정유닛(432)을 포함할 수 있고, 각각 발광소자들을 테스트할 수 있다. 상기 소켓(41)들은 발광소자들이 테스트되는 각각의 테스트위치(T)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(42)에 설치될 수 있다. 상기 테스트위치(T)는 상기 테스트유닛(43)들이 발광소자들을 테스트하는 위치로, 상기 테스트유닛(43)들이 설치되어 있는 위치이다.

상기 테스트부(4)에는 제1테스트유닛(43a) 및 제2테스트유닛(43b)이 설치될 수 있다. 상기 제1테스트유닛(43a)은 발광소자의 제1광특성을 측정하는 제1측정유닛(432a)을 포함하고, 상기 제2테스트유닛(43b)은 발광소자의 제2광특성을 측정하는 제2측정유닛(432b)을 포함한다. 상기 제1광특성은 발광소자의 휘도, 파장, 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 중 어느 하나일 수 있고, 상기 제2광특성은 제1광특성을 제외한 나머지 특성들 중 어느 하나일 수 있다.

따라서, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 따라 이를 측정할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 각각 구비할 필요없이, 하나의 발광소자 테스트 핸들러를 이용하여 발광소자의 여러 광특성을 측정할 수 있다.

상기 제1측정유닛(432a) 및 상기 제2측정유닛(432b)은 각각 서로 다른 테스터에 연결될 수 있다. 상기 테스터들은 각각 상기 제1측정유닛(432a) 및 상기 제2측정유닛(432b)으로부터 수신된 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 소팅부(5)로 송신할 수 있다.

상기 테스트부(4)에는 상기 제1테스트유닛(43a) 및 상기 제2테스트유닛(43b)이 각각 복수개 설치될 수 있다. 상기 제1테스트유닛(43a)들이 각각 발광소자들을 분담하여 제1광특성을 테스트할 수 있고, 상기 제2테스트유닛(43b)들이 각각 발광소자들을 분담하여 제2광특성을 테스트할 수 있다.

상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 제1테스트위치(T1)들 중 어느 하나를 거쳐 상기 제2테스트위치(T2)들 중 어느 하나에 위치되거나, 상기 제2테스트위치(T2)들 중 어느 하나를 거쳐 상기 제1테스트위치(T1)들 중 어느 하나에 위치될 수 있다. 상기 제1테스트위치(T1)는 상기 제1테스트유닛(43a)들이 발광소자들을 테스트하는 위치로 상기 제1테스트유닛(43a)들이 설치되어 있는 위치이고, 상기 제2테스트위치(T2)는 상기 제2테스트유닛(43b)들이 발광소자들을 테스트하는 위치로 상기 제2테스트유닛(43b)들이 설치되어 있는 위치이다.

상기 테스트부(4)에는, 상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전시키는 방향으로, 상기 제1테스트유닛(43a), 상기 제2테스트유닛(43b), 상기 제2테스트유닛(43b), 및 상기 제1테스트유닛(43a)이 설치될 수 있다.

도시되지는 않았지만, 상기 테스트부(4)에는 상기 제1테스트유닛(43a) 옆에 상기 제2테스트유닛(43b)이 위치되게 상기 제1테스트유닛(43a)들 및 상기 제2테스트유닛(43b)들이 설치될 수도 있다.

이에 따라, 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 상기 제1테스트위치(T1)를 거쳐 상기 제2테스트위치(T2)에 위치되거나, 상기 제2테스트위치(T2)를 거쳐 상기 제1테스트위치(T1)에 위치될 수 있다. 즉, 상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전시키는 거리에 따라, 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 상기 제1테스트위치(T1)들과 상기 제2테스트위치(T2)들에 각각 선택적으로 위치될 수 있다.

상기 테스트부(4)에는 발광소자의 서로 다른 광특성을 측정하는 측정유닛(432)을 각각 포함하는 복수개의 테스트유닛(43)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(43)들은 각각 발광소자의 휘도, 파장, 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 중 서로 다른 하나를 테스트할 수 있으며, 이를 측정할 수 있는 측정유닛(432)을 각각 포함할 수 있다.

따라서, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 따라 이를 측정할 수 있는 발광소자 테스트 핸들러를 각각 구비할 필요없이, 하나의 발광소자 테스트 핸들러를 이용하여 발광소자의 여러 광특성을 측정할 수 있다.

도 2 내지 도 6을 참고하면, 상기 소켓(41)에는 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 소켓(41)에 수납되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(41)에 흡착될 수 있다. 상기 소켓(41)은 상기 지지부재(42)에 복수개가 설치될 수 있다.

상기 소켓(41)들은 각각 수납위치(3a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치들(T), 및 발광소자가 분류되는 분류위치(5a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(42)에 설치될 수 있다. 상기 분류위치(5a)는 상기 소팅부(5)가 발광소자를 분류할 수 있는 위치로, 상기 수납위치(3a)의 옆에 위치한다.

이에 따라, 상기 수납위치(3a)에 위치된 소켓(41)에는 상기 픽커(31)에 의해 테스트될 발광소자가 수납되고, 상기 테스트위치(T)들에 각각 위치된 소켓(41)들에 수납되어 있는 테스트될 발광소자들은 상기 테스트유닛(43)들에 의해 테스트되며, 상기 분류위치(5a)에 위치된 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자는 상기 소팅부(5)에 의해 등급별로 분류될 수 있다.

상기 지지부재(42)에는 발광소자를 수납할 수 있는 상기 소켓(41)이 복수개 설치된다. 상기 지지부재(42)에는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 및 상기 분류위치(5a)에 각각 적어도 하나의 소켓(41)이 위치되도록 상기 소켓(41)들이 설치될 수 있다.

상기 지지부재(42)는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 및 상기 분 류위치(5a)에 상기 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전될 수 있다.

상기 지지부재(42)는 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전축(42a)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 지지부재(42)에는 복수개의 상기 소켓(41)들이 회전축(42a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 지지부재(42)가 회전축(42a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(41)들은 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 및 상기 분류위치(5a)에 동시에 위치될 수 있다.

상기 지지부재(42)가 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전축(42a)을 중심으로 회전되는 거리에 따라, 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 서로 다른 광특성이 측정되는 상기 테스트위치(T)들에 각각 선택적으로 위치될 수 있다.

상기 지지부재(42)가 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전축(42a)을 중심으로 회전되는 거리에 따라, 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 상기 제1테스트위치(T1)들과 상기 제2테스트위치(T2)들에 각각 선택적으로 위치될 수 있다.

도 2 내지 도 7을 참고하면, 상기 지지부재(42)에는 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 상기 테스트위치(T)들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치(B)들, 및 상기 분류위치(5a)에 각각 적어도 하나의 소켓(41)들이 위치되게 상기 소켓(41)들이 설치될 수 있다.

상기 테스트위치(T)들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치(B)들로 인해, 상기 버퍼위치(B)에 위치하는 소켓(41)의 개수만큼 상기 테스트유닛(43)들 간의 간격을 넓 힐 수 있다. 이에 따라, 상기 테스트유닛(43)들은 상기 테스트유닛(43)들 각각에 위치한 발광소자들이 동시에 발광되더라도 광간섭이 발생되지 않을만큼 충분한 거리로 이격되어서 상기 테스트부(4)에 설치될 수 있다.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있음과 동시에, 상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄여서 상기 소켓(41)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 단축시킴으로써, 짧은 시간에 더 많은 발광소자들을 테스트하고 등급별로 분류할 수 있다.

상기 지지부재(42)가 상기 제1구동유닛(6)에 의해 회전축(42a)을 중심으로 회전되는 거리에 따라, 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 발광소자들은 상기 제1테스트위치(T1)들, 상기 버퍼위치(B)들, 및 상기 제2테스트위치(T2)들에 각각 선택적으로 위치될 수 있다.

상기 지지부재(42)에는 상기 버퍼위치(B)들에 각각 적어도 두 개의 소켓(41)들이 위치되게 상기 소켓(41)들이 설치될 수 있다. 따라서, 상기 테스트유닛(43)들은 더 먼 거리로 이격되어서 상기 테스트부(4)에 설치될 수 있고, 이에 따라 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 더 향상시킬 수 있다.

도 2 내지 도 9를 참고하면, 상기 소팅부(5)는 상기 소켓(41)에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류한다. 상기 소팅부(5)는 상기 테스터로부터 테스트된 발광소자가 가지는 등급에 관한 정보를 수신하여, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.

상기 소팅부(5)는 수납유닛(51), 분류유닛(52), 및 이송부(53)을 포함할 수 있다.

상기 수납유닛(51)은 상기 분류유닛(52)으로부터 이송되는 발광소자들을 등급별로 수납한다. 상기 수납유닛(51)은 상기 공급부(2), 상기 픽커부(3), 및 상기 테스트부(4)가 설치되는 핸들러본체(W)의 아래에 설치될 수 있다.

상기 수납유닛(51)은 수납부재(511), 연결판(512), 및 연결부재(513)를 포함할 수 있다.

상기 수납부재(511)는 상기 연결부재(513)로부터 이송되는 발광소자들을 등급별로 수납한다. 상기 수납유닛(51)은 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 수납부재(511)를 포함할 수 있다.

상기 연결판(512)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 관통공(512a)을 포함할 수 있다.

상기 연결부재(513)는 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a)들 및 상기 수납부재(511)들을 각각 연결한다. 상기 연결부재(513)는 일측이 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a)과 연통되게 상기 연결판(512)에 결합되고, 타측이 상기 수납부재(511)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 연결판(512)에 형성되어 있는 관통공(512a) 및 상기 연결부재(513)의 내측을 지나 상기 수납부재(511)에 수납될 수 있다. 상기 수납유닛(51)은 테스트된 발광소자들을 그 성능에 따라 분류하고자 하는 등급 개수에 상응하는 복수개의 연결부재(513)를 포함할 수 있다.

상기 분류유닛(52)은 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부 재(511)에 수납되도록 테스트된 발광소자를 상기 수납유닛(51)으로 전달한다. 상기 분류유닛(52)은 상기 이송부(53)으로부터 이송되는 테스트된 발광소자가 그 등급에 해당하는 상기 수납부재(511)에 수납될 수 있도록, 해당 수납부재(511)와 연결된 관통공(512a)으로 테스트된 발광소자를 전달할 수 있다.

상기 분류유닛(52)은 상기 핸들러본체(W) 및 상기 수납유닛(51) 사이에 설치될 수 있다. 즉, 상기 분류유닛(52)은 상기 공급부(2), 상기 픽커부(3), 및 상기 테스트부(4)가 설치되는 핸들러본체(W)의 아래에 설치되고, 상기 수납유닛(51) 위에 설치될 수 있다.

상기 분류유닛(52)은 이동프레임(521), 이동부재(522), 및 결합부재(523)를 포함할 수 있다.

상기 이동프레임(521)은 X축방향 또는 Y축방향으로 이동 가능하게 상기 연결판(512)에 설치될 수 있다. 상기 이동프레임(521)은 구동풀리와 종동풀리를 연결하는 벨트, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터에 의해 각각 이동될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리를 회전시키면 상기 벨트가 이동되면서, 상기 벨트에 결합된 상기 이동프레임(512)이 이동될 수 있다. 상기 이동프레임(521)은 리니어모터에 의해 이동될 수도 있다.

상기 이동부재(522)는 상기 이동프레임(521)이 X축방향으로 이동 가능하면, 상기 이동프레임(521)에 Y축방향으로 이동 가능하게 결합된다. 상기 이동부재(522)는 상기 이동프레임(521)이 Y축방향으로 이동 가능하면, 상기 이동프레임(521)에 X축방향으로 이동 가능하게 결합된다. 즉, 상기 이동부재(522)는 상기 이동프레 임(521)과의 결합에 의해 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다.

상기 이동부재(522)는 구동풀리와 종동풀리를 연결하는 벨트, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터에 의해 이동될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리를 회전시키면 상기 벨트가 이동되면서, 상기 벨트에 결합된 상기 이동부재(522)가 이동될 수 있다. 상기 이동부재(522)는 리니어모터에 의해 이동될 수도 있다.

상기 이동부재(522)는 상기 결합부재(523)를 통해 상기 이송부(53)와 결합되고, 상기 연결판(512)에 형성되어 있는 복수개의 관통공(512a) 위에서 X축방향 및 Y축방향으로 이동될 수 있다.

상기 결합부재(523)는 일측이 상기 이송부(53)에 결합되고, 타측이 상기 이동부재(522)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 이송부(53)에서 상기 결합부재(523)의 내측 및 상기 이동부재(522)의 내측을 지나, 그 등급에 해당하는 수납부재(511)로 이동될 수 있다. 상기 결합부재(523)는 상기 이동부재(522)가 X축방향 및 Y축방향으로 이동되는데 방해되지 않도록 호스가 이용될 수 있으며, 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.

상기 이송부(53)는 상기 수납위치(3a) 옆에 위치하는 분류위치(5a)에서 상기 테스트부(4)에 설치된다. 상기 이송부(53)는 이송유닛(531) 및 전달부재(532)를 포함할 수 있다.

상기 이송유닛(531)은 테스트된 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다. 상기 이송유닛(531)은 유체흡입장치 또는 유체분사장치를 포함할 수 있다. 상기 이송유닛(531)은 공기를 흡입 또는 분사함으로써 상기 소켓(41)에 수납되 어 있는 발광소자를 상기 분류유닛(52)으로 이송할 수 있다.

상기 전달부재(532)는 상기 이동부재(522)와 상기 이송유닛(531)을 연결한다. 상기 전달부재(532)는 일측이 상기 결합부재(523)에 결합되고, 타측이 상기 이송유닛(531)에 결합될 수 있다. 테스트된 발광소자들은 상기 이송유닛(531)에서 상기 전달부재(532) 및 상기 결합부재(523)의 내측을 지나 상기 이동부재(522)로 이동될 수 있다. 상기 전달부재(532)는 하나의 이동부재(522)와 복수개의 이송유닛(531)들을 연결할 수 있다.

상기 전달부재(532)는 상기 이동부재(522)가 X축방향 및 Y축방향으로 이동되는데 방해되지 않도록 호스가 이용될 수 있으며, 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.

상기 소팅부(5)는 복수개의 수납유닛(51), 상기 수납유닛(51)들 각각에 테스트된 발광소자를 전달하는 복수개의 분류유닛(52), 및 상기 분류유닛(52)들 각각에 테스트된 발광소자를 이송하는 복수개의 이송부(53)를 포함할 수 있다. 즉, 상기 소팅부(5)는 상기 수납유닛(51), 분류유닛(52), 및 복수개의 이송유닛(531)을 포함하는 이송부(53)가 하나의 세트를 이루고, 이러한 세트를 복수개 포함할 수 있다.

도 2 내지 도 9를 참고하면, 상기 제1구동유닛(6)은 상기 지지부재(42)에 결합되고, 상기 지지부재(42)를 회전시킨다.

상기 제1구동유닛(6)은 모터를 포함할 수 있고, 상기 모터가 상기 지지부재(42)에 직접 결합되어 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동유닛(6)은 모터에 결합된 구동풀리, 상기 지지부재(42)에 결합 된 종동풀리, 및 상기 구동풀리와 상기 종동풀리를 연결하는 벨트를 포함할 수 있다. 이에 따라, 상기 모터가 구동풀리를 회전시키면, 벨트가 이동되면서 상기 종동풀리와 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다.

상기 제1구동유닛(6)은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 및 상기 분류위치(5a)에 상기 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다.

상기 제1구동유닛(6)은 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동유닛(6)은 상기 지지부재(42)를 일정 각도로 회전시킴으로써, 상기 지지부재(42)에 설치되어 있는 상기 소켓(41)들이 각각 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 및 상기 분류위치(5a)에 동시에 위치되도록 한다.

상기 제1구동유닛(6)이 상기 지지부재(42)를 회전축(42a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(41)들은 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T), 및 상기 분류위치(5a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

상기 제1구동유닛(6)은, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 수납위치(3a), 상기 테스트위치(T)들, 상기 버퍼위치(B)들 및 상기 분류위치(5a)에 상기 소켓(41)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(42)를 회전시킬 수 있다.

상기 제2구동유닛(7)은 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송할 수 있도록 상기 본체(32)를 이동시킨다. 상기 제2구동유닛(7)은 승하강유닛(미도시) 및 회전유닛(71)을 포함할 수 있다.

상기 승하강유닛은 상기 본체(32)에 설치되어 있는 픽커(31)들을 개별적으로 승하강시킬 수 있다. 상기 제2구동유닛(7)은 상기 픽커(31)들에 각각 설치되는 복수개의 승하강유닛을 포함할 수 있다. 상기 승하강유닛은 유압실린더 또는 공압실린더를 포함할 수 있다.

상기 승하강유닛들은, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 상기 안착부(23)에서 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)가 상기 소켓(41)에 테스트될 발광소자를 수납시킬 수 있도록, 상기 픽커(31)들을 개별적으로 승하강시킬 수 있다.

상기 승하강유닛은 상기 본체(32)에 결합되어서, 상기 본체(32)를 승하강시킬 수 있다. 상기 승하강유닛은 상기 본체(32)를 승하강시킴으로써, 상기 본체(32)에 결합되어 있는 픽커(31)들을 동시에 승하강시킬 수 있다.

상기 회전유닛(71)은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 상기 픽커(31)들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체(32)를 회전시킨다. 상기 회전유닛(71)은 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킬 수 있다.

상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.

도 2 내지 도 11을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는 보정부(8)를 더 포함할 수 있다.

도 10은 본 발명에 따른 보정부를 나타낸 사시도, 도 11은 도 10에서 픽업위치, 수납위치, 보정위치, 테스트위치들, 버퍼위치들, 및 분류위치를 개념적으로 나 타낸 평면도이다.

상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛(43)에서 테스트될 수 있는 상태로 소켓(41)에 수납되도록 테스트될 발광소자의 상태를 보정한다.

테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛(43)에서 극성에 맞게 접속되어야만 테스트가 이루어질 수 있는 경우, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하려면 테스트될 발광소자가 공급되는 시간이 증가하게 된다.

따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(1)는, 상기 공급부(2)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 공급하는지 여부에 관계없이, 상기 보정부(8)가 테스트될 발광소자를 극성에 맞는 상태로 보정할 수 있으므로, 테스트될 발광소자가 공급되는 시간을 줄일 수 있다.

극성에 관계없이, 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛(43)에서 테스트될 수 있는 상태로 상기 픽커(31)에 흡착되어 있지 않은 경우에도, 상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자를 상기 테스트유닛(43)에서 테스트될 수 있는 상태로 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 예컨대, 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)의 정위치에 흡착되지 못한 경우 또는 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 등에, 상기 보정부(8)는 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛(43)에서 테스트될 수 있는 상태로 소켓(41)에 정확하게 수납될 수 있으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

상기 보정부(8)는 상기 픽업위치(2a) 및 상기 수납위치(3a) 사이에 위치하는 보정위치(8a)에 설치될 수 있다. 상기 보정부(8)는 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 상기 픽업위치(2a), 상기 보정위치(8a) 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.

상기 보정부(8)는 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하는 동안, 상기 보정위치(8a)에 위치한 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 보정하기 위해 추가 작업시간이 요구되지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.

상기 보정부(8)는 보정유닛(81) 및 감지유닛(82)을 포함할 수 있다.

상기 보정유닛(81)에는 테스트될 발광소자가 수납된다. 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 이에 테스트될 발광소자가 수납된 상태에서 회전될 수 있다.

따라서, 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자가 상기 테스트유닛(43)에서 극성에 맞게 접속될 수 있도록 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 또한, 상기 보정유닛(81)은 테스트될 발광소자가 상기 픽커(31)에 흡착된 상태에서 회전된 경우 테스트될 발광소자를 회전시켜 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다.

상기 보정유닛(81)은 모터(미도시), 모터에 의해 회전되는 구동풀리(811), 상기 보정유닛(81)에 결합된 종동풀리(812), 및 상기 구동풀리(811)와 상기 종동풀리(812)를 연결하는 벨트(813)에 의해 회전될 수 있다. 상기 모터가 상기 구동풀리(811)를 회전시키면, 상기 벨트(813)가 이동되어 상기 종동풀리(812)를 회전시킴으로써, 상기 보정유닛(81)을 회전시킬 수 있다.

상기 감지유닛(82)은 상기 보정유닛(81) 및 상기 픽업위치(2a) 사이에 설치되고, 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 감지한다. 상기 보정유닛(81)은 상기 감지유닛(82)이 획득한 정보를 이용하여 테스트될 발광소자의 상태를 보정할 수 있다. 상기 감지유닛(82)은 상기 픽커(31)에 흡착된 테스트될 발광소자의 상태를 촬영하는 비전카메라를 포함할 수 있다.

상기 감지유닛(82)은 상기 본체(32)가 회전됨에 따라 상기 픽커(31)들이 이동되는 경로의 아래에 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 픽커(31)들은 각각 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(82)의 위, 상기 보정유닛(81)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 동시에 위치되도록 상기 본체(32)에 설치될 수 있다.

이에 따라, 상기 픽업위치(2a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 흡착하고, 상기 수납위치(3a)에 위치된 픽커(31)가 테스트될 발광소자를 상기 테스트부(4)에 수납시키며, 상기 보정유닛(81)이 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있는 테스트될 발광소자의 상태가 보정되도록 하는 동안, 상기 감지유닛(82)은 그 위에 위치된 픽커(31)에 흡착되어 있는 테스트될 발광소자의 상태를 감지할 수 있다.

따라서, 테스트될 발광소자의 상태를 감지하기 위해 추가 작업시간이 요구되 지 않으므로, 발광소자에 대한 테스트 신뢰도를 향상시킴과 동시에 테스트될 발광소자를 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송하는 시간을 줄일 수 있다.

여기서, 상기 픽커부(3)는 상기 픽업위치(2a), 상기 감지유닛(82)의 위, 상기 보정유닛(81)의 위, 및 상기 수납위치(3a)에 각각 위치되는 픽커(31)들 외에 더 많은 개수의 픽커(31)를 포함할 수 있다.

이에 따라, 상기 회전유닛(71)이 상기 본체(32)를 회전축(32a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 픽커(31)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄임으로써, 짧은 시간에 더 많은 테스트될 발광소자들이 상기 공급부(2)에서 상기 테스트부(4)로 이송되도록 할 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.

도 1은 일반적인 발광소자 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블럭도

도 2는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러를 개략적으로 나타낸 사시도

도 3은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 공급부, 픽커부, 및 테스트부를 나타낸 사시도

도 4는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치들, 버퍼위치 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도

도 5는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 테스트부를 나타낸 사시도

도 6은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 접속유닛을 나타낸 사시도

도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 픽업위치, 수납위치, 테스트위치들, 버퍼위치들 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도

도 8은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛 및 수납유닛을 나타낸 사시도

도 9는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 분류유닛을 나타낸 사시도

도 10은 본 발명에 따른 보정부를 나타낸 사시도

도 11은 도 10에서 픽업위치, 수납위치, 보정위치, 테스트위치들, 버퍼위치들, 및 분류위치를 개념적으로 나타낸 평면도

Claims (11)

1. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;

   발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛이 복수개 설치되는 테스트부;

   상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부;

   상기 지지부재에 결합되고, 상기 테스트위치들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치들, 상기 테스트위치들, 및 상기 수납위치 각각에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛; 및

   상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부를 포함하고;

   상기 지지부재에는 상기 수납위치, 상기 테스트위치들, 상기 버퍼위치들, 및 상기 분류위치에 각각 적어도 하나의 소켓들이 위치되게 상기 소켓들이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
2. 제1항에 있어서,

   상기 지지부재에는 상기 버퍼위치들에 각각 적어도 두 개의 소켓들이 위치되게 상기 소켓들이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
3. 삭제
4. 제1항에 있어서,

   상기 테스트부에는 발광소자의 제1광특성을 측정하는 제1측정유닛을 포함하는 제1테스트유닛, 및 발광소자의 제2광특성을 측정하는 제2측정유닛을 포함하는 제2테스트유닛이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
5. 제1항에 있어서,

   상기 테스트부에는 발광소자의 서로 다른 광특성을 측정하는 측정유닛을 각각 포함하는 테스트유닛들이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
6. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;

   발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 발광소자의 제1광특성을 측정하는 제1측정유닛을 포함하는 제1테스트유닛 및 발광소자의 제2광특성을 측정하는 제2측정유닛을 포함하는 제2테스트유닛이 설치되는 테스트부;

   상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부;

   상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 및

   상기 지지부재에 결합되고, 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함하고;

   상기 테스트부에는 상기 제1테스트유닛 및 상기 제2테스트유닛이 각각 복수개 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
7. 제4항에 있어서,

   상기 테스트부에는 상기 제1테스트유닛 및 상기 제2테스트유닛이 각각 복수개 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
8. 제7항에 있어서,

   상기 테스트부에는 상기 제1테스트유닛 옆에 상기 제2테스트유닛이 위치되게 상기 제1테스트유닛들 및 상기 제2테스트유닛들이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
9. 제7항에 있어서,

   상기 테스트부에는, 상기 제1구동유닛이 상기 지지부재를 회전시키는 방향으로, 상기 제1테스트유닛, 상기 제2테스트유닛, 상기 제2테스트유닛, 및 상기 제1테스트유닛이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
10. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;

    발광소자를 수납하는 소켓이 복수개 설치되는 지지부재를 포함하고, 테스트위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 발광소자의 서로 다른 광특성을 측정하는 측정유닛을 각각 포함하는 복수개의 테스트유닛이 설치되는 테스트부;

    상기 공급부 및 상기 테스트부 사이에 설치되고, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 수납위치에 위치된 소켓으로 이송하는 픽커부;

    상기 수납위치의 옆에 위치하는 분류위치에 위치된 소켓에 수납되어 있는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 소팅부; 및

    상기 지지부재에 결합되고, 상기 수납위치, 상기 테스트위치들, 상기 테스트위치들 각각의 옆에 위치하는 버퍼위치들, 및 상기 분류위치 각각에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재를 회전시키는 제1구동유닛을 포함하고;

    상기 지지부재에는 상기 버퍼위치들에 각각 적어도 두 개의 소켓들이 위치되게 상기 소켓들이 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
11. 제1항, 제6항, 제10항 중 어느 한 항에 있어서,

    상기 픽커부는 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커, 및 적어도 하나의 픽커가 상기 공급부 위에 위치되고 적어도 하나의 픽커가 상기 수납위치에 각각 위치되도록 상기 픽커가 복수개 설치되는 본체를 포함하고;

    상기 공급부 위와 상기 수납위치에 상기 픽커들이 순차적으로 위치되도록 상기 본체를 회전시키는 회전유닛을 가지는 제2구동유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.

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